CN113567786B - Btm测试系统、btm测试方法及电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种BTM测试系统、BTM测试方法及电子设备，该BTM测试系统包括：控制主机按照测试需求控制测试设备向控制开关发出激励信号，控制开关根据在接收到激励信号后，根据测试需求导通测试设备与BTM测试模块之间的通道，以通过该通道发送激励信号以及测试设备对待测对象的各个测试数据的采集。控制主机对测试设备采集的各个测试数据进行分析，获得测试结果，并对该测试结果进行显示，根据该测试结果调节该测试设备的配置设备的配置参数。应用本发明提供的BTM测试系统，实现自主测试BTM，缩短测试时长，提高测试效率。

Description

BTM测试系统、BTM测试方法及电子设备

技术领域

本发明涉及自动化测试技术领域，特别是涉及一种BTM测试系统、BTM测试方法及电子设备。

背景技术

BTM(Balise Transmission Module，应答器传输模块)是应答器传输系统中的核心设备，主要由BTM主机和BTM天线组成，通过BTM主机和BTM天线能够实现与列车进行信息的交互。在BTM主机中包含多个单板，通过各个单板可以实现BTM主机的信息接收、发送、记录以及解析等功能。

在实际应用BTM的过程中，需要对BTM主机中的各个单板、BTM天线以及BTM整机进行测试。但各个单板、BTM天线以及BTM整机均存在多种不同的测试需求，当需要分别对各个单板、BTM天线以及BTM整机根据不同的测试需求进行测试时，需要通过操作人员根据不同的测试需求配置不同的参数，并反复调节对应的仪器。因此，现有技术中对各个单板、BTM天线以及BTM整机的测试过程花费时间较长、测试效率低。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种BTM测试系统、BTM测试方法及电子设备，通过该系统，可以实现自主测试BTM，缩短测试时长，提高测试效率。

一种BTM测试系统，包括：

控制主机、测试设备、控制开关以及BTM测试模块；

所述控制主机，用于对所述测试设备进行初始化以及参数配置，并按照预设的测试需求控制所述测试设备向所述控制开关发出激励信号；获取所述测试设备采集的所述测试需求对应的各个测试数据；对各个所述测试数据进行分析处理，获得测试结果；显示所述测试结果，并基于所述测试结果，调节所述测试设备的配置参数；

所述测试设备，用于基于所述控制主机的测试需求生成激励信号；向所述控制开关发送激励信号，并采集所述BTM测试模块在接收到所述激励信号后所产生的各个测试数据；

所述控制开关，用于接收所述测试设备发送的激励信号，并按照所述控制主机的测试需求，导通所述BTM测试模块与所述测试设备之间的通道，并基于所述测试需求，将所述激励信号发送至所述BTM测试模块；

所述BTM测试模块，用于当接收到激励信号时，确定所述激励信号对应的待测对象；按照所述激励信号对应的测试需求对待测对象进行测试，并生成所述待测对象对应的各个测试数据，所述待测对象为BTM整机、BTM天线或BTM主机中的各个待测单板，所述BTM天线及所述BTM主机属于所述BTM整机。

上述的BTM测试系统，可选的，所述测试设备包括多个测试板卡，所述测试需求包括多个测试模式，其中，每个所述测试模式对应至少一个测试板卡，

所述测试设备所包括的各个测试板卡为：通信适配器、信号发生器、功率放大器、直流电源、网络分析仪、功率计、频率计板卡、万用表板卡以及示波器板卡；

所述测试需求所包括的各个测试模式为：单板电压有效值测试、单板器件导通状态测试、单板电压波形测试、单板频率测试、单板工作电流测试、单板S参数测试、天线S参数测试、单板功率测试、单板信号输入输出响应测试、天线功率测试、天线电压波形测试、整机功率测试、整机通信测试。

上述的BTM测试系统，可选的，当所述控制主机需要对待测对象进行测试时，确定待执行的当前的测试模式；所述控制主机确定所述当前的测试模式对应的测试板卡，并控制所述控制开关导通所述待测对象与所确定的测试板卡之间的通道；

所述控制主机控制所述当前的测试模式对应的测试板卡通过所述通道向所述BTM测试模块发出激励信号，并采集所述BTM测试模块生成的所述待测对象对应的各个测试数据；所述控制主机对各个所述测试数据进行分析处理，获得测试结果；所述控制主机显示所述测试结果，并输出所述测试结果对应的测试报告。

上述的BTM测试系统，可选的，当所述控制主机对各个所述测试数据进行分析处理时，所述控制主机判断各个测试数据是否满足所述当前的测试模式对应的测试指标，当所述控制主机判断所述测试数据不满足所述当前的测试模式对应的测试指标时，所述控制主机控制所述测试板卡重新调整所述激励信号。

上述的BTM测试系统，可选的，所述BTM测试模块，包括：

BTM整机测试模块、BTM天线测试模块以及BTM单板测试模块；

所述BTM整机测试模块，用于当接收到激励信号时，按照所述激励信号对应的测试需求对所述BTM整机进行测试，并生成所述BTM整机对应的各个测试数据；

所述BTM天线测试模块，用于当接收到激励信号时，按照所述激励信号对应的测试需求对所述BTM整机中的BTM天线进行测试，并生成所述BTM天线对应的各个测试数据；

所述BTM单板测试模块，用于当接收到激励信号时，按照所述激励信号对应的测试需求对所述BTM整机的BTM主机中各个单板进行测试，并生成各个所述单板对应的各个测试数据。

上述的BTM测试系统，可选的，所述控制开关，包括：

射频矩阵开关、矩阵开关和射频开关；

所述射频矩阵开关与控制主机、网络分析仪、功率计、信号发生器、功率放大器及频率计板卡连接；

所述矩阵开关与所述控制主机、直流电源、万用表板卡及示波器板卡连接；

所述射频开关连接所述射频矩阵开关及所述矩阵开关；

所述射频矩阵开关，用于按照所述控制主机的测试需求，导通所述网络分析仪、功率计、信号发生器、功率放大器及频率计板卡与所述BTM整机测试模块、BTM天线测试模块及BTM单板测试模块之间连接的各个第一通道；

所述矩阵开关，用于按照所述控制主机的测试需求，导通所述直流电源、万用表板卡及示波器板卡与所述BTM整机测试模块、BTM天线测试模块及BTM单板测试模块之间连接的各个第二通道；

所述射频开关，用于当所述激励信号为高频能量信号时，将所述高频能量信号从所述BTM整机切换至所述BTM天线。

上述的BTM测试系统，可选的，所述射频矩阵开关包括多个第一继电器节点；

各个所述第一继电器节点，用于基于所述控制主机的测试需求，实现各个所述第一通道的切换。

上述的BTM测试系统，可选的，所述矩阵开关包括多个第二继电器节点；

各个所述第二继电器节点，用于基于所述控制主机的测试需求，实现各个所述第二通道的切换。

一种BTM测试方法，所述方法应用于BTM测试系统，所述BTM测试系统包括控制主机、测试设备、控制开关以及BTM测试模块，所述方法包括：

当需要对预设的待测对象进行测试时，确定当前待测试的测试需求，所述待测对象为BTM整机、BTM整机中的BTM天线或BTM整机的BTM主机中的各个待测单板；

通过所述控制主机对所述测试设备进行初始化以及参数配置，并按照所述测试需求控制所述测试设备向所述控制开关发出激励信号；

当所述测试设备向所述控制开关发出激励信号时，应用所述控制主机控制所述控制开关到导通所述BTM测试模块与所述测试设备之间的通道，并基于所述测试需求，将所述激励信号发送至所述BTM测试模块，使得所述BTM测试模块基于所述激励信号对应的测试需求对所述待测对象进行测试；

当所述测试设备采集所述BTM测试模块对所述待测对象进行测试所生成的各个测试数据时，通过所述控制主机对各个所述测试数据进行分析处理，获得分析结果；

在所述控制主机中显示所述测试结果，并通过所述控制主机基于所述测试结果，调节所述测试设备的配置参数。

一种存储介质，所述存储介质包括存储的指令，其中，在所述指令运行时控制所述存储介质所在的设备执行上述的BTM测试方法。

一种电子设备，包括存储器，以及一个或者一个以上的指令，其中一个或者一个以上指令存储于存储器中，且经配置以由一个或者一个以上处理器执行上述的BTM测试方法。

与现有技术相比，本发明包括以下优点：

本发明提供了一种BTM测试系统，包括：控制主机按照测试需求控制测试设备向控制开关发出激励信号，控制开关根据在接收到激励信号后，根据测试需求导通测试设备与BTM测试模块之间的通道，以通过该通道发送激励信号以及测试设备对待测对象的各个测试数据的采集。控制主机对测试设备采集的各个测试数据进行分析，获得测试结果，并对该测试结果进行显示，根据该测试结果调节该测试设备的配置设备的配置参数。应用本发明提供的BTM测试系统，实现自主测试BTM，缩短测试时长，提高测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种BTM测试系统的系统结构图；

图2为本发明实施例提供的一种BTM测试系统的又一系统结构图；

图3为本发明实施例提供的一种BTM测试系统的中整机功率测试的调节过程图；

图4为本发明实施例提供的一种BTM测试方法的方法流程图；

图5为本发明实施例提供的一种电子设备结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本申请中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本发明可用于众多通用或专用的计算装置环境或配置中。例如：个人计算机、服务器计算机、手持设备或便携式设备、平板型设备、多处理器装置、包括以上任何装置或设备的分布式计算环境等等。

本发明提供了一种BTM测试系统，该系统的系统结构图如图1所示，具体包括：

控制主机100、测试设备200、控制开关300以及BTM测试模块400；

所述控制主机100，用于对所述测试设备200进行初始化以及参数配置，并按照预设的测试需求控制所述测试设备200向所述控制开关300发出激励信号；获取所述测试设备200采集的所述测试需求对应的各个测试数据；对各个所述测试数据进行分析处理，获得测试结果；显示所述测试结果，并基于所述测试结果，调节所述测试设备200的配置参数；

所述测试设备200，用于基于所述控制主机100的测试需求生成激励信号；向所述控制开关300发送激励信号，并采集所述BTM测试模块400在接收到所述激励信号后所产生的各个测试数据；

所述控制开关300，用于接收所述测试设备200发送的激励信号，并按照所述控制主机100的测试需求，导通所述BTM测试模块400与所述测试设备200之间的通道，并基于所述测试需求，将所述激励信号发送至所述BTM测试模块400；

所述BTM测试模块400，用于当接收到激励信号时，确定所述激励信号对应的待测对象；按照所述激励信号对应的测试需求对待测对象进行测试，并生成所述待测对象对应的各个测试数据，所述待测对象为BTM整机、BTM天线或BTM主机中的各个待测单板，所述BTM天线及所述BTM主机属于所述BTM整机。

本发明实施例提供的BTM测试系统中，控制主机100可以按照测试需求实现对BTM整机、BTM天线以及各个待测单板的测试过程。其中，控制主机100可以控制测试设备200和控制开关300。当需要对待测对象进行测试时，确定当前需要进行测试的测试需求，并按照该测试需求控制测试设备200发出激励信号，该激励信号为正弦波激励信号和/或电压激励信号。控制开关300可以实现测试设备200与BTM测试模块400之间的通道连接，连接的通道用于实现激励信号的发送以及测试设备200对测试数据的采集。当测试设备200向控制开关300发送激励信号，并由控制开关300按照测试需求导通测试设备200与BTM测试模块400之间的通道时，控制开关300通过该通道向BTM测试模块400发送该激励信号，BTM测试模块400在接收到激励信号后，按照测试需求对待测对象进行测试，并在测试过程中产生该待测对象对应的各个测试数据。

需要说明的是，该激励信号用于触发BTM整机、BTM天线或者BTM主机中的各个待测单板处于工作模式。

进一步说明，BTM整机由BTM天线、BTM主机、巴伦以及参考环组成。巴伦用于滤除激励信号中的高频干扰信号，起到阻抗匹配的作用，使得激励信号能够传输到参考环中。参考环用来模拟有源应答器，在接收到激励信号后谐振放大，将放大后的高频能量驱动信号发送至参考环与BTM天线之间的空气间隔空间中。BTM天线用来发射27.095MHz高频能量信号，并接收参考环或者应答器发射的信号。BTM主机用来对参考环或者应答器发射的信号进行滤波、解调、译码，同时可以通过测试设备与控制主机通信。BTM主机主要由电源板、发送板、接收板、解码板、通信板、记录板以及母板组成，本发明实施例中BTM主机中的各个待测单板为电源板、发送板、接收板、解码板、通信板和记录板。

应用本发明提供的系统，由控制主机、测试设备以及控制开关根据测试需求实现对应答器传输模块的自动化测试和分析，提高对应答器传输模块的测试效率。

参考图2，本发明实施例提供的BTM测试系统中，所述测试设备200包括多个测试板卡，所述测试需求包括多个测试模式，其中，每个所述测试模式对应至少一个测试板卡，

所述测试设备200所包括的各个测试板卡为：通信适配器201、信号发生器202、功率放大器203、直流电源204、网络分析仪205、功率计206、频率计板卡207、万用表板卡208以及示波器板卡209；

所述测试需求所包括的各个测试模式为：单板电压有效值测试、单板器件导通状态测试、单板电压波形测试、单板频率测试、单板工作电流测试、单板S参数测试、天线S参数测试、单板功率测试、单板信号输入输出响应测试、天线功率测试、天线电压波形测试、整机功率测试、整机通信测试。

需要说明的是，当测试模式为单板电压有效值测试时，该测试模式对应的各个测试板卡为直流电源204和万用表板卡208；当测试模式为单板器件导通状态测试时，所述测试模式对应的测试板卡为万用表板卡；当测试模式为单板电压波形测试时，所述测试模式对应的各个测试板卡为直流电源204和示波器板卡209；当测试模式为单板频率测试时，所述测试模式对应的各个测试板卡为直流电源204和频率计板卡207；当所述测试模式为单板工作电流测试时，所述测试模式对应的测试板卡为直流电源204；当所述测试模式为单板S参数测试或天线S参数测试时，所述测试模式对应的测试板卡为网络分析仪205；当所述测试模式为单板功率测试时，所述测试模式对应的测试板卡为功率计206；当所述测试模式为单板信号输入输出响应测试时，所述测试模式对应的各个测试板卡为直流电源204、信号发生器202和示波器板卡209；当所述测试模式为天线功率测试时，所述测试模块对应的各个测试板卡为直流电源204、信号发生器202、功率放大器203以及功率计206；当所述测试模式为整机电压波形测试时，所述测试模式对应的各个测试板卡为直流电源204、信号发生器202、功率放大器203以及示波器板卡209；当所述测试模式为整机通信测试时，所述测试模式对应的各个测试板卡为直流电源204、信号发生器202、功率放大器203、功率计206以及通信适配器201。

如图2所示，本发明实施例提供的BTM测试系统中，所述BTM测试模块400，包括：

BTM整机测试模块401、BTM天线测试模块402以及BTM单板测试模块403；

所述BTM整机测试模块401，用于当接收到激励信号时，按照所述激励信号对应的测试需求对所述BTM整机进行测试，并生成所述BTM整机对应的各个测试数据；

所述BTM天线测试模块402，用于当接收到激励信号时，按照所述激励信号对应的测试需求对所述BTM整机中的BTM天线进行测试，并生成所述BTM天线对应的各个测试数据；

所述BTM单板测试模块403，用于当接收到激励信号时，按照所述激励信号对应的测试需求对所述BTM整机的BTM主机中各个单板进行测试，并生成各个所述单板对应的各个测试数据。

需要说明的是，所述BTM整机测试模块401用于实现整机电压波形测试和整机通信测试；所述BTM天线测试模块402用于实现天线S参数测试和天线功率测试；所述BTM单板测试模块403用于实现单板电压有效值测试、单板器件导通状态测试、单板电压波形测试、单板频率测试、单板工作电流测试、单板S参数测试、单板功率测试和单板信号输入输出响应测试。

其中，所述通信适配器201，用于根据不同通信方式选择对应适配方式，实现BTM整机与控制主机100的通信；

所述信号发生器202，用于基于所述控制主机100的测试需求生成正弦激励信号，并将所述正弦激励信号发送至所述控制开关300；该正弦激励信号为4.234MHZ正弦激励信号或27.095MHZ正弦激励信号；

所述功率放大器203，用于采集所述控制开关300中所述信号发生器202发送的正弦激励信号，并按照预先设置的放大倍数放大所述正弦激励信号，将放大的正弦波信号发送至控制开关300；所述放大的正弦激励信号为高频能量驱动信号；

所述直流电源204，用于基于所述控制主机100的测试需求生成电压激励信号，并将所述电压激励信号发送至所述控制开关；基于所述电压激励信号所述控制开关300通过所述BTM整机测试模块401、BTM天线测试模块402及BTM单板测试模块403分别对BTM整机、BTM天线和各个待测单板提供供电电压，并回采工作电流值；

所述网络分析仪205，用于采集所述BTM单板测试模块对应的各个待测单板与所述BTM天线测试模块对应的BTM天线的S参数；

所述功率计206，用于采集所述BTM单板测试模块对应的各个待测单板、所述BTM天线测试模块对应的BTM天线及所述BTM整机测试模块对应的BTM整机的功率值；

所述频率计板卡207，用于采集所述BTM单板测试模块对应的各个待测单板晶振频率值；

所述万用表板卡208包括电阻测试模式和电压测试模式，当所述万用表板卡为电阻测试模式时，采集所述BTM单板测试模块对应的各个待测单板的电阻值；当所述万用表板卡为电压测试模式时，采集所述BTM单板测试模块对应的各个待测单板的电压值；

所述示波器板卡209，用于采集所述BTM单板测试模块对应的各个待测单板及BTM天线测试模块对应的BTM天线的电压波形。

具体的，当需要根据各个测试模式实现对BTM整机测试模块、BTM天线测试模块以及BTM单板测试模块的测试时，基于上述的各个测试模块和各个测试模式，有以下执行过程：

当所述控制主机100需要对待测对象进行测试时，确定待执行的当前的测试模式；所述控制主机100确定所述当前的测试模式对应的测试板卡，并控制所述控制开关300导通所述待测对象与所确定的测试板卡之间的通道；

所述控制主机100控制所述当前的测试模式对应的测试板卡通过所述通道向所述BTM测试模块400发出激励信号，并采集所述BTM测试模块400生成的所述待测对象对应的各个测试数据；所述控制主机100对各个所述测试数据进行分析处理，获得测试结果；所述控制主机100显示所述测试结果，并输出所述测试结果对应的测试报告。

进一步地，当所述控制主机100对各个所述测试数据进行分析处理时，所述控制主机100判断各个测试数据是否满足所述当前的测试模式对应的测试指标，当所述控制主机判断所述测试数据不满足所述当前的测试模式对应的测试指标时，所述控制主机100控制所述测试板卡重新调整所述激励信号。

本发明实施例提供的BTM测试系统中，基于上述测试需求中的各个测试模式，每个测试模式对应的测试过程具体包括：

当测试模式为单板器件导通状态测试时，所述控制主机100控制所述万用表板卡208配置为电阻测试模式，并控制所述控制开关300导通所述万用表板卡208与所述BTM单板测试模块403之间的通道；所述控制主机100获取所述万用表板卡208采通过该通道集的BTM单板测试模块403对应的各个待测单板的电阻值，并对各个所述电阻值进行分析，生成并显示电阻测试报告。

当测试模式为单板电压有效值测试时，所述控制主机100控制所述直流电源204通过BTM单板测试模块403向各个所述待测单板供电、控制所述万用表板卡208配置为电压测试模式，以及控制所述控制开关300导通所述万用表板卡208与所述BTM单板测试模块403之间的通道；所述控制主机100获取所述万用表板卡208通过该通道采集的每个所述待测单板对应的电压值，并对各个所述电压值进行分析，生成并显示电压测试报告。

当测试模式为单板电压波形测试时，控制主机100控制所述直流电源204为各个所述待测单板供电、控制所述示波器板卡209初始化及参数配置、控制所述控制开关300导通所述示波器板卡209与所述BTM单板测试模403块之间的通道；所述控制主机100获取所述示波器板卡209通过该通道采集的每个所述待测单板对应的电压波形，并对各个所述电压波形进行分析，生成并显示各个所述待测单板对应的电压波形测试报告。

当测试模式为单板频率测试时，控制主机100控制所述直流电源为各个所述待测单板供电、控制所述频率计板卡207初始化及参数配置、控制所述控制开关300导通所述频率计板卡207与所述BTM单板测试模块403之间的通道；所述控制主机100获取所述频率计板卡207通过该通道采集的每个所述待测单板对应的频率值，并对各个所述频率值进行分析，生成并显示各个所述待测单板对应的频率测试报告。

当所述测试模式为单板工作电流测试时，控制主机100控制所述直流电源204为各个所述待测单板供电，并控制所述控制开关300导通所述直流电源204与所述BTM单板测试模块403之间的通道；所述控制主机100获取所述直流电源204通过该通道采集的各个待测单板的电流值，并对所述电流值进行分析，生成并显示各个待测单板对应的电流测试报告。

当所述测试模式为单板S参数测试时，控制主机100控制所述网络分析仪205初始化及参数配置，并控制所述控制开关300导通所述网络分析仪205与所述BTM单板测试模块403之间的通道；所述控制主机100获取所述网络分析仪205通过该通道采集的各个待测单板的S参数，并对所述S参数进行分析，生成并显示各个待测单板对应的参数测试报告。

当测试模式为单板功率测试时，控制主机100控制所述功率计206初始化及参数配置，并控制所述控制开关300导通所述功率计206与所述BTM单板测试模块403之间的通道；所述控制主机100获取所述功率计206通过该通道采集的各个所述待测单板的功率值，并对各个所述功率值进行分析，生成并显示各个所述待测单板对应的功率测试报告。

当测试模式为单板信号输入输出响应测试时，所述控制主机100控制所述直流电源204为各个待测单板进行供电，同时控制信号发生器202初始化并输出初始的正弦激励信号；控制主机100控制所述控制开关300导通示波器板卡209与BTM单板测试模块403之间的通道；所述控制主机100获取所述示波器板卡209通过该通道采集的各个待测单板的电压波形，并判断该电压波形是否满足该示波器板卡209对应的测试指标；若否，则控制主机100重新调节信号发生器202产生的正弦激励信号，重新通过BTM单板测试模块403对各个待测板卡进行测试，直至当前测试获得的电压波形满足该示波器板卡209对应的测试指标时，对该电压波形进行分析，生成并显示该电压波形对应的响应测试报告。其中，该正弦激励信号是信号发生器向待测单板单板输出的信号，该信号是用来满足单板测试的输入信号，BTM主机中有一块单板在进行调试测试时，需要4.234MHz正弦激励信号才能够正常工作，示波器板卡209采集的信号是待测单板工作后通过BTM单板测试模块输出的电压波形。采集待测单板的电压波形可以是通过单板上的夹具探针进行采集，夹具探针用于固定待测单板。

当测试模式为天线S参数测试时，控制主机100控制所述网络分析仪205初始化及参数配置，并控制所述控制开关300导通所述网络分析仪205及所述BTM天线测试模块402之间的通道；所述控制主机100获取所述网络分析仪205通过该通道采集的所述BTM天线测试模块403对应的BTM天线的S参数，并对所述S参数进行分析，生成并显示所述BTM天线对应的S参数测试报告。

当测试模式为天线功率测试时，控制主机100通过控制直流电源204为BTM天线或BTM整机进行供电，同时控制信号发生器202初始化并输出初始的27.095MHz正弦激励信号，控制主机100控制所述控制开关300切换至功率放大器203输入端，再通过控制开关300将放大后的27.095MHz信号回采至功率计206中，然后通过控制开关300将放大后的27.095MHz信号经由BTM天线测试模块402输出至BTM天线，控制主机100对功率计206回采功率值进行分析判断，如果满足测试指标，则显示测试结果并生成测试报告；如果不满足测试指标，控制主机100自适应调节信号发生器202激励信号幅度与功率放大器203放大增益，并重新进行天线功率测试，直至满足测试指标。

当测试模式为整机功率测试时，控制主机100通过控制直流电源204为BTM主机进行供电，同时控制信号发生器202初始化并输出初始的4.234MHz调制信号(报文信号为根据规定编码规则产生的DBPL码)，控制主机100控制所述控制开关300切换至功率放大器203输入端，再通过控制开关300将放大后的4.234MHz调制信号回采至功率计206中，然后通过控制开关300将放大后的4.234MHz调制信号经由BTM整机测试模块401输出至参考环中，控制主机100对功率计206回采功率值进行分析判断，如果满足测试指标，则显示测试结果并生成测试报告；如果不满足测试指标，控制主机100自适应调节信号发生器202激励信号幅度与功率放大器203放大增益，直到满足测试指标，显示测试结果并生成测试报告。如图3所示，图3为整机功率测试的调节过程。

当测试模式为天线电压波形测试时，控制主机100通过控制直流电源204为BTM天线进行供电，同时控制信号发生器202初始化并输出初始的27.095MHz正弦激励信号，控制主机100控制控制开关300切换至功率放大器203输入端，控制功率放大器203初始化并参数配置，再通过控制开关300将放大后的27.095MHz信号回采至功率计206中，然后通过控制开关将放大后的27.095MHz信号经由BTM天线测试模块402输出至BTM天线，控制主机100控制示波器板卡209通过控制开关300切换至BTM天线上采集电压波形，然后进行分析判断，如果满足测试指标，则显示测试结果并生成测试报告；如果不满足测试指标，控制主机100自适应调节信号发生器202激励信号幅度与功率放大器203放大增益，直到满足测试指标，显示测试结果并生成测试报告。

当测试模式为整机通信测试时，控制主机100通过控制直流电源204为BTM主机进行供电，同时控制信号发生器202初始化并输出报文信号，控制所述控制开关300切换至功率放大器203输入端，控制功率放大器203初始化并参数配置，通过控制开关300将放大后的报文信号回采至功率计206中，然后通过控制开关300将放大后的报文信号输出至参考环中，控制主机100通过通信适配器201与BTM主机进行通信，并对通信结果进行分析判断，如果满足测试指标，则显示测试结果并生成测试报告；如果不满足测试指标，控制主机100控制信号发生器202切换报文信号，直到满足测试指标，显示测试结果并生成测试报告。其中，报文信号是4.234MHz调制信号，是根据规定编码规则产生的DBPL码；而4.234MHz正弦激励信号就是标准的正弦信号，没有任何编码规则。控制主机100通过通信适配器201与BTM主机进行通信，这是可以独立完成，但如果不向参考环输出放大后的报文信号，则BTM主机则无法收到报文信号，BTM主机就会通过通信适配器201向控制主机100上报错误信息，不满足测试需求；此处通信是指BTM天线接收到参考环中谐振放大的报文信号并把它传输给BTM主机，BTM主机经过对报文信号进行滤波、解调、译码处理后，被还原出的报文信号再通过通信适配器201传送给控制主机100中分析判断。

参考图2，本发明实施例提供的BTM测试系统中，所述控制开关300，包括：

射频矩阵开关301、矩阵开关302和射频开关303；

所述射频矩阵开关301与控制主机100、网络分析仪205、功率计206、信号发生器202、功率放大器203及频率计板卡207连接；

所述矩阵开关302与所述控制主机100、直流电源204、万用表板卡208及示波器板卡连接209；

所述射频开关303连接所述射频矩阵开关301及所述矩阵开关302；

所述射频矩阵开关301，用于按照所述控制主机100的测试需求，导通所述网络分析仪205、功率计206、信号发生器202、功率放大器203及频率计板卡207与所述BTM整机测试模块401、BTM天线测试模块402及BTM单板测试模块403之间连接的各个第一通道；

所述矩阵开关302，用于按照所述控制主机100的测试需求，导通所述直流电源204、万用表板卡208及示波器板卡209与所述BTM整机测试模块401、BTM天线测试模块402及BTM单板测试模块403之间连接的各个第二通道；

所述射频开关303，用于当所述激励信号为高频能量信号时，将所述高频能量信号从所述BTM整机切换至所述BTM天线。

具体的，所述射频矩阵开关301包括多个第一继电器节点；各个所述第一继电器节点，用于基于所述控制主机100的测试需求，实现各个所述第一通道的切换。所述矩阵开关302包括多个第二继电器节点；各个所述第二继电器节点，用于基于所述控制主机100的测试需求，实现各个所述第二通道的切换。

需要说明的是，射频开关303、射频矩阵开关301和矩阵开关302是三种不同类型的开关，其中射频开关303、射频矩阵开关301是对射频信号进行切换，而射频开关303是一个三端口开关，一个信号输入端口，两个信号输出端口，通过24V直流电压来驱动继电器线圈吸合与断开，实现射频信号输出到不同测试端，本发明实施例中主要是用来切换功率放大后的4.234MHz调制信号或27.095MHz正弦信号；文中提及的高频能量驱动信号为经过功率放大器放大后的4.234MHz调制信号。

射频矩阵开关301，是多路输入与多路输出任意连接的射频信号开关，通过控制主机编程实现开关中继电器节点的闭合与断开，根据测试要求实现任意连接通道。本发明实施例中主要是用来切换不同测试设备与测试信号之间的连接通道，测试信号主要是单板中S参数测试与频率测试中涉及的射频信号，例如0.234MHz、8.234MHz、27.095MHz、135MHz等；以及用于整机测试中的4.234MHz调制信号。

矩阵开关302，是多路输入与多路输出任意连接的开关，与射频矩阵开关301最大的不同点就是通道传输的信号频率范围不同，矩阵开关的开关带宽为低频，10MHz以内，本发明实施例中主要是用来切换直流信号与低频电压波形的采集通道。

应用本发明实施例提供的BTM测试系统，可以实现自主测试BTM，缩短测试时长，提高测试效率。

本发明实施例提供了一种BTM测试方法，所述方法应用于BTM测试系统，所述BTM测试系统包括控制主机、测试设备、控制开关以及BTM测试模块，所述方法的方法流程图如图4所示，具体包括：

S501：当需要对预设的待测对象进行测试时，确定当前待测试的测试需求，所述待测对象为BTM整机、BTM整机中的BTM天线或BTM整机的BTM主机中的各个待测单板。

在本发明实施例中，测试需求包括多个测试模式，所述测试需求所包括的各个测试模式为：单板电压有效值测试、单板器件导通状态测试、单板电压波形测试、单板频率测试、单板工作电流测试、单板S参数测试、天线S参数测试、单板功率测试、单板信号输入输出响应测试、天线功率测试、天线电压波形测试、整机功率测试、整机通信测试。

S502：通过所述控制主机对所述测试设备进行初始化以及参数配置，并按照所述测试需求控制所述测试设备向所述控制开关发出激励信号。

在本发明实施例中，测试设备包括多个测试板卡，各个测试板卡为通信适配器、信号发生器、功率放大器、直流电源、网络分析仪、功率计、频率计板卡、万用表板卡以及示波器板卡。其中，测试需求中每个测试模式对应至少一个测试板卡。所述控制开关包括射频矩阵开关、矩阵开关和射频开关，所述射频矩阵开关与控制主机、网络分析仪、功率计、信号发生器、功率放大器及频率计板卡连接；所述矩阵开关与所述控制主机、直流电源、万用表板卡及示波器板卡连接；所述射频开关连接所述射频矩阵开关及所述矩阵开关。

具体的，当控制主机按照测试需求控制测试设备向控制开关发出激励信号时，控制主机控制根据该测试需求中当前测试的测试模式，确定该测试模式对应的测试板卡，并控制测试板卡向与该测试板卡连接的射频矩阵开关或矩阵开关发出激励信号。

需要说明的是，本发明中的激励信号主要由信号发生器或者直流电源发出。

S503：当所述测试设备向所述控制开关发出激励信号时，应用所述控制主机控制所述控制开关到导通所述BTM测试模块与所述测试设备之间的通道，并基于所述测试需求，将所述激励信号发送至所述BTM测试模块，使得所述BTM测试模块基于所述激励信号对应的测试需求对所述待测对象进行测试.

在本发明实施例中，控制开关导通BTM测试模块与测试设备之间的通道的过程具体为，射频矩阵开关或矩阵开关根据该测试需求确定待测对象和测试板卡，并导通测试板卡与待测对象对应的BTM测试模块之间的通道，BTM测试模块包括BTM整机测试模块、BTM天线测试模块及BTM单板测试模块。

S504：当所述测试设备采集所述BTM测试模块对所述待测对象进行测试所生成的各个测试数据时，通过所述控制主机对各个所述测试数据进行分析处理，获得分析结果。

在本发明实施例中，各个测试数据与该测试需求对应，BTM测试模块在接收到激励信号后触发待测对象处于工作模式，并对该待测对象进行测试，在测试过程中，测试设备通过BTM测试模块采集待测对象上的各个测试数据。

S505：在所述控制主机中显示所述测试结果，并通过所述控制主机基于所述测试结果，调节所述测试设备的配置参数。

在本发明实施例中，通过显示测试结果，技术人员可以根据测试结果调节BTM整机，该控制主机也可以根据测试结果调节测试设备的配置参数。

本发明实施例提供的BTM测试方法中，当需要对待测对象进行测试时，确定当前待测试的测试需求，控制主机按照该测试需求对测试设备进行初始化以及参数配置，并按照测试需求控制测试设备向控制开关发出激励信号；控制主机控制该控制开关导通测试设备与BTM测试模块之间的通道，以实现激励信号的发送以及测试数据的采集；测试设备通过该通道采集测试对象的各个测试数据，由控制主机对各个测试数据进行分析获得测试结果，并将测试结果进行显示。

应用本发明实施例提供的方法，实现自主测试BTM，缩短测试时长，提高测试效率。

上述各个实施例的具体实施过程及其衍生方式，均在本发明的保护范围之内。

本发明实施例还提供了一种存储介质，所述存储介质包括存储的指令，其中，在所述指令运行时控制所述存储介质所在的设备执行上述BTM测试方法。

本发明实施例还提供了一种电子设备，其结构示意图如图5所示，具体包括存储器601，以及一个或者一个以上的指令602，其中一个或者一个以上指令602存储于存储器601中，且经配置以由一个或者一个以上处理器603执行所述一个或者一个以上指令602进行以下操作：

当需要对预设的待测对象进行测试时，确定当前待测试的测试需求，所述待测对象为BTM整机、BTM整机中的BTM天线或BTM整机的BTM主机中的各个待测单板；

通过所述控制主机对所述测试设备进行初始化以及参数配置，并按照所述测试需求控制所述测试设备向所述控制开关发出激励信号；

当所述测试设备向所述控制开关发出激励信号时，应用所述控制主机控制所述控制开关到导通所述BTM测试模块与所述测试设备之间的通道，并基于所述测试需求，将所述激励信号发送至所述BTM测试模块，使得所述BTM测试模块基于所述激励信号对应的测试需求对所述待测对象进行测试；

当所述测试设备采集所述BTM测试模块对所述待测对象进行测试所生成的各个测试数据时，通过所述控制主机对各个所述测试数据进行分析处理，获得分析结果；

在所述控制主机中显示所述测试结果，并通过所述控制主机基于所述测试结果，调节所述测试设备的配置参数。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于系统或系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的系统及系统实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现。

为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种BTM测试系统，其特征在于，包括：

控制主机、测试设备、控制开关以及BTM测试模块；

所述控制主机，用于对所述测试设备进行初始化以及参数配置，并按照预设的测试需求控制所述测试设备向所述控制开关发出激励信号；获取所述测试设备采集的所述测试需求对应的各个测试数据；对各个所述测试数据进行分析处理，获得测试结果；显示所述测试结果，并基于所述测试结果，调节所述测试设备的配置参数；

所述测试设备，用于基于所述控制主机的测试需求生成激励信号；向所述控制开关发送激励信号，并采集所述BTM测试模块在接收到所述激励信号后所产生的各个测试数据；

所述控制开关，用于接收所述测试设备发送的激励信号，并按照所述控制主机的测试需求，导通所述BTM测试模块与所述测试设备之间的通道，并基于所述测试需求，将所述激励信号发送至所述BTM测试模块；

所述BTM测试模块，用于当接收到激励信号时，确定所述激励信号对应的待测对象；按照所述激励信号对应的测试需求对待测对象进行测试，并生成所述待测对象对应的各个测试数据，所述待测对象为BTM整机、BTM天线或BTM主机中的各个待测单板，所述BTM天线及所述BTM主机属于所述BTM整机。

2.根据权利要求1所述的BTM测试系统，其特征在于，所述测试设备包括多个测试板卡，所述测试需求包括多个测试模式，其中，每个所述测试模式对应至少一个测试板卡，

所述测试设备所包括的各个测试板卡为：通信适配器、信号发生器、功率放大器、直流电源、网络分析仪、功率计、频率计板卡、万用表板卡以及示波器板卡；

所述测试需求所包括的各个测试模式为：单板电压有效值测试、单板器件导通状态测试、单板电压波形测试、单板频率测试、单板工作电流测试、单板S参数测试、天线S参数测试、单板功率测试、单板信号输入输出响应测试、天线功率测试、天线电压波形测试、整机功率测试、整机通信测试。

3.根据权利要求2所述的BTM测试系统，其特征在于，当所述控制主机需要对待测对象进行测试时，确定待执行的当前的测试模式；所述控制主机确定所述当前的测试模式对应的测试板卡，并控制所述控制开关导通所述待测对象与所确定的测试板卡之间的通道；

所述控制主机控制所述当前的测试模式对应的测试板卡通过所述通道向所述BTM测试模块发出激励信号，并采集所述BTM测试模块生成的所述待测对象对应的各个测试数据；所述控制主机对各个所述测试数据进行分析处理，获得测试结果；所述控制主机显示所述测试结果，并输出所述测试结果对应的测试报告。

4.根据权利要求3所述的BTM测试系统，其特征在于，当所述控制主机对各个所述测试数据进行分析处理时，所述控制主机判断各个测试数据是否满足所述当前的测试模式对应的测试指标，当所述控制主机判断所述测试数据不满足所述当前的测试模式对应的测试指标时，所述控制主机控制所述测试板卡重新调整所述激励信号。

5.根据权利要求2所述的BTM测试系统，其特征在于，所述BTM测试模块，包括：

BTM整机测试模块、BTM天线测试模块以及BTM单板测试模块；

所述BTM整机测试模块，用于当接收到激励信号时，按照所述激励信号对应的测试需求对所述BTM整机进行测试，并生成所述BTM整机对应的各个测试数据；

所述BTM天线测试模块，用于当接收到激励信号时，按照所述激励信号对应的测试需求对所述BTM整机中的BTM天线进行测试，并生成所述BTM天线对应的各个测试数据；

所述BTM单板测试模块，用于当接收到激励信号时，按照所述激励信号对应的测试需求对所述BTM整机的BTM主机中各个单板进行测试，并生成各个所述单板对应的各个测试数据。

6.根据权利要求5所述的BTM测试系统，其特征在于，所述控制开关，包括：

射频矩阵开关、矩阵开关和射频开关；

所述射频矩阵开关与控制主机、网络分析仪、功率计、信号发生器、功率放大器及频率计板卡连接；

所述矩阵开关与所述控制主机、直流电源、万用表板卡及示波器板卡连接；

所述射频开关连接所述射频矩阵开关及所述矩阵开关；

所述射频矩阵开关，用于按照所述控制主机的测试需求，导通所述网络分析仪、功率计、信号发生器、功率放大器及频率计板卡与所述BTM整机测试模块、BTM天线测试模块及BTM单板测试模块之间连接的各个第一通道；

所述矩阵开关，用于按照所述控制主机的测试需求，导通所述直流电源、万用表板卡及示波器板卡与所述BTM整机测试模块、BTM天线测试模块及BTM单板测试模块之间连接的各个第二通道；

所述射频开关，用于当所述激励信号为高频能量信号时，将所述高频能量信号从所述BTM整机切换至所述BTM天线。

7.根据权利要求6所述的BTM测试系统，其特征在于，所述射频矩阵开关包括多个第一继电器节点；

各个所述第一继电器节点，用于基于所述控制主机的测试需求，实现各个所述第一通道的切换。

8.根据权利要求6所述的BTM测试系统，其特征在于，所述矩阵开关包括多个第二继电器节点；

各个所述第二继电器节点，用于基于所述控制主机的测试需求，实现各个所述第二通道的切换。

9.一种BTM测试方法，其特征在于，所述方法应用于BTM测试系统，所述BTM测试系统包括控制主机、测试设备、控制开关以及BTM测试模块，所述方法包括：

当需要对预设的待测对象进行测试时，确定当前待测试的测试需求，所述待测对象为BTM整机、BTM整机中的BTM天线或BTM整机的BTM主机中的各个待测单板；

通过所述控制主机对所述测试设备进行初始化以及参数配置，并按照所述测试需求控制所述测试设备向所述控制开关发出激励信号；

当所述测试设备向所述控制开关发出激励信号时，应用所述控制主机控制所述控制开关到导通所述BTM测试模块与所述测试设备之间的通道，并基于所述测试需求，将所述激励信号发送至所述BTM测试模块，使得所述BTM测试模块基于所述激励信号对应的测试需求对所述待测对象进行测试；

当所述测试设备采集所述BTM测试模块对所述待测对象进行测试所生成的各个测试数据时，通过所述控制主机对各个所述测试数据进行分析处理，获得分析结果；

在所述控制主机中显示所述测试结果，并通过所述控制主机基于所述测试结果，调节所述测试设备的配置参数。

10.一种电子设备，包括存储器，以及一个或者一个以上的指令，其中一个或者一个以上指令存储于存储器中，且经配置以由一个或者一个以上处理器执行如权利要求9所述的BTM测试方法。