CN113468006A - 测试固态硬盘进出低功耗时间的方法、装置、计算机设备及存储介质 - Google Patents

测试固态硬盘进出低功耗时间的方法、装置、计算机设备及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明涉及测试固态硬盘进出低功耗时间的方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法，包括：对固态硬盘下发进入低功耗的命令；记录命令下发后固态硬盘的功耗值变化，并计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间；对固态硬盘下发读写命令，以使固态硬盘退出低功耗状态；记录固态硬盘退出低功耗状态的功耗值变化，并计算出固态硬盘退出低功耗状态所需的时间。本发明通过在主机下发进出低功耗的命令后，实时测试固态硬盘的负载功耗值，根据功耗值的变化判定其在正常状态和低功耗状态的持续时间，再计算进出低功耗状态所用的时间，可以精确获取固态硬盘进出低功耗状态的时间，用于主机出现异常和功耗结果超标的辅助分析。

Description

测试固态硬盘进出低功耗时间的方法、装置、计算机设备及存 储介质
技术领域
本发明涉及测试固态硬盘进出低功耗时间的技术领域，尤其是指测试固态硬盘进出低功耗时间的方法、装置、计算机设备及存储介质。
背景技术
固态硬盘工作时会随着笔记本的运转状态切换供电模式，笔记本长时间静置或者在睡眠状态时固态硬盘会进入低功耗状态。笔记本厂商对于进出的时间有要求而且进出时间会影响固态硬盘的工作能耗，属于不可见的重要参数；现有的低功耗进出时间测试方法包括以下两种：1、通过内部调试工具读取硬盘标称的进出时间值，然后跟实际的进出时间对比，得出的结果仅供参考；2、通过软件读取主机发送低功耗状态命令后固态硬盘执行命令的时间，比较接近实际进出时间，但与PCIe物理层进入低功耗仍有差异，不够精确。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供测试固态硬盘进出低功耗时间的方法、装置、计算机设备及存储介质。
为了解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：
测试固态硬盘进出低功耗时间的方法，包括以下步骤：
对固态硬盘下发进入低功耗的命令；
记录命令下发后固态硬盘的功耗值变化，并计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间；
对固态硬盘下发读写命令，以使固态硬盘退出低功耗状态；
记录固态硬盘退出低功耗状态的功耗值变化，并计算出固态硬盘退出低功耗状态所需的时间。
其进一步技术方案为：所述记录命令下发后固态硬盘的功耗值变化，并计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间步骤中，所述功耗值变化为从初始的40毫瓦到进入低功耗后的2毫瓦；所述计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间为通过采样周期乘以采样数计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间。
其进一步技术方案为：所述采样周期为6-8毫秒，所述采样数为10-70个。
其进一步技术方案为：所述记录固态硬盘退出低功耗状态的功耗值变化，并计算出固态硬盘退出低功耗状态所需的时间步骤中，所述功耗值变化为从初始的2毫瓦到退出低功耗完成后的40毫瓦；所述计算出固态硬盘退出低功耗状态所需的时间为通过采样周期乘以采样数计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间；所述采样周期为6-8毫秒，所述采样数为10-70个。
测试固态硬盘进出低功耗时间的装置，包括：下发单元，第一记录计算单元，下发退出单元，及第二记录计算单元；
所述下发单元，用于对固态硬盘下发进入低功耗的命令；
所述第一记录计算单元，用于记录命令下发后固态硬盘的功耗值变化，并计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间；
所述下发退出单元，用于对固态硬盘下发读写命令，以使固态硬盘退出低功耗状态；
所述第二记录计算单元，用于记录固态硬盘退出低功耗状态的功耗值变化，并计算出固态硬盘退出低功耗状态所需的时间。
其进一步技术方案为：所述第一记录计算单元中，所述功耗值变化为从初始的40毫瓦到进入低功耗后的2毫瓦；所述计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间为通过采样周期乘以采样数计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间。
其进一步技术方案为：所述采样周期为6-8毫秒，所述采样数为10-70个。
其进一步技术方案为：所述第二记录计算单元中，所述功耗值变化为从初始的2毫瓦到退出低功耗完成后的40毫瓦；所述计算出固态硬盘退出低功耗状态所需的时间为通过采样周期乘以采样数计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间；所述采样周期为6-8毫秒，所述采样数为10-70个。
一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的测试固态硬盘进出低功耗时间的方法。
一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的测试固态硬盘进出低功耗时间的方法。
本发明与现有技术相比的有益效果是：通过在主机下发进出低功耗的命令后，实时测试固态硬盘的负载功耗值，根据功耗值的变化判定其在正常状态和低功耗状态的持续时间，再计算进出低功耗状态所用的时间，可以精确获取固态硬盘进出低功耗状态的时间，用于主机出现异常和功耗结果超标的辅助分析。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的测试固态硬盘进出低功耗时间的方法的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的测试固态硬盘进出低功耗时间的装置的示意性框图；
图3为本发明实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
请参阅图1到图3所示的具体实施例，其中，请参阅图1所示，本发明公开了一种测试固态硬盘进出低功耗时间的方法，包括以下步骤：
S1，对固态硬盘下发进入低功耗的命令；
其中，在S1步骤之前，还包括：保证主机的ASPM(活动状态电源管理)功能打开、固态硬盘固件支持低功耗，测试人员需对DriverMaster环境进行校验，保证输出的电流值准确且精度达到毫安级，然后连接固态硬盘到DriveMaster测试环境。
其中，在本实施例中，通过DriveMaster脚本对固态硬盘下发进入低功耗的命令，简单快速。
S2，记录命令下发后固态硬盘的功耗值变化，并计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间；
其中，在本实施例中，通过打开Ulink PSPA软件自带的电流量测功能，通过读取固态硬盘接口金手指供电的针脚的电流变化值来显示实时功耗。
其中，在S2步骤中，功耗值变化为从初始的40毫瓦到进入低功耗后的2毫瓦；所述计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间为通过采样周期乘以采样数计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间。所述采样周期为6-8毫秒，所述采样数为10-70个，具体采样数的数值根据不同型号的固态硬盘而不同。
S3，对固态硬盘下发读写命令，以使固态硬盘退出低功耗状态；
其中，在本实施例中，通过DriveMaster脚本对固态硬盘下发读写命令，以使固态硬盘退出低功耗状态，简单快速。
S4，记录固态硬盘退出低功耗状态的功耗值变化，并计算出固态硬盘退出低功耗状态所需的时间。
其中，在S4步骤中中，所述功耗值变化为从初始的2毫瓦到退出低功耗完成后的40毫瓦；所述计算出固态硬盘退出低功耗状态所需的时间为通过采样周期乘以采样数计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间；所述采样周期为6-8毫秒，所述采样数为10-70个。
其中，通过将计算出的固态硬盘进出低功耗状态所用的时间跟固态硬盘标称的值比对，找出差异，然后反馈给固件开发部门进行修正，避免了在客户端出现进出低功耗状态时间过长的问题。
本发明通过在主机下发进出低功耗的命令后，实时测试固态硬盘的负载功耗值，根据功耗值的变化判定其在正常状态和低功耗状态的持续时间，再计算进出低功耗状态所用的时间，可以精确获取固态硬盘进出低功耗状态的时间，用于主机出现异常和功耗结果超标的辅助分析，在不改变任何物理结构的条件下有效测量固态硬盘进出低功耗状态的实际时间，帮助分析主机在测试过程的行为异常和功耗偏大现象。
请参阅图2所示，本发明还公开了一种测试固态硬盘进出低功耗时间的装置，包括：下发单元10，第一记录计算单元20，下发退出单元30，及第二记录计算单元40；
所述下发单元10，用于对固态硬盘下发进入低功耗的命令；
所述第一记录计算单元20，用于记录命令下发后固态硬盘的功耗值变化，并计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间；
所述下发退出单元30，用于对固态硬盘下发读写命令，以使固态硬盘退出低功耗状态；
所述第二记录计算单元40，用于记录固态硬盘退出低功耗状态的功耗值变化，并计算出固态硬盘退出低功耗状态所需的时间。
其中，所述第一记录计算单元20中，所述功耗值变化为从初始的40毫瓦到进入低功耗后的2毫瓦；所述计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间为通过采样周期乘以采样数计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间。所述采样周期为6-8毫秒，所述采样数为10-70个。
其中，所述第二记录计算单元40中，所述功耗值变化为从初始的2毫瓦到退出低功耗完成后的40毫瓦；所述计算出固态硬盘退出低功耗状态所需的时间为通过采样周期乘以采样数计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间；所述采样周期为6-8毫秒，所述采样数为10-70个。
需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，上述测试固态硬盘进出低功耗时间的装置和各单元的具体实现过程，可以参考前述方法实施例中的相应描述，为了描述的方便和简洁，在此不再赘述。
上述测试固态硬盘进出低功耗时间的装置可以实现为一种计算机程序的形式，该计算机程序可以在如图3所示的计算机设备上运行。
请参阅图3，图3是本申请实施例提供的一种计算机设备的示意性框图；该计算机设备500可以是终端，也可以是服务器，其中，终端可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑、个人数字助理和穿戴式设备等具有通信功能的电子设备。服务器可以是独立的服务器，也可以是多个服务器组成的服务器集群。
参阅图3，该计算机设备500包括通过系统总线501连接的处理器502、存储器和网络接口505，其中，存储器可以包括非易失性存储介质503和内存储器504。
该非易失性存储介质503可存储操作系统5031和计算机程序5032。该计算机程序5032包括程序指令，该程序指令被执行时，可使得处理器502执行一种测试固态硬盘进出低功耗时间的方法。
该处理器502用于提供计算和控制能力，以支撑整个计算机设备500的运行。
该内存储器504为非易失性存储介质503中的计算机程序5032的运行提供环境，该计算机程序5032被处理器502执行时，可使得处理器502执行一种测试固态硬盘进出低功耗时间的方法。
该网络接口505用于与其它设备进行网络通信。本领域技术人员可以理解，图3中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备500的限定，具体的计算机设备500可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
应当理解，在本申请实施例中，处理器502可以是中央处理单元(CentralProcessing Unit，CPU)，该处理器502还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
本领域普通技术人员可以理解的是实现上述实施例的方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成。该计算机程序包括程序指令，计算机程序可存储于一存储介质中，该存储介质为计算机可读存储介质。该程序指令被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现上述方法的实施例的流程步骤。
因此，本发明还提供一种存储介质。该存储介质可以为计算机可读存储介质。该存储介质存储有计算机程序，其中计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现上述的测试固态硬盘进出低功耗时间的方法。
所述存储介质可以是U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的计算机可读存储介质。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。例如，各个单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。
本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。本发明实施例装置中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。
该集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分，或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，终端，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
上述实施例为本发明较佳的实现方案，除此之外，本发明还可以其它方式实现，在不脱离本技术方案构思的前提下任何显而易见的替换均在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.测试固态硬盘进出低功耗时间的方法，其特征在于，包括以下步骤：
对固态硬盘下发进入低功耗的命令；
记录命令下发后固态硬盘的功耗值变化，并计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间；
对固态硬盘下发读写命令，以使固态硬盘退出低功耗状态；
记录固态硬盘退出低功耗状态的功耗值变化，并计算出固态硬盘退出低功耗状态所需的时间。
2.根据权利要求1所述的测试固态硬盘进出低功耗时间的方法，其特征在于，所述记录命令下发后固态硬盘的功耗值变化，并计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间步骤中，所述功耗值变化为从初始的40毫瓦到进入低功耗后的2毫瓦；所述计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间为通过采样周期乘以采样数计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间。
3.根据权利要求2所述的测试固态硬盘进出低功耗时间的方法，其特征在于，所述采样周期为6-8毫秒，所述采样数为10-70个。
4.根据权利要求1所述的测试固态硬盘进出低功耗时间的方法，其特征在于，所述记录固态硬盘退出低功耗状态的功耗值变化，并计算出固态硬盘退出低功耗状态所需的时间步骤中，所述功耗值变化为从初始的2毫瓦到退出低功耗完成后的40毫瓦；所述计算出固态硬盘退出低功耗状态所需的时间为通过采样周期乘以采样数计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间；所述采样周期为6-8毫秒，所述采样数为10-70个。
5.测试固态硬盘进出低功耗时间的装置，其特征在于，包括：下发单元，第一记录计算单元，下发退出单元，及第二记录计算单元；
所述下发单元，用于对固态硬盘下发进入低功耗的命令；
所述第一记录计算单元，用于记录命令下发后固态硬盘的功耗值变化，并计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间；
所述下发退出单元，用于对固态硬盘下发读写命令，以使固态硬盘退出低功耗状态；
所述第二记录计算单元，用于记录固态硬盘退出低功耗状态的功耗值变化，并计算出固态硬盘退出低功耗状态所需的时间。
6.根据权利要求5所述的测试固态硬盘进出低功耗时间的装置，其特征在于，所述第一记录计算单元中，所述功耗值变化为从初始的40毫瓦到进入低功耗后的2毫瓦；所述计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间为通过采样周期乘以采样数计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间。
7.根据权利要求6所述的测试固态硬盘进出低功耗时间的装置，其特征在于，所述采样周期为6-8毫秒，所述采样数为10-70个。
8.根据权利要求5所述的测试固态硬盘进出低功耗时间的装置，其特征在于，所述第二记录计算单元中，所述功耗值变化为从初始的2毫瓦到退出低功耗完成后的40毫瓦；所述计算出固态硬盘退出低功耗状态所需的时间为通过采样周期乘以采样数计算出固态硬盘进入低功耗状态所需的时间；所述采样周期为6-8毫秒，所述采样数为10-70个。
9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-4中任一项所述的测试固态硬盘进出低功耗时间的方法。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如权利要求1-4中任一项所述的测试固态硬盘进出低功耗时间的方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114302424A (zh) * 2021-12-10 2022-04-08 深圳市广和通无线股份有限公司 通信模组的功耗检测方法、装置、计算机设备和存储介质
CN116453579A (zh) * 2023-06-09 2023-07-18 深圳市金胜电子科技有限公司 一种带有显示器的便携式固态硬盘功耗测试装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109885343A (zh) * 2019-02-25 2019-06-14 深圳忆联信息系统有限公司 一种控制器低功耗启动方法、装置、计算机设备及存储介质
CN111625284A (zh) * 2020-05-28 2020-09-04 深圳忆联信息系统有限公司 固态硬盘的低功耗模式唤醒恢复方法、装置和计算机设备
CN111949460A (zh) * 2020-08-12 2020-11-17 深圳忆联信息系统有限公司 测试固态硬盘支持d3特性的方法、装置、计算机设备及存储介质
CN112433898A (zh) * 2020-11-23 2021-03-02 深圳忆联信息系统有限公司 固态硬盘功耗数值的测试方法、装置、计算机设备及存储介质

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109885343A (zh) * 2019-02-25 2019-06-14 深圳忆联信息系统有限公司 一种控制器低功耗启动方法、装置、计算机设备及存储介质
CN111625284A (zh) * 2020-05-28 2020-09-04 深圳忆联信息系统有限公司 固态硬盘的低功耗模式唤醒恢复方法、装置和计算机设备
CN111949460A (zh) * 2020-08-12 2020-11-17 深圳忆联信息系统有限公司 测试固态硬盘支持d3特性的方法、装置、计算机设备及存储介质
CN112433898A (zh) * 2020-11-23 2021-03-02 深圳忆联信息系统有限公司 固态硬盘功耗数值的测试方法、装置、计算机设备及存储介质

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JUDY: "STM32L低功耗模式下唤醒时间的测量", pages 1 - 6, Retrieved from the Internet <URL:https://mcu.eetrend.com/content/2017/10007356.html> *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114302424A (zh) * 2021-12-10 2022-04-08 深圳市广和通无线股份有限公司 通信模组的功耗检测方法、装置、计算机设备和存储介质
CN114302424B (zh) * 2021-12-10 2023-11-24 深圳市广和通无线股份有限公司 通信模组的功耗检测方法、装置、计算机设备和存储介质
CN116453579A (zh) * 2023-06-09 2023-07-18 深圳市金胜电子科技有限公司 一种带有显示器的便携式固态硬盘功耗测试装置
CN116453579B (zh) * 2023-06-09 2023-09-12 深圳市金胜电子科技有限公司 一种带有显示器的便携式固态硬盘功耗测试装置

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