CN113552608A - Sgs效率刻度函数模型及构建方法、刻度方法、应用 - Google Patents

Sgs效率刻度函数模型及构建方法、刻度方法、应用 Download PDF

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Abstract

本发明公开了SGS效率刻度函数模型及构建方法、刻度方法、应用,本发明首先通过MCNP计算不同线衰减系数和γ能量条件下的断层效率值;然后,通过多元非线性回归方法确定效率刻度函数及参数;再次,通过SGS透射测量放射性废物桶样品,获取断层介质的γ射线衰减系数;最后,将桶内出射γ射线衰减系数、出射γ射线能量和函数参数代入体源效率函数模型,计算得到介质不同断层的效率矩阵,实现断层的效率刻度。该方法准确快捷的实现了放射性废物桶SGS系统的效率刻度,不受SGS系统差异的影响,不受实验源和其他软件的局限,具有较强的通用性。

Description

SGS效率刻度函数模型及构建方法、刻度方法、应用
技术领域
本发明涉及放射性废物桶γ无损检测技术领域,具体涉及SGS效率刻度函数模型及构建方法、刻度方法、应用。
背景技术
随着我国核能与核技术事业的发展,在核电站、核废物处置厂、涉核科研单位等的核设施运行和科研生产过程中,产生并积存了大量桶装放射性废物。桶内核素种类与活度是放射性废物进行准确判断和分类的重要依据,在核安全监测、核废物处置中,放射性废物桶检测是必须环节。基于γ无损检测原理的分段γ扫描技术(Segmented Gamma Scanning,SGS)是一种快捷有效的放射性废物桶检测方法,SGS系统被广泛应用于核电站、核废物处置厂等场所。
SGS检测放射性废物桶的基本流程:(1)匀速旋转废物桶使其桶内介质与核素呈等效均匀分布;(2)将废物桶纵向分为等高度的若干断层;(3)利用透射源对各断层进行透射扫描,计算断层线衰减系数;(4)对各断层进行发射扫描,获取桶内核素种类与投影数据;(5)结合断层线衰减系数和γ射线能量,计算效率矩阵;(6)利用核素活度重建算法解析方程组,重建桶内核素活度。SGS检测原理如图1所示,根据SGS系统检测放射性废物桶的原理,核素活度重建方程如下:
Figure BDA0003175641140000011
式中:E为γ射线能量,εij(E)为探测器在i层位置对第j层样品的探测效率,Aj(E)为第j层样品活度,pi(E)为探测器在i层位置获取的投影值,pi(E)=ni(E)/[f(E).t],ni(E)为第i层位置探测器全能峰净计数,f(E)为γ射线发射率分支比,t为单个断层的扫描时间,N为整个桶的纵向总分层数。
利用SGS系统检测放射性废物桶,重建桶内核素活度,效率刻度是一项非常重要的功能,由上式可以看出,效率刻度矩阵εij(E)对核素活度重建方程至关重要,刻度结果直接关系到核素活度重建准确性。目前的SGS效率刻度方法,蒙特卡罗模拟法具有时间滞后性,实验效率刻度法和壳状源等效刻度法受限于实验源,国内外效率刻度软件以ISOCS、LabSOCS、Angle软件、GammaClib为代表,这些软件能够针对性计算断层效率,无法与自主研发的SGS系统分析软件进行有效结合,其实用性仍然受限。基于效率函数的SGS效率刻度方法可以快捷方便的计算断层效率,同时又可将其嵌入SGS系统中,完成效率刻度。在SGS分析中,废物桶被纵向分层后,透射测量得到的是每一个断层的线衰减系数而不是密度,通常的体源效率函数主要是探测效率与样品密度、γ射线能量的关系,无法满足SGS分析中效率刻度要求。
发明内容
本发明的目的在于提供SGS效率刻度函数模型及构建方法,将SGS效率刻度函数模型应用于SGS效率刻度,能够提高刻度在准确度,准确重建桶内核素活度;解决现有SGS刻度方法中时间滞后性、受限于实验源、无法与SGS软件有效结合等问题。
本发明通过下述技术方案实现:
SGS效率刻度函数模型构建方法,包括以下步骤:
S1、根据SGS系统的探测系统参数和废物桶介质样品,建立MCNP模型;
S2、基于步骤S1构建的MCNP模型计算不同线衰减系数值、特征能量和间隔层数条件下的断层离散效率值;
S3、利用通用体源效率函数模型对步骤S2获得的断层离散效率值,采用Matlab进行多元非线性回归拟合,确定通用体源效率函数模型中的函数参数ai(i=1,2,…,8);
S4、将函数参数ai(i=1,2,…,8)代入通用体源效率函数模型,获得SGS效率刻度函数模型。
本发明的步骤S2中,线衰减系数、特征能量和间隔层数都是已知条件;通过S1构建的MCNP模型,编写效率计算程序,在线衰减系数值、特征能量值、间隔层数确定的每一种条件下可以计算得到一个效率值,然后通过修改程序中线衰减系数值、特征能量值、以及探测器和样品层的间隔层数,可实现不同线衰减系数值、特征能量值、间隔层数情况下的多个效率值,由于线衰减系数和特征能量是取的分立点,因此在不同间隔层数时,计算出来的是断层离散效率值。即步骤S2中的断层离散效率值是通过已知SGS系统的MCNP模型事先计算出来的多个效率值,类似于事先建立数据库;通用体源效率函数模型为一个经验公式,利用这些数据库中的离散效率值,通过Matlab编制计算程序,这个程序中是利用多元非线性回归拟合的方法来计算出函数参数;SGS系统一旦确定,函数参数就已经确定,一个SGS系统在每一种间隔层数时对应一套固有的函数参数。
本发明构建的SGS效率刻度函数模型用于分段γ扫描效率刻度,能够快速实现SGS系统的效率刻度;能够避免传统蒙特卡罗方法导致的时间滞后性问题,克服因实验源限制而导致的刻度不准确问题。
进一步地,步骤S1中,探测系统参数包括HPGe探测器的晶体尺寸和冷指尺寸,准直器的厚度和准直空间,屏蔽器厚度,探测器的准直器前端到废物桶中心距离,以及准直器和屏蔽器的材料。
进一步地,步骤S1中,废物桶的样品高度为80cm,桶内断层高度为10cm,介质与核素均匀分布在桶内断层中。
进一步地,步骤S1中,废物桶内的介质包括纤维、橡胶、金属、土壤、塑料和混凝土。
进一步地,步骤S4中,SGS效率刻度函数模型如下:
Figure BDA0003175641140000031
式中:E为γ射线能量,μ为线衰减系数;其中,ai(i=1,2,…,8)为通过步骤S3确定的函数参数。
通用体源效率函数模型的表达式同SGS效率刻度函数模型,本发明是基于MCNP模型计算的离散效率数据确定了将通用体源效率函数模型用于SGS系统时的函数参数ai(i=1,2,…,8),便于实际的放射性废物桶SGS测量,在实际的放射性废物桶SGS测量过程中,函数参数ai(i=1,2,…,8)已知,可直接通过测量实际的放射性废物桶中的γ射线衰减系数,将射γ射线衰减系数μj(E)、出射γ射线能量E代入SGS效率刻度函数模型,计算得到介质不同断层的效率矩阵εij(E)
如上述构建方法构建的SGS效率刻度函数模型,本发明是基于SGS效率刻度函数模型构建的分段γ扫描效率刻度方法。
基于SGS效率刻度函数模型的分段γ扫描效率刻度方法,包括以下步骤:
步骤一、采用透射源对废物桶样品进行直接透射测量,计算不同能量下每一断层介质的γ射线衰减系数μj(E);
步骤二、通过探测器发射测量获取桶内出射γ射线的能量E;
步骤三、将步骤一获得的γ射线衰减系数μj(E)和步骤二获得的桶内出射γ射线的能量E代入SGS效率刻度函数模型计算得到介质不同断层的效率矩阵εij(E)。
进一步地,步骤一中,γ射线衰减系数μj(E)的计算模型如下:
Figure BDA0003175641140000032
式中,I0(E)为能量为E的入射γ射线强度,Ij(E)为穿透断层后的γ射线强度,μj(E)为废物桶第j层介质的γ射线衰减系数,d为核废物桶直径;根据计算所得不同能量E的线衰减系数μj(E),建立μj(E)与γ射线能量E的关系式fj(E):
μj(E)=fj(E)=a1exp(-E/a2)+a3exp(-E/a4)+a5
式中,ai(i=1,2,…,5)为函数参数。
在废物桶SGS测量过程中,利用外置透射源152Eu(主要发射0.122、0.344、0.779、0.964、1.112、1.408MeV这6种能量)对废物桶进行透射测量,可以获取得到0.122、0.344、0.779、0.964、1.112、1.408MeV这6种能量的线衰减系数,但是废物桶中的放射性核素发射的能量还有很多,比如0.662、1.173、1.332MeV等,因此需要建立关系式fj(E)。
本发明可利用0.122、0.344、0.779、0.964、1.112、1.408MeV这6种能量的线衰减系数,可以建立在单个废物桶中,透射线衰减系数随不同能量的关系,即通过透射测量计算线衰减系数,不仅仅是计算这6个能量的线衰减系数,而是更进一步的建立线衰减系数与γ能量的关系曲线,这样单个桶内发射任何γ能量均可以通过这个曲线获取透射线衰减系数,一个废物桶对应一个这样的关系曲线。
进一步地,步骤二中,探测器采用HPGe探测器。
SGS效率刻度函数模型用于SGS系统效率刻度。
本发明与现有技术相比,具有如下的优点和有益效果:
1、本发明通过构建的SGS效率刻度函数模型,能够快速实现SGS系统的效率刻度。
2、本发明为无源效率刻度方法,基于蒙特卡罗方法确定函数参数,既满足了刻度函数适用的待测废物桶样品范围,同时节约了因制作大体积标准源的成本。
3、本发明提出的效率刻度函数,可以融入所开发的SGS分析软件中。
4、本发明具有简便快捷、通用性强的优点,具有很高的实际使用价值和广泛的应用前景。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明实施例的进一步理解,构成本申请的一部分,并不构成对本发明实施例的限定。在附图中:
图1为放射性废物桶SGS检测原理图;
图2为放射性废物桶中核素分布图;
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下面结合实施例和附图,对本发明作进一步的详细说明,本发明的示意性实施方式及其说明仅用于解释本发明,并不作为对本发明的限定。
实施例1:
体源效率函数模型构建方法,包括以下步骤:
S1、根据SGS系统的探测系统参数,基于200L标准钢桶进行样品建立MCNP模型。HPGe探测器晶体尺寸为Φ70mm×82.6mm,冷指尺寸为Φ9mm×69mm。准直器的厚度为50mm,准直空间为200mm×100mm×150mm,屏蔽器厚度为50mm,准直器和屏蔽器采用铅材料。探测器准直器前端到废物桶中心距离为485mm。通常桶内介质有纤维、橡胶、金属、土壤、塑料、混凝土等,本实施例中MCNP模型采用的桶内填充介质元素为:H(10%),C(10%),O(20%),N(5%),S(5%),Si(5%),Na(5%),Mg(5%),Al(5%),K(5%),Ca(5%),Fe(10%),Cu(5%),Pb(5%)。线衰减系数值选取0.03、0.06、0.09、0.12、0.15、0.18、0.21、0.24cm-1。刻度核素为152Eu,特征能量选取:0.122、0.344、0.779、0.964、1.112、1.408MeV。整桶样品高度为80cm,桶内断层高度为10cm,介质与核素均匀分布在桶内断层中;
S2、基于步骤S1构建的MCNP模型计算不同线衰减系数值、特征能量和间隔层数条件下的断层离散效率值;
通过MCNP模型计算得到探测器与断层位置间隔层数分别为0、1、2层(本实施例的断层数量为8层,其中,探测器与最低层对应,放射性层在最底层时间隔层数为0层;放射性层在第二层时间隔层数为1层;放射性层在第三层时间隔层数为2层;当间隔层数大于2时,放射性样品层不在探测范围,因此探测效率为0,不需在计算)时,在不同线衰减系系数和γ射线能量条件下的断层探测效率分布:
通过S1构建的MCNP模型,编写效率计算程序,在线衰减系数值、特征能量值、间隔层数确定的每一种条件下可以计算得到一个效率值,然后通过修改程序中线衰减系数值、特征能量值、以及探测器和样品层的间隔层数,可实现不同线衰减系数值、特征能量值、间隔层数情况下的多个效率值,由于线衰减系数和特征能量是取的分立点,因此在不同间隔层数时,计算出来的是离散效率值;
S3、利用通用体源效率函数模型对步骤S2获得的断层离散效率值,采用Matlab进行多元非线性回归拟合,确定通用体源效率函数模型中的函数参数ai(i=1,2,…,8):
利用Matlab进行多元非线性回归拟合,获取函数参数ai(i=1,2,…,8)。当间隔层数为0时,a1=-0.61265,a2=-0.13140,a3=0.13347,a4=-14.18816,a5=5.76917,a6=-2.03592,a7=2.50586,a8=-1.39255,R2=0.99710;当间隔层数为1时,a1=-0.45543,a2=-0.14752,a3=0.13524,a4=-14.31974,a5=2.99772,a6=-1.41061,a7=4.80552,a8=-1.61936,R2=0.99785;当间隔层数为2时,a1=-0.40652,a2=-1.01215,a3=0.27050,a4=-28.80021,a5=3.84716,a6=-0.96104,a7=8.349×107,a8=-8.19547,R2=0.99738。层数间隔分别为0、1、2层时的拟合相关系数R2均接近于1,说明函数参数是准确的;
本实施例中函数参数ai(i=1,2,…,8)的计算过程为:
步骤S2中的断层离散效率值是通过已知SGS系统的MCNP模型事先计算出来的多个效率值,类似于事先建立数据库,依据本发明所提出的体源效率函数模型,该模型为一个经验公式,利用这些数据库中的离散效率值,通过Matlab编制计算程序,这个程序中是利用多元非线性回归拟合的方法来计算出函数参数;
S4、将函数参数ai(i=1,2,…,8)代入通用体源效率函数模型,获得SGS效率刻度函数模型:
Figure BDA0003175641140000061
式中:E为γ射线能量,μ为线衰减系数;其中,ai(i=1,2,…,8)为通过步骤S3确定的函数参数。
实施例2:
将实施例1构建的体源效率函数模型用于分段γ扫描效率刻度:
利用实验室SGS系统开展放射性废物桶SGS检测分析,透射源152Eu活度为2.568×108Bq。桶内介质选取硅酸铝板、木质板、聚氯乙烯板,总高度80cm,分段测量中选取每层高度10cm。桶内核素为点源137Cs(活度为3.110×105Bq)和60Co(活度为1.371×105Bq)。点源位于中间层,偏心距分别为0、6.5、11.5、17.5、22、25cm,如图2所示,将测量投影数据相加取平均值,模拟单层样品中存在多点核素情况。透射测量和发射测量中,单个断层扫描时间分别为180s和300s。
经过152Eu透射测量和计算,计算过程如下:
在废物桶SGS测量过程中,利用外置透射源152Eu(主要发射0.122、0.344、0.779、0.964、1.112、1.408MeV这6种能量)对废物桶进行透射测量,可以获取得到0.122、0.344、0.779、0.964、1.112、1.408MeV这6种能量的线衰减系数,计算公式如下:
Figure BDA0003175641140000062
式中,I0(E)为能量为E的入射γ射线强度,Ij(E)为穿透断层后的γ射线强度,μj(E)为废物桶第j层介质的γ射线衰减系数,d为核废物桶直径。
这样利用0.122、0.344、0.779、0.964、1.112、1.408MeV这6种能量的线衰减系数,可以建立在单个废物桶中,透射线衰减系数μj(E)随不同能量E的关系如下:
μj(E)=fj(E)=a1exp(-E/a2)+a3exp(-E/a4)+a5
式中,每一种桶内截至对应一套函数参数ai(i=1,2,…,5)。
通过透射测量计算线衰减系数,不仅仅是计算这6个能量的线衰减系数,而是更进一步的建立线衰减系数与γ能量的关系曲线,这样单个桶内发射任何γ能量均可以通过这个曲线获取透射线衰减系数,一个废物桶对应一个这样的关系曲线。
再将0.662、1.173、1.332MeV能量带入上述关系式,计算得到一个废物桶中对0.662、1.173、1.332MeV的线衰减系数。
在硅酸铝板样品中0.662、1.173、1.332MeV的线衰减系数分别为0.025153、0.019066、0.017500cm-1;在木质板样品中0.662、1.173、1.332MeV的线衰减系数分别为0.053672、0.040917、0.037931cm-1;在聚氯乙烯板样品中0.662、1.173、1.332MeV的线衰减系数分别为0.139045、0.104067、0.095657cm-1
将出射γ射线衰减系数μj(E)、出射γ射线能量E代入SGS效率刻度函数模型ε(E,μ,ai),计算得到介质不同断层的效率矩阵εij[8×8]:
将出射γ射线衰减系数μj(E)、出射γ射线能量E代入SGS效率刻度函数模型ε(E,μ,ai),探测器与断层位置间隔层数分别为0、1、2层时,断层效率如表1所示:
表1
Figure BDA0003175641140000071
以硅酸铝样品中为例,0.662MeV的效率矩阵εij[8×8]如表2所示:
表2
1.63E-04 1.39E-04 3.51E-05 0 0 0 0 0
1.39E-04 1.63E-04 1.39E-04 3.51E-05 0 0 0 0
3.51E-05 1.39E-04 1.63E-04 1.39E-04 3.51E-05 0 0 0
0 3.51E-05 1.39E-04 1.63E-04 1.39E-04 3.51E-05 0 0
0 0 3.51E-05 1.39E-04 1.63E-04 1.39E-04 3.51E-05 0
0 0 0 3.51E-05 1.39E-04 1.63E-04 1.39E-04 3.51E-05
0 0 0 0 3.51E-05 1.39E-04 1.63E-04 1.39E-04
0 0 0 0 0 3.51E-05 1.39E-04 1.63E-04
以硅酸铝样品中为例,1.173MeV的效率矩阵εij[8×8]如表3所示:
表3
1.13E-04 9.86E-05 2.43E-05 0 0 0 0 0
9.86E-05 1.13E-04 9.86E-05 2.43E-05 0 0 0 0
2.43E-05 9.86E-05 1.13E-04 9.86E-05 2.43E-05 0 0 0
0 2.43E-05 9.86E-05 1.13E-04 9.86E-05 2.43E-05 0 0
0 0 2.43E-05 9.86E-05 1.13E-04 9.86E-05 2.43E-05 0
0 0 0 2.43E-05 9.86E-05 1.13E-04 9.86E-05 2.43E-05
0 0 0 0 2.43E-05 9.86E-05 1.13E-04 9.86E-05
0 0 0 0 0 2.43E-05 9.86E-05 1.13E-04
以硅酸铝样品中为例,1.332MeV的效率矩阵εij[8×8]如表4:
表4
1.07E-04 9.22E-05 2.21E-05 0 0 0 0 0
9.22E-05 1.07E-04 9.22E-05 2.21E-05 0 0 0 0
2.21E-05 9.22E-05 1.07E-04 9.22E-05 2.21E-05 0 0 0
0 2.21E-05 9.22E-05 1.07E-04 9.22E-05 2.21E-05 0 0
0 0 2.21E-05 9.22E-05 1.07E-04 9.22E-05 2.21E-05 0
0 0 0 2.21E-05 9.22E-05 1.07E-04 9.22E-05 2.21E-05
0 0 0 0 2.21E-05 9.22E-05 1.07E-04 9.22E-05
0 0 0 0 0 2.21E-05 9.22E-05 1.07E-04
结合发射测量获取的投影值矩阵pi[8×1]:
pi(E)为探测器在i层位置获取的投影值,pi(E)=ni(E)/[f(E).t],ni(E)为第i层位置探测器全能峰净计数,f(E)为γ射线发射率分支比,0.662、1.173、1.332MeV的f(E)分别为0.85、0.9987、0.99982,t为单个断层的扫描时间,本实施例中为300s。投影值矩阵pi[8×1]对应如表5中的每一列:
表5
Figure BDA0003175641140000081
基于上述矩阵pi[8×1]建立核素活度重建方程组。利用MLEM算法迭代解析核素活度重建方程组,MLEM算法的迭代格式为:
Figure BDA0003175641140000091
式中:k为迭代次数,
Figure BDA0003175641140000092
为经过k次迭代后的断层活度值,pi为扫描投影值,εij为断层效率,i为探测器位置序号(1≤i≤N),j为样品层位置序号(1≤j≤N)。采用MLEM算法进行求解,得到在硅酸铝板样品中0.662、1.173、1.332MeV活度分别为3.296×105Bq(误差为5.98%)、1.852×105Bq(误差为35.09%)、1.786×105Bq(误差为30.26%),在木质板样品中0.662、1.173、1.332MeV活度分别为3.316×105Bq(误差为6.63%)、1.756×105Bq(误差为28.1%)、1.644×105Bq(误差为19.95%),在聚氯乙烯板样品中0.662、1.173、1.332MeV活度分别为2.605×105Bq(误差为-16.25%)、1.392×105Bq(误差为1.5%)、1.294×105Bq(误差为-5.64%)。重建核素活度误差范围在-16.25%~35.09%,满足放射性废物桶中核素活度测量准确度的要求,说明本发明应用于SGS检测中的效率刻度具有可行性和有效性。
以上所述的具体实施方式,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施方式而已,并不用于限定本发明的保护范围,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.SGS效率刻度函数模型构建方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、根据SGS系统的探测系统参数和废物桶介质样品,建立MCNP模型;
S2、基于步骤S1构建的MCNP模型计算不同线衰减系数值、特征能量和间隔层数条件下的断层离散效率值;
S3、利用通用体源效率函数模型对步骤S2获得的断层离散效率值,采用Matlab进行多元非线性回归拟合,确定通用体源效率函数模型中的函数参数ai(i=1,2,…,8);
S4、将函数参数ai(i=1,2,…,8)代入通用体源效率函数模型,获得SGS效率刻度函数模型。
2.根据权利要求1所述的SGS效率刻度函数模型的构建方法,其特征在于,步骤S1中,探测系统参数包括HPGe探测器的晶体尺寸和冷指尺寸,准直器的厚度和准直空间,屏蔽器厚度,探测器的准直器前端到废物桶中心距离,以及准直器和屏蔽器的材料。
3.根据权利要求1所述的SGS效率刻度函数模型的构建方法,其特征在于,步骤S1中,废物桶的样品高度为80cm,桶内断层高度为10cm,介质与核素均匀分布在桶内断层中。
4.根据权利要求1所述的SGS效率刻度函数模型的构建方法,其特征在于,步骤S1中,废物桶内的介质包括纤维、橡胶、金属、土壤、塑料和混凝土。
5.根据权利要求1所述的SGS效率刻度函数模型的构建方法,其特征在于,步骤S4中,SGS效率刻度函数模型如下:
Figure FDA0003175641130000011
式中:E为γ射线能量,μ为线衰减系数;其中,ai(i=1,2,…,8)为通过步骤S3确定的函数参数。
6.如权利要求1-5任一项所述构建方法构建的SGS效率刻度函数模型。
7.基于权利要求1-5任一项所述构建方法构建的SGS效率刻度函数模型的分段γ扫描效率刻度方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一、采用透射源对废物桶样品进行直接透射测量,计算不同能量下每一断层介质的γ射线衰减系数μj(E);
步骤二、通过探测器发射测量获取桶内出射γ射线的能量E;
步骤三、将步骤一获得的γ射线衰减系数μj(E)和步骤二获得的桶内出射γ射线的能量E代入SGS效率刻度函数模型计算得到介质不同断层的效率矩阵εij(E)。
8.根据权利要求7所述分段γ扫描效率刻度方法,其特征在于,步骤一中,γ射线衰减系数μj(E)的计算模型如下:
Figure FDA0003175641130000012
式中,I0(E)为能量为E的入射γ射线强度,Ij(E)为穿透断层后的γ射线强度,μj(E)为废物桶第j层介质的γ射线衰减系数,d为核废物桶直径;根据计算所得不同能量E的线衰减系数μj(E),建立μj(E)与γ射线能量E的关系式fj(E):
μj(E)=fj(E)=a1 exp(-E/a2)+a3 exp(-E/a4)+a5
式中,ai(i=1,2,…,5)为函数参数。
9.根据权利要求7所述分段γ扫描效率刻度方法,其特征在于,步骤二中,探测器采用HPGe探测器。
10.如权利要求1-5任一项所述构建方法构建的SGS效率刻度函数模型用于SGS系统效率刻度。
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