CN113504237A - 一种轴承套圈内表面快速视觉检测装置 - Google Patents

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黄文静
杜文芳
许越
王鑫悦
余汉鹏
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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Abstract

一种轴承套圈内表面快速视觉检测装置,包括工业相机、支撑平台、锥镜面体,支撑平台中部具有通孔,锥镜面体放置于通孔中,工业相机位于支撑平台上方,待测轴承套圈放置于支撑平台上,待测轴承套圈、通孔和锥镜面体同轴。本发明使用一个顶角为90度的锥镜面体将套圈内侧面的图像转换转换到上表面的同一个平面,再通过工业相机采集图像即可获取包括上表面、内侧面在内的表面图像,提高了图像采集效率,降低了系统成本。

Description

一种轴承套圈内表面快速视觉检测装置
技术领域
本发明涉及一种轴承套圈内表面快速视觉检测装置,适用于基于机器视觉方式的轴圈套圈内表面及上表面的缺陷检测。
背景技术
轴承套圈是轴承的重要组成部件,生产工艺复杂,在生产过程中由于多种原因,会在套圈表面产生缺陷,常见的缺陷有磨伤、咬伤、锈蚀、过倒角等,不仅影响设备精度,也极大降低机器的使用寿命,因此在生产中宜对轴承套圈进行表面缺陷检测,并及早将缺陷轴承组件检测剔除,避免其进入后续组装工位。
目前轴承套圈内表面缺陷检测一般使用以下方式:
1)人工目检。该方式需要检测工人手持轴承套圈,借助散射光源对其表面进行检测,劳动强度大,检测效果受工人主观因素影响大,缺乏准确性和规范化,易出现误检和漏检,效率低,稳定性和可靠性较差,工人长期在刺激性气味、强光照恶劣环境中工作对身体也极为不利。
2)漏磁检测法。使用专用仪器磁化零件后,利用磁粉指示漏磁场的分布,从而检测缺陷。该方式通常要和其他手段(如人工目检、图像处理)结合才能判断出损伤的性质;对检测工件表面有一定要求,检测前后都需要进行清洗,对效率要求较高的产线批量检测适用性不强
3)X射线法。利用X射线检测仪,根据材料X射线的吸收和散射作用不同,检测缺陷情况。该方法中X射线对人体存在辐射等安全问题;存在伪缺陷,判别困难;对被测物厚度有限制;X射线检测设备、耗材和时间、培训成本较高。
4)机器视觉法。使用工业相机对零件的表面成像,利用计算机算法实现缺陷检测。由于光线的直线传播特点,相机需要正对待检测表面。针对轴承套圈内表面的机器视觉检测,目前常用的方法为将工业相机斜向对着套圈的内表面,利用转盘带动套圈旋转360度,获取多幅图像进行检测;或使用三个相机均布在套圈外侧,每个相机均斜向对着套圈的内表面,同样是获取了多幅图像进行检测。上述方法可以实现套圈内表面的缺陷检测,然而仍存在以下主要问题:利用转盘转动的方式将增加检测的时间,影响检测效率;使用三个相机均布的方式虽提高了效率,但使用了多个相机,增加了工业相机的硬件成本,同时对计算机系统的图像采集和传输能力提出了较高要求。
发明内容
本发明的目的是提供一种一种轴承套圈内表面快速视觉检测装置,以解决套圈内侧面缺陷检测中使用转盘方式影响效率问题,同时解决使用多个相机增加成本的问题。
为实现上述目的,本发明的技术方案具体如下:
一种轴承套圈内表面快速视觉检测装置,包括工业相机、支撑平台、锥镜面体,支撑平台中部具有通孔,锥镜面体放置于通孔中,光源位于支撑平台上方,工业相机位于支撑平台上方,待测轴承套圈放置于支撑平台上,待测轴承套圈、通孔和锥镜面体同轴。还包括升降机构,所述锥镜面体位于升降机构上端,当待测轴承套圈放置在支撑平台或从支撑平台取下时,所述锥镜面体下降从所述通孔中退出,当进行检测时,所述锥镜面体上升插入所述通孔中。
进一步的,还包括光源。
进一步的,所述光源是半球形光源,半球形光源罩在支撑平台上方,工业相机位于半球形光源内。
进一步的,所述半球形光源与所述通孔同轴。
进一步的,所述工业相机包括CCD和镜头。
进一步的,升降机构包括气缸套杯和气缸,气缸套杯位于气缸上端,气缸套杯固定在所述支撑平台下侧,所述锥镜面体位于气缸套杯内,气缸伸缩杆穿过气缸套杯下端,锥镜面体固定在气缸伸缩杆上端。
本发明还提供了轴承套圈内表面快速视觉检测方法,包括步骤:
S1:降下锥镜面体,为待测轴承套圈的上料腾出移动空间;
S2:将待测轴承套圈运送至检测工位,并定心;
S3:锥镜面体上移,直至锥镜面体;
S4:开启半球形光源,启动工业相机采集图像。
S5:对图像的进行预处理、畸变校正处理,提取待测轴承套圈的内侧面和上表面图像,并经过滤波、灰度变换、轮廓提取、区域提取、缺陷识别,判断待测轴承套圈的内侧面和上表面是否有缺陷。
与现有技术相比,本发明的有益效果:
本发明的一种轴承套圈内表面快速视觉检测装置,使用一个顶角为90度的锥镜面体将套圈内侧面的图像转换到同一个平面,再使用工业相机仅采集一次图像即可获取包括上表面、内侧面在内的表面图像,提高了图像采集效率,降低了系统成本。
附图说明
图1是实施例2轴圈套圈圆柱面检测时,锥镜面体降下状态;
图2是实施例2轴圈套圈圆柱面检测时,锥镜面体升起状态;
图3是实施例2轴圈套圈曲面检测时,锥镜面体降下状态;
图4是实施例2轴圈套圈曲面检测时,锥镜面体升起状态;
图5检测装置原理图;
图6检测装置工作流程图;
图7图像检测算法流程图;
图中:1—工业相机;2—半球形光源;3—待测轴承套圈;4—支撑平台;5—锥镜面体;6—气缸套杯;7—气缸。
具体实施方式:
下面参照附图对本发明做进一步描述。
实施例1
如图1-5所示,一种轴承套圈内表面快速视觉检测装置,包括工业相机1、半球形光源2、待测轴承套圈3、支撑平台4、锥镜面体5、升降机构、运动控制系统和上位机视觉检测系统。锥镜面体5、待测轴承套圈、工业相机1、半球形光源2处于同轴安装状态,支撑平台4的中间有通孔,锥镜面体5位于通孔内;工业相机(CCD和镜头组合)可以采集零件的表面图像,供计算机分析,且焦距可调,以便采集到清晰的图像;半球形光源2采用LED碗光源,实现对零件上表面、内侧面的均匀照明,提高成像质量;锥镜面体5的上部为顶角为90度的锥体,且锥体的外表面为镜面。升降机构包括气缸套杯6和气缸7,气缸套杯6位于气缸7上端,气缸套杯6固定在支撑平台4下侧,锥镜面体5位于气缸套杯6内,气缸7伸缩杆穿过气缸套杯6下端,锥镜面体5固定在气缸伸缩杆上端。当待测轴承套圈3放置在支撑平台4或从支撑平台4取下时,伸缩杆下降带动锥镜面体5下降从通孔中退出,当进行检测时,伸缩杆上升使锥镜面体5插入通孔中。
运动控制系统负责整个检测系统的动作控制,首先由送料系统将待测工件运送至检测工位,实现待测工件的上料;待测工件到位后,锥镜体控制系统控制气缸7将锥镜体提升至预定位置;光源控制系统开启碗光源,为检测系统提供合适的照明。
上位机视觉检测系统负责图像的采集和分析、处理。碗光源开启后,上位机视觉检测系统的图像采集模块实现对待测工件的图像采集,经过对采集到的图像进行分析处理,得出工件表面是否含有缺陷的判断;同时,数据保存模块将原始图像、处理结果保存到本地;最后,上位机通过PLC通讯模块将检测结果通知给运动控制系统,实现对待测工件的控制,即合格品由送料系统送入下一工位,不合格品有送料系统送入废品箱中。
如6-7所示,本发明的检测过程具体如下:
1、初始状态,锥镜面体5下降到气缸套杯6内,为待测轴承套圈3的上料腾出移动空间;
2、使用气动夹爪或拨爪等机械装置将待测轴承套圈3运送至检测工位,并定心;
3、锥镜面体5在气缸7带动下上移,直至锥镜面体5的锥体底面接近待测轴承套圈3的底面时停止;
4、开启半球形光源2,启动工业相机1采集图像。由于锥镜面体5的镜面反射作用,待测轴承套圈3的内侧面将成像于工业相机1中,同时待测轴承套圈3的上表面也成像于工业相机中;
5、由于锥镜面的成像不同于平面反射成像,内侧面将产生畸变,因此,图像采集系统采集到原始图像后,首先根据锥镜面的成像原理经过图像的预处理、畸变校正处理将图像复原,针对内表面为圆柱面和曲面两种情况,采取不同的畸变校正算法;然后经过高斯滤波等预处理算法,利用canny边缘检测算法得到图像的边缘信息,利用自适应阈值法(OTSU)进行二值化,将二值化后的图形与标准图像进行差影处理,得到缺陷图像,计算该缺陷的面积,根据设定的阈值判断该产品是否合格。

Claims (7)

1.一种轴承套圈内表面快速视觉检测装置,其特征在于,包括工业相机、支撑平台、锥镜面体和升降机构,支撑平台中部具有通孔,锥镜面体放置于通孔中,工业相机位于支撑平台上方,待测轴承套圈放置于支撑平台上,待测轴承套圈、通孔和锥镜面体同轴,锥镜面体位于升降机构上端。
2.根据权利要求1所述的一种轴承套圈内表面快速视觉检测装置,其特征在于,还包括光源。
3.根据权利要求2所述的一种轴承套圈内表面快速视觉检测装置,其特征在于,所述光源是半球形光源,半球形光源罩在支撑平台上方,工业相机位于半球形光源内。
4.根据权利要求3所述的一种轴承套圈内表面快速视觉检测装置,其特征在于,所述半球形光源与所述通孔同轴。
5.根据权利要求1所述的一种轴承套圈内表面快速视觉检测装置,其特征在于,所述工业相机包括CCD和镜头。
6.根据权利要求1所述的一种轴承套圈内表面快速视觉检测装置,其特征在于,所述升降机构包括气缸套杯和气缸,气缸套杯位于气缸上端,气缸套杯固定在所述支撑平台下侧,所述锥镜面体位于气缸套杯内,气缸伸缩杆穿过气缸套杯下端,锥镜面体固定在气缸伸缩杆上端。
7.轴承套圈内表面快速视觉检测方法,使用权利要求1中所述检测装置进行检测,其特征在于,包括步骤:
S1:降下锥镜面体,为待测轴承套圈的上料腾出移动空间;
S2:将待测轴承套圈运送至检测工位,并定心;
S3:锥镜面体上移,直至锥镜面体;
S4:开启半球形光源,启动工业相机采集图像。
S5:对图像的进行预处理、畸变校正处理,提取待测轴承套圈的内侧面和上表面图像,并经过滤波、灰度变换、轮廓提取、区域提取、缺陷识别,判断待测轴承套圈的内侧面和上表面是否有缺陷。
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