CN113468003B - 一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法 - Google Patents

一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法，系统包括：转换模块测试单元格式转换；整合模块测试单元数据和测试单元的整合；树形结构构造模块对表格型数据进行解析，将表格型数据转换为有层次结构的树形数据；显示模块将需要追踪的数据添加到波形窗口；数据操作模块对需要操作的树形数据进行操作。本发明将原始的文本数据按照树形结构显示，可以实时的响应用户的操作，对海量数据进行检索，设计的波形窗口可以对数据进行合并，拆分，进制转换等操作，解决了芯片测试的数据量大，数据不直观，难以追踪与比较的问题。

Description

一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法
技术领域
本发明属于计算机和芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法。
背景技术
对于芯片测试的数据进行处理一直以来都依赖于网页技术或者Excel进行处理，但是以上方案都不能便捷的进行层次化数据的处理。
随着芯片规模越来越大，测试单元数量高达上亿，以上技术也不合适处理如此大规模的数据，同时芯片测试单元具有内在关联，需要对数据进行合并/拆分等操作，所以迫切需要一种专用的数据处理分析工具解决当前芯片测试数据分析遇到的问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，提供一种芯片测试数据的树形显示与操作系统。
为实现上述技术目的，本发明采取的技术方案为：
一种芯片测试数据的树形显示与操作系统，包括转换模块、整合模块、树形结构构造模块、显示模块和数据操作模块；
转换模块，用于测试单元格式转换，对测试单元进行解析并从文本格式转换为表格型数据；
整合模块，用于测试单元数据和测试单元的整合，将每次测试单元的数据合并到测试单元，然后转换为二进制数据；
树形结构构造模块，用于对表格型数据进行解析，将表格型数据转换为有层次结构的树形数据；
显示模块，用于将需要追踪的数据添加到波形窗口；
数据操作模块，用于对需要操作的树形数据进行操作。
为优化上述技术方案，采取的具体措施还包括：
上述的系统还包括树形数据搜索模块，用于用户按照正则表达式对任何层次的树节点进行搜索，将返回所有符合条件的测试单元。
上述的表格型数据，其结构包括子节点信息，父节点信息，根节点判断信息。
上述的整合模块，建立数据和单元的映射，添加校对机制检查映射是否是一对一的映射。
上述的树形结构构造模块，读取格式转换后的测试单元并建立第一层次的树形结构；
读取整合后的测试单元数据并根据用户的操作动态的建立更深层次的数据结构；
对树形数据进行渲染，并根据用户的操作动态的展开与收缩树的层次。
上述的显示模块以总线或者单比特显示波形数据。
一种芯片测试数据的树形显示与操作方法，包括：
步骤1：将测试单元的数据由表格型动态转换为树形结构，并构建第一层次的数据；
步骤2：根据用户对树形结构的操作，展开更深的层次；
步骤3：将需要观测的树形数据添加到波形窗口进行进一步的操作，之后导出数据。
上述的步骤2中，如果单一层次数据过多，则动态显示更多的数据，避免一次渲染的数据量过多造成显示卡顿。
上述的方法还包括：
步骤4：导入新的测试单元数据，并且波形窗口数据直接更新为新的单元数据值，比较不同测试单元数据值的差异。
本发明具有以下有益效果：
本发明对测试单元进行处理，将所有测试单元进行拆分，合并组成新的表格型数据结构，这一转换在一个项目中只需要一次，为了显示时不进行耗时的数据格式转换，在这一步的表格型数据已经包含每一个测试单元的层次信息，可以通过简单的操作转换为树形结构，极大的提高了渲染的速度，可以实时响应用户的操作，本发明支持大容量数据(高达上亿条)，数据显示直观(树形可视化)，易于对数据进行各种操作。
附图说明
图1是实施本发明方法的总流程图；
图2是数据转换与合成的可视化操作界面；
图3是数据转换的示意图；
图4是树形结构显示单元的效果图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的实施例作进一步详细描述。
一种芯片测试数据的树形显示与操作系统，包括转换模块、整合模块、树形结构构造模块、显示模块和数据操作模块；
转换模块，用于测试单元格式转换，对测试单元进行解析并从文本格式转换为表格型数据；
整合模块，用于测试单元数据和测试单元的整合，将每次测试单元的数据合并到测试单元，然后转换为二进制数据；
树形结构构造模块，用于对表格型数据进行解析，将表格型数据转换为有层次结构的树形数据；由于表格型数据已经包含可构建树形结构所用到的所有信息，此构造模块只需要检索数据就可以建立树形结构。
显示模块，用于将需要追踪的数据添加到波形窗口；
数据操作模块，用于对需要操作的树形数据进行操作，涵盖了测试数据所用到的总线合并，总线分离，以及批量数据的导入、导出。
所有的操作完成后导出数据，也支持导入之前的数据，会检索之前的测试单元并显示其最新的值。
本发明将原始的文本数据按照树形结构显示，可以实时的响应用户的操作，对海量数据进行检索，设计的波形窗口可以对数据进行合并，拆分，进制转换等操作，解决了芯片测试的数据量大，数据不直观，难以追踪与比较的问题。
实施例中，所述系统还包括树形数据搜索模块，用于用户按照正则表达式对任何层次的树节点进行搜索，将返回所有符合条件的测试单元。
实施例中，表格型数据，其结构包括子节点信息，父节点信息，根节点判断等信息，由于每一个项目单元是不变的，所以整个项目只需要一次操作，所有的耗时操作都在这一步完成。
实施例中，整合模块，建立数据和单元的映射，添加校对机制检查映射是否是一对一的映射。
实施例中，树形结构构造模块，读取格式转换后的测试单元并建立第一层次的树形结构；
读取整合后的测试单元数据并根据用户的操作动态的建立更深层次的数据结构；
对树形数据进行渲染，并根据用户的操作动态的展开与收缩树的层次。
实施例中，显示模块以总线或者单比特显示波形数据。
如图1所示，一种芯片测试数据的树形显示与操作方法，包括：
步骤1：将测试单元的数据由表格型动态转换为树形结构，并构建第一层次的数据；
步骤2：根据用户对树形结构的操作(点击展开或者导入之前的文件)，展开更深的层次；
步骤3：将需要观测的树形数据添加到波形窗口进行进一步的操作(合并，拆分，进制转换等)，之后导出数据。
实施例中，步骤2中，如果单一层次数据过多，将进一步根据用户下拉进度条或鼠标滑轮动态显示更多的数据，避免一次渲染的数据量过多造成显示卡顿。
实施例中，所述方法还包括：
步骤4：导入新的测试单元数据，并且波形窗口数据直接更新为新的单元数据值，比较不同测试单元数据值的差异。
如图2所示,将测试单元和测试单元值的原始文件输入到Source下的编辑行，指定Output下的输出文件名，点击Action下的按钮开始处理数据，进度栏显示处理的进度。
如图3所示,对原始数据进行处理的方案是将数据按照/进行切分，一行包括n个/，切分成n+1个单元，包括1个根节点，1个子节点，n-2个中间节点。随着处理数据越来越多，中间节点和根节点会有重复，自动丢弃重复的节点以节省空间，每一个节点都有3个属性：单元名，父节点名，布尔值判断是否是子节点，当父节点为空就表示此节点是根节点，布尔值为1表示是子节点，其它节点都是中间节点。
如图4所示,CHIP是根节点，包括了firlevel1,firlevel10,firlevel1等子节点，每一个firstlevel节点又包括若干个子节点，节点的数量可以高达上亿个，树形结构只渲染需要展示的数据以保持系统流畅，需要展示的数据有用户操作决定，比如单击某个节点或者导入文件搜索多个节点。
综上所述，本发明对测试单元进行处理，将所有测试单元进行拆分，合并组成新的表格型数据结构，这一转换在一个项目中只需要一次，为了显示时不进行耗时的数据格式转换，在这一步的表格型数据已经包含每一个测试单元的层次信息，可以通过简单的操作转换为树形结构，极大的提高了渲染的速度，可以实时响应用户的操作，本发明支持大容量数据(高达上亿条)，数据显示直观(树形可视化)，易于对数据进行各种操作。
以上仅是本发明的优选实施方式，本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰，应视为本发明的保护范围。

Claims (6)

1.一种芯片测试数据的树形显示与操作系统，其特征在于，包括转换模块、整合模块、树形结构构造模块、显示模块和数据操作模块；
转换模块，用于测试单元格式转换，对测试单元进行解析并从文本格式转换为表格型数据；
整合模块，用于测试单元数据和测试单元的整合，将每次测试单元的数据合并到测试单元，然后转换为二进制数据；
树形结构构造模块，用于对表格型数据进行解析，将表格型数据转换为有层次结构的树形数据；所述树形结构构造模块，读取格式转换后的测试单元并建立第一层次的树形结构；读取整合后的测试单元数据并根据用户的操作动态的建立更深层次的数据结构；对树形数据进行渲染，并根据用户的操作动态的展开与收缩树的层次；
显示模块，用于将需要追踪的数据添加到波形窗口；
数据操作模块，用于对需要操作的树形数据进行操作；
所述系统还包括树形数据搜索模块，用于用户按照正则表达式对任何层次的树节点进行搜索，将返回所有符合条件的测试单元；
所述表格型数据，其结构包括子节点信息，父节点信息，根节点判断信息。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试数据的树形显示与操作系统，其特征在于，所述整合模块，建立数据和单元的映射，添加校对机制检查映射是否是一对一的映射。
3.根据权利要求1所述的一种芯片测试数据的树形显示与操作系统，其特征在于，所述显示模块以总线或者单比特显示波形数据。
4.一种芯片测试数据的树形显示与操作方法，其特征在于，应用于权利要求1-3任意一项所述的芯片测试数据的树形显示与操作系统，所述方法包括：
步骤1：将测试单元的数据由表格型动态转换为树形结构，并构建第一层次的数据；
步骤2：根据用户对树形结构的操作，展开更深的层次；
步骤3：将需要观测的树形数据添加到波形窗口进行进一步的操作，之后导出数据。
5.根据权利要求4所述的一种芯片测试数据的树形显示与操作方法，其特征在于，步骤2中，如果单一层次数据过多，则动态显示更多的数据，避免一次渲染的数据量过多造成显示卡顿。
6.根据权利要求4所述的一种芯片测试数据的树形显示与操作方法，其特征在于，所述方法还包括：
步骤4：导入新的测试单元数据，并且波形窗口数据直接更新为新的单元数据值，比较不同测试单元数据值的差异。
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