CN113567839A - 一种电路检测系统及投影设备 - Google Patents

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CN113567839A CN202110864896.8A CN202110864896A CN113567839A CN 113567839 A CN113567839 A CN 113567839A CN 202110864896 A CN202110864896 A CN 202110864896A CN 113567839 A CN113567839 A CN 113567839A
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李波
钟颖
张聪
胡震宇
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Shenzhen Huole Science and Technology Development Co Ltd
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Shenzhen Huole Science and Technology Development Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2825Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment

Abstract

本公开提供一种电路检测系统及投影设备。电路检测系统包括电源开关单元、第一连接单元和第二连接单元;电源开关单元用于接收电源信号;第一连接单元包括第一连接主体和设置在第一连接主体上的检测电压连接端和检测信号输出端,检测电压连接端与检测电压信号线电连接,检测信号输出端与电源开关单元电连接;第二连接单元包括第二连接主体和设置在第二连接主体上的检测电压对应端与检测信号对应端;第一连接单元与第二连接单元连接时,检测电压连接端与检测信号输出端形成检测电路;电源开关单元根据检测电压信号控制电源信号导通或断开。本公开可以避免投影设备的光机在电源信号传输异常的情况下工作导致损伤。

Description

一种电路检测系统及投影设备
技术领域
本公开涉及投影设备技术领域,尤其涉及一种电路检测系统及投影设备。
背景技术
在投影设备的生产过程中,需要对主板和光机做多次的功能测试。主板与光机之间是通过主板插座和对应FPC(柔性电路板)连接线的连接来完成的。由于插座芯数多,包括几十芯至上百芯,且尺寸较长,连接线与主板插座容易产生连接不良的情况;而光机内核心器件DMD(数字微镜器件)芯片精密度高,对电源和信号的时序有严格要求,在连接不良的情况下通电很可能使DMD芯片上的微镜单元因动作异常而相互碰撞,造成损坏,导致BBF(块体边界损坏)现象。
发明内容
为了解决上述现有技术存在的问题和不足,本公开的目的是提供一种电路检测系统及投影设备,可以防止光机在电源连接传输异常的情况下继续工作导致损坏。
为实现上述目的,本公开首先一种电路检测系统,包括:
电源开关单元,用于接收电源信号;
第一连接单元,包括第一连接主体和设置在第一连接主体上的检测电压连接端和检测信号输出端,检测电压连接端与检测电压信号线电连接,检测信号输出端与电源开关单元电连接;
第二连接单元,包括第二连接主体和设置在第二连接主体上的检测电压对应端与检测信号对应端;
第一连接单元与第二连接单元连接时,检测电压连接端和检测电压对应端相连,检测信号输出端和检测信号对应端相连,同时,检测电压对应端和检测信号对应端相连,形成检测电压连接端与检测信号输出端之间的检测电路;
电源开关单元根据检测电路输出的检测电压信号,控制电源信号导通至第一连接单元。
可选地,当检测电压连接端和检测电压对应端相连,检测信号输出端和检测信号对应端相连均正常时,检测电压连接端与检测信号输出端导通,检测电压信号为检测电压信号线的信号,电源开关单元控制电源信号导通至第一连接单元。
可选地,检测电压信号线为地线,检测电压连接端与检测信号输出端导通时,检测电压信号为低电平信号。
可选地,当检测电压连接端和检测电压对应端相连异常时,或检测信号输出端和检测信号对应端相连异常时,检测电压连接端与检测信号输出端电连接断开,检测电压信号悬空,电源开关单元控制电源信号断开。
可选地,第一连接单元还包括第一子连接端,第二连接单元还包括第二子连接端,第一子连接端的数量与第二子连接端的数量相同;检测电压连接端和检测信号输出端中的至少一者与第一子连接端相连,和/或,检测电压对应端和检测信号对应端中的至少一者与第二子连接端相连,以使第一连接单元与第二连接单元连接,每个第一子连接端均和对应的第二子连接端相连时,形成检测电路。
可选地,电源开关单元包括电源输入端、电源输出端及电源开关电路;电源开关电路包括控制信号线、第一晶体管和第二晶体管;第一晶体管的栅极与控制信号线相连,其源极与检测信号输出端相连,其漏极分别与电源输入端和第二晶体管的栅极相连;第二晶体管的源极与电源输入端相连,其漏极与电源输出端相连,电源输出端与地极相连。
可选地,电源开关单元包括电源输入端、电源输出端及电源开关电路;电源开关电路包括控制信号线、第一晶体管和第二晶体管;第一晶体管的栅极与检测信号输出端相连,其源极与地极相连,其漏极分别与电源输入端和第二晶体管的栅极相连;第二晶体管的源极电源信号输入端相连,其漏极与电源输出端相连,电源输出端与地极相连。
可选地,第一晶体管为N沟道场效应晶体管,第二晶体管为P沟道场效应晶体管,N沟道场效应晶体管根据是否接收到检测电压信号,控制P沟道场效应晶体管的导通与断开,P沟道场效应晶体管控制电源输入端与电源输出端的导通或断开。
本公开同时提供一种投影设备,包括光机、主板和上述的电路检测系统,电路检测系统的电源开关单元设置在主板上,电路检测系统的第二连接单元与光机电连接。
可选地,主板还设置有电源管理单元和显示控制单元;电源管理单元用于接收电路检测系统的电源信号,并将电源信号分别传输至电路检测系统的第一连接单元和显示控制单元;显示控制单元根据电源信号向第一连接单元传输光机显示信号。
与现有技术相比,本公开的有益效果包括:
当检测电压连接端和检测电压对应端相连,检测信号输出端和检测信号对应端相连均正常时,检测电压信号线与检测信号输出端导通,形成检测电压信号,检测信号输出端向电源开关单元传输此检测电压信号,电源开关单元控制主板上的电源信号导通,使电源信号通过第一连接单元与第二连接单元的连接,传输至光机,使光机正常工作。
当检测电压连接端和检测电压对应端相连异常时,或检测信号输出端和检测信号对应端相连异常时,检测电压信号线与检测信号输出端导通不导通,无法形成检测信号,电源开关单元检测不到检测电压信号,电源开关单元断开电源信号,第一连接单元停止向第二连接单元传输电源信号,光机断电停止工作,这样避免光机在第一连接单元和第二连接单元连接异常的情况下继续工作,导致光机DMD微镜单元因动作异常而相互碰撞,造成损坏,导致BBF(块体边界损坏)现象。
附图说明
为了更清楚地说明本公开的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本公开实施例投影设备的模块连接图一;
图2是本公开实施例投影设备的模块连接图二;
图3是本公开实施例投影设备的模块连接图三;
图4是本公开实施例第一连接单元和第二连接单元的引脚连接图一
图5是本公开实施例第一连接单元和第二连接单元的引脚连接图二;
图6是本公开实施例第一连接单元和第二连接单元的引脚连接图三
图7是本公开实施例第一连接单元和第二连接单元的引脚连接图四
图8是本公开实施例第一连接单元和第二连接单元的引脚连接图五;
图9是本公开实施例第一连接单元和第二连接单元的引脚连接图六;
图10是本公开实施例电源开关电路的电路原理图一;
图11是本公开实施例电源开关电路的电路原理图二;
图12是本公开实施例主板的模块连接图;
图13是本公开实施例投影设备的电源控制方法步骤图。
附图标记说明:
1-光机;2-主板;21-电源开关单元;22-电源管理单元;23-显示控制单元;3-第一连接单元;31-第一连接主体;4-第二连接单元;41-第二连接主体。
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本公开的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本公开的其他优点与功效。显然,所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例,而不是全部的实施例。本公开还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用,本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用,在没有背离本公开的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是,在不冲突的情况下,以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于本公开中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本公开保护的范围。
需要说明的是,下文描述在所附权利要求书的范围内的实施例的各种方面。应显而易见,本文中所描述的方面可体现于广泛多种形式中,且本文中所描述的任何特定结构及/或功能仅为说明性的。基于本公开,所属领域的技术人员应了解,本文中所描述的一个方面可与任何其它方面独立地实施,且可以各种方式组合这些方面中的两者或两者以上。举例来说,可使用本文中所阐述的任何数目的方面来实施设备及/或实践方法。另外,可使用除了本文中所阐述的方面中的一个或多个之外的其它结构及/或功能性实施此设备及/或实践此方法。
还需要说明的是,以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本公开的基本构想,图式中仅显示与本公开中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制,其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变,且其组件布局型态也可能更为复杂。
另一方面,本文中“第一”、“第二”等前缀描述,仅用于对不同部件作名称上的区分,而不代表或暗示其重要程度、优先级别或先后顺序。
另外,在以下描述中,提供具体细节是为了便于透彻理解实例。然而,所属领域的技术人员将理解,可在没有这些特定细节的情况下实践所述方面。
本公开实施例提供一种电路检测系统,如图1所示,包括电源开关单元21、第一连接单元3、第二连接单元4。
电源开关单元21用于接收电源信号。
第一连接单元3包括第一连接主体31和设置在第一连接主体31上的检测电压连接端和检测信号输出端。检测电压连接端与检测电压信号线电连接,检测信号输出端与电源开关单元21电连接。在图1中,检测电压连接端为引脚A1,检测信号输出端为引脚D1。
第二连接单元4,包括第二连接主体41和设置在第二连接主体41上的检测电压对应端与检测信号对应端。在图1中,检测电压对应端为引脚A2,检测信号对应端为引脚D2。
第一连接单元3与第二连接单元4连接时,检测电压连接端和检测电压对应端相连,检测信号输出端和检测信号对应端相连,同时,检测电压对应端和检测信号对应端相连,形成检测电压连接端与检测信号输出端之间的检测电路。可以理解的是,检测电压对应端和检测信号对应端相连,可能是相连并电连接的正常状态,也可能是相连但无法实现电连接的故障状态。
在本实施例的一种实施方式中,检测电压对应端(引脚A2)与检测信号对应端(引脚D2)电连接,当第一连接单元3与第二连接单元4连接时,检测电压连接端(引脚A1)与检测信号输出端(引脚D1)之间即可形成一个可以用于检测电压信号传输的检测电路。若引脚A1与引脚A2,引脚D1与引脚D2均连接良好,则检测电压信号线与电源开关单元21导通,反之则不导通。
电源开关单元21根据检测电路输出的检测电压信号,控制电源信号导通至第一连接单元3。本实施例中,检测电路输出的检测电压信号为通过检测信号输出端输出。可以理解的是,电源开关单元21根据检测电压信号控制电源信号导通至第一连接单元3包括至少两种情况,一是检测电压信号满足预设要求,电源开关单元控制电源信号导通至第一连接单元3,二是检测电压信号不满足预设要求,电源开关单元控制电源信号不导通至第一连接单元3,即控制电源信号断开。
采用上述结构,当检测电压连接端和检测电压对应端相连,检测信号输出端和检测信号对应端相连均正常时,检测电压信号线与检测信号输出端导通形成检测电压信号,检测信号输出端向电源开关单元21传输检测电压信号,电源开关单元21控制电源信号导通,使电源信号通过第一连接单元3与第二连接单元4,向用电设备输出。
当检测电压连接端和检测电压对应端相连异常时,或检测信号输出端和检测信号对应端相连异常时,检测电压信号线与检测信号输出端不导通,无法形成检测电压信号,电源开关单元21接收不到连接正常的检测电压信号,电源开关单元21断开电源信号,第一连接单元3停止向第二连接单元4传输电源信号,使与第二连接单元连接的用电设备,例如投影设备的光机,无法获得电源信号。投影设备的光机1断电停止工作,这样避免光机1在第一连接单元3和第二连接单元4连接异常的情况下继续工作,导致光机DMD微镜单元因动作异常而相互碰撞,造成损坏,导致BBF(块体边界损坏)现象。
如图2所示,在本实施例的一种实施方式中,第一连接单元3可以为插座母座,其中,在插座母座的左上角的引脚A1为检测电压连接端,左下角的引脚D1为检测信号输出端。引脚A1与地线连接,引脚D1与电源开关单元21连接。
第二连接单元4可以为插座公座,检测电压对应端为引脚A2、检测信号对应端为引脚D2。
如图3所示,在本实施例的一种实施方式中,第一连接单元3可以为插座公座,其中,在插座公座的左上角的引脚A1为检测电压连接端,左下角的引脚D1为检测信号输出端。引脚A1与地线连接,引脚D1与电源开关单元21连接。
第二连接单元4可以为插座母座,检测电压对应端为引脚A2、检测信号对应端为引脚D2。
这样,当插座母座和插座公座连接时,引脚A1和引脚A2对位连接,引脚D1和引脚D2对位连接。
在本实施例的一种实施方式中,检测电压信号线可以为地线,地线为低电平状态,检测电压连接端与检测信号输出端导通时,检测电压信号为低电平信号。电源开关单元21根据此低电平信号,控制电源导通。
在本实施例的一种实施方式中,第一连接单元3还包括第一子连接端,第二连接单元4还包括第二子连接端,第一子连接端和第二子连接端的数量相同。
检测电压连接端和检测信号输出端中的至少一者与第一子连接端相连,和/或,检测电压对应端和检测信号对应端中的至少一者与第二子连接端相连,以使第一连接单元3与第二连接单元4连接,每个第一子连接端均和对应的第二子连接端相连时,形成检测电路。
可以理解的是,该实施方式中,有至少以下几种实施例:
如图4所示,检测电压连接端(引脚A1)与第一子连接端(引脚B1)相连,检测信号对应端(引脚D2)与第二子连接端(引脚B2)相连,以使第一连接单元3与第二连接单元4连接时形成检测电路。
如图5所示,检测信号输出端(引脚D1)与第一子连接端(引脚B1)相连,检测电压对应端(引脚A2)与第二子连接端(引脚B2)相连,以使第一连接单元3与第二连接单元4连接时形成检测电路。
如图6所示,第一子连接端和第二子连接端均为单个,检测电压对应端(引脚A2)和检测信号对应端(引脚D2)均与第二子连接端(引脚B2)相连,以使第一连接单元3与第二连接单元4连接时形成检测电路。
第一子连接端和第二子连接端均为多个,检测电压连接端和检测信号输出端均与第一子连接端相连,而且,多个第二子连接端中的至少部分相连(同时可能有多个第一子连接端中的至少部分相连),以使第一连接单元3与第二连接单元4连接时形成检测电路;
第一子连接端和第二子连接端均为多个,检测电压对应端和检测信号对应端均与第二子连接端相连,而且,多个第一子连接端中的至少部分相连(同时可能有多个第二子连接端中的至少部分相连),以使第一连接单元3与第二连接单元4连接时形成检测电路;
这样可以使第一连接单元3和第二连接单元4连接后,使检测电压信号线与检测信号输出端之间能形成检测电压信号传输的检测电路。
当检测电压连接端、检测信号输出端和第一子连接端分别与对应的第二子连接端连接均有异常时,即引脚A1和引脚A2,或,引脚D1和引脚D2,中有一个连接不良时,检测电压信号线与检测信号输出端不导通,检测电压信号线的信号无法通过引脚A1传输至引脚D1,引脚D1为悬空状态,电源开关单元21接收不到检测信号,控制电源信号断开。
在本实施例的一种实施方式中,如图2和3所示,第一连接单元3中,检测电压连接端选为引脚A1,第一子连接端的数目为两个,其为引脚B1和引脚C1,检测信号输出端选为引脚D1。检测电压连接端与检测电压信号线电连接,检测信号输出端与电源开关单元21电连接,引脚B1和引脚C1电连接,第一连接单元3与开关单元21电连接。
第二连接单元4中,检测电压对应端选为引脚A2,第二子连接端的数目同样为两个,其为引脚B2和引脚C2,检测信号对应端选为引脚D2,引脚A2和B2电连接,引脚C2和引脚D2电连接。即引脚A2与引脚A1对位设置,引脚B2和引脚B1对位设置,引脚C2和引脚C1对位设置,引脚D2和引脚D1对位设置。当第一连接单元3和第二连接单元4连接时,这样的连接方式可以使检测电压连接端和检测信号输出端,即引脚A1与引脚D1之间能形成导通的检测电路。
在本实施例的一种实施方式中,如图7所示,在第一连接单元3中,引脚A1与B1连接,引脚D1和C1连接,引脚A1作为检测电压连接端与检测电压信号线相连,引脚D1作为检测信号输出端与电源开关单元21相连。在第二连接单元4中,引脚B2和C2相连。当第一连接单元3和第二连接单元4连接时,引脚A1和引脚A2,引脚B1和引脚B2,引脚C1和引脚C2,引脚D1和引脚D2,这四对引脚相连,使检测电压信号线与检测信号输出端之间能形成检测电压信号传输的检测电路。
可以理解的是,第一连接单元3和第二连接单元4优选为双排式的结构,即第一子连接端和第二子连接端的数目均为两个,且第一连接单元3上的检测电压连接端、两个第一子连接端和检测信号输出端分布在双排式结构的四角,以及第二连接单元4上的检测电压对应端、两个第二子连接端和检测信号对应端也分布在其的四角,如此,四个引脚能够较为全面地检测第一连接单元3和第二连接单元4的连接稳固性,有利于提高检测的准确性和可靠性。
当然,更多的第一子连接端和第二子连接端可以进一步提高检测的准确性和可靠性,具体数目可以根据具体第一子连接端和第二子连接端的引脚规模而定,以下分别以6对子连接端和8对子连接端进行详细说明。
如图8所示,在本实施例的一种实施方式中,第一连接单元3可以包括一个检测电压连接端、一个检测信号输出端和四个第一子连接端,第二连接单元4包括一个检测电压对应端、一个检测信号对应端和四个第二子连接端。
其中,在第一连接单元3中,左上角的引脚A1选为检测电压连接端,右上角的引脚B1、左下角的引脚D1、中间的引脚E1和引脚F1均为第一子连接端,右下角的引脚C1为检测信号输出端。引脚A1与地线连接,引脚B1与引脚F1连接,引脚E1与引脚D1连接,引脚C1与电源开关单元21连接。
在第二连接单元4中,左上角引脚A2选为检测电压对应端,右上角的引脚B2、左下角的引脚D2、中间的引脚E2和引脚F2均为第二子连接端,右下角的引脚C2选为检测信号对应端,引脚A2和引脚B2连接,引脚C2和引脚D2连接,引脚E2和引脚F2连接。
当第一连接单元3与第二连接单元4连接时,引脚A1和引脚A2,引脚B1和引脚B2,引脚C1和引脚C2,引脚D1和引脚D2,引脚E1和引脚E2,引脚F1和引脚F2均连接,这样六对引脚的连接,也能使检测电压信号线与检测信号输出端之间能形成检测电压信号传输的电路。当六对引脚连接都良好时,引脚C1作为检测信号输出端,和检测电压信号线导通,向电源开关单元21输出低电平信号。
如图9所示,在本实施例的一种实施方式中,第一连接单元3可以包括一个检测电压连接端、一个检测信号输出端和六个第一子连接端,第二连接单元4包括一个检测电压对应端、一个检测信号对应端和六个第二子连接端。
其中,在第一连接单元3中,左上角的引脚A1选为检测电压连接端,右上角的引脚B1、右下角的引脚C1、中间的引脚E1、引脚F1、引脚G1及引脚H1均为第一子连接端,左下角的引脚D1为检测信号输出端。引脚B1与引脚F1连接,引脚E1与引脚H1连接,引脚G1与引脚C1连接,引脚D1与电源开关单元21连接。
在第二连接单元4中,左上角的引脚A2选为检测电压对应端,右上角的引脚B2、右下角的引脚C2及中间的引脚E2、引脚F2、引脚G2及引脚H2均选为第二子连接端,左下角的引脚D2选为检测信号对应端,引脚A2和引脚B2连接,引脚C2和引脚D2连接,引脚E2和F2连接,引脚G2和引脚H2连接。
当第一连接单元3与第二连接单元4连接时,引脚A1和引脚A2,引脚B1和引脚B2,引脚C1和引脚C2,引脚D1和引脚D2,引脚E1和引脚E2,引脚F1和引脚F2,引脚G1和引脚H1均连接,这样八对引脚的连接也能使检测电压信号线与检测信号输出端之间能形成检测电压信号传输的电路。当八对引脚连接都良好时,引脚D1作为检测信号输出端,和检测电压信号线导通,向电源开关单元21输出低电平信号。
在本实施例中,多引脚的连接可以进一步提升检测精度,尤其是插座包含多个引脚时,还可以设置十对甚至更多对引脚的连接方式,本公开不做一一列举。无论多少对引脚的连接,在所有引脚连接良好的情况下,检测电压连接端与检测信号输出端之间都应形成导通的电路。另一方面,只要其中有一对引脚连接不良,检测信号输出端则不能输出检测信号,电源开关单元21即断开电源信号传输。
在本实施例的一种实施方式中,电源开关单元21包括:
检测信号输入端,用于接收检测信号输出端传输的检测信号;
电源输入端,用于接收电源信号的输入;
电源输出端,用于将电源信号传输至第一连接单元3;
电源开关电路,用于根据是否检测到检测电压信号控制电源输入端与电源输出端的导通或断开。
电源信号通过电源输入端进入到电源开关单元21内,当检测信号输入端收到检测电压信号时,电源开关电路导通,电源信号从电源输出端向第一连接单元3输出。当检测信号输入端没收到检测电压信号时,电源开关电路断开,电源输出端断开与向第一连接单元3的电源信号传输。
在本实施例的一种实施方式中,电源开关电路包括控制信号线、第一晶体管和第二晶体管;第一晶体管的栅极与控制信号线相连,其源极与检测信号输出端相连,其漏极分别与电源输入端和第二晶体管的栅极相连;第二晶体管的源极与电源输入端相连,其漏极与电源输出端相连,电源输出端与地极相连。
如图10所示,电源开关电路可以具体包括第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第一电容C1、第二电容C2、控制信号线、第一晶体管NMOS和第二晶体管PMOS,第一电阻R1的一端分别与电源输入端、第一电容C1的一端和第二晶体管PMOS的源极相连,第一电阻R1的另一端分别与第二电阻R2的一端和第三电阻R3的一端相连,第二电阻R2的另一端与第一晶体管NMOS的漏极相连,第三电阻R3的另一端分别与第一电容C1的另一端和第二晶体管PMOS的栅极相连,第二电容C2的一端与地极相连,另一端分别与第二晶体管PMOS的漏极和电源输出端相连,第一晶体管NMOS的源极和栅极分别与检测信号输出端和控制信号线相连。其中检测电压连接端与地线连接。
其中,第一晶体管NMOS为N沟道场效应晶体管,第二晶体管PMOS为P沟道场效应晶体管,N沟道场效应晶体管根据是否接收到检测电压信号,控制P沟道场效应晶体管的导通与断开,P沟道场效应晶体管控制电源输入端与电源输出端的导通或断开。
N沟道场效应晶体管的特点是,当其栅极与源极的电压差达到大于一定的阈值时,N沟道场效应晶体管则处于导通的状态,反之则处于截止状态。
P沟道场效应晶体管的特点是,当其栅极与源极的电压差达到小于一定的阈值时,P沟道场效应晶体管则处于导通的状态,反之则处于截止状态。
在上述电路中,当第一连接单元3与第二连接单元4连接正常时,检测电压信号为低电平信号,第一晶体管NMOS的源极处于低电平状态,控制信号线给第一晶体管NMOS的栅极施加设定的电压,使第一晶体管NMOS的栅极和源极的电压差达到导通范围,第一晶体管NMOS导通。同时,第二晶体管PMOS的栅极和源极的电压差也达到导通范围,第二晶体管PMOS导通,电源从电源输入端流入从电源输出端流出。
当第一连接单元3与第二连接单元4连接异常时,检测信号输出端为悬空状态,第一晶体管NMOS的源极处于悬空状态,第一晶体管NMOS的栅极与源极的电压差不在导通范围内,第一晶体管NMOS处于截止状态。同时,第二晶体管PMOS的栅极和源极的电压差也无法达到导通范围,第二晶体管PMOS截止,电源输入端与电源输出端的电源传输断开。
在本实施例的一种实施方式中,电源开关电路包括控制信号线、第一晶体管和第二晶体管;第一晶体管的栅极与检测信号输出端相连,其源极与地极相连,其漏极分别与电源输入端和第二晶体管的栅极相连;第二晶体管的源极电源信号输入端相连,其漏极与电源输出端相连,电源输出端与地极相连。
如图11所示,电源开关电路可以具体包括第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第一电容C1、第二电容C2、第一晶体管NMOS和第二晶体管PMOS,第一电阻R1的一端分别与电源输入端、第一电容C1的一端和第二晶体管PMOS的源极相连,第一电阻R1的另一端分别与第二电阻R2的一端和第三电阻R3的一端相连,第二电阻R2的另一端与第一晶体管NMOS的漏极相连,第三电阻R3的另一端分别与第一电容C1的另一端和第二晶体管PMOS的栅极相连,第二电容C2的一端与地极相连,另一端分别与第二晶体管PMOS的漏极和电源输出端相连,第一晶体管NMOS的源极分别与第四电阻R4的一端和地极相连,第一晶体管NMOS的栅极分别与第四电阻R4的另一端和检测信号输出端相连。其中检测电压连接端与检测电压信号线连接,检测信号线的电位大于地极。
在上述电路中,当第一连接单元3与第二连接单元4连接正常时,检测信号线施加给第一晶体管NMOS栅极一定的电压,第一晶体管NMOS源极连接地极,此时第一晶体管NMOS的栅极和源极的电压差达到了导通范围,第一晶体管NMOS导通。同时,第二晶体管PMOS的栅极和源极的电压差也达到导通范围,第二晶体管PMOS导通,电源从电源输入端流入从电源输出端流出。
当第一连接单元3与第二连接单元4连接异常时,检测信号输出端为悬空状态,第一晶体管NMOS的栅极处于悬空状态,第一晶体管NMOS的栅极与源极的电压差不在导通范围内,第一晶体管NMOS处于截止状态。同时,第二晶体管PMOS的栅极和源极的电压差也无法达到导通范围,第二晶体管PMOS截止,电源输入端与电源输出端的电源传输断开。
采用上述方法,当检测电压连接端、检测信号输出端和第一子连接端分别与对应的第二子连接端连接均正常时,检测电压信号线与检测信号输出端导通形成检测电压信号,检测信号输出端向电源开关单元21传输检测电压信号,电源开关单元21电源信号导通,使电源信号通过第一连接单元3与第二连接单元4的连接,传输至用电设备,例如投影设备的光机。
当检测电压连接端、检测信号输出端或第一子连接端分别与对应的第二子连接端连接有异常时,检测电压信号线与检测信号输出端不导通,无法形成检测电压信号,电源开关单元21接收不到连接正常的检测电压信号,电源开关单元21断开电源信号,第一连接单元3停止向第二连接单元4传输电源信号。
本实施例的电路检测系统可以应用于投影设备中,投影设备的光机包含有DMD(数字微镜器件),DMD(数字微镜器件)是一种高精密的器件,由多个高速数字式光反射开光组成的阵列。DMD是由许多小型铝制反射镜面构成的,镜片的多少由显示分辨率决定,一个小镜片对应一个像素。相对于TFT-LCD(液晶)的透射率低,对比度小,DMD的反射率高,对比度大。将物体成像于DMD器件上,通过DMD器件的像素级可控特性及其高速的翻转频率,再将每个像点依次扫描到探测器上,实现白天对可见光条件下物体的高速被动式点扫描成像。加入适当光源还可实现主动式扫描成像。
每一个微反射镜单元都是一个独立的个体,并且可以翻转不同的角度,因此通过微镜单元所反射的光线可以呈现不同的角度,具体表现为其对应的数字图像像素的亮暗程度。DMD工作时,在反射镜上加负偏置电压,其中一个寻址电极上加+5V(数字1),另一个寻址电极接地(数字0),这样使微镜与微镜的寻址电极,扭臂梁与扭臂梁的寻址电极之间就形成一个静电场,从而产生一个静电力矩,使微反射镜单元绕扭臂梁旋转,直到接触到“着陆平台”为止。由于“着陆平台”的限制,使镜面的偏转角度保持固定值(+12度/-12度或+10度/-10度),并且在DMD整体上能够表现出很好的一致性。在扭矩的作用下,微反射镜单元将一直锁定于该位置上,直至复位信号出现为止。微反射镜单元的上半部分与下半部分处于平行的关系,且不稳定,一旦加上偏置电压,微反射镜单元和扭臂梁会以很快的速度偏离平衡位置。
每一个微反射镜单元有三个稳态:+12度或+10度(开)、0度(无信号)、-12度或-10度(关)。当给微反射镜一个信号“1”,其偏转+12度或+10度,被反射的光刚好沿光轴方向通过投影物镜成像在屏上,形成一个亮的像素。当反射镜偏离平衡位置-12度或-10度时(信号“0”),反射的光束将不能通过投影透镜,因此呈现一个暗的像素。控制信号二进制的“1”、“0”状态,分别对应微镜的“开”、“关”两个状态。当给定的图形数据控制信号序列被写入CMOS(感光元件)电路时,通过DMD对入射光进行调制,图形就可以显示于像面上。
由此可见,DMD数字微镜器件精密度极高,对电源信号和光机显示信号的时序有严格要求,一旦电源信号或光机显示信号的连接传输出现异常时,都会使DMD在错误的状态下工作,导致器件造成损伤。而在本公开中,在第一连接单元3和第二连接单元4的连接中,只要出现连接不良的情况就会导致电源开关单元21无法接收到检测信号,进而断开电源信号的传输,使光机1能及时停止工作,避免造成损伤。
本公开实施例还提供一种投影设备,如图1和2所示,包括光机1、主板2、第一连接单元3和第二连接单元4。
主板2设置有电源开关单元21,电源开关单元21用于控制主板2上的电源信号导通或断开。
第一连接单元3包括第一连接主体31和设置在第一连接主体31上的检测电压连接端和检测信号输出端。检测电压连接端与检测电压信号线电连接,检测信号输出端与主板2的电源开关单元21电连接。在图1中,检测电压连接端为引脚A1,检测信号输出端为引脚D1。
第二连接单元4,包括第二连接主体41和设置在第二连接主体41上的检测电压对应端与检测信号对应端。在图1中,检测电压对应端为引脚A2,检测信号对应端为引脚D2。
第一连接单元3与第二连接单元4连接时,检测电压连接端和检测电压对应端相连,检测信号输出端和检测信号对应端相连,同时检测电压对应端和检测信号对应端相连,形成检测电压连接端与检测信号输出端之间的检测电路。
在本实施例的一种实施方式中,检测电压对应端(引脚A2)与检测信号对应端(引脚D2)电连接,当第一连接单元3与第二连接单元4连接时,检测电压连接端(引脚A1)与检测信号输出端(引脚D1)之间即可形成一个可以用于检测电压信号传输的检测电路。若引脚A1与引脚A2,引脚D1与引脚D2均连接良好,则检测电压信号线与电源开关单元21导通,反之则不导通。
电源开关单元21根据检测电路通过检测信号输出端传输的检测电压信号,控制电源信号导通至第一连接单元或断开。
本公开的投影设备采用上述结构,当检测电压连接端和检测电压对应端相连,检测信号输出端和检测信号对应端相连均正常时,检测电压信号线与检测信号输出端导通形成检测电压信号,检测信号输出端向电源开关单元21传输检测电压信号,电源开关单元21控制电源信号导通,使电源信号通过第一连接单元3与第二连接单元4,向用电设备输出。
当检测电压连接端和检测电压对应端相连异常时,或检测信号输出端和检测信号对应端相连异常时,检测电压信号线与检测信号输出端不导通,无法形成检测电压信号,电源开关单元21接收不到连接正常的检测电压信号,电源开关单元21断开电源信号,第一连接单元3停止向第二连接单元4传输电源信号,使与第二连接单元连接的光机1,无法获得电源信号。光机1断电停止工作,这样避免光机1在第一连接单元3和第二连接单元4连接异常的情况下继续工作,导致光机DMD微镜单元因动作异常而相互碰撞,造成损坏,导致BBF(块体边界损坏)现象。
如图12所示,在本实施例的一种实施方式中,主板2还设置有电源管理单元22和显示控制单元23;电源管理单元22用于接收电路检测系统的电源信号,并将电源信号分别传输至电路检测系统的第一连接单元3和显示控制单元23;显示控制单元23根据电源信号向第一连接单元3传输光机显示信号。
这样,第一连接单元3和第二连接单元4连接良好时,电源信号和光机显示信号通过第一连接单元3传输至第二连接单元4上,再通过光机柔性电路板传输到光机1上,光机1内的数字微镜器件DMD芯片得到正确的供电和信号,配合LED光源,显示出正确的图像。
当第一连接单元3和第二连接单元4连接异常时,电源信号和光机显示信号无法正常的通过第一连接单元3传输至第二连接单元4上,光机无法收到正常的电源信号和光机显示信号,致使光机很可能出现异常工作状态,造成光机损伤。
因此,将电源管理单元22和显示控制单元23设置在主板2上,与电源开关单元21相连,可以通过检测信号输出端是否输出检测电压信号控制电源开关21的导通与断开,进而控制电源管理单元22和显示控制单元23是否传输电源信号和光机显示信号至光机,确保光机1只在正常的状态下工作。
本公开实施例中,如图13所示,投影设备的电源控制方法如下:
步骤100,获取每个第二子连接端分别与检测电压连接端、第一子连接端和信号输出端连接状态。
步骤200,当检测电压连接端、检测信号输出端和第一子连接端分别与对应的第二子连接端连接均正常时,通过检测信号输出端向电源开关单元21传输第一连接单元3与第二连接单元4连接正常的检测电压信号。
步骤300,根据检测电压信号使电源开关单元21导通,主板2向光机1正常供电。
步骤400,当检测电压连接端、检测信号输出端和第一子连接端分别与对应的第二子连接端连接有异常时,检测信号输出端处于悬空状态,电源开关单元21接收不到检测电压信号。
步骤500,使电源开关单元21断开电源信号,主板2向光机1停止供电。
以上所述,仅为本公开较佳的具体实施方式,但本公开的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此,本公开的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种电路检测系统,其特征在于,包括:
电源开关单元,用于接收电源信号;
第一连接单元,包括第一连接主体和设置在所述第一连接主体上的检测电压连接端和检测信号输出端,所述检测电压连接端与检测电压信号线电连接,所述检测信号输出端与所述电源开关单元电连接;
第二连接单元,包括第二连接主体和设置在所述第二连接主体上的检测电压对应端与检测信号对应端;
所述第一连接单元与所述第二连接单元连接时,所述检测电压连接端和所述检测电压对应端相连,所述检测信号输出端和所述检测信号对应端相连,同时,所述检测电压对应端和所述检测信号对应端相连,形成所述检测电压连接端与所述检测信号输出端之间的检测电路;
所述电源开关单元根据所述检测电路输出的检测电压信号,控制所述电源信号导通至所述第一连接单元。
2.根据权利要求1所述的电路检测系统,其特征在于,当所述检测电压连接端和所述检测电压对应端相连,所述检测信号输出端和所述检测信号对应端相连均正常时,所述检测电压连接端与所述检测信号输出端导通,所述检测电压信号为所述检测电压信号线的信号,所述电源开关单元控制所述电源信号导通至所述第一连接单元。
3.根据权利要求2所述的电路检测系统,其特征在于,所述检测电压信号线为地线,所述检测电压连接端与所述检测信号输出端导通时,所述检测电压信号为低电平信号。
4.根据权利要求1所述的电路检测系统,其特征在于,当所述检测电压连接端和所述检测电压对应端相连异常时,或所述检测信号输出端和所述检测信号对应端相连异常时,所述检测电压连接端与所述检测信号输出端电连接断开,所述检测电压信号悬空,所述电源开关单元控制所述电源信号断开。
5.根据权利要求1至4任一项所述的电路检测系统,其特征在于,所述第一连接单元还包括第一子连接端,所述第二连接单元还包括第二子连接端,所述第一子连接端的数量与所述第二子连接端的数量相同;
所述检测电压连接端和所述检测信号输出端中的至少一者与所述第一子连接端相连,和/或,所述检测电压对应端和所述检测信号对应端中的至少一者与所述第二子连接端相连,以使所述第一连接单元与所述第二连接单元连接,每个所述第一子连接端均和对应的所述第二子连接端相连时,形成所述检测电路。
6.根据权利要求1所述的电路检测系统,其特征在于,所述电源开关单元包括电源输入端、电源输出端及电源开关电路;所述电源开关电路包括控制信号线、第一晶体管和第二晶体管;所述第一晶体管的栅极与所述控制信号线相连,其源极与所述检测信号输出端相连,其漏极分别与所述电源输入端和所述第二晶体管的栅极相连;所述第二晶体管的源极与所述电源输入端相连,其漏极与所述电源输出端相连,所述电源输出端与地极相连。
7.根据权利要求1所述的电路检测系统,其特征在于,所述电源开关单元包括电源输入端、电源输出端及电源开关电路;所述电源开关电路包括控制信号线、第一晶体管和第二晶体管;所述第一晶体管的栅极与所述检测信号输出端相连,其源极与地极相连,其漏极分别与所述电源输入端和所述第二晶体管的栅极相连;所述第二晶体管的源极所述电源信号输入端相连,其漏极与所述电源输出端相连,所述电源输出端与地极相连。
8.根据权利要求6或7所述的电路检测系统,其特征在于,所述第一晶体管为N沟道场效应晶体管,所述第二晶体管为P沟道场效应晶体管,所述N沟道场效应晶体管根据所述检测电压信号,控制所述P沟道场效应晶体管的导通或断开,所述P沟道场效应晶体管控制所述电源输入端与所述电源输出端的导通或断开。
9.一种投影设备,其特征在于,包括光机、主板和如权利要求1至8任一项所述的电路检测系统,所述电路检测系统的电源开关单元设置在所述主板上,所述电路检测系统的第二连接单元与所述光机电连接。
10.根据权利要求9所述的投影设备,其特征在于,所述主板还设置有电源管理单元和显示控制单元;
所述电源管理单元接收所述电路检测系统的电源输出端传输的电源信号,并将所述电源信号分别传输至所述电路检测系统的第一连接单元和所述显示控制单元,所述显示控制单元根据所述电源信号向所述第一连接单元传输光机显示信号。
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