发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供了涉及一种基于并罐高炉的偏斜检测及校正方法、装置及存储介质,以解决现有技术中通过检测料面高度的方式无法准确检测出高炉是否存在偏斜的技术问题。
本发明提出的技术方案如下:
本发明实施例第一方面提供一种基于并罐高炉的偏斜检测及校正方法,包括:获取高炉的工艺参数,所述工艺参数包括布料参数、风口参数以及铁口参数;根据所述工艺参数计算两个料罐方向上的矿焦比、风口总面积以及铁口炉温;根据两个料罐方向上矿焦比的关系、风口总面积的关系以及铁口炉温的关系;判断所述高炉是否存在偏斜。
可选地,根据所述工艺参数计算两个料罐方向上的矿焦比,包括:根据所述布料参数确定上一批物料的下料速度、当前批焦炭和矿石布料时探尺高度变化以及布料时间;根据上一批物料的下料速度、当前批焦炭布料时探尺高度变化以及布料时间确定当前批焦炭厚度变化;根据当前批焦炭布料时探尺高度变化以及布料时间确定当前批焦炭下料速度;根据当前批焦炭下料速度、当前批矿石布料时探尺高度变化以及布料时间确定当前批矿石厚度变化;根据当前批焦炭厚度变化和当前批焦炭厚度变化确定两个料罐方向上的矿焦比。
可选地,根据所述工艺参数计算两个料罐方向上的风口总面积,包括:根据所述风口参数确定两个料罐方向上在预设时间内的风口总面积。
可选地,根据所述工艺参数计算两个料罐方向上的铁口炉温,包括:根据料罐和铁口方位布局确定每个方向上的炉温分量;根据每个方向上的炉温分量计算两个料罐方向上的铁口炉温。
可选地,根据两个料罐方向上矿焦比的关系、风口总面积的关系以及铁口炉温的关系;判断所述高炉是否存在偏斜,包括:判断每日两个料罐方向上的矿焦比、铁口炉温存在同向偏差的次数是否超过第一预设值;当存在同向偏差的次数超过第一预设值时,确定所述高炉存在偏斜。
可选地,该基于并罐高炉的偏斜检测及校正方法还包括:当所述高炉存在偏斜时,判断风口总面积之间的偏差是否大于第二预设值,当大于第二预设值时,调整风口总面积使其偏差减小,并保持两个料罐方向上喷吹的煤枪个数相同。
可选地,该基于并罐高炉的偏斜检测及校正方法还包括:当所述高炉存在偏斜时,判断风口总面积偏差是否小于第三预设值;当小于第三预设值时,改变两个料罐和炉料的组合装料方式。
本发明实施例第二方面提供一种基于并罐高炉的偏斜检测及校正装置,包括:参数获取模块,用于获取高炉的工艺参数,所述工艺参数包括布料参数、风口参数以及铁口参数;计算模块,用于根据所述工艺参数计算两个料罐方向上的矿焦比、风口总面积以及铁口炉温;判断模块,用于根据两个料罐方向上矿焦比的关系、风口总面积的关系以及铁口炉温的关系;判断所述高炉是否存在偏斜。
本发明实施例第三方面提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使所述计算机执行如本发明实施例第一方面及第一方面任一项所述的基于并罐高炉的偏斜检测及校正方法。
本发明实施例第四方面提供一种电子设备,包括:存储器和处理器,所述存储器和所述处理器之间互相通信连接,所述存储器存储有计算机指令,所述处理器通过执行所述计算机指令,从而执行如本发明实施例第一方面及第一方面任一项所述的基于并罐高炉的偏斜检测及校正方法。
本发明提供的技术方案,具有如下效果:
本发明实施例提供的基于并罐高炉的偏斜检测及校正方法、装置及存储介质,通过对高炉工作过程中工艺参数的获取,计算了两个料罐方向上的矿焦比、风口总面积以及铁口炉温,并基于计算的两个料罐方向上矿焦比、风口总面积以及铁口炉温的关系,进行高炉偏斜的判断。相比现有技术中采用探尺探测的料面高度进行判断的方式,该方法不仅考虑了炉顶矿焦比偏差,同时还考虑了下部送风偏差以及炉温偏差,从而使得高炉偏斜的检测更具有实际指导意义。
本发明实施例提供的基于并罐高炉的偏斜检测及校正方法、装置及存储介质,不仅通过对两个料罐方向上矿焦比和炉温的比较,实现了高炉偏斜的检测。同时在确定偏斜时,通过风口总面积的判断,实现了高炉偏斜的校正。由此,该方法可以为高炉操作者进行偏斜校正提供一定的指导方向。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供一种基于并罐高炉的偏斜检测及校正方法,如图1所示,该方法包括如下步骤:
步骤S101:获取高炉的工艺参数,工艺参数包括布料参数、风口参数以及铁口参数;具体地,为了对高炉偏斜进行检测,首先要对高炉整个的工作状态进行明确。如图2所示,给出了高炉的结构以及相应的工艺参数采集示意图。其中,该高炉包括炉顶上料皮带1、第一料罐2、第三料罐3、第一料流阀4、第二料流阀5、机械探尺6、炉顶PLC7、服务器8、客户机9。炉顶PLC7分别和炉顶上料皮带1、第一料罐2、第三料罐3、第一料流阀4、第二料流阀5、机械探尺6连接,对相应结构进行控制。例如,控制炉顶上料皮带1的料批号;控制第一料罐2的料名1;控制第三料罐3的料名2;控制第一料流阀4的打开和关闭状态,如打开为1,关闭为0;控制第二料流阀5的打开和关闭状态,如打开为1,关闭为0;控制机械探尺6的提尺和放尺。服务器8采集炉顶PLC7的控制数据,进行逻辑处理。客户机9连接服务器8,将相应的处理结果展示给客户。
具体地,在高炉工作过程中,通过对料流阀的打开和关闭的控制,实现布料和下料。由此,可以根据图3所示的布料和下料的时序将高炉工作过程中的各个控制信号之间进行关联。
首先将料批号和料名同料流阀打开动作进行关联:料流阀1由0变为1,料批号=1且料名1=1,则料流阀1打开,该料批号的料名1布料开始;料流阀2由0变为1,料批号=1且料名2=1,则料流阀2打开,该料批号的料名2布料开始。
之后利用在线数据库,建立笛卡尔积,将料批号、料名和高炉机械探尺提尺动作进行关联:放尺由0变为1,料名1=0,料名2非空且不等于0,则料名2布料结束,放尺,准备下料;提尺由0变为1,料名1=0且料名2=0,或提尺由0变为1,料名1非空且≠0,且料名2非空且≠0,且根据提尺和放尺时间间隔不大于10分钟,即T提尺-放尺<10min,则料名2下料结束,提尺,准备布料。同理判断料名1的放尺和提尺。由此将料批号、料名和探尺提尺信号点联立起来。
最后,利用在线数据库,建立笛卡尔积,将提尺动作同料流阀打开进行关联:料流阀打开和提尺之间时间差在30s内,且他们都有同样的料名。料流阀1打开由0变为1,且提尺由0变为1,且T料流阀1打开-提尺<30s,通过数据库,建立笛卡尔积,将探尺提尺和料流阀打开动作关联在一起,得到完整的事件和变量,表明该料批号的料名1下完料,提尺,准备布料,同理得到该料批号的料名2下完料,提尺,准备布料。
具体地,在料流阀和探尺信号联立的过程中,某些工艺过程或设备故障可能会导致信号建立错误,需要进行排除。例如,排除净焦的特殊工艺:装净焦时,只有一个料名(C)+料批号,而没有对应的料名(O)+料批号,通过数据库知识剔除;排除倒罐的情况:倒罐时出现装矿的料罐继续装焦,而不是两个料罐轮流装焦和装矿,匹配上出现混乱,通过数据库知识剔除;排除料流阀多次打开信号剔除:由于设备故障,出现多个料流阀打开信号,用数据库知识选择最后一个打开信号;排除探尺信号丢失情况:由于设备故障,偶尔出现提尺或放尺信号点丢失时,用料流阀打开信号代替放尺信号,料流阀关闭信号代替提尺信号;由于探尺提尺的时间点在当前小时还是上一个小时对于料速影响很大,将数采服务器和主控室电脑进行时间同步。
具体地,根据上述信号建立过程,可以在数据库中造一列表,第一列为从1到N的自然数依次递增,然后将提取到每批焦炭的信息按照时间、料批号和料名从第二列依次填充,并将前一批货后一批焦炭信息填充到对应的列中,形成一个数据库表。并计算当前料批的焦炭时间和上一批料的焦炭时间差△T,比较当前料批号Ni和Ni-1,如果△T<10min(通常一个完整的料批时间),并且Ni=Ni-1则将i-1条信息删除,并将自定义列及其他信息删除得到新的表2进行后续计算。例如,通常布料时序为:COCOCO···,当布净焦时布料时序为:COCCOCO···(下划线的C为净焦),此时可以按照上述提到的方式对其进行处理。
表1
表2
具体地,通过上述数据采集以及信号处理过程,可以更加方便的确定该高炉在某一个长周期内布料参数,此外,为了对高炉的偏斜进行检测,经过研究发现,风口和铁口炉温等参数可能也会对偏斜造成影响。因此,除布料参数外,还需要获取该高炉的风口参数和铁口参数。
步骤S102:根据工艺参数计算两个料罐方向上的矿焦比、风口总面积以及铁口炉温;具体地,基于上述布料参数,能够构建在布料过程中的矿焦比计算模型,由此计算得到两个料罐方向上的矿焦比;基于风口参数可以计算得到风口总面积;基于铁口参数构建铁口区域的硅含量模型,进行铁口炉温的计算。
步骤S103:根据两个料罐方向上矿焦比的关系、风口总面积的关系以及铁口炉温的关系,判断高炉是否存在偏斜。
具体地,在计算得到矿焦比、风口总面积以及铁口炉温之后,根据它们之间的关系进行高炉偏斜的检测和校正。例如,可以统计一个月内1#探尺和2#探尺每班平均矿焦比、1#铁口和2#铁口每班平均硅含量以及风口面积,进行高炉偏斜的判断。
本发明实施例提供的基于并罐高炉的偏斜检测及校正方法,通过对高炉工作过程中工艺参数的获取,计算了两个料罐方向上的矿焦比、风口总面积以及铁口炉温,并基于计算的两个料罐方向上矿焦比、风口总面积以及铁口炉温的关系,进行高炉偏斜的判断。相比现有技术中采用探尺探测的料面高度进行判断的方式,该方法不仅考虑了炉顶矿焦比偏差,同时还考虑了下部送风偏差以及炉温偏差,从而使得高炉偏斜的检测更具有实际指导意义。
作为本发明实施例的一种可选的实施方式,根据工艺参数计算两个料罐方向上的矿焦比,包括:根据布料参数确定上一批物料的下料速度、当前批焦炭和矿石布料时探尺高度变化以及布料时间;根据上一批物料的下料速度、当前批焦炭布料时探尺高度变化以及布料时间确定当前批焦炭厚度变化;根据当前批焦炭布料时探尺高度变化以及布料时间确定当前批焦炭下料速度;根据当前批焦炭下料速度、当前批矿石布料时探尺高度变化以及布料时间确定当前批矿石厚度变化;根据当前批焦炭厚度变化和当前批焦炭厚度变化确定两个料罐方向上的矿焦比。
具体地,通常两个机械探尺和两个料罐方向相同,对称设置在高炉中心线两侧。在布料过程中,探尺的高度会随着布料以及生产过程而变化。如图4所示,布料前探尺高度为LO,布料后探尺高度为L1,则探尺在布料前与布料后的高度差为a,在布料的过程中,原始料面LO会随着冶炼的正常进行而下降至L2,由此,探尺测量的高度差为b,假设料面下降速度在径向相同,则实际探尺测量点出的料层厚度为a+b,分别计算焦炭和矿石的料层厚度后,便可得到该测量点处的矿焦比。
具体地,如图5所示,为焦炭和矿石的布料及走料示意图,该过程可以从上述步骤S101中对于布料过程的数据采集以及信号处理过程确定。为了确定当前的焦炭和矿石料层厚度,需要确定上一批物料的布料过程。如图所示,假设上一批布料是先布焦炭,再布矿石。则上一批即第i-1批矿石的下料速度为VOi-1=(H2-H1)/(T2-T1);当前批即第i批焦炭层厚度表示为a+b,其中a=H2-H3,b=VOi-1*(T3-T2),由此焦炭层厚TCi=a+b=H2-H3+VOi-1*(T3-T2);同理第i批焦炭下料速度VCi=(H4-H3)/(T4-T3);则第i批矿石层厚度:TOi=H4-H5+VCi*(T5-T4);由此,第i批料的矿焦比为:Ri=TOi/TCi。在上述公式中,H1、H2、H3、H4、H5、H6分别表示探尺探测的料面高度的变化,T1、T2、T3、T4、T5、T6分别表示布料时对应的时间。
具体地,为了使得确定的高炉偏斜更准确,需要计算的矿焦比更具有代表性。在计算到一批物料的矿焦比之后,可以实际工作情况计算一个周期内的矿焦比。例如,可以计算两个探尺每个班的平均矿焦比R_A,R_B。该平均矿焦比可以根据计算的每批物料的矿焦比进行平均计算得到。其中每个班可以是八个小时,也可以更长或更短,可以根据实际工作进行确定。
作为本发明实施例的一种可选地实施方式,根据工艺参数计算两个料罐方向上的风口总面积,包括:根据风口参数确定两个料罐方向上在预设时间内的风口总面积。具体地,通常并罐高炉的两个料罐对称布置。如图6所示,以高炉炉缸部位横截面为俯视图,O为高炉中心,连接两个料罐中心点与炉缸横截面于AB,以AB沿高炉中心点O上、下旋转45°得到直径EF和CD。由此得到每个料罐中风口位置,探后采集相应位置内风口总面积,如料罐1中采集扇区EACO内的每个班平均风口总面积S_A,料罐2中采集扇区DBFO内的每个班平均风口总面积S_B。
具体地,在高炉生产过程中,其风口面积可能会根据实际需要进行调整。由此,可以计算一段时间内如8个小时每个料罐方向上风口总面积。在计算风口总面积时,可以首先确定风口的数量,然后对于每个料罐方向上每个工作的风口确定其高度、直径、角度以及长度等数据,实现每个料罐中风口总面积的计算。
作为本发明实施例的一种可选地实施方式,根据工艺参数计算两个料罐方向上的铁口炉温,包括:根据料罐和铁口方位布局确定每个方向上的炉温分量;根据每个方向上的炉温分量计算两个料罐方向上的铁口炉温。
具体地,如图7所示,考虑到铁口工作的均匀性,铁口在设计时通常会沿1#罐和2#罐的垂直线CD对称布置,设各铁口分别为AA、BB、CC、DD,铁口和高炉中心的连线和AB线夹角分别为α、β、α、β,则取各铁口对应的每炉铁水硅含量在A、B方向的分量并求和,即1#铁口每炉炉温Si_A=Si_AA*cosα+Si_BB*cosβ,2#铁口每炉炉温Si_B=Si_CC*cosα+Si_DD*cosβ,分别计算每个班的1#和2#铁口炉温为Si_A和Si_B。
作为本发明实施例的一种可选地实施方式,根据两个料罐方向上矿焦比的关系、风口总面积的关系以及铁口炉温的关系;判断高炉是否存在偏斜,包括:判断每日两个料罐方向上的矿焦比、铁口炉温存在同向偏差的次数是否超过第一预设值;当存在同向偏差的次数超过第一预设值时,确定高炉存在偏斜。
具体地,在计算得到两个料罐方向上矿焦比的关系、风口总面积的关系以及铁口炉温的关系后,可以据此对高炉是否存在偏斜进行判断。在进行判断时,可以统计一个月内1#探尺和2#探尺每班平均矿焦比、1#铁口和2#铁口每班平均硅含量以及风口总面积。在具体判断时,首先判断每日两个料罐方向上的矿焦比、铁口炉温存在同向偏差的次数是否超过第一预设值,即判断矿焦比和铁口炉温存在同向偏差的概率是否大于第一预设值。其中第一预设值可以根据实际需要进行设定。如每日R_A≦R_B的频次>60%且Si_A≦Si_B的频次>60%或者当每日R_A≧R_B的频次>60%且Si_A≧Si_B的频次>60%。此时高炉圆周方向工作是不均匀的,即高炉存在偏斜。
在一实施例中,在检测高炉存在偏斜后,需要对该偏斜进行校正。为了确定具体的校正方式,可以判断风口总面积之间的偏差是否大于第二预设值,当大于第二预设值时,调整风口总面积使其偏差减小,保持两个料罐方向上煤粉喷吹数量相同。具体地,当检测高炉存在偏斜时,可以先判断高炉是否存在下部送风偏差,当存在下部送风偏差时,先对其进行校正,即调整风口总面积以及煤粉喷吹数量。
在一实施例中,在存在偏斜的情况下,若风口总面积偏差小于第三预设值时,改变两个料罐和炉料的组合装料方式。具体地,若存在偏斜的情况下,检测到下部偏差小,则此时需要采用倒罐的方式进行校正。
具体地,第二预设值和第三预设值可以根据实际需要进行确定。如第二预设值设置为1.67%,第三预设值设置为1%。即在存在偏斜的情况下,如果|(S_A-S_B)/S_A|≧1.67%,适当调整风口面积使两边的差别减小,如小于1%,并保持两边的煤粉喷吹数量相同;如果|(S_A-S_B)/S_A|<1%且煤粉喷吹数量相同,则改变料罐和炉料的组合装料方式,如料罐1装焦炭,料罐2装矿石,改变为料罐2装焦炭,料罐1装矿石。
本发明实施例提供的基于并罐高炉的偏斜检测及校正方法,不仅通过对两个料罐方向上矿焦比和炉温的比较,实现了高炉偏斜的检测。同时在确定偏斜时,通过风口总面积的判断,实现了高炉偏斜的校正。由此,该方法可以为高炉操作者进行偏斜校正提供一定的指导方向。
本发明实施例还提供一种基于并罐高炉的偏斜检测及校正装置,如图8所示,该装置包括:
参数获取模块,用于获取高炉的工艺参数,工艺参数包括布料参数、风口参数以及铁口参数;详细内容参见上述方法实施例中步骤S101的相关描述。
计算模块,用于根据工艺参数计算两个料罐方向上的矿焦比、风口总面积以及铁口炉温;详细内容参见上述方法实施例中步骤S102的相关描述。
判断模块,用于根据两个料罐方向上矿焦比的关系、风口总面积的关系以及铁口炉温的关系;判断所述高炉是否存在偏斜。详细内容参见上述方法实施例中步骤S103的相关描述。
本发明实施例提供的基于并罐高炉的偏斜检测及校正装置,通过对高炉工作过程中工艺参数的获取,计算了两个料罐方向上的矿焦比、风口总面积以及铁口炉温,并基于计算的两个料罐方向上矿焦比、风口总面积以及铁口炉温的关系,进行高炉偏斜的判断。相比现有技术中采用探尺探测的料面高度进行判断的方式,该装置不仅考虑了炉顶矿焦比偏差,同时还考虑了下部送风偏差以及炉温偏差,从而使得高炉偏斜的检测更具有实际指导意义。
本发明实施例提供的基于并罐高炉的偏斜检测及校正装置的功能描述详细参见上述实施例中基于并罐高炉的偏斜检测及校正方法描述。
本发明实施例还提供一种存储介质,如图9所示,其上存储有计算机程序601,该指令被处理器执行时实现上述实施例中基于并罐高炉的偏斜检测及校正方法的步骤。该存储介质上还存储有音视频流数据,特征帧数据、交互请求信令、加密数据以及预设数据大小等。其中,存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory,ROM)、随机存储记忆体(Random Access Memory,RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard DiskDrive,缩写:HDD)或固态硬盘(Solid-State Drive,SSD)等;所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
本领域技术人员可以理解,实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory,ROM)、随机存储记忆体(RandomAccessMemory,RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard Disk Drive,缩写:HDD)或固态硬盘(Solid-State Drive,SSD)等;所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
本发明实施例还提供了一种电子设备,如图10所示,该电子设备可以包括处理器51和存储器52,其中处理器51和存储器52可以通过总线或者其他方式连接,图10中以通过总线连接为例。
处理器51可以为中央处理器(Central Processing Unit,CPU)。处理器51还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片,或者上述各类芯片的组合。
存储器52作为一种非暂态计算机可读存储介质,可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块,如本发明实施例中的对应的程序指令/模块。处理器51通过运行存储在存储器52中的非暂态软件程序、指令以及模块,从而执行处理器的各种功能应用以及数据处理,即实现上述方法实施例中的基于并罐高炉的偏斜检测及校正方法。
存储器52可以包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序;存储数据区可存储处理器51所创建的数据等。此外,存储器52可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非暂态存储器,例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中,存储器52可选包括相对于处理器51远程设置的存储器,这些远程存储器可以通过网络连接至处理器51。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
所述一个或者多个模块存储在所述存储器52中,当被所述处理器51执行时,执行如图1-7所示实施例中的基于并罐高炉的偏斜检测及校正方法。
上述电子设备具体细节可以对应参阅图1至图7所示的实施例中对应的相关描述和效果进行理解,此处不再赘述。
虽然结合附图描述了本发明的实施例,但是本领域技术人员可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下做出各种修改和变型,这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。