CN113505031A - 上下电测试方法、上下测试装置和可读存储介质 - Google Patents

上下电测试方法、上下测试装置和可读存储介质 Download PDF

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CN113505031A CN202110731175.XA CN202110731175A CN113505031A CN 113505031 A CN113505031 A CN 113505031A CN 202110731175 A CN202110731175 A CN 202110731175A CN 113505031 A CN113505031 A CN 113505031A
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Abstract

本发明提供一种上下电测试方法、上下测试装置和可读存储介质,上下电测试方法的待测设备测试步骤包括下电步骤、上电步骤、连接步骤和确认步骤,下电步骤包括输出继电阻断信号,上电步骤包括输出继电导通信号,连接步骤包括将UDP测试数据发送到待测设备的IP地址,确认步骤包括判断是否接收到启动确认信号,如接收到启动确认信号则测试通过,如接收不到启动确认信号则测试失败。通过发送UDP测试数据来对待测设备的正常启动进行测试,继而实现智能化自动上下电测试,还可通过连续测试预设次数,从而实现智能化自动反复上下电测试,从而尽可能找到不良问题,提高测试完善程度。

Description

上下电测试方法、上下测试装置和可读存储介质
技术领域
本发明涉及设备测试领域,尤其一种设备用的上下电测试方法、上下测试装置和可读存储介质。
背景技术
目前许多嵌入式智能设备在反复上下电的测试过程中,由于操作系统、应用程序、硬件等因素会偶尔出现无法正常启动,但是断电重启之后又能正常启动,这给工程人员查找定位问题原因带来很大的不便。另外,一般的测试装置只能同时测试一台待测设备,且上下电的成功判断是由人工进行,再进行后续的通断电,测试效率相对低下。
发明内容
本发明的第一目的是提供一种高测试效率的上下电测试方法。
本发明的第二目的是提供一种可执行上述上下电测试方法的上下测试装置。
本发明的第三目的是提供一种存储有上述上下电测试方法的可读存储介质。
为了实现本发明第一目的,本发明提供一种上下电测试方法,包括待测设备测试步骤,待测设备测试步骤包括下电步骤、上电步骤、连接步骤和确认步骤,下电步骤包括输出继电阻断信号,上电步骤包括输出继电导通信号,连接步骤包括将UDP测试数据发送到待测设备的IP地址,确认步骤包括判断是否接收到启动确认信号,如接收到启动确认信号则测试通过,如接收不到启动确认信号则测试失败。
更进一步的方案是,在接收到启动确认信号后,确认步骤还包括:测试次数计数;判断是否到达预设测试次数;如没有到达预设测试次数,则返回至下电步骤;如到达预设测试次数,则测试通过。
更进一步的方案是,在连接步骤中,将UDP测试数据按照预设间隔时间发送到待测设备的IP地址。
由上可见,通过发送UDP测试数据来对待测设备的正常启动进行测试,即待测设备在正常启动后接收到UDP测试数据则会回复确认信号,继而可获知其正常启动了,继而实现智能化自动上下电测试,并且通过连续测试预设次数,从而实现智能化自动反复上下电测试,从而尽可能找到不良问题,提高测试完善程度,另外,通过按照预设间隔时间发送UDP测试数据,从而可匹配待测设备的正常启动时间,从而提高测试准确度。
更进一步的方案是,上下电测试方法还包括待测设备添加步骤,待测设备添加步骤包括:发送UDP广播查询帧;接收连接确认信号;保存待测设备信息。
更进一步的方案是,待测设备信息包括IP地址、设备类型和MAC地址。
由上可见,在连接设备后通过UDP广播查询帧可获知待测设备的连接情况,并获取其IP地址、设备类型和MAC地址,再待测设备反复上下电时,能够保持同一设备获取同一IP地址,继而保证后续的稳定测试。
为了实现本发明第二目的,本发明提供一种上下测试装置,上下测试装置包括处理器,处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如上述方案中任意一项上下电测试方法的步骤。
更进一步的方案是,上下测试装置还包括继电组件,继电组件包括继电器,处理器与继电器的控制端连接,继电器的导电端用于与待测设备连接。
更进一步的方案是,继电组件包括多个继电器,多个继电器的控制端分别与处理器连接。
更进一步的方案是,上下测试装置还包括路由装置,处理器与路由装置连接,路由装置用于待测设备连接。
为了实现本发明第三目的,本发明提供一种可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,计算机程序被处理器执行时实现如上述方案中任意一项上下电测试方法的步骤。
由上可见,通过分别控制继电组件可对不同的待测设备分别进行上下电,且还通过路由装置可多个待测设备,继而使得本案上下测试装置能够自动化地同时测试多个待测设备。
附图说明
图1是本发明上下测试装置实施例的系统框图。
图2是本发明上下测试方法实施例的流程图。
图3是本发明上下测试方法实施例中待测设备添加步骤的流程图。
图4是本发明上下测试方法实施例中待测设备测试步骤的流程图。
以下结合附图及实施例对本发明作进一步说明。
具体实施方式
参照图1至图4,上下电测试装置包括处理器31、路由装置32和继电组件,继电组件包括多个继电器21、22…2N,处理器31与多个继电器的控制端分别连接,当然亦可采用总线进行控制连接,继电器21的导电端用于与待测设备11连接,继电器22的导电端用于与待测设备12连接,如此类推,继而可实现对待测设备的上电或下电进行控制,处理器与路由装置连接,路由装置32用于与多个待测设备连接,在实际使用中,可采用网线有线方式连接,还可以采用无线方式进行连接,继而使得路由装置和待测设备处于同一局域网内。
执行上下电测试方法时,其包括待测设备添加步骤S1和待测设备测试步骤S2,待测设备首次接入时,首先执行步骤S1,再执行步骤S2。执行待测设备添加步骤S1时,首先执行步骤S11,发送UDP广播查询帧,查找该局域网内的待测设备,待测设备收到该查询帧后将回复确认信息,继而执行步骤S12,处理器31接收到连接确认信号,随后执行步骤S13,保存待测设备信息,待测设备信息包括IP地址、设备类型和MAC地址。
随后执行待测设备测试步骤S2,首先执行步骤S21,接收测试启动信号,然后执行下电步骤S22,向继电器输出继电阻断信号,使继电器阻断和待测设备下电,随后执行上电步骤S23,向继电器输出输出继电导通信号,使继电器导通和待测设备上电。
然后执行连接步骤S24,将UDP测试数据按照预设间隔时间发送到待测设备的IP地址,当待测测试在上电后成功启动后,再接收到UDP测试数据后则会回复确认信息,随后执行确认步骤,继而先执行步骤S25,判断是否接收到启动确认信号,如是,则执行步骤S26,测试次数计数,然后执行步骤S27,判断是否到达预设测试次数,如否则返回至步骤S22,对待测设备下电,随后依次根据逻辑继续执行,如到达预设测试次数,则上下电测试通过。
当在设定时间内接收不到启动确认信号,则测试失败,此时保持继电器导通,保持待测设备上电状态,并发出警报提示,保留问题现场等待工程人员分析问题原因。
上下电测试装置的处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如上述方案的上下电测试方法的步骤。
可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现如上述方案的上下电测试方法的步骤。
由上可见,通过发送UDP测试数据来对待测设备的正常启动进行测试,即待测设备在正常启动后接收到UDP测试数据则会回复确认信号,继而可获知其正常启动了,继而实现智能化自动上下电测试,并且通过连续测试预设次数,从而实现智能化自动反复上下电测试,从而尽可能找到不良问题,提高测试完善程度,另外,通过按照预设间隔时间发送UDP测试数据,从而可匹配待测设备的正常启动时间,从而提高测试准确度。

Claims (10)

1.上下电测试方法,包括待测设备测试步骤,其特征在于,所述待测设备测试步骤包括:
下电步骤,包括输出继电阻断信号;
上电步骤,包括输出继电导通信号;
连接步骤,包括将UDP测试数据发送到待测设备的IP地址;
确认步骤,包括判断是否接收到启动确认信号,如接收到所述启动确认信号则测试通过,如接收不到所述启动确认信号则测试失败。
2.根据权利要求1所述的上下电测试方法,其特征在于:
在接收到所述启动确认信号后,所述确认步骤还包括:
测试次数计数;
判断是否到达预设测试次数;
如没有到达所述预设测试次数,则返回至所述下电步骤;
如到达所述预设测试次数,则测试通过。
3.根据权利要求1所述的上下电测试方法,其特征在于:
在所述连接步骤中,将所述UDP测试数据按照预设间隔时间发送到待测设备的IP地址。
4.根据权利要求1至3任一项所述的上下电测试方法,其特征在于:
所述上下电测试方法还包括待测设备添加步骤,所述待测设备添加步骤包括:
发送UDP广播查询帧;
接收连接确认信号;
保存待测设备信息。
5.根据权利要求4所述的上下电测试方法,其特征在于:
所述待测设备信息包括IP地址、设备类型和MAC地址。
6.上下测试装置,其特征在于,所述上下测试装置包括处理器,所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如权利要求1至5中任意一项所述上下电测试方法的步骤。
7.根据权利要求6所述的上下测试装置,其特征在于:
所述上下测试装置还包括继电组件,所述继电组件包括继电器,所述处理器与所述继电器的控制端连接,所述继电器的导电端用于与待测设备连接。
8.根据权利要求7所述的上下测试装置,其特征在于:
所述继电组件包括多个所述继电器,多个所述继电器的控制端分别与所述处理器连接。
9.根据权利要求6所述的上下测试装置,其特征在于:
所述上下测试装置还包括路由装置,所述处理器与所述路由装置连接,所述路由装置用于与待测设备连接。
10.可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任意一项所述上下电测试方法的步骤。
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