CN113553225A - 测试电路、显示面板及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测试电路、显示面板及其测试方法，测试电路用于检查显示面板的多条触控走线，测试电路包括至少一个子测试电路，每一个子测试电路用于输入并输出一个测试信号；每一子测试电路包括多个彼此串联连接的测试晶体管，多个测试晶体管的控制端分别对应连接不同的触控走线，每一触控走线施加使得对应的测试晶体管导通的控制信号，当测试信号的输入波形与测试信号的输出波形一致时，确定显示面板的多条触控走线正常；反之，则异常。本发明在绑定集成电路芯片之前，通过测试电路对显示面板的触控走线进行检查，避免造成产品报废，有利于降低成本。

Description

测试电路、显示面板及其测试方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试电路、显示面板及其测试方法。

背景技术

随着多媒体信息查询设备和移动设备的与日俱增，触摸屏的应用范围越来越广泛，现有的内嵌(In cell)式触摸屏主要分为互电容式触摸屏和自电容式触摸屏。自电容式触摸屏通常为三层结构，触控走线通常位于底层，中间为绝缘层，上层为有金属网格组成的TRX电极，被隔断的TRX电极透过中间绝缘层的过孔，与下方的触控走线连接在一起，从而保持连续导通。

当有触控走线在制程中出现问题，会导致与之连接的触控电极失去功能，导致整个显示装置报废，而在没有绑定驱动芯片之前，由于触控通道太多及触控面板空间限制，无法对每个通道进行电性测试。

综上，亟需提供一种新的测试电路、显示面板及其测试方法，来解决上述技术问题。

发明内容

本发明实施例提供一种测试电路、显示面板及其测试方法，以解决现有的显示面板在绑定集成电路芯片之前，无法对触控走线进行电性测试的技术问题。

为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：

本发明提供一种测试电路，所述测试电路包括至少一个子测试电路，用于检查显示面板的多条触控走线；

每一个所述子测试电路包括分别用于输入和输出测试信号的测试信号输入端和测试信号输出端，每一所述子测试电路包括多个彼此串联连接的测试晶体管，多个所述测试晶体管的控制端分别对应连接不同的所述触控走线，每一所述触控走线施加使得对应的所述测试晶体管导通的控制信号。

根据本发明提供的测试电路，每一所述子测试电路还包括多个上拉单元，多个所述上拉单元分别对应连接不同的所述测试晶体管；

其中，每一所述上拉单元包括上拉输入端、上拉输出端和设于所述上拉输入端和所述上拉输出端的上拉电阻，所述上拉输入端接入第一电源电压，所述上拉输出端连接对应的所述触控走线和所述测试晶体管的所述控制端。

根据本发明提供的测试电路，每一所述子测试电路还包括至少一个放大单元，每一所述放大单元与一个所述测试晶体管的输入端或输出端连接。

根据本发明提供的测试电路，所述放大单元包括放大信号输入端、放大信号输出端、第一放大晶体管和第二放大晶体管，所述第一放大晶体管为N型晶体管，所述第二放大晶体管为P型晶体管；

所述放大信号输入端连接所述第一放大晶体管的控制端、所述第二放大晶体管的控制端，所述放大信号输出端连接所述第一放大晶体管的第一端和所述第二放大晶体管的第一端，所述第一放大晶体管的第二端接入所述第一电源电压，所述第二放大晶体管的第二端接入第二电源电压。

根据本发明提供的测试电路，至少一所述子测试电路包括第一子测试电路和第二子测试电路，所述第一子测试电路用于输入和输出第一测试信号，所述第二子测试电路用于输入和输出第二测试信号；

多条所述触控走线包括多条奇数列触控走线和多条偶数列触控走线，所述第一子测试电路的所述测试晶体管的所述控制端分别对应连接一条所述奇数列触控走线，所述第二子测试电路的所述测试晶体管的所述控制端分别对应连接一条所述偶数列触控走线。

本发明提供一种显示面板，包括上述测试电路，所述显示面板包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述测试电路位于所述非显示区。

根据本发明提供的显示面板，所述显示面板还包括至少一条控制走线和多个控制晶体管，在同一个所述子测试电路中，每一条所述触控走线通过对应的所述控制晶体管连接于同一所述控制走线，多个所述控制晶体管的控制端连接同一使能信号。

根据本发明提供的显示面板，所述显示面板包括集成电路芯片，所述非显示区包括设于所述显示区相对两侧的第一非显示区和第二非显示区，所述集成电路芯片设于所述第一非显示区，所述测试电路设于所述第二非显示区。

根据本发明提供的显示面板，所述显示面板还包括多个触控电极，多个所述触控电极与多条所述触控走线一一对应连接。

本发明提供一种显示面板的测试方法，包括以下步骤：

向每一触控走线提供可使与所述触控走线对应连接的子测试电路的测试晶体管导通的触控信号；

向每一所述子测试电路的测试电路输入端输入测试信号，从与所述测试电路输入端对应的测试电路输出端获取所述测试电路的输出波形；以及

判断所述测试信号的输入波形与所述测试信号的所述输出波形是否一致，当所述测试信号的输入波形和所述测试信号的输出波形一致时，确定所述显示面板正常，反之，则异常。

本发明的有益效果为：在本发明提供的测试电路、显示面板及其测试方法中，测试电路包括至少一个子测试电路，每一个子测试电路用于输入并输出一个测试信号；每一子测试电路包括多个彼此串联连接的测试晶体管，多个测试晶体管的控制端分别对应连接不同的所述触控走线，每一触控走线施加使得对应的所述测试晶体管导通的控制信号，当测试信号的输入波形与测试信号的输出波形一致时，确定显示面板的多条触控走线正常；反之，则异常。本发明在绑定集成电路芯片之前，通过测试电路对显示面板的触控走线进行检查，避免造成产品报废，有利于降低成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的第一种测试电路的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种放大单元的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的第二种测试电路的结构示意图；

图4是本发明实施例提供的第一种显示面板的结构示意图；

图5是图4中的显示面板中的测试电路的波形图；

图6是本发明实施例提供的第二种显示面板的结构示意图；

图6A～图6C是图6中的显示面板中的测试电路的波形图。

附图标记：

1000、测试电路；10、子测试电路；11、第一子测试电路；12、第二子测试电路；1、上拉单元；2、放大单元；101、显示区；102、第一非显示区；103、第二非显示区；104、集成电路芯片；105、触控电极；106、触控走线；1061、奇数列触控走线；1062、偶数列触控走线。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。此外，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。在本发明中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上”和“下”通常是指装置实际使用或工作状态下的上和下，具体为附图中的图面方向；而“内”和“外”则是针对装置的轮廓而言的。

如图1所示，本发明提供一种测试电路1000，所述测试电路1000用于检查显示面板的触控走线106，所述测试电路1000包括至少一个子测试电路10，每一个所述子测试电路10包括分别用于输入和输出测试信号的测试信号输入端TP input和测试信号输出端TPoutput，分别用于输入并输出一个测试信号TP。

每一所述子测试电路10包括多个彼此串联连接的测试晶体管T，多个所述测试晶体管T的控制端分别对应连接不同的所述触控走线106，以通过在不同的所述触控走线106上施加控制信号CT而使得对应的所述测试晶体管T导通，当所述测试信号TP的输入波形与所述测试信号TP的输出波形一致时，确定所述显示面板的所述触控走线106正常；反之，则异常。

需要说明的是，多个测试晶体管T彼此串联连接是指，相邻设置的两个所述测试晶体管T中的其中一个所述测试晶体管T的输入端与另一个所述测试晶体管T的输出端连接。

可以理解的是，本发明提供的测试电路1000以所述触控走线106作为控制所述测试晶体管T导通或关闭的控制线，每一所述子测试电路10用于测试所述显示面板的多条所述触控走线106的其中至少部分所述触控走线106。所述测试信号输入端TP input为位于所述子测试电路10起始端的第一个所述测试晶体管T的输入端，所述测试信号输出端TPoutput为位于所述子测试电路10末端的最后一个所述测试晶体管T的输出端，所述测试信号TP从所述测试信号输入端TP input输入，经过多个所述测试晶体管T之后，从所述测试信号输出端TP output输出。

具体地，对于每一所述子测试电路10，当每一对应连接的所述触控走线106均无异常时，例如，未发生断路等异常时，所述控制信号CT能够通过所述触控走线106传递至每一对应的所述测试晶体管T的控制端，并打开所述测试晶体管T，从而使得整个所述子测试电路10形成通路，处于导通状态，所述测试信号能够经过所述子测试电路10而不发生波形变化，即，所述测试信号TP的输入波形与所述测试信号TP的输出波形一致。反之，当多个所述触控走线106中的其中一条或多条存在异常时，例如，发生断路等异常时，由于所述触控走线106断开，所述控制信号CT无法通过所述触控走线106传递至每一对应的所述测试晶体管T的控制端，导致多个所述测试晶体管T中的其中一个或多个所述测试晶体管T关闭，从而导致整个所述子测试电路10无法形成通路，处于断开状态，所述测试信号输出端TP output未检测到所述测试信号TP。

具体地，所述测试晶体管T可以为N型晶体管，也可以为P型晶体管，本发明实施例不以此为限。为了方便描述，本发明实施例以所述测试晶体管T为N型晶体管为例进行阐述说明。

进一步地，每一所述子测试电路10还包括多个上拉单元1，多个所述上拉单元1分别对应连接不同的所述测试晶体管T。其中，每一所述上拉单元1包括上拉输入端、上拉输出端和设于所述上拉输入端和所述上拉输出端的上拉电阻R，所述上拉输入端接入第一电源电压VDD，所述上拉输出端连接对应的所述触控走线106和所述测试晶体管T的所述控制端。当所述触控走线106异常时，对应连接的所述测试晶体管T处于关闭状态，此时，由于所述测试晶体管T的控制端可能受到静电电荷的影响，导致电位升高，从而将测试晶体管T打开，则会影响测试的准确性。由于第一电源电压VDD为高电平信号，所述上拉单元1能够上拉所述测试晶体管T的控制端电位，控制所述测试晶体管T处于关闭状态，有利于提高测试的准确性。

进一步地，由于所述测试信号TP在经过所述测试晶体管T后存在一定程度的衰减，为了避免从所述测试信号输出端TP output输出的所述测试信号TP的输出波形微弱，导致不易检测，影响测试的准确性。有鉴于此，本发明实施例通过在每一所述子测试电路10还包括至少一个放大单元2，每一所述放大单元2与一个所述测试晶体管T的输入端或输出端连接，所述放大单元2用于对所述测试信号TP进行适当放大，从而能够准确判断所述测试信号TP的输入波形与所述测试信号TP的输出波形是否一致，有利于提高测试的准确性。

具体地，如图2所示，所述放大单元2包括放大信号输入端IN、放大输出端OUT、第一放大晶体管T1和所述第二放大晶体管T2，所述第一放大晶体管T1为N型晶体管，所述第二放大晶体管T2为P型晶体管。所述第一放大信号输入端IN连接所述第一放大晶体管T1的控制端、所述第二放大晶体管T2的控制端，所述放大信号输出端OUT连接所述第一放大晶体管T1的第一端和所述第二放大晶体管T2的第一端，所述第一放大晶体管T1的第二端接入所述第一电源电压VDD，所述第二放大晶体管T2的第二端接入第二电源电压VSS。

可以理解的是，所述放大信号输入端IN接入所述测试信号TP，所述放大信号输出端OUT输出所述测试信号TP，所述放大单元2对所述测试信号TP进行放大的具体过程为：当所述测试信号TP为高电平时，所述第一放大晶体管T1打开，所述第二放大晶体管T2关闭，所述放大信号输出端OUT输出所述第一电源电压VDD，即，所述测试信号TP的电位得到进一步升高。当所述测试信号TP为低电平时，所述第一放大晶体管T1关闭，所述第二放大晶体管T2打开，所述放大信号输出端OUT输出所述第二电源电压VSS，即，所述测试信号TP的电位得到进一步降低。

需要说明的是，所述放大单元2可以设置一个，也可以设置多个。所述放大单元2可以设于任意相邻两个所述测试晶体管T之间，或者，也可以设于位于所述子测试电路10起始端的第一个所述测试晶体管T的输入端，或者，也可以设于位于所述子测试电路10末端的最后一个所述测试晶体管T的输出端，本发明实施例不以此为限。

进一步地，由于工艺制程原因，比如灰尘颗粒的影响等，导致相邻的所述触控走线106之间存在短路的可能，当所述测试电路1000仅包括一个所述子测试电路10的情况下，无法排除相邻两条所述触控走线106之间存在短路的可能。

有鉴于此，如图3所示，本发明实施例将所述测试电路1000设计为包括两个子测试电路，具体地，至少一所述子测试电路包括第一子测试电路11和第二子测试电路12，所述第一子测试电路11和所述第二子测试电路12相互独立。所述第一子测试电路11包括分别用于输入和输出第一测试信号TP1的第一测试信号输入端TP1 input和第一测试信号输出端TP1output，所述第二子测试电路12包括分别用于输入和输出第二测试信号TP2的第二测试信号输入端TP2 input和第二测试信号输出端TP2 output。多条所述触控走线106包括多条奇数列触控走线1061和多条偶数列触控走线1062，所述第一子测试电路11的多个所述测试晶体管T的控制端分别对应连接一条所述奇数列触控走线1061，所述第二子测试电路12的多个所述测试晶体管T的控制端分别对应连接一条所述偶数列触控走线1062。

可以理解的是，所述第一子测试电路11用于检查所述奇数列触控走线1061是否正常，所述第二子测试电路12用于检查所述偶数列触控走线1062是否正常，所述奇数列触控走线1061上施加第一控制信号CT1而使得对应的所述测试晶体管T导通，所述偶数列触控走线1062上施加第二控制信号CT2而使得对应的所述测试晶体管T导通。

如图4和图6所示，本发明实施例还提供一种显示面板，所述显示面板包括上述实施例中的所述测试电路1000，所述显示面板包括显示区101和围绕所述显示区101的非显示区，所述测试电路1000设于所述非显示区。

所述非显示区包括设于所述显示区相对两侧的第一非显示区102和第二非显示区103，所述显示面板包括集成电路芯片104，所述集成电路芯片104设于所述第一非显示区102，一般地，所述第一非显示区102为所述显示面板的下边框区，所述第二非显示区103为所述显示面板的上边框区。

所述显示面板为自电容式触控显示面板，所述显示面板包括多个呈阵列排布的多个触控电极105，多个所述触控电极105和多条所述触控走线106对应连接，所述触控走线106沿所述第二非显示区103指向所述第一非显示区102的延伸方向排列。

如图4所示，所述测试电路1000仅包括一个所述子测试电路10，也就是说，所述子测试电路10对所述显示面板的所有所述触控走线106进行检查。

图4中的显示面板还包括至少一条控制走线和多个控制晶体管T3，在同一个所述子测试电路中，每一条所述触控走线106通过对应的所述控制晶体管T3连接于同一所述控制走线，多个所述控制晶体管T3的控制端连接同一使能信号SW。

可以理解的是，本发明实施例以所述触控走线106作为所述子测试电路10的所述测试晶体管T的控制线，用于控制所述测试晶体管T的导通。对于所述子测试电路10，当每一对应连接的所述触控走线106均无异常时，例如，未发生断路等异常时，所述控制信号CT能够通过所述触控走线传递至每一对应的所述测试晶体管T的控制端，并打开所述测试晶体管T，从而使得整个所述子测试电路10形成通路，处于导通状态，所述测试信号TP能够经过所述子测试电路10而不发生波形变化，即，所述测试信号TP的输入波形与所述测试信号TP的输出波形一致。反之，当多个所述触控走线106中的其中一条或多条存在异常时，例如，发生断路等异常时，由于所述触控走线106断开，控制信号无法通过所述触控走线106传递至每一对应的所述测试晶体管T的控制端，导致多个所述测试晶体管T中的其中一个或多个所述测试晶体管T关闭，从而导致整个所述子测试电路10无法形成通路，处于断开状态，所述测试信号输出端未检测到所述测试信号TP。

具体地，结合图5，当所述控制信号CT为低电平时，所述测试信号TP的输出波形与所述测试信号TP的输入波形保持一致，此时，所述显示面板的多条所述触控走线106均未发生断路。当所述控制信号CT为高电平时，所述测试信号输出端未输出所述测试信号TP，即，可认为所述测试信号TP的输出波形与所述测试信号TP的输入波形不一致，所述显示面板的多条所述触控走线106中的其中一条或多条发生断路。

优选地，所述测试信号TP可为方波信号。

如图6所示，当所述测试电路包括第一子测试电路11和第二子测试电路12时，所述显示面板还包括第一控制走线、第二控制走线、多个第一控制晶体管T31和多个第二控制晶体管T32。在所述第一子测试电路11中，与多个所述测试晶体管T的控制端连接的多条奇数列触控走线1061通过第一控制晶体管T31连接于第一控制走线，所述第一控制走线提供所述第一控制信号CT1，所述第一控制晶体管T31的控制端连接第一使能信号SW1。在所述第二子测试电路12中，与多个所述测试晶体管T的控制端连接的多条所述偶数列触控走线1062通过第二控制晶体管T32连接于第二控制走线，所述第二控制走线提供所述第二控制信号CT2，所述第二控制晶体管T32的控制端连接第二使能信号SW2。

具体地，所述测试电路1000进行检查的具体过程如下：

首先，结合图6A，当所述第一使能信号SW1为低电平，所述第二使能信号SW2时，所述第一控制晶体管T31打开，所述第二控制晶体管T32关闭，此时，所述第一子测试电路11对所述奇数列触控走线1061检查是否发生断路。当所述第二使能信号SW2为低电平，所述第一使能信号SW1为高电平时，所述第一控制晶体管T31关闭，所述第二控制晶体管T32打开，此时，所述第二子测试电路12对所述偶数列触控走线1062检查是否发生断路。所述奇数列触控走线1061提供第一控制信号CT1，所述偶数列触控走线1062提供第二控制信号CT2，所述第一控制信号CT1和所述第二控制信号CT2均为低电平，若所述第一测试信号TP1的输入波形与所述第二测试信号TP2的输出波形一致，且所述第二测试信号TP2的输入波形与所述第二测试信号TP2的输出波形一致时，所述奇数列触控走线1061和所述偶数列触控走线1062均不存在断路。需要说明的是，此过程与上述实施例中的所述测试电路1000仅包括一个所述子测试电路10的原理一致，具体也可参照上述相关内容。

之后，在确定所述奇数列触控走线1061和所述偶数列触控走线1062均不存在断路的情况下，将所述第一控制信号CT1和所述第二控制信号CT2设置为相反电平，具体地，如图6B所示，当所述第一控制信号CT1为高电平、所述第二控制信号CT2为低电平时，所述第一子测试电路11的所述测试信号输出端未输出所述第一测试信号TP1，所述第二测试信号TP2的输入波形与所述第二测试信号TP2的输出波形一致；或者，当所述第一控制信号CT1为低电平、所述第二控制信号CT2为高电平时，所述第一测试信号TP1的输入波形与所述第一测试信号TP1的输出波形一致，所述第二子测试电路12的所述测试信号输出端未输出所述第二测试信号TP2。则此时可认为相邻两条所述触控走线106之间不存在短路的情况，即所述显示面板的所述触控走线106正常。

相对地，如图6C所示，当所述第一控制信号CT1为高电平、所述第二控制信号CT2为低电平时，所述第一子测试电路11的所述测试信号输出端未输出所述第一测试信号TP1，且所述第二子测试电路12的所述测试信号输出端未输出所述第二测试信号TP2；或者，当所述第一控制信号CT1为低电平、所述第二控制信号CT2为高电平时，所述第一子测试电路11的所述测试信号输出端也未输出所述第一测试信号TP1，且所述第二子测试电路12的所述测试信号输出端也未输出所述第二测试信号TP2。则此时可认为相邻两条所述触控走线106之间存在短路，即所述显示面板的所述触控走线106异常，则在绑定所述集成电路芯片104之前，就可以通过所述测试电路1000对显示面板的触控走线106进行检查，从而避免了整个产品报废，有利于降低成本。

具体地，所述第一测试信号TP1的输入波形和所述第二测试信号TP2的输入波形可相同，也可不同，并不会对测试结果准确性造成影响。

优选地，所述第一测试信号TP1和所述第二测试信号TP2可为方波信号。

本发明实施例还提供一种显示面板的测试方法，包括以下步骤：

向每一触控走线提供可使与所述触控走线对应连接的子测试电路的测试晶体管导通的触控信号；

向每一所述子测试电路的测试电路输入端输入测试信号，从与所述测试电路输入端对应的测试电路输出端获取所述测试电路的输出波形；以及

判断所述测试信号的输入波形与所述测试信号的所述输出波形是否一致，当所述测试信号的输入波形和所述测试信号的输出波形一致时，确定所述显示面板正常，反之，则异常。

本发明实施例的显示面板的测试方法，在绑定集成电路芯片之前，通过测试电路对显示面板的所述触控走线进行检查，避免造成产品报废，有利于降低成本，所述显示面板的测试方法采用的测试电路的工作原理可参照上述实施例中的相关描述，在此不再详述。

有益效果为：本发明提供的测试电路、显示面板及其测试方法，测试电路包括至少一个子测试电路，每一个子测试电路用于输入并输出一个测试信号；每一子测试电路包括多个彼此串联连接的测试晶体管，多个测试晶体管的控制端分别对应连接不同的所述触控走线，每一触控走线施加使得对应的所述测试晶体管导通的控制信号，当测试信号的输入波形与测试信号的输出波形一致时，确定显示面板的多条触控走线正常；反之，则异常。本发明在绑定集成电路芯片之前，通过测试电路对显示面板的触控走线进行检查，避免造成产品报废，有利于降低成本。

综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种测试电路，其特征在于，所述测试电路包括至少一个子测试电路，用于检查显示面板的多条触控走线；

每一个所述子测试电路包括分别用于输入和输出测试信号的测试信号输入端和测试信号输出端，每一所述子测试电路包括多个彼此串联连接的测试晶体管，多个所述测试晶体管的控制端分别对应连接不同的所述触控走线，每一所述触控走线施加使得对应的所述测试晶体管导通的控制信号。

2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，每一所述子测试电路还包括多个上拉单元，多个所述上拉单元分别对应连接不同的所述测试晶体管；

其中，每一所述上拉单元包括上拉输入端、上拉输出端和设于所述上拉输入端和所述上拉输出端的上拉电阻，所述上拉输入端接入第一电源电压，所述上拉输出端连接对应的所述触控走线和所述测试晶体管的所述控制端。

3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，每一所述子测试电路还包括至少一个放大单元，每一所述放大单元与一个所述测试晶体管的输入端或输出端连接。

4.根据权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述放大单元包括放大信号输入端、放大信号输出端、第一放大晶体管和第二放大晶体管，所述第一放大晶体管为N型晶体管，所述第二放大晶体管为P型晶体管；

所述放大信号输入端连接所述第一放大晶体管的控制端、所述第二放大晶体管的控制端，所述放大信号输出端连接所述第一放大晶体管的第一端和所述第二放大晶体管的第一端，所述第一放大晶体管的第二端接入所述第一电源电压，所述第二放大晶体管的第二端接入第二电源电压。

5.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，至少一所述子测试电路包括第一子测试电路和第二子测试电路，所述第一子测试电路用于输入和输出第一测试信号，所述第二子测试电路用于输入和输出第二测试信号；

多条所述触控走线包括多条奇数列触控走线和多条偶数列触控走线，所述第一子测试电路的所述测试晶体管的所述控制端分别对应连接一条所述奇数列触控走线，所述第二子测试电路的所述测试晶体管的所述控制端分别对应连接一条所述偶数列触控走线。

6.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1～5任一项所述的测试电路，所述显示面板包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述测试电路位于所述非显示区。

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括至少一条控制走线和多个控制晶体管，在同一个所述子测试电路中，每一条所述触控走线通过对应的所述控制晶体管连接于同一所述控制走线，多个所述控制晶体管的控制端连接同一使能信号。

8.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括集成电路芯片，所述非显示区包括设于所述显示区相对两侧的第一非显示区和第二非显示区，所述集成电路芯片设于所述第一非显示区，所述测试电路设于所述第二非显示区。

9.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括多个触控电极，多个所述触控电极与多条所述触控走线一一对应连接。

10.一种如权利要求6～9任一项所述的显示面板的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

向每一触控走线提供可使与所述触控走线对应连接的子测试电路的测试晶体管导通的触控信号；

向每一所述子测试电路的测试电路输入端输入测试信号，从与所述测试电路输入端对应的测试电路输出端获取所述测试电路的输出波形；以及

判断所述测试信号的输入波形与所述测试信号的所述输出波形是否一致，当所述测试信号的输入波形和所述测试信号的输出波形一致时，确定所述显示面板正常，反之，则异常。

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