CN113447799A - 集成电路、信息收集方法、设备 - Google Patents

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Abstract

本申请实施例提供一种集成电路、信息收集方法、设备,该集成电路包括:多个处理模块,用于对输入至电路的输入对象依次进行处理;存储模块,用于在多个处理模块中至少两个处理模块处理输入对象之后,存储至少两个处理模块针对输入对象分别的输出信息;信息记录模块,用于在输入对象触发至少两个处理模块中目标处理模块输出异常的情况下,从所述存储模块中读取输出信息,并将输出信息存储至存储设备中。本申请能够为集成电路的故障定位提供更多、更有效的记录信息。

Description

集成电路、信息收集方法、设备
技术领域
本申请涉及集成电路技术领域,尤其涉及一种集成电路、信息收集方法、设备。
背景技术
集成电路(integrated circuit,IC)是一种微型电子器件或部件,其可以包括可编程的集成电路和不可编程的集成电路,其中,可编程的集成电路例如可以是现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA),不可编程的集成电路例如可以是专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)。
在设计集成电路的过程中,或多或少会存在一些设计缺陷,导致集成电路在工作过程中会存在故障,因此在设计集成电路时需要为集成电路留有一定的用于定位故障的测试手段,以便能够快速的定位和解决故障。通常,集成电路支持如下测试手段:针对集成电路中用于进行输入数据处理的最后一级模块,可以检测该最后一级模块的输出,在最后一级模块的输出异常的情况下保存最后一级模块的输出信息,以便后续可以根据保存的信息进行故障定位。
然而,相关技术中保存引起该最后一级模块其输出异常的输出信息的方式,所保存的信息非常有限,基于所保存的信息通常无法准确定位出集成电路所存在的故障,因此亟需一种能够为集成电路的故障定位提供更多、更有效的记录信息的方式。
发明内容
本申请实施例提供一种集成电路、信息收集方法、设备,用以解决现有技术中亟需一种能够为集成电路的故障定位提供更多、更有效的记录信息的方式的问题。
第一方面,本申请实施例提供一种集成电路,所述电路用于与存储设备电连接,所述电路包括:
多个处理模块,所述多个处理模块依次电连接,用于对输入至所述电路的输入对象依次进行处理;
存储模块,与所述处理模块电连接,用于在所述多个处理模块中至少两个处理模块处理所述输入对象之后,存储所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息;
信息记录模块,与所述处理模块和所述存储模块电连接,用于在所述输入对象触发所述至少两个处理模块中目标处理模块输出异常的情况下,从所述存储模块中读取所述输出信息,并将所述输出信息存储至所述存储设备中。
第二方面,本申请实施例提供一种信息收集方法,应用于集成电路,所述电路用于与存储设备电连接,所述电路包括多个处理模块,所述多个处理模块依次电连接,用于对输入至所述电路的输入对象依次进行处理,所述方法包括:
在所述多个处理模块中至少两个处理模块处理所述输入对象之后,存储所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息;
在所述输入对象触发所述至少两个处理模块中目标处理模块输出异常的情况下,读取所述输出信息,并将所述输出信息存储至所述存储设备中。
第三方面,本申请实施例提供一种设备,所述设备包括处理器以及上述第一方面任一项所述的集成电路以及存储设备;所述处理器与所述电路电连接,所述电路与所述存储设备电连接;
所述集成电路,用于根据所述处理器的控制,从所述存储设备中读取针对输入对象的输出信息,并将读取到的输出信息返回至所述处理器;
所述处理器,用于控制所述集成电路,接收所述集成电路根据控制返回的所述输出信息,并将所述输出信息提示给用户。
本申请实施例提供的集成电路、信息收集方法、设备,通过该电路包括多个处理模块用于对输入至电路的输入对象依次进行处理,存储模块用于在多个处理模块中至少两个处理模块处理输入对象之后,存储至少两个处理模块针对输入对象分别的输出信息,以及信息记录模块用于在输入对象触发至少两个处理模块中目标处理模块输出异常的情况下,从所述存储模块中读取输出信息并将输出信息存储至存储设备中,实现了在输入对象触发至少两个处理模块中一处理模块输出异常的情况下,能够将至少两个处理模块针对输入对象分别的输出信息均存储至存储设备中,使得在进行集成电路的故障定位时,不但可以基于出现输出故障的一处理模块的输出信息进行故障定位,还可以基于至少两个处理模块中除该处理模块之外其他处理模块的输出信息进行故障定位,由于处理模块是依次对输入对象进行处理,其他处理模块的输出信息可以影响输出异常的处理模块其处理过程,因此其他处理模块的输出信息可以用于集成电路的故障定位,因此通过将至少两个处理模块针对输入对象分别的输出信息均存储至存储设备中,能够为集成电路的故障定位提供更多、更有效的记录信息。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例的应用场景示意图一;
图2为本申请实施例提供的集成电路的结构示意图;
图3为本申请实施例的应用场景示意图二;
图4为本申请一实施例提供的集成电路11的结构示意图;
图5为本申请另一实施例提供的集成电路11的结构示意图;
图6为本申请实施例提供的存储设备存储输出信息的示意图;
图7为本申请实施例提供的信息收集方法的流程示意图;
图8为本申请实施例提供的设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
在本申请实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本申请。在本申请实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义,“多种”一般包含至少两种,但是不排除包含至少一种的情况。
应当理解,本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。另外,本文中字符“/”,一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
取决于语境,如在此所使用的词语“如果”、“若”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”或“响应于检测”。类似地,取决于语境,短语“如果确定”或“如果检测(陈述的条件或事件)”可以被解释成为“当确定时”或“响应于确定”或“当检测(陈述的条件或事件)时”或“响应于检测(陈述的条件或事件)”。
还需要说明的是,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的商品或者系统不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种商品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的商品或者系统中还存在另外的相同要素。
另外,下述各方法实施例中的步骤时序仅为一种举例,而非严格限定。
为了方便本领域技术人员理解本申请实施例提供的技术方案,下面先对技术方案实现的技术环境进行说明。
相关技术中比较常用的用于支持集成电路定位故障的测试手段,主要包括在集成电路用于对输入数据进行处理的最后一级模块其输出异常情况下,保存最后一级模块的输出信息,以便后续可以根据保存的信息进行故障定位,然而所保存的信息非常有限,因此相关技术中亟需一种能够为集成电路的故障定位提供更多、更有效的记录信息的方式。
基于类似于上文所述的实际技术需求,本申请提供的集成电路可以利用技术化的手段提供一种能够为集成电路的故障定位提供更多、更有效的记录信息的方式。
下面通过一个示例性的应用场景具体说明本申请各个实施例提供的集成电路。
如图1所示,设备10包括集成电路11和存储设备12,集成电路11与存储设备12电连接。其中,集成电路11例如可以为FPGA、ASIC等,存储设备12例如可以为内存等能够用于集成电路11进行数据存储的设备。集成电路11可以接收其他设备(例如,设备1)发送的待处理的对象,该对象即为集成电路11的输入对象。
可以理解的是,针对不同场景,输入对象的类型可以不同。例如针对报文处理场景,输入对象具体可以为输入报文,以集成电路11为FPGA为例,设备10具体可以为基于FPGA实现的智能网卡,当然,在其他实施例中设备10还可以为基于FPGA实现的涉及到报文处理的其他网络产品例如路由器,针对报文的处理例如可以为报文算法加速、报文加解密,报文压缩等。再例如,针对语音处理场景,输入对象具体可以为输入语音。又例如,针对图像处理场景,输入对象具体可以为输入图像。
如图1所示,在接收到输入对象之后,集成电路11能够对输入对象进行处理以获得针对输入对象的处理结果,并将处理结果发送至其他设备(例如前述的设备1或者设备1之外的设备2)。
并且,在集成电路11处理输入对象的过程中,集成电路11能够采用本申请实施例提供的方式,以实现将用于集成电路故障定位的信息保存至存储设备12中。如图2所示,集成电路11可以包括处理模块111a、处理模块111b、处理模块111c、存储模块112和信息记录模块113。需要说明的是,图2中以处理模块的个数为3个为例。
参考图2,处理模块111a-111b依次电连接,用于对输入对象依次进行处理,以得到处理结果。存储模块112和信息记录模块113均与处理模块电连接,且信息记录模块113还与存储模块112电连接。存储设备12具体可以与集成电路11中的信息记录模块113电连接。
其中,存储模块112和信息记录模块113实现的功能是将用于集成电路故障定位的信息保存至存储设备12中。具体的,存储模块112,用于在处理模块111b和处理模块111c处理输入对象之后,存储处理模块111b和处理模块111c针对输入对象分别的输出信息;信息记录模块113,用于在输入对象触发处理模块111c输出异常的情况下,从所述存储模块中读取输出信息,并将输出信息存储至存储设备12中。
基于此,能够实现在输入对象触发集成电路11中处理模块111c输出异常的情况下,将处理模块111b和处理模块111c针对输入对象分别的输出信息均存储至存储设备12中,使得在进行集成电路11的故障定位时,不但可以基于出现输出故障的处理模块111c的输出信息进行故障定位,还可以基于处理模块111b的输出信息进行故障定位,由于处理模块111b和处理模块111c是依次对输入对象进行处理,处理模块111b输出信息会影响处理模块111c处理过程,因此处理模块111b的输出信息能够用于处理模块111c输出故障情况下的故障定位,因此通过将处理模块111b和处理模块111c针对输入对象分别的输出信息均存储至存储设备12中,能够为集成电路的故障定位提供更多、更有效的记录信息。
需要说明的是,图2中以集成电路检测处理模块111c的输出异常,并在处理模块111c异常情况下保存处理模块111b和处理模块111c的输出信息为例。可以理解的是,根据实现需要,存储模块112还可以存储处理模块111a针对输入对象的处理信息;信息记录模块113还可以检测处理模块111a和/或处理模块111b的输出异常,并在任一处理模块中输出异常情况下,将存储的输出信息存储至存储设备12中。
需要说明的是,图1中以集成电路11处理设备10之外的其他设备触发的输入对象,并将针对输入对象的处理结果发送至设备10之外的其他设备为例。可替换的,如图3所示,设备10还可以包括处理器13,例如中央处理器(central processing unit,CPU),可以由处理器13将输入对象发送至集成电路11,和/或,集成电路11可以将处理结果发送至处理器13。
下面结合附图,对本申请的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下,下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
图4为本申请一实施例提供的集成电路11的结构示意图,集成电路11与存储设备12电连接。如图4所示,本实施例的集成电路11可以包括:n个处理模块41、存储模块42和信息记录模块43,n为大于1的整数。其中,所述n个处理模块41依次电连接,用于对输入至集成电路11的输入对象依次进行处理;存储模块42,与所述处理模块41电连接,用于在所述n个处理模块41中至少两个处理模块处理所述输入对象之后,存储所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息;信息记录模块43,与所述处理模块41电连接,用于在所述输入对象触发所述至少两个处理模块41中目标处理模块输出异常的情况下,从所述存储模块中读取所述输出信息,并将所述输出信息存储至所述存储设备12中。
需要说明的是,图4中处理模块用于对输入对象的处理,实现集成电路11对输出对象进行处理以得到针对输入对象的处理结果。图4中集成电路11包括的处理模块之外的其他模块,即存储模块42和信息记录模块43是为集成电路留有一定的用于定位故障的测试手段,以便能够快速的定位和解决故障。可以理解的是,存储模块42和信息记录模块43虽然均与处理模块电连接,但是其可以不向处理模块输出数据,从而并不影响处理模块针对输入对象的正常处理过程,而只是单向的得到处理模块针对输入对象的输出信息,以基于输出信息实现用于定位集成电路故障的测试手段,因此,图4中处理模块到信息记录模块以及处理模块到存储模块的方向均可以是单向,即由处理模块到信息记录模块和存储模块的方向。
其中,n个依次电连接的处理模块41_1至处理模块41_n对输入对象依次进行处理。具体的,在输入对象输入至集成电路11之后,可以先由处理模块41_1对输入对象进行处理,以得到处理模块41_1的输出信息,然后处理模块41_1的输出信息可以作为处理模块41_2的输入,由处理模块41_2对输入对象经处理模块41_1处理得到的输出信息进行进一步处理,以得到处理模块41_2的输出信息,……,依次类推,处理模块41_n-1的输出信息可以作为处理模块41_n的输入,由处理模块41_n对输入对象经处理模块41_1至41_n-1处理得到的输出信息进行进一步处理,以得到处理模块41_n的输出信息。可以理解的是的,集成电路的处理结果可以包含在处理模块41_n的输出信息中。
需要说明的是,输入对象的类型不同,集成电路针对输入对象的处理不同,处理模块的输出信息的不同。以输入对象为输入报文,集成电路用于实现报文转发处理为例,处理模块针对输入对象的输出信息可以包括输入报文和所述输入报文的元数据(Metadata),当然,在其他实施例中,处理模块针对输入对象的输出信息还可以包括其他信息,本申请对此不做限定。
本申请实施例中,在处理模块41处理输入对象的过程中,可以由存储模块42在处理模块41_1至处理模块41_n中至少两个处理模块处理输入对象之后,存储所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息。其中,所述至少两个处理模块可以为n个处理模块中的任意多个处理模块,具体可以根据需求灵活实现。可选的,所述至少两个处理模块具体可以为n个处理模块中的部分处理模块,例如,处理模块41_2、处理模块41_3和处理模块41_4,又例如处理模块41_n-2、处理模块41_n-1和处理模块41_n。或者,所述至少两个处理模块具体可以为n个处理模块中的全部处理模块,即处理模块41_1至处理模块41_n。
以所述至少两个处理模块为n个处理模块中的处理模块41_n-2、处理模块41_n-1和处理模块41_n为例,存储模块42可以在处理模块41_n-2处理输入对象之后,存储处理模块41_n-2针对输入对象的输出信息,可以理解的是,假设处理模块41还包括处理模块41_n-3,则处理模块41_n-2可以是通过对处理模块41_n-3针对输入对象的输出信息进行处理,以实现对于输入对象的处理,处理模块41_n-2针对输入对象的输出信息即为处理模块41_n-1的输入。
可选的,存储模块42可以缓存处理模块针对输入对象的全部输出信息,例如完整的输入报文。或者,可选的,为了减少存储的数据量,存储模块42可以缓存处理模块针对输出对象的部分输出信息,该部分输出信息可以为用于定位集成电路故障的特定信息,例如输入报文的报文头字段。
在一个实施例中,可以由一个存储模块完成存储至少两个处理模块针对输入对象分别的输出信息的功能。或者,为了简化实现,便于模块扩展,存储模块42的个数可以为多个,该多个存储模块可以与所述至少两个处理模块一一对应;基于此,存储模块42,具体用于在对应处理模块处理所述输入对象之后,存储对应处理模块针对所述输入对象的输出信息。
以所述至少两个处理模块为n个处理模块中的全部处理模块为例,如图5所示,集成电路11可以包括n个存储模块42,分别为存储模块42_1至存储模块42_n,其中,存储模块42_1用于在处理模块41_1处理输入对象之后,存储处理模块41_1针对输入对象的输出信息;存储模块42_2用于在处理模块41_2处理输入对象之后,存储处理模块41_2针对输入对象的输出信息;……,依次类推,存储模块42_n用于在处理模块41_n处理输入对象之后,存储处理模块41_n针对输入对象的输出信息。
本申请实施例中,在处理模块41处理输入对象的过程中,可以由信息记录模块43检测所述至少两个处理模块41中目标处理模块的输出,在目标处理模块输出异常的情况下,从所述存储模块中读取所述至少两个处理模块41针对所述输入对象分别的输出信息,并将所述输出信息存储至所述存储设备12中。其中,根据检测需求,目标处理模块具体可以为所述至少两个处理模块41中的一个或多个处理模块。在目标处理模块的个数为多个情况下,若多个目标处理模块中任意模块的输出异常,则可以从所述存储模块读取所述至少两个处理模块41针对所述输出对象分别的输出信息。
本申请实施例中,可选的,根据信息记录模块43所完成的功能,即检测异常、读取输出信息以及将读取的信息存储至存储设备中,可以由三个子模块完成信息记录模块43的不同功能,示例性的,一个子模块可以用于检测异常,另一个子模块可以用于在检测到异常情况下读取输出信息,又一个子模块可以用于将读取的信息存储至存储设备中。当然,在其他实施例中,也可以由少于或多于三个的子模块完成信息记录模块43的不同功能。例如,可以由一个子模块检测异常并在异常情况下读取输出信息,另一个子模块将读取的信息存储至存储设备中,基于此可以省去下述的异常事件请求信号。
在一个实施例中,信息记录模块43可以包括:检测子模块、获取子模块和记录子模块;其中,检测子模块可以用于检测异常,获取子模块可以用于在检测到异常情况下读取输出信息,记录子模块可以用于将获取的信息存储至存储设备中。
具体的,所述检测子模块,与所述处理模块电连接,用于在检测到所述输入对象触发所述目标处理模块输出异常时,输出针对所述输入对象的异常事件请求信号;所述获取子模块,与所述检测子模块和所述存储模块电连接,用于根据所述异常事件请求信号,从所述存储模块中读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息;所述记录子模块,与所述获取子模块连接,用于将所述输出信息存储至所述存储设备中。
本申请实施例中,在所述目标处理模块的个数为多个情况下,所述检测子模块的个数可以为多个;多个检测子模块可以与多个目标处理模块一一对应。基于此,所述检测子模块,具体用于在检测到所述输入对象触发对应目标处理模块输出异常的情况下,输出针对所述输入对象的异常事件请求信号。通过目标处理模块个数为多个的情况下,检测子模块的个数也为多个且两者一一对应,有利于简化实现,便于模块扩展。
以所述至少两个处理模块为n个处理模块中的全部处理模块,且所述至少两个处理模块均为目标处理模块为例,如图5所示,集成电路11可以包括n个检测子模块431,分别为检测子模块431_1至检测子模块431_n,其中,检测子模块431_1用于在检测到所述输入对象触发处理模块41_1输出异常的情况下,输出针对所述输入对象的异常事件请求信号,即在检测子模块431_1基于处理模块41_1针对输入模块的输出信息,检测到处理模块41_1输出异常时,可以输出针对所述输入对象的异常事件请求信号;检测子模块431_2用于在检测到所述输入对象触发处理模块41_2输出异常的情况下,输出针对所述输入对象的异常事件请求信号;……,依次类推,检测子模块431_n用于在检测到所述输入对象触发处理模块41_n输出异常的情况下,输出针对所述输入对象的异常事件请求信号。
本申请实施例中,对于检测子模块检测处理模块输出异常的具体方式,可以根据需求灵活实现。以输入对象为输入报文为例,检测子模块例如可以检测输入报文是否为畸形报文(例如缺少报文头、报文尾等),检测子模块例如还可以检测元数据中是否有错误指示。当然,在其他实施例中,检测子模块还可以通过其他方式检测输出是否异常,本申请对此不作限定。
在一个实施例中,多个检测子模块的异常事件请求信号可以直接输出至获取子模块;或者,如图5所示,信息记录模块43还可以包括汇聚子模块434,所述汇聚子模块434包括多个输入端,所述多个输入端与所述多个检测子模块一一对应电连接,所述汇聚子模块还包括一个输出端,所述输出端与所述获取子模块电连接。所述汇聚子模块434,用于将从所述检测子模块输入的异常事件请求信号输出至所述获取子模块。通过汇聚子模块,使得获取子模块无需关注检测子模块431个数的变化,实现获取子模块与检测子模块的解耦,从而有利于简化实现,便于扩展。
本申请实施例中,所述获取子模块432,可以按照所述至少两个处理模块的电连接顺序,依次从所述存储模块中读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息。以图5为例,获取子模块432可以先从存储模块42_1中读取处理模块41_1针对输入对象的输出信息,然后从存储模块42_2中读取处理模块41_2针对输入对象的输出信息,……,依次类推,最后从存储模块42_n中读取处理模块41_n针对输入对象的输出信息,从而实现读取n个处理模块针对输入对象针对输入对象分别的输出信息。
可选的,所述记录子模块433,可以按照所述获取子模块读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象的分别输出信息的顺序,依次将所述输出信息存储至所述存储设备中。以图5为例,首先,在获取子模块432从存储模块42_1中读取处理模块41_1针对输入对象的输出信息之后,记录子模块433可以将获取子模块432读取到的处理模块41_1针对输入对象的输出信息存储至存储设备;然后,在获取子模块432从存储模块42_2中读取处理模块41_2针对输入对象的输出信息之后,记录子模块433可以将获取子模块432读取到的处理模块41_2针对输入对象的输出信息存储至存储设备;……,依次类推,在获取子模块432从存储模块42_n中读取处理模块41_n针对输入对象的输出信息之后,记录子模块433可以将获取子模块432读取到的处理模块41_n针对输入对象的输出信息存储至存储设备。从而,使得输出信息在存储设备中的存储先后顺序能够表征其对应的处理模块,基于此从存储设备中所获取的多个输出信息的顺序关系能够表征其对应的处理模块,有利于获知输出信息与处理模块的对应关系。
本申请实施例中,为了便于获取子模块读取到所存储的输出信息,可选的,所述存储模块42,具体可以用于将所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息存储至与所述输入对象的标识对应的存储空间。即,用于存储针对一输入对象的输出信息的存储空间,可以与该输入对象的标识对应,相应的,获取子模块可以直接从与该输入对象的标识对应的存储空间中,读取针对该输入对象的输出信息。参照图5,存储模块42-1可以在处理模块41_1处理输入对象之后,将处理模块41_1针对输入对象的输出信息存储至与所述输入对象的标识对应的存储空间;存储模块42-2可以在处理模块41_2处理输入对象之后,将处理模块41_2针对输入对象的输出信息存储至与所述输入对象的标识对应的存储空间;……,依次类推,存储模块42-n可以在处理模块41_n处理输入对象之后,将处理模块41_n针对输入对象的输出信息存储至与所述输入对象的标识对应的存储空间。
基于此,所述异常事件请求信号可以包括所述输入对象的标识;所述获取子模块,具体可以用于根据所述异常事件请求信号,从所述存储模块与所述标识对应的存储空间中读取所述输出信息。其中,输入对象的标识用于标识所述输入对象,输入对象的标识可以为输入对象自带的标识,或者,输入对象的标识可以为集成电路为输入对象分配的标识,通过集成电路为输入对象分配标识,使得输入对象的标识可控,有利于简化实现。
本申请实施例中,在输入对象的标识由集成电路分配情况下,所述集成电路11还可以包括:标识分配模块44;所述标识分配模块44,与所述处理模块41电连接,用于在所述至少两个处理模块处理所述输入对象之前,为所述输入对象分配标识,以得到所述输入对象的标识。需要说明的是,为了确保输入对象与其标识对应的准确性,在标识分配模块44为输入对象分配标识之后,所得到的输入对象的标识可以随所述输入对象的处理流程作为所述至少两个处理模块的输入和输出,基于此,存储模块可以基于针对一输入对象的输出信息准确的得到该输入对象的标识,并进一步根据该输入对象的标识将针对该输入对象的输出信息存储至对应的存储空间。
以至少两个处理模块具体为n个处理模块为例,标识分配模块44的连接关系可以如图5所示。参照图5,对于输入至集成电路11的输入对象,可以先由标识分配模块44为其分配标识,以得到所述输入对象的标识,进一步的,所述输入对象及其标识可以输入处理模块41_1中,经处理模块41_1处理之后,可以得到处理模块41_1针对所述输入对象的输出信息,该输出信息中可以包括输入对象的标识,基于此,存储模块42_1可以将处理模块41_1针对所述输入对象的输出信息存储至输入对象的标识对应的存储空间中;……,依次类推,处理模块41_n-1的输出信息所可以输入处理模块41_n中,经处理模块41_n处理之后,可以得到处理模块41_n针对所述输入对象的输出信息,该输出信息中可以包括输入对象的标识,基于此,存储模块42_n可以将处理模块41_n针对所述输入对象的输出信息存储至输入对象的标识对应的存储空间中。
本申请实施例中,依次输入至所述集成电路11的多个对象的标识可以按照一定规律循环。示例性的,依次输入至集成电路11的多个输入对象的标识可以1为步进单位,在一个数值区间循环,例如,输入对象的标识可以在以1为步进单位,在0到2047区间循环,即按照0到2047再到0如此循环。基于此,输入对象的标识可以直接作为存储输出信息的存储空间的地址,有利于进一步简化实现。
以图5为例,假设在输入对象的标识为0,则存储模块42-1在处理模块41_1处理输入对象之后,可以以标识0作为存储空间的地址对处理模块41_1针对输入对象的输出信息进行存储;……,依次类推,存储模块42-n在处理模块41_n处理输入对象之后,可以以标识0作为存储空间的地址对处理模块41_n针对输入对象的输出信息进行存储。相应的,获取子模块432在接收到包括标识0的异常事件请求信号之后,可以根据异常事件请求信号,从存储模块42-1的标识0作为地址的存储空间中读取处理模块41_1针对标识0的输入对象的输出信息;……,依次类推,可以根据异常事件请求信号,从存储模块42-n的标识0作为地址的存储空间中读取处理模块41_n针对标识0的输入对象的输出信息。
本申请实施例中,考虑到在标识按照一定规律循环情况下,可能存在如下情况:获取子模块读取输出信息时,发生输出异常的处理模块之后的部分处理模块(例如,发生异常的处理模块为处理模块41_n-4,其之后的部分处理模块可以为41_n)针对输入对象的输出信息未来得及被存储,导致存储模块中存储的是前一循环中标识相同的输入对象的输出信息。从而,只基于标识进行信息的读取可能导致读取到针对目标输入对象之外其他输入对象的输出信息的异常情况。
为了避免此异常情况,可选的,所述存储模块,具体可以用于将所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息以及当前的时间信息对应存储至与所述输入对象的标识对应的存储空间。相应的,所述获取子模块,具体可以用于根据所述异常事件请求信号,从所述存储模块与所述标识对应的存储空间中读取时间信息,并在所述时间信息满足一定条件情况下,从所述存储模块与所述标识对应的存储空间中读取所述输出信息。其中,所述时间信息满足一定条件,可以表示所述标识对应存储空间中的输出信息为当前循环中针对所述标识的输入对象的输出信息,即目标输出信息;所述时间信息不满足一定条件,可以表示所述标识对应存储空间中的输出信息为前一循环中针对所述标识的输入对象的输出信息,即非目标输出信息;所述一定条件可以根据实际情况灵活实现。
本申请实施例中,所述获取子模块,还可以用于根据所述异常事件请求信号,从所述存储模块中读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象的前N个输入对象分别的输出信息,N为正整数。相应的,所述记录子模块,具体可以用于将所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息以及针对所述前N个输入对象分别的输出信息对应存储至所述存储设备中。考虑到一输入对象引起处理模块的输出异常,可能是由于其前N个输入对象的影响导致,通过将至少两个输出模块针对输入对象的前N个输入对象分别的输出信息,与针对该输入对象分别的输出信息一起对应存储至存储设备中,能够进一步为故障定位提供更多、更有效的信息。
本申请实施例中,所述异常事件请求信号还可以包括:所述目标处理模块输出异常的异常事件类型信息。其中,所述异常事件类型信息例如可以为异常事件类型的标识,当然,在其他实施例中异常事件类型信息还可以为其他形式信息,本申请对此不做限定。基于此,所述记录子模块433,具体可以用于将所述输出信息以及所述异常事件类型信息对应存储至所述存储设备中。通过异常事件类型信息,使得在进行集成电路的故障定位时,能够基于输出异常情况下的输出信息对应的异常事件类型,从而能够进一步为故障定位提供更多、更有效的信息。
本申请实施例中,所述获取子模块,还可以用于在接收到所述异常事件请求信号的情况下,获取当前时间戳。示例性的,集成电路11还可以包括系统时间模块,用于提供系统时间,获取子模块可以与系统时间模块电连接,并从系统时间模块获取当前时间戳。可选的,系统时间模块的初始时间可以由控制面配置,而后可以基于初始时间自动计数,以提供系统时间,当然,在其他实施例中系统时间模块也可以通过其他方式提供系统时间,本申请对此不作限定。相应的,所述记录子模块433,具体可以用于将所述输出信息以及所述当前时间戳对应存储至所述存储设备中。通过当前时间戳,使得在进行集成电路的故障定位时,能够基于输出异常情况下的输出信息对应的故障发生时间,从而能够进一步为故障定位提供更多、更有效的信息。
可选的,所述记录子模块,具体可以用于将所述异常事件类型信息和/或所述当前时间戳作为索引,将所述输出信息作为所述索引对应的信息,存储至所述存储设备中。基于此,能够便于从存储设备中获取异常信息。在从存储设备获取异常信息的时候,可以先读索引区,获取到时间、事件类型及存储地址,进而可以从信息区提取出期望事件的输出信息。其中,期望事件可以是指特定时段、特定事件类型的异常事件。
以异常事件类型和当前时间戳作为索引,集成电路11如图5所示且N等于1为例,存储设备中的存储方式可以如图6所示。参考图6,存储设备中可以包括索引区和信息区,索引区中可以包括各异常事件的索引,每个异常事件的索引可以包括时间、事件类型以及存储地址。其中,时间表示在接收到对应异常的异常事件请求信号情况下,所获取的时间戳;事件类型表示对应异常事件的异常事件类型;存储地址表示用于存储对应异常事件的输出信息的存储空间的地址。需要说明的是,图6中以存储设备中存储M+1个异常事件为例。
本申请实施例中,可选的,所述电路11还可以包括第一控制模块(图未示出),所述第一控制模块用于与处理器13电连接,所述处理器用于控制所述电路11;所述第一控制模块,用于接收所述处理器根据用户输入发送的第一控制指令,所述第一控制指令用于指示所述用户需要进行异常检测的模块;所述第一控制模块,还用于根据所述第一控制指令控制所述信息记录模块,以将所述用户需要进行异常检测的处理模块作为所述目标处理模块。例如,信息记录模块可以包括多个检测子模块,多个检测子模块与多个处理模块一一对应,所述检测子模块用于在检测到输入对象触发对应处理模块输出异常情况下,输出针对所述输入对象的异常事件触发信号;所述多个检测子模块默认可以为禁止状态,所述第一控制模块可以根据第一控制指令使能所述多个检测子模块中用户需要进行异常检测的处理模块对应的检测子模块。基于此,能够实现由用户选择需要进行异常检测的处理模块,提高了进行异常检测的模块的灵活性,有利于提高用户的使用体验。
本申请实施例中,可选的,所述电路11还可以包括第二控制模块(未示出),所述第二控制模块用于与处理器电连接,所述处理器用于控制所述电路11;所述第二控制模块,用于接收所述处理器根据用户输入发送的第二控制指令,所述第二控制指令用于指示所述用户需要进行信息记录的模块;所述第二控制模块,还用于根据所述第二控制指令控制所述存储模块,以将所述用户需要进行信息记录的处理模块作为所述至少两个处理模块。例如,存储模块的个数可以为多个,多个存储模块与多个处理模块一一对应,所述存储模块用于在对应处理模块处理所述输入对象之后,存储对应处理模块针对所述输入对象的输出信息;所述多个存储模块默认可以为禁止状态,所述第二控制模块可以根据第二控制指令使能所述多个存储模块中用户需要进行信息记录的处理模块对应的存储模块。基于此,能够实现由用户选择需要进行信息记录的处理模块,提高了进行信息记录的模块的灵活性,有利于提高用户的使用体验。
需要说明的是,所述第一控制模块和第二控制模块可以为不同模块,或者可以实现为同一模块,本申请对此不做限定。
通过本申请实施例提供的集成电路,该电路包括多个处理模块用于对输入至电路的输入对象依次进行处理,存储模块用于在多个处理模块中至少两个处理模块处理输入对象之后,存储至少两个处理模块针对输入对象分别的输出信息,以及信息记录模块用于在输入对象触发至少两个处理模块中目标处理模块输出异常的情况下,从所述存储模块中读取输出信息并将输出信息存储至存储设备中,实现了在输入对象触发至少两个处理模块中一处理模块输出异常的情况下,能够将至少两个处理模块针对输入对象分别的输出信息均存储至存储设备中,使得在进行集成电路的故障定位时,不但可以基于出现输出故障的一处理模块的输出信息进行故障定位,还可以基于至少两个处理模块中除该处理模块之外其他处理模块的输出信息进行故障定位,由于处理模块是依次对输入对象进行处理,其他处理模块的输出信息可以影响输出异常的处理模块其处理过程,因此其他处理模块的输出信息可以用于集成电路的故障定位,因此通过将至少两个处理模块针对输入对象分别的输出信息均存储至存储设备中,能够为集成电路的故障定位提供更多、更有效的记录信息。
图7为本申请实施例提供的信息收集方法的流程示意图。所述方法应用于集成电路,所述集成电路包括多个处理模块,所述多个处理模块依次电连接,用于对输入至所述电路的输入对象依次进行处理。如图7所示,本实施例的方法可以包括:
步骤71,在所述多个处理模块中至少两个处理模块处理所述输入对象之后,存储所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息。
步骤72,在所述输入对象触发所述至少两个处理模块中目标处理模块输出异常的情况下,读取所述输出信息,并将所述输出信息存储至所述存储设备中。
可选的,所述在所述输入对象触发所述至少两个处理模块中目标处理模块输出异常的情况下,读取所述输出信息并将所述输出信息存储至所述存储设备中,包括:
在检测到所述输入对象触发所述目标处理模块输出异常时,输出针对所述输入对象的异常事件请求信号;
根据所述异常事件请求信号,读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息,并将所述输出信息存储至所述存储设备中。
可选的,所述存储所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息,包括:将所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息存储至与所述输入对象的标识对应的存储空间;
所述异常事件请求信号包括所述输入对象的标识;
所述根据所述异常事件请求信号,读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息,包括:根据所述异常事件请求信号,从与所述标识对应的存储空间中读取所述输出信息。
可选的,依次输入至所述电路的多个对象的标识按照一定规律循环;
所述将所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息存储至与所述输入对象的标识对应的存储空间,包括:将所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息以及当前的时间信息对应存储至与所述输入对象的标识对应的存储空间;
所述根据所述异常事件请求信号,从与所述标识对应的存储空间中读取所述输出信息,包括:根据所述异常事件请求信号,从与所述标识对应的存储空间中读取时间信息,并在所述时间信息满足一定条件情况下,从与所述标识对应的存储空间中读取所述输出信息。
可选的,所述异常事件请求信号还包括:所述目标处理模块输出异常的异常事件类型信息;
所述将所述输出信息存储至所述存储设备中,包括:将所述输出信息以及所述异常事件类型信息对应存储至所述存储设备中。
可选的,所述将所述输出信息以及所述异常事件类型信息对应存储至所述存储设备中,包括:将所述异常事件类型信息作为索引,将所述输出信息作为所述索引对应的信息,存储至所述存储设备中。
可选的,所述方法还包括:在所述至少两个处理模块处理所述输入对象之前,为所述输入对象分配标识。
可选的,所述方法还包括:在触发所述异常事件请求信号的情况下,获取当前时间戳;
所述将所述输出信息存储至所述存储设备中,包括:将所述输出信息以及所述当前时间戳对应存储至所述存储设备中。
可选的,所述将所述输出信息以及所述当前时间戳对应存储至所述存储设备中,包括:将所述当前时间戳作为索引,将所述输出信息作为所述索引对应的信息,存储至所述存储设备中。
可选的,所述方法还包括:根据所述异常事件请求信号,读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象的前N个输入对象分别的输出信息,N为正整数;
所述将所述输出信息存储至所述存储设备中,包括:将所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息以及针对所述前N个输入对象分别的输出信息对应存储至所述存储设备中。
可选的,所述读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息,包括:按照所述至少两个处理模块的电连接顺序,依次读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息;
所述将所述输出信息存储至所述存储设备中,包括:按照读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象的分别输出信息的顺序,依次将所述输出信息存储至所述存储设备中。
可选的,所述目标处理模块的个数为多个。
可选的,所述方法还包括:接收所述处理器根据用户输入触发的第一控制指令,所述第一控制指令用于指示所述用户需要进行异常检测的模块;以及,根据所述第一控制指令控制所述检测子模块,以将所述用户需要进行异常检测的处理模块作为所述目标处理模块。
可选的,所述方法还包括:接收所述处理器根据用户输入触发的第二控制指令,所述第二控制指令用于指示所述用户需要进行信息记录的模块;以及,根据所述第二控制指令控制所述存储模块,以将所述用户需要进行信息记录的处理模块作为所述至少两个处理模块。
需要说明的是,图7所示实施例主要从方法流程角度描述图4所示集成电路收集异常信息的过程,其具体内容可以参见前述实施例的相关描述,在此不再赘述。
通过本申请实施例提供的信息收集方法,在多个处理模块中至少两个处理模块处理输入对象之后,存储模块存储至少两个处理模块针对输入对象分别的输出信息,以及在输入对象触发至少两个处理模块中目标处理模块输出异常的情况下,从所述存储模块读取输出信息并将输出信息存储至存储设备中,实现了在输入对象触发至少两个处理模块中一处理模块输出异常的情况下,能够将至少两个处理模块针对输入对象分别的输出信息均存储至存储设备中。
图8为本申请实施例提供的设备的结构示意图。如图8所示,该设备80可以包括处理器81、集成电路82以及存储设备83。其中,集成电路82与处理器81和存储设备83电连接。
关于集成电路82的具体说明可以参见前述实施例的相关描述,在此不再赘述。
所述集成电路82,用于根据所述处理器81的控制,从所述存储设备83中读取针对输入对象的输出信息,并将读取到的输出信息返回至所述处理器81。可选的,可以由存储设备83根据所述处理器81的控制,从所述存储设备83中读取针对输入对象的输出信息,并将读取到的输出信息返回至所述处理器81。以图5为例,可以由记录子模块433根据处理器81的控制,从所述存储设备83中读取针对输入对象的输出信息,并将读取到的输出信息返回至所述处理器81。
所述处理器81,用于控制所述集成电路82,接收所述集成电路82根据控制返回的所述输出信息,并将所述输出信息提示给用户。
示例性的,处理器81可以提供用户界面,通过用户界面用户可以获取集成电路在处理模块输出异常情况下所存储的输出信息。例如,用户界面中可以提供获取按钮,当用户点击获取按钮之后,处理器81可以控制集成电路82将在处理模块输出异常情况下所存储的输出信息均返回给处理器81,进一步的,处理器81可以将集成电路返回的输出信息提示给用户。又例如,用户界面中可以提供筛选选项,例如时段选项和/或事件类型选项,用户可以通过筛选选项输入筛选条件,处理器81可以控制集成电路82将与所述筛选条件符合的输出信息返回给处理器81,进一步的,处理器81可以将符合筛选条件的输出信息提示给用户。当然,在其他实施例中,处理器81可以采用其他方式与用户交互,本申请对此不作限定。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。

Claims (31)

1.一种集成电路,所述电路用于与存储设备电连接,所述电路包括:
多个处理模块,所述多个处理模块依次电连接,用于对输入至所述电路的输入对象依次进行处理;
存储模块,与所述处理模块电连接,用于在所述多个处理模块中至少两个处理模块处理所述输入对象之后,存储所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息;
信息记录模块,与所述处理模块和所述存储模块电连接,用于在所述输入对象触发所述至少两个处理模块中目标处理模块输出异常的情况下,从所述存储模块中读取所述输出信息,并将所述输出信息存储至所述存储设备中。
2.根据权利要求1所述的电路,所述信息记录模块包括:检测子模块、获取子模块和记录子模块;
所述检测子模块,与所述处理模块电连接,用于在检测到所述输入对象触发所述目标处理模块输出异常时,输出针对所述输入对象的异常事件请求信号;
所述获取子模块,与所述检测子模块和所述存储模块电连接,用于根据所述异常事件请求信号,从所述存储模块中读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息;
所述记录子模块,与所述获取子模块连接,用于将所述输出信息存储至所述存储设备中。
3.根据权利要求2所述的电路,所述存储模块,具体用于将所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息存储至与所述输入对象的标识对应的存储空间;
所述异常事件请求信号包括所述输入对象的标识;
所述获取子模块,具体用于根据所述异常事件请求信号,从所述存储模块与所述标识对应的存储空间中读取所述输出信息。
4.根据权利要求3所述的电路,依次输入至所述电路的多个对象的标识按照一定规律循环;
所述存储模块,具体用于将所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息以及当前的时间信息对应存储至与所述输入对象的标识对应的存储空间;
所述获取子模块,具体用于根据所述异常事件请求信号,从所述存储模块与所述标识对应的存储空间中读取时间信息,并在所述时间信息满足一定条件情况下,从所述存储模块与所述标识对应的存储空间中读取所述输出信息。
5.根据权利要求3所述的电路,所述异常事件请求信号还包括:所述目标处理模块输出异常的异常事件类型信息;
所述记录子模块,具体用于将所述输出信息以及所述异常事件类型信息对应存储至所述存储设备中。
6.根据权利要求5所述的电路,所述记录子模块,具体用于将所述异常事件类型信息作为索引,将所述输出信息作为所述索引对应的信息,存储至所述存储设备中。
7.根据权利要求3所述的电路,所述电路还包括:标识分配模块;
所述标识分配模块,与所述处理模块电连接,用于在所述至少两个处理模块处理所述输入对象之前,为所述输入对象分配标识。
8.根据权利要求2-7任一项所述的电路,所述获取子模块,还用于在接收到所述异常事件请求信号的情况下,获取当前时间戳;
所述记录子模块,具体用于将所述输出信息以及所述当前时间戳对应存储至所述存储设备中。
9.根据权利要求8所述的电路,所述记录子模块,具体用于将所述当前时间戳作为索引,将所述输出信息作为所述索引对应的信息,存储至所述存储设备中。
10.根据权利要求2-7任一项所述的电路,所述获取子模块,还用于根据所述异常事件请求信号,从所述存储模块读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象的前N个输入对象分别的输出信息,N为正整数;
所述记录子模块,具体用于将所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息以及针对所述前N个输入对象分别的输出信息对应存储至所述存储设备中。
11.根据权利要求2-7任一项所述的电路,所述获取子模块,具体用于按照所述至少两个处理模块的电连接顺序,依次从所述存储模块读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息;
所述记录子模块,具体用于按照所述获取子模块读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象的分别输出信息的顺序,依次将所述输出信息存储至所述存储设备中。
12.根据权利要求2-7任一项所述的电路,所述目标处理模块的个数为多个,所述检测子模块的个数为多个;多个检测子模块与多个目标处理模块一一对应;
所述检测子模块,用于在检测到所述输入对象触发对应目标处理模块输出异常的情况下,输出针对所述输入对象的异常事件请求信号。
13.根据权利要求12所述的电路,所述信息记录模块还包括:汇聚子模块,所述汇聚子模块包括多个输入端,所述多个输入端与所述多个检测子模块一一对应电连接,所述汇聚子模块还包括一个输出端,所述输出端与所述获取子模块电连接;
所述汇聚子模块,用于将从所述检测子模块输入的异常事件请求信号输出至所述获取子模块。
14.根据权利要求1所述的电路,所述存储模块的个数为多个,多个存储模块与所述至少两个处理模块一一对应;
所述存储模块,具体用于在对应处理模块处理所述输入对象之后,存储对应处理模块针对所述输入对象的输出信息。
15.根据权利要求1所述的电路,所述控制模块用于与处理器电连接,所述处理器用于控制所述电路;
所述第一控制模块,用于接收所述处理器根据用户输入发送的第一控制指令,所述第一控制指令用于指示所述用户需要进行异常检测的模块,并根据所述第一控制指令控制所述信息记录模块,以将所述用户需要进行异常检测的处理模块作为所述目标处理模块。
16.根据权利要求1所述的电路,所述电路还包括第二控制模块,所述控制模块用于与处理器电连接,所述处理器用于控制所述电路;
所述第二控制模块,用于接收所述处理器根据用户输入发送的第二控制指令,所述第二控制指令用于指示所述用户需要进行信息记录的模块,并根据所述第二控制指令控制所述存储模块,以将所述用户需要进行信息记录的处理模块作为所述至少两个处理模块。
17.一种信息收集方法,应用于集成电路,所述电路用于与存储设备电连接,所述电路包括多个处理模块,所述多个处理模块依次电连接,用于对输入至所述电路的输入对象依次进行处理,所述方法包括:
在所述多个处理模块中至少两个处理模块处理所述输入对象之后,存储所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息;
在所述输入对象触发所述至少两个处理模块中目标处理模块输出异常的情况下,读取所述输出信息并将所述输出信息存储至所述存储设备中。
18.根据权利要求17所述的方法,所述在所述输入对象触发所述至少两个处理模块中目标处理模块输出异常的情况下,读取所述输出信息并将所述输出信息存储至所述存储设备中,包括:
在检测到所述输入对象触发所述目标处理模块输出异常时,输出针对所述输入对象的异常事件请求信号;
根据所述异常事件请求信号,读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息,并将所述输出信息存储至所述存储设备中。
19.根据权利要求18所述的方法,所述存储所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息,包括:将所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息存储至与所述输入对象的标识对应的存储空间;
所述异常事件请求信号包括所述输入对象的标识;
所述根据所述异常事件请求信号,读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息,包括:根据所述异常事件请求信号,从与所述标识对应的存储空间中读取所述输出信息。
20.根据权利要求19所述的方法,依次输入至所述电路的多个对象的标识按照一定规律循环;
所述将所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息存储至与所述输入对象的标识对应的存储空间,包括:将所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息以及当前的时间信息对应存储至与所述输入对象的标识对应的存储空间;
所述根据所述异常事件请求信号,从与所述标识对应的存储空间中读取所述输出信息,包括:根据所述异常事件请求信号,从与所述标识对应的存储空间中读取时间信息,并在所述时间信息满足一定条件情况下,从与所述标识对应的存储空间中读取所述输出信息。
21.根据权利要求19所述的方法,所述异常事件请求信号还包括:所述目标处理模块输出异常的异常事件类型信息;
所述将所述输出信息存储至所述存储设备中,包括:将所述输出信息以及所述异常事件类型信息对应存储至所述存储设备中。
22.根据权利要求21所述的方法,所述将所述输出信息以及所述异常事件类型信息对应存储至所述存储设备中,包括:将所述异常事件类型信息作为索引,将所述输出信息作为所述索引对应的信息,存储至所述存储设备中。
23.根据权利要求19所述的方法,所述方法还包括:在所述至少两个处理模块处理所述输入对象之前,为所述输入对象分配标识。
24.根据权利要求18-23任一项所述的方法,所述方法还包括:在触发所述异常事件请求信号的情况下,获取当前时间戳;
所述将所述输出信息存储至所述存储设备中,包括:将所述输出信息以及所述当前时间戳对应存储至所述存储设备中。
25.根据权利要求24所述的方法,所述将所述输出信息以及所述当前时间戳对应存储至所述存储设备中,包括:将所述当前时间戳作为索引,将所述输出信息作为所述索引对应的信息,存储至所述存储设备中。
26.根据权利要求18-23任一项所述的方法,所述方法还包括:根据所述异常事件请求信号,读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象的前N个输入对象分别的输出信息,N为正整数;
所述将所述输出信息存储至所述存储设备中,包括:将所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息以及针对所述前N个输入对象分别的输出信息对应存储至所述存储设备中。
27.根据权利要求18-23任一项所述的方法,所述读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息,包括:按照所述至少两个处理模块的电连接顺序,依次读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象分别的输出信息;
所述将所述输出信息存储至所述存储设备中,包括:按照读取所述至少两个处理模块针对所述输入对象的分别输出信息的顺序,依次将所述输出信息存储至所述存储设备中。
28.根据权利要求18-23任一项所述的方法,所述目标处理模块的个数为多个。
29.根据权利要求17所述的方法,所述方法还包括:
接收所述处理器根据用户输入触发的第一控制指令,所述第一控制指令用于指示所述用户需要进行异常检测的模块;
根据所述第一控制指令控制所述检测子模块,以将所述用户需要进行异常检测的处理模块作为所述目标处理模块。
30.根据权利要求17所述的方法,所述方法还包括:
接收所述处理器根据用户输入触发的第二控制指令,所述第二控制指令用于指示所述用户需要进行信息记录的模块;
根据所述第二控制指令控制所述存储模块,以将所述用户需要进行信息记录的处理模块作为所述至少两个处理模块。
31.一种设备,所述设备包括处理器以及权利要求1-16任一项所述的集成电路以及存储设备;所述处理器与所述电路电连接,所述电路与所述存储设备电连接;
所述集成电路,用于根据所述处理器的控制,从所述存储设备中读取针对输入对象的输出信息,并将读取到的输出信息返回至所述处理器;
所述处理器,用于控制所述集成电路,接收所述集成电路根据控制返回的所述输出信息,并将所述输出信息提示给用户。
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005020075A1 (de) * 2003-08-20 2005-03-03 Infineon Technologies Ag Elektrische diagnoseschaltung sowie verfahren zum testen und/oder zur diagnose einer integrierten schaltung
WO2008023577A1 (fr) * 2006-08-24 2008-02-28 Nec Corporation Circuit et procédé de prévision de panne et circuit intégré à semi-conducteurs
CN101916306A (zh) * 2010-07-16 2010-12-15 北京航空航天大学 一种用于fpga芯片敏感区域定位的系统及其方法
CN103593271A (zh) * 2012-08-13 2014-02-19 中兴通讯股份有限公司 一种片上系统芯片追踪调试的方法及装置
US9400311B1 (en) * 2015-03-31 2016-07-26 Cadence Design Systems, Inc. Method and system of collective failure diagnosis for multiple electronic circuits
CN107238789A (zh) * 2016-11-28 2017-10-10 华润赛美科微电子(深圳)有限公司 故障检测记录方法和基于pc机的集成电路故障记录系统
CN107942240A (zh) * 2017-11-15 2018-04-20 深圳市紫光同创电子有限公司 Fpga芯片中dsp模块的功能测试方法及装置
CN108020769A (zh) * 2016-10-28 2018-05-11 深圳市中兴微电子技术有限公司 一种集成电路测试的方法和装置
CN111587378A (zh) * 2017-11-15 2020-08-25 普罗泰克斯公司 集成电路裕度测量和故障预测设备

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2591071B2 (ja) * 1988-06-08 1997-03-19 横河電機株式会社 Lsiテストシステム
JPH04152278A (ja) * 1990-10-17 1992-05-26 Hitachi Ltd Ic試験装置
JP3145976B2 (ja) * 1998-01-05 2001-03-12 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 半導体集積回路
CN102305909B (zh) * 2011-09-09 2013-12-04 西安华芯半导体有限公司 分布式测试节点链及其多链系统
CN210051856U (zh) * 2019-05-05 2020-02-11 中国人民解放军陆军工程大学 集成电路测试仪

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005020075A1 (de) * 2003-08-20 2005-03-03 Infineon Technologies Ag Elektrische diagnoseschaltung sowie verfahren zum testen und/oder zur diagnose einer integrierten schaltung
WO2008023577A1 (fr) * 2006-08-24 2008-02-28 Nec Corporation Circuit et procédé de prévision de panne et circuit intégré à semi-conducteurs
CN101916306A (zh) * 2010-07-16 2010-12-15 北京航空航天大学 一种用于fpga芯片敏感区域定位的系统及其方法
CN103593271A (zh) * 2012-08-13 2014-02-19 中兴通讯股份有限公司 一种片上系统芯片追踪调试的方法及装置
US9400311B1 (en) * 2015-03-31 2016-07-26 Cadence Design Systems, Inc. Method and system of collective failure diagnosis for multiple electronic circuits
CN108020769A (zh) * 2016-10-28 2018-05-11 深圳市中兴微电子技术有限公司 一种集成电路测试的方法和装置
CN107238789A (zh) * 2016-11-28 2017-10-10 华润赛美科微电子(深圳)有限公司 故障检测记录方法和基于pc机的集成电路故障记录系统
CN107942240A (zh) * 2017-11-15 2018-04-20 深圳市紫光同创电子有限公司 Fpga芯片中dsp模块的功能测试方法及装置
CN111587378A (zh) * 2017-11-15 2020-08-25 普罗泰克斯公司 集成电路裕度测量和故障预测设备

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