CN113589145A - 一种工装设备以及测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种工装设备以及测试系统,工装设备包括:容纳部,用于容纳可更换部件,所述可更换部件上具有芯片,所述芯片包括若干电接口;测试部,设有若干用于与所述电接口接触的触针;第一驱动部,当向所述第一驱动部输入预定信号时,所述第一驱动部使所述测试部沿第一既定路径靠近或远离所述容纳部。与现有技术相比,本发明通过设置第一驱动部,驱动测试部到达所述第一既定路径的第二位置,使得触针与芯片的电接口接触,替代了现有的手动推动把手使测试头的触针与芯片的电接口接触的工装设备。可以自动完成测试头的移动,对芯片的操作完成后,也能够自动复位到最初位置,方便对下一个可更换部件进行维修,相对于人工操作大大增加工作的效率。
Description
技术领域
本发明涉及打印设备技术领域,特别是一种工装设备以及测试系统。
背景技术
打印系统具有为系统提供印刷材料的可更换部件。可更换部件包括容纳印刷材料的盒或鼓,以及安装在盒或鼓上的芯片。芯片用于存储包括印刷材料更新剩余量、属性、生产日期等信息数据,以及存储用于打印系统认证可更换部件安全性的认证数据。当可更换部件销售到市场上后,往往会因为各种原因,需要对可更换部件上的芯片进行检测,或者更新芯片内的数据。此时可更换部件已经不在工厂中,没有工厂的专业设备,就需要一个能够对可更换部件上的芯片进行操作的简易设备。
现有的一种方式,简易设备中设有与芯片进行电连接的触针,简易设备通过触针和芯片建立电连接,进而检测芯片,或更新芯片内的数据。需要人工将可更换部件放入到简易设备中,并且维持触针与芯片的电连接,这样人操作起来很累,而且还容易接触不稳定。
本发明提供一种新的工装设备,方便对芯片进行检测、数据更新等操作。
发明内容
本发明的目的是提供一种工装设备以及测试系统,以解决现有技术中的技术问题,它能够方便对芯片进行检测、数据更新等操作。
本发明提供了一种工装设备,包括:
容纳部,用于容纳可更换部件,所述可更换部件上具有芯片,所述芯片包括若干电接口;
测试部,设有若干用于与所述电接口接触的触针;
第一驱动部,设置在所述容纳部和所述测试部上,当向所述第一驱动部输入预定信号时,所述第一驱动部使所述测试部沿第一既定路径靠近或远离所述容纳部。
如上所述的一种工装设备,其中,优选的是,所述第一驱动部包括第一电磁铁以及第一吸附部,所述第一电磁铁设置在所述容纳部上以及所述第一吸附部设置在所述测试部上,或者所述第一电磁铁设置在所述测试部上以及所述第一吸附部设置在所述容纳部上;
当向所述第一电磁铁输入所述预定信号时,所述第一电磁铁产生吸附力,吸附所述第一吸附部,以驱动所述测试部靠近所述容纳部,使所述触针与所述电接口接触。
如上所述的一种工装设备,其中,优选的是,当向所述第一电磁铁输入预定信号时,所述第一电磁铁可产生排斥力,以驱动所述测试部远离所述容纳部,使所述触针与所述电接口脱离接触。
如上所述的一种工装设备,其中,优选的是,所述容纳部以及测试部之间设有第一弹性恢复部,当所述第一电磁铁失去磁性时,所述第一弹性恢复部释放弹性恢复力,驱动所述测试部远离所述容纳部,使所述触针与所述电接口脱离接触。
如上所述的一种工装设备,其中,优选的是,还设有导向构件,所述测试部包括测试头以及测试支架,所述触针设于所述测试头上,所述测试头可升降的设置于所述测试支架上,所述测试支架可沿第一既定路径往复移动的设置于所述导向构件上。
如上所述的一种工装设备,其中,优选的是,所述容纳部的两侧还设有固定部,所述固定部可沿与所述第一既定路径垂直的第二既定路径靠近或远离所述可更换部件,以夹持或释放所述可更换部件。
如上所述的一种工装设备,其中,优选的是,所述固定部与所述测试部之间连接有联动部,当所述测试部移动至使所述触针与所述电接口接触时,所述固定部移动至夹持住所述可更换部件的位置。
如上所述的一种工装设备,其中,优选的是,所述固定部连接有第二驱动部,所述第二驱动部包括第二电磁铁以及第二吸附部,所述第二电磁铁与所述第二吸附部之间产生吸附力或排斥力,驱动所述固定部沿第二既定路径靠近或远离所述可更换部件。
如上所述的一种工装设备,其中,优选的是,所述容纳部以及所述固定部之间可设有第二弹性恢复部,所述第二弹性恢复部用于驱动所述固定部远离所述可更换部件。
本发明还提供了一种测试系统,包括烧录设备以及前述的工装设备,所述烧录设备通过电路接口与所述工装设备电连接。
与现有技术相比,本发明通过设置第一驱动部,驱动测试部到达所述第一既定路径的第二位置,使得触针与芯片的电接口接触,替代了现有的手动推动把手使测试头的触针与芯片的电接口接触的工装设备。可以自动完成测试头的移动,对芯片的操作完成后,也能够自动复位到最初位置,方便对下一个可更换部件进行维修,相对于人工操作大大增加工作的效率。
附图说明
图1是本发明可更换部件的轴测图;
图2a是本发明的测试部位于第一既定路径的第一端时的结构示意图;
图2b是本发明的测试部位于第一既定路径的第二端时的结构示意图;
图3是本发明的第一种结构的固定部的结构示意图;
图4是本发明的第二种结构的固定部的结构示意图;
图5a是本发明的第一种结构的联动部结构示意图一;
图5b是本发明的第一种结构的联动部结构示意图二;
图6a是本发明的第二种结构的联动部结构示意图一;
图6b是本发明的第二种结构的联动部结构示意图二;
图7a是本发明的第三种结构的联动部结构示意图一;
图7b是本发明的第三种结构的联动部结构示意图二;
图8a是本发明的第四种结构的联动部结构示意图一;
图8b是本发明的第四种结构的联动部结构示意图二。
图9是本发明的测试系统的结构示意图。
附图标记说明:
10-可更换部件,11-芯片,12-电接口;
20-容纳部,21-容纳槽,22-定位条;
30-测试部,31-测试头,32-触针,33-测试支架,34-导向构件;
40-第一驱动部,41-第一电磁铁,42-第一吸附部;
50-固定部;
60-联动部,611-连接轴,612-第一联动杆,613-第二联动杆,614-第三联动杆,621-第一齿条,622-第二齿条,623-第三齿条,624-齿轮组,631-第一引导件,632-第二引导件,633-第一开口,641-第三引导件,642-第四引导件,643-第二开口;
70-烧录设备,71-控制开关,72-选择按键;
80-电路接口。
具体实施方式
下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明,而不能解释为对本发明的限制。
为更好地对工作设备进行说明,引用了X、Y、Z轴概念,取相互正交的三个空间轴为X轴、Y轴、Z轴。如图2a和2b所示,取测试部30的水平移动方向也就是第一既定路径方向为X轴方向,测试头31的垂直移动方向为Y轴方向,固定部50的水平移动方向也就是第二既定路径方向为Z轴方向。
如图1、图2a和图2b所示,本发明的实施例提供了一种工装设备,包括:
容纳部20,用于容纳可更换部件10,所述可更换部件10上具有芯片11,所述芯片11包括若干电接口12;可更换部件10的结构可参考现有技术的内容,在此不做限定,可参照图1所示,图1是本发明可更换部件10的轴测图。可更换部件10呈盒体状,其腔室内储存有记录材料,芯片11设于盒体外表面,芯片11上设有存储设备,所述存储设备用于存储印刷材料剩余量信息、颜色信息、盒体容量信息、生产日期等信息数据,以及存储用于打印系统认证可更换部件10安全性的认证数据,芯片11上设有至少两个电接口12,所述至少两个电接口12与存储设备连接。当需要对可更换部件10的芯片11进行检测或数据更新时,一般都是通过与芯片11的电接口12接触以实现操作。
测试部30,设有若干用于与所述电接口12接触的触针32,触针32的数目与位置优选的与芯片11的电接口12的数目和位置对应,通过触针32与芯片11的电接口12进行接触实现电连接,从而对可更换部件10上的芯片11进行检测,或者更新芯片11内的数据。
第一驱动部40,设置在所述容纳部20和所述测试部30上,当向所述第一驱动部40输入预定信号时,所述第一驱动部40使所述测试部30以第一既定路径(未示出)靠近或远离所述容纳部20,本领域的技术人员可以知晓,也可以设定为容纳部20靠近或远离所述测试部30,或者两者相互靠近或远离,在此不做限定,预定信号是电流方向可改变的电信号或者是由高电平信号和低电平信号组成的信号,以实现两个方向的移动,使得所述测试部30以第一既定路径(未示出)靠近或远离所述容纳部20,参照图2a所示,当所述测试部30位于所述第一既定路径的第一位置时,测试部30位于第一既定路径上的起点位置,所述触针32与所述电接口12保持距离,脱离接触,参照图2b所示,当所述测试部30位于所述第一既定路径的第二位置时,所述触针32与所述电接口12接触,并保持持续性的电连接,对该可更换部件10的芯片11进行测试。
上述实施例通过设置第一驱动部40,驱动测试部30到达所述第一既定路径的第二位置,使得触针32与芯片11的电接口12接触,替代了现有的手动推动把手使测试头31的触针32与芯片11的电接口12接触的工装设备。可以自动完成测试头31的移动,对芯片11的操作完成后,也能够自动复位到最初位置,方便对下一个可更换部件10进行维修,相对于人工操作大大增加工作的效率。需要说明的是,驱动触针与电接口接触和分离的方式可以是电磁铁驱动,也可以是电机的方式驱动,本实施例以电磁铁驱动的方式为例进行说明。
作为本实施例的优选技术方案,所述第一驱动部40包括第一电磁铁41以及第一吸附部42,所述第一电磁铁41设置在所述容纳部20上以及所述第一吸附部42设置在所述测试部30上,或者所述第一电磁铁41设置在所述测试部30上以及所述第一吸附部42设置在所述容纳部20上,当向所述第一电磁铁41输入所述预定信号时,所述第一电磁铁41与所述第一吸附部42之间产生相向方向的吸附力或相背方向的排斥力,从而驱动所述测试部30沿第一既定路径靠近或远离所述容纳部20。本实施例中,第一电磁铁41是设置于测试部30上,第一吸附部42设于容纳部20上,容纳部20保持固定位置,测试部30通过所述第一电磁铁41与所述第一吸附部42之间产生相向方向的吸附力或相背方向的排斥力,靠近或远离容纳部20,本领域的技术人员可以知晓,可以将第一电磁铁41和第一吸附部42的位置调换,只要二者设置为相对且可以产生吸附力位移的位置即可。
当所述第一电磁铁41被通电时,输入所述预定信号产生吸附力;第一吸附部42一般都是由铁、镍、钴等制成的不显示磁性的金属,或者也可以是具有磁性的磁体,例如钐钴磁体、铁氧体磁铁、铝镍钴磁铁、铁铬钴磁等铁。当需要对可更换部件10的芯片11进行检测或更新数据时,将待操作的可更换部件10放置在容纳部20中,向工装设备通电,第一电磁铁41产生吸附力与第一吸附部42接触,从而测试部30从第一既定路径的第一位置移动到第二位置,使得触针32与可更换部件10的芯片11的电接口12接触,此时通过测试部30对芯片11进行检测或更新数据,测试完成后工装设备断电,第一电磁铁41失去吸附力与第一吸附部42分离,测试部30从第一既定路径的第二位置移动到第一位置,触针32离开可更换部件10的芯片11的电接口12。
为驱动测试部30能从第一既定路径的第二位置恢复到第一位置,所述容纳部20以及测试部30之间可设有第一弹性恢复部(未示出),所述第一弹性恢复部用于驱动所述测试部30由所述第一既定路径的第一端移动至所述第一既定路径的第二端。优选的是,第一弹性恢复部可采用弹簧、压簧等弹性件,以弹簧为例,当所述测试部30位于第一既定路径的第一位置时,弹簧处于自然伸长状态,测试部30被第一驱动部40驱动从第一既定路径的第一位置向第二位置移动时,弹簧被压缩,积蓄弹性恢复力,当测试部30完成测试后,第一驱动部40停止工作,即第一电磁铁41失去磁性和第一吸附部42之间的吸附力消失,弹簧的弹性恢复力释放,测试部30回到初始位置,也就是第一既定路径的第一位置。
在另一个实施方式中,所述第一电磁铁41的内部是一个线圈,可以通过改变其内部电流的流向使第一电磁铁41的显示出不同的极性,所述第一吸附部42是可以显示极性的永久磁铁或者也是一个通电可以产生磁性的电磁铁。当需要对芯片11进行操作时,向第一电磁铁41线圈通电使第一电磁铁41靠近第一吸附部42的一端呈现与第一吸附部42极性不同的极性,因此二者之间产生相向方向的吸附力,从而测试部30从第一既定路径的第一位置移动到第二位置,使得触针32与可更换部件10的芯片11的电接口12接触,对芯片11的操作完成后,改变第一电磁铁41线圈的电流的流向,使第一电磁铁41靠近第一吸附部42的一端呈现与第一吸附部42极性相同的极性,因此二者之间产生相背方向的排斥力,使得测试部30从第二位置重新回到第一位置,测试部30回到第一位置后即停止对第一电磁铁41的供电,第一电磁铁41失去磁性静止在第一位置上。通过这种改变电磁铁线圈流向的方式改变极性实现测试部30的位移功能,方便快捷,可靠稳定,且无需在容纳部20和测试支架33之间设置一个第一弹性恢复部,降低了设备结构的复杂性。
更进一步地,还包括导向构件34,所述测试部30包括测试头31以及测试支架33,所述触针32设于所述测试头31上,所述测试头31可升降的设置于所述测试支架33上,由于可更换部件10的品牌、型号不同等原因,所以设置在可更换部件10上的芯片11的电接口12个数不同,若要对芯片11进行检测或更新数据,测试头31上的触针32必须与电接口12一一对应,即触针32的数量和位置必须与电接口12的数量和位置相同。为了使工装设备可以适应多种不同的可更换部件10,测试头31可拆卸的安装于测试支架33上,当需要测试不同批次、类型的芯片11时,可将之前的测试头31拆卸下来,替换上适配的测试头31,如此便可大大增加工装设备的通用性。
更进一步地,通过将测试头31设置为可升降,从而可以调节测试头31的高度,使测试头31的触针32可以与芯片11的电接口12对位。设置在测试头31上的触针32具有弹性,可相对于测试头31收缩,可以缓冲触针32与电接口12接触时对电接口12造成的压力,避免触针32由于压力过大磨损电接口12。
所述测试支架33可沿第一既定路径往复移动的设置于所述导向构件34上。其连接结构可参考现有技术中的导轨和导向块的结构,在此不做赘述,导向构件34连接测试支架33以及容纳部20,导向构件34的导向路径即为第一既定路径,本实施例中,容纳部20与导向构件34的相对位置是固定的,测试支架33设置在导向构件34上且可相对导向构件34移动,本领域的技术人员可以知晓,也可以设定为容纳部20靠近或远离所述测试部30,或者两者相互靠近或远离,在此不做限定。
测试支架33上安装有测试头31和第一电磁铁41,测试头31设置在第一电磁铁41的上方,第一吸附部42设置在容纳部20的侧壁上,第一吸附部42与第一电磁铁41相对设置。工装设备工作时第一电磁铁41被通电产生磁力与容纳部20的第一吸附部42通过磁力吸附而接触,使得测试支架33带动测试头31沿导向构件34的轨道从第一位置移动到第二位置,当第一电磁铁41与第一吸附部42接触时,测试头31的触针32也与容纳部20的芯片11电接口12接触。当然,上述方案中也可设置为第一电磁铁41在容纳部20上,第一吸附部42在测试支架33上,只要二者设置为相对且可以产生吸附力位移的位置即可。
通过测试支架33和导向构件34,实现了测试头31的位移功能。进一步地,测试支架33与导向构件34的接合位置设置有滑轮,滑轮可以减少测试支架33与导向构件34之间的摩擦力,避免由于测试支架33与导向构件34的直接接触摩擦导致测试支架33在导向构件34上的移动不顺畅。
继续参照图2和图3所示,容纳部20包括顶部凹陷的盒体结构,容纳部20的顶部凹设有容纳槽21,可更换部件10从容纳槽21的开口处放置于容纳槽21中,芯片11从容纳槽21的开口延伸出,以与测试部30的触针32接触,由于容纳槽21的内壁面与可更换部件10之间存在有间隙,当测试头31从第一既定路径的第一位置移动到第二位置时,测试头31会对可更换部件10施加推动力,可更换部件10在推动力的作用下,会发生远离测试头31方向的移动,从而导致触针32与电接口12的接触不良,为解决上述技术问题,本实施例还设有固定部50,所述固定部50可沿第二既定路径(未示出)靠近或远离所述可更换部件10,本实施例中,第二既定路径设定为与第一既定路径方向相垂直,参照图3所示,图3是本发明的第一种结构的固定部50的结构示意图,固定部50位于可更换部件10的相对两侧,当所述固定部50位于所述第二既定路径的第一端时,也就是第二既定路径的起始端时,所述固定部50远离所述可更换部件10,从而可以取出可更换部件10,当所述固定部50位于所述第二既定路径的第二端时,也就是第二既定路径的末端时,所述固定部50将所述可更换部件10夹持,使得所述可更换部件10保持既定姿态,在此既定姿态下,当测试头31对可更换部件10施加推动力时,可更换部件10的位置不发生改变。
优选的是,固定部50上与可更换部件10接触的一侧设计为与可更换部件10的外轮廓面相贴合,以提高夹持稳定性,本实施例中,由于可更换部件10为六面体形状,所以固定部50可设计为两个相对设置的板体结构,可更换部件10设于两个板体结构之间。
或者,固定部50上设有突起,突起与可更换部件10的侧面相对,固定可更换部件10时突起伸入容纳部20与可更换部件10接触实现固定。
在一个实施例中,容纳部20的外壁与固定部50之间设有定位部,定位部可设计为两根定位条22,定位条22的轴线方向与第二既定路径的方向平行,两根定位条22平行设置于容纳部20上,固定部50上可以设有供定位条22延伸出的槽孔(未示出),从而使得固定部50件运动的过程中,固定部50始终沿着第二既定路径移动,以对可更换部件10保持良好的固定效果,防止固定部50在运动时相对于测试头31运动的方向发生倾斜。
更进一步地,所述固定部50连接有用于驱动固定部50沿第二既定路径移动的第二驱动部(未示出),所述第二驱动部包括第二电磁铁以及第二吸附部,所述第二电磁铁与所述第二吸附部之间产生相向方向的吸附力或相背方向的排斥力,从而驱动所述固定部50沿第二既定路径靠近或远离所述可更换部件10。位于可更换部件10左右两侧的固定部50均可设置在导轨上,第二电磁铁设于一侧的固定部50上,第二吸附部设于另一侧的固定部50上。
当所述第二电磁铁被通电时产生吸附力,第二吸附部一般都是由铁、镍、钴等制成的不显示磁性的金属,或者也可以是具有磁性的磁体,例如钐钴磁体、铁氧体磁铁、铝镍钴磁铁、铁铬钴磁等铁。当需要对可更换部件10进行固定时,向工装设备通电,第二电磁铁与第二吸附部之间产生吸附力,促使可更换部件10两侧的固定部50相互靠近,直至将可更换部件10夹持固定,测试完成后工装设备断电,第二电磁铁与第二吸附部之间不再产生吸附力。
为驱动固定部50能从第二既定路径的第二端恢复到第一端,所述容纳部20以及所述固定部50之间可设有第二弹性恢复部,所述第二弹性恢复部用于驱动所述固定部50由所述第二既定路径的第二端移动至所述第二既定路径的第一端。优选的是,第二弹性恢复部可采用弹簧、压簧等弹性件,以弹簧为例,当所述固定部50位于第二既定路径的第一端时,弹簧处于自然伸长状态,固定部50被第二驱动部驱动从第二既定路径的第一端向第二端移动时,弹簧被压缩,积蓄弹性恢复力,当测试部30完成测试后,第二驱动部停止工作,弹簧的弹性恢复力释放,固定部50回到初始位置,也就是第二既定路径的第一端。
在另一个实施方式中,所述第二电磁铁的内部是一个线圈,可以通过改变其内部电流的流向使第二电磁铁的显示出不同的极性,所述第二吸附部是可以显示极性的永久磁铁或者也是一个通电可以产生磁性的电磁铁。当需要夹持固定可更换部件10时,向第二电磁铁线圈通电使第二电磁铁靠近第二吸附部的一端呈现与第二吸附部极性不同的极性,因此二者之间产生相向方向的吸附力,从而固定部50从第二既定路径的第一端移动到第二端,可更换部件10两侧的两个固定部50将可更换部件10夹紧固定,对芯片11的操作完成后,改变第二电磁铁线圈的电流的流向,使第二电磁铁靠近第二吸附部的一端呈现与第二附部极性相同的极性,因此二者之间产生相背方向的排斥力,使得固定部50从第二端重新回到第一端,固定部50回到第一端后即停止对第二电磁铁的供电,第二电磁铁失去磁性静止在第一端上。通过这种改变电磁铁线圈流向的方式改变极性实现固定部50的位移功能,方便快捷,可靠稳定,且无需在容纳部20和固定部50之间设置一个第二弹性恢复部,降低了设备结构的复杂性。同时两个固定部50件间的距离随可更换部件10的宽度而定,固定部50件的设置更加灵活,可以适应多种宽度不同的可更换部件10,通用性更好。
参照图4所示的本发明的第二种结构的固定部50的结构示意图,固定部50的一端通过在转轴(未示出)枢接于固定部50上,形成类似合页结构,当需要对可更换部件10进行固定夹持时,固定部50以转轴为中心向靠近可更换部件10的一侧旋转,直至两个固定部50将可更换部件10夹持固定,当测试完成后,固定部50与转轴为中心向远离可更换部件10的一侧旋转,两个固定部50将可更换部件10释放。
进一步地,为了提高工装设备的工作效率,固定部50和测试部30之间还设置有联动部60,联动部60设置在容纳部20的底部位置,即测试支架33带动测试头31从第一既定路径的第一位置向第二位置移动的过程中,由于联动部60的作用,两个固定部50也会从第二既定路径的第一端向第二端移动,在测试头31到达第二位置前,两个固定部50已经到达第二端将可更换部件10固定好。以下提供几种结构的联动部60的实施方式,本领域的技术人员可以知晓,根据以下实施方式的启发,可以做出更多的变形实施方式。
参照图5a和图5b所示,图5a是本发明的第一种结构的联动部60结构示意图一;图5b是本发明的第一种结构的联动部60结构示意图二。
联动部60包括连接轴611、第一联动杆612、第二联动杆613以及第三联动杆614,连接轴611可沿第一既定路径方向往复移动,所述第一联动杆612的一端与测试支架33上的第一电磁铁41连接,所述第一联动杆612的另一端与连接轴611连接,所述第二联动杆613的一端与一个固定部50连接,所述第二联动杆613的另一端与所述连接轴611枢接,所述第三联动杆614的一端与另一个固定部50连接,所述第三联动杆614的另一端与所述连接轴611枢接,参照图5a所述,此时固定部50位于第二既定路径的第二端,第一电磁铁41以及测试头31位于第一既定路径的第二端,第二联动杆613和第三联动杆614的轴线方向平行,第一联动杆612的轴线方向垂直于第二联动杆613和第三联动杆614的轴线方向,参照图5b所示,第一电磁铁41被通电产生磁力与容纳部20的第一吸附部42通过磁力吸附,从而使得第一电磁铁41沿着第一既定路径从第二端朝向第一端移动,由于第一联动杆612与连接轴611连接,从而推动连接轴611同步移动,第二联动杆613和第三联动杆614的夹角变为锐角,两个固定部50由第二既定路径的第二端移动至第一端,在测试头31到达第二位置前,两个固定部50已经到达第二位端将可更换部件10固定好。测试完成后工装设备断电,第一电磁铁41与第一吸附部42之间不再产生吸附力,通过弹性恢复力或者排斥力的推动,第一电磁铁41从第一既定路径的第一端回到第二端,同步带动第一联动杆612、第二联动杆613和第三联动杆614回到初始位置,两个固定部50回到第二既定路径的第二端。
参照图6a和图6b所示,图6a是本发明的第二种结构的联动部60结构示意图一;图6b是本发明的第二种结构的联动部60结构示意图二。
联动部60包括第一齿条621、第二齿条622、第三齿条623以及齿轮组624,第一齿条621的一端与测试支架33上的第一电磁铁41连接,第二齿条622和第三齿条623分别连接一个固定部50,所述齿轮组624设有两个,一个齿轮组624分别与第一齿条621和第二齿条622啮合,另一个齿轮组624分别与第一齿条621和第三齿条623啮合,本实施例中,齿轮组624包括两个相互啮合的齿轮,第一齿条621沿着第一既定路径移动,经过齿轮组624的传导,驱动第二齿条622和第三齿条623相互靠近或远离。参照图6a所示,此时固定部50位于第二既定路径的第二端,第一电磁铁41以及测试头31位于第一既定路径的第二端,第二齿条622和第三齿条623的轴线方向平行,第一齿条621的轴线方向垂直于第二齿条622和第三齿条623的轴线方向,参照图6b所示,第一电磁铁41被通电产生磁力与容纳部20的第一吸附部42通过磁力吸附,从而使得第一电磁铁41沿着第一既定路径从第二端朝向第一端移动,继而使得第一齿条621前伸,通过齿轮组624的传导,第二齿条622和第三齿条623相互靠近,两个固定部50由第二既定路径的第二端移动至第一端,在测试头31到达第二位置前,两个固定部50已经到达第二端将可更换部件10固定好。测试完成后工装设备断电,第一电磁铁41与第一吸附部42之间不再产生吸附力,通过弹性恢复力或者排斥力的推动,第一电磁铁41从第一既定路径的第一端回到第二端,同步带动第一齿条621、第二齿条622和第三齿条623回到初始位置,两个固定部50回到第二既定路径的第二端。
参照图7a和图7b所示,图7a是本发明的第三种结构的联动部60结构示意图一;图7b是本发明的第三种结构的联动部60结构示意图二。
联动部60包括第一引导件631以及第二引导件632,所述第一引导件631的一端设有第一开口633,第一开口633的内径自开口端朝内逐渐收缩,形成类似于V型结构,所述第一引导件631的另一端连接于测试支架33上的第一电磁铁41上,所述第二引导件632设有两个,分别和两个固定部50对应,第二引导件632优选为L型结构,本领域的技术人员也可以根据实际需要改变第二引导件632的形状,第二引导件632的一端与固定部50连接,另一端延伸进第一开口633内,且与第一开口633的内壁面抵接,参照图7a所示,此时固定部50位于第二既定路径的第二端,第一电磁铁41以及测试头31位于第一既定路径的第二端,参照图7b所示,第一电磁铁41被通电产生磁力与容纳部20的第一吸附部42通过磁力吸附,从而使得第一电磁铁41沿着第一既定路径从第二端朝向第一端移动,继而使得第一引导件631前伸,通过第一开口633内壁的引导作用,两个第二引导件632相互靠近,两个固定部50由第二既定路径的第二端移动至第一端,在测试头31到达第二位置前,两个固定部50已经到达第二端将可更换部件10固定好。测试完成后工装设备断电,第一电磁铁41与第一吸附部42之间不再产生吸附力,通过弹性恢复力或者排斥力的推动,第一电磁铁41从第一既定路径的第一端回到第二端,两个固定部50回到第二既定路径的第二端。
参照图8a和图8b所示,图8a是本发明的第三种结构的联动部60结构示意图一;图8b是本发明的第三种结构的联动部60结构示意图二。
联动部60包括第三引导件641以及第四引导件642,所述第三引导件641的一端设有第二开口643,所述第三引导件641的另一端连接于测试支架33上的第一电磁铁41上,所述第四引导件642,设有两个,分别和两个固定部50对应,第四引导件642,优选为角型结构,角型结构上形成有导向斜面,本领域的技术人员也可以根据实际需要改变第四引导件642,的形状,第四引导件642,的一端与固定部50连接,另一端延伸进第二开口643内,第二开口643的顶部与角型结构的导向斜面抵接,参照图8a所示,此时固定部50位于第二既定路径的第二端,第一电磁铁41以及测试头31位于第一既定路径的第二端,参照图8b所示,第一电磁铁41被通电产生磁力与容纳部20的第一吸附部42通过磁力吸附,从而使得第一电磁铁41沿着第一既定路径从第二端朝向第一端移动,继而使得第三引导件641前伸,通过导向斜面的引导作用,两个第四引导件642相互靠近,两个固定部50由第二既定路径的第二端移动至第一端,在测试头31到达第二位置前,两个固定部50已经到达第二端将可更换部件10固定好。测试完成后工装设备断电,第一电磁铁41与第一吸附部42之间不再产生吸附力,通过弹性恢复力或者排斥力的推动,第一电磁铁41从第一既定路径的第一端回到第二端,两个固定部50回到第二既定路径的第二端。
联动部60的结构不限于本实施例所公开的几种结构,还可以是由其它结构的连杆或导轨等机械结构。
基于上述实施例,如图9所示,本发明还提供了一种测试系统,包括烧录设备70以及前述的工装设备,所述烧录设备70通过电路接口80与所述工装设备电连接。具体地,烧录设备70通过电路接口80与测试支架33上的测试头31和第一电磁铁41连接;烧录设备70上设有控制开关71,用于控制测试头31与第一电磁铁412工作;存储部件,用于存储检测和更新多种类型芯片11的程序;选择按键72,用户通过选择按键72选择与容纳部20上可更换部件10的芯片11类型相应的程序。
测试系统工作时,用户先把可更换部件10放置到容纳部20上,通过选择按键72选择与可更换部件10对应的程序,选择完成后按下控制开关71,通过电路接口80,第一电磁铁41被通电产生磁性与第一吸附部42吸附,测试支架33沿导向构件34运动使测试头31从第一既定路径的第一位置移动到第二位置,由于联动部60的作用,在测试头31的触针32与芯片11的电接口12接触前,两个固定部50已经到达第二既定路径的第二端将可更换部件10固定好,触针32与电接口12接触到位后,烧录设备70通过测试头31使用选定的程序对芯片11进行操作;操作完成后,烧录设备70控制第一电磁铁41断电,第一电磁铁41失去磁性,测试支架33被弹性恢复力推离,测试头31从第二位置恢复到第一位置,与此同时两个固定部50也离开第二既定路径的第二端回到第一端,或者烧录设备70控制改变第一电磁铁41的极性,使第一电磁铁41与第一吸附部42由于同极性产生相斥力,测试支架33带动测试头31从第一既定路径的第二位置恢复到第一位置,当测试头31恢复到第一位置后,烧录设备70对工装设备断电,测试头31静止在第一位置。
又或者,控制两个固定部50运动的不是联动部60而是第二电磁铁时,所述第二电磁铁也与烧录设备70连接。操作系统工作时,烧录设备70先向第二电磁铁通电使固定部50到达预定位置固定可更换部件10,再向第一电磁铁41通电使测试头31移动与芯片11接触,最后再控制测试头31对芯片11进行操作。
更进一步地,所述测试部30上设有信息提取部,本实施例中,信息提取部可以为扫描设备,所述可更换部件10上设有信息存储部,本实施例中,信息存储部可以是二维码或条形码,其上预存有设备的类型信息,所述信息提取部通过所述信息储存部获取所述可更换部件10的预设信息。操作前先将可更换部件10放置到容纳部20上,其中可更换部件10上贴有二维码或条形码信息的一侧与扫描设备相对,按下烧录设备70的控制开关71后,烧录设备70控制扫描设备扫描二维码或条形码信息获取可更换部件10的类型信息,根据类型信息烧录设备70在存储部件中选择好对应的程序,再控制测试头31和第一电磁铁41完成后续工作。通过信息提取部,可以实现烧录设备70自动选择对应程序的功能,而且还避免了人工选择可能会选错程序导致芯片11数据出错的问题。
以上依据图式所示的实施例详细说明了本发明的构造、特征及作用效果,以上所述仅为本发明的较佳实施例,但本发明不以图面所示限定实施范围,凡是依照本发明的构想所作的改变,或修改为等同变化的等效实施例,仍未超出说明书与图示所涵盖的精神时,均应在本发明的保护范围内。
Claims (10)
1.一种工装设备,其特征在于,包括:
容纳部,用于容纳可更换部件,所述可更换部件上具有芯片,所述芯片包括若干电接口;
测试部,设有若干用于与所述电接口接触的触针;
第一驱动部,设置在所述容纳部和所述测试部上,当向所述第一驱动部输入预定信号时,所述第一驱动部使所述测试部沿第一既定路径靠近或远离所述容纳部。
2.根据权利要求1所述的工装设备,其特征在于:
所述第一驱动部包括第一电磁铁以及第一吸附部,所述第一电磁铁设置在所述容纳部上以及所述第一吸附部设置在所述测试部上,或者所述第一电磁铁设置在所述测试部上以及所述第一吸附部设置在所述容纳部上;
当向所述第一电磁铁输入所述预定信号时,所述第一电磁铁产生吸附力,吸附所述第一吸附部,以驱动所述测试部靠近所述容纳部,使所述触针与所述电接口接触。
3.根据权利要求2所述的工装设备,其特征在于:
当向所述第一电磁铁输入预定信号时还可产生排斥力,以驱动所述测试部远离所述容纳部,使所述触针与所述电接口脱离接触。
4.根据权利要求2所述的工装设备,其特征在于:
所述容纳部以及测试部之间设有第一弹性恢复部,当所述第一电磁铁失去磁性时,所述第一弹性恢复部释放弹性恢复力,驱动所述测试部远离所述容纳部,使所述触针与所述电接口脱离接触。
5.根据权利要求1所述的工装设备,其特征在于:
还设有导向构件,所述测试部包括测试头以及测试支架,所述触针设于所述测试头上,所述测试头可升降的设置于所述测试支架上,所述测试支架可沿第一既定路径往复移动的设置于所述导向构件上。
6.根据权利要求1所述的工装设备,其特征在于:
所述容纳部的两侧还设有固定部,所述固定部可沿与所述第一既定路径垂直的第二既定路径靠近或远离所述可更换部件,以夹持或释放所述可更换部件。
7.根据权利要求6所述的工装设备,其特征在于:
所述固定部与所述测试部之间连接有联动部,当所述测试部移动至使所述触针与所述电接口接触时,所述固定部移动至夹持住所述可更换部件的位置。
8.根据权利要求6所述的工装设备,其特征在于:
所述固定部连接有第二驱动部,所述第二驱动部包括第二电磁铁以及第二吸附部,所述第二电磁铁与所述第二吸附部之间产生吸附力或排斥力,驱动所述固定部沿第二既定路径靠近或远离所述可更换部件。
9.根据权利要求6所述的工装设备,其特征在于:
所述容纳部以及所述固定部之间可设有第二弹性恢复部,所述第二弹性恢复部用于驱动所述固定部远离所述可更换部件。
10.一种测试系统,其特征在于,包括烧录设备以及如权利要求1-9任一项所述的工装设备,所述烧录设备通过电路接口与所述工装设备电连接。
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Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN203959808U (zh) * | 2014-07-31 | 2014-11-26 | 郑永强 | 用于夹持被罩的电磁夹具和伸缩装置 |
CN204925163U (zh) * | 2015-07-30 | 2015-12-30 | 汕头市锐科电子有限公司 | 一种液晶产品测试架 |
CN205656249U (zh) * | 2016-04-01 | 2016-10-19 | 广州兴森快捷电路科技有限公司 | 一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置 |
CN107943010A (zh) * | 2017-12-25 | 2018-04-20 | 苏州睿艾迪汽车科技有限公司 | 基于电机模拟的fct测试装置 |
CN107957545A (zh) * | 2017-12-25 | 2018-04-24 | 苏州睿艾迪汽车科技有限公司 | Fct探针测试仪器 |
CN207557426U (zh) * | 2017-12-25 | 2018-06-29 | 苏州睿艾迪汽车科技有限公司 | Fct探针测试仪器 |
CN207964889U (zh) * | 2018-01-30 | 2018-10-12 | 北京智行鸿远汽车有限公司 | 一种电路板测试工装 |
CN209232897U (zh) * | 2018-12-24 | 2019-08-09 | 昆山正国新能源动力电池有限公司 | 新型锂电池测试台 |
CN210894427U (zh) * | 2019-09-04 | 2020-06-30 | 深圳市光彩凯宜电子开发有限公司 | 分线器快速测试工装 |
-
2021
- 2021-07-28 CN CN202110858055.6A patent/CN113589145A/zh active Pending
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN203959808U (zh) * | 2014-07-31 | 2014-11-26 | 郑永强 | 用于夹持被罩的电磁夹具和伸缩装置 |
CN204925163U (zh) * | 2015-07-30 | 2015-12-30 | 汕头市锐科电子有限公司 | 一种液晶产品测试架 |
CN205656249U (zh) * | 2016-04-01 | 2016-10-19 | 广州兴森快捷电路科技有限公司 | 一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置 |
CN107943010A (zh) * | 2017-12-25 | 2018-04-20 | 苏州睿艾迪汽车科技有限公司 | 基于电机模拟的fct测试装置 |
CN107957545A (zh) * | 2017-12-25 | 2018-04-24 | 苏州睿艾迪汽车科技有限公司 | Fct探针测试仪器 |
CN207557426U (zh) * | 2017-12-25 | 2018-06-29 | 苏州睿艾迪汽车科技有限公司 | Fct探针测试仪器 |
CN207964889U (zh) * | 2018-01-30 | 2018-10-12 | 北京智行鸿远汽车有限公司 | 一种电路板测试工装 |
CN209232897U (zh) * | 2018-12-24 | 2019-08-09 | 昆山正国新能源动力电池有限公司 | 新型锂电池测试台 |
CN210894427U (zh) * | 2019-09-04 | 2020-06-30 | 深圳市光彩凯宜电子开发有限公司 | 分线器快速测试工装 |
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