CN113406078B - 一种痕迹检验测量装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种痕迹检验测量装置，属于法庭科学物证痕迹检验鉴定技术领域，包括底第一固定座和第二固定座，所述第一固定座远离底板的一面设有吸引部件，所述吸引部件和第一固定座之间设有用于调节吸引部件位置的调节部件；所述吸引部件吸附有容纳部件，所述容纳部件包括结构支撑框，显微镜探入板和测量固定板。本发明科学合理，容纳部件有利于从多个方向对物证进行固定，使得物证每个面、每个角落都可呈现在显微镜下。固定时对物证的挤压力可根据不同形状的物证进行调节，避.免压力过大而在夹持过程中对物证表面造成微小损害，保证了物证痕迹测量的精确度。吸引部件可根据使用需求选择吸附的容纳部件的数量，有利于测量装置将两个物证对比测量。

Description

一种痕迹检验测量装置

技术领域

本发明涉及法庭科学物证痕迹检验鉴定技术领域，具体是一种痕迹检验测量装置。

背景技术

在我国法庭科学物证痕迹检验鉴定工作中，多采用显微镜、数字显微镜并配合游标卡尺等辅助工具对枪弹弹壳等物证的痕迹进行比对鉴定。对于枪弹弹壳，在进行人工研判中需要采集、测量射击弹壳的装弹、击发、退壳过程中残留的次生痕迹特征。对痕迹信息的检验鉴定仍停留在借助单一的直接观察二维图像比对的技术层面上，无法解决在三维空间物体形貌技术和痕迹比对技术中存在的精确定位测量难题。目前的装置无法对物证稳固夹持，在夹持的同时无法任意调节物证的角度，不能确保显微镜可观测到物证的任何角度的表面。此外，对于体积较大的物证来说，若夹持力过大，夹持过程中易对物证表面造成微小损害，影响痕迹的鉴别。所以，人们需要一种痕迹检验测量装置来解决上述问题。

发明内容

发明目的：本发明目的在于针对现有技术，提供一种痕迹检验测量装置解决的问题。

技术方案：本发明所述一种痕迹检验测量装置，包括底板，所述底板上方固定有第一固定座和第二固定座，所述第二固定座远离底板的一面设有显微镜一个或多个，其特征在于：所述第一固定座远离底板的一面设有吸引部件，所述吸引部件和第一固定座之间设有用于调节吸引部件位置的调节部件；

所述吸引部件包括与调节部件相固定的支撑板，所述支撑板另一面固定有弹簧板，弹簧板两端包裹有第一拉板和第二拉板，所述第一拉板和第二拉板靠近调节部件的一面分别设有第一活动足和第二活动足，所述第一活动足和第二活动足与调节部件滑动连接；所述第一拉板和第二拉板分离状态下，弹簧板弹出且高度与第一拉板、第二拉板齐平；所述第一拉板和第二拉板并拢状态下，弹簧板被第一拉板、第二拉板包裹；

所述吸引部件远离调节部件的一面吸附有用于固定物证的容纳部件，所述容纳部件数量与显微镜数量一致；所述容纳部件包括呈多面体状的结构支撑框，所述结构支撑框一面活动吸附有用于显微镜探入的显微镜探入板；所述结构支撑框其他面活动吸附有测量固定板；

所述测量固定板包括与结构支撑框吸附的固定框，所述固定框内交错垂直固定有刻度条若干，各所述刻度条上设有螺纹孔若干，螺纹孔内旋转连接有起固定作用的固定部件。

调节部件有利于调节吸引部件的位置，从而调节容纳部件的位置，有利于显微镜对物证进行观测。为了固定容纳部件，设置了吸引部件，可将容纳部件固定在任意位置。容纳部件有利于放置并固定物证，可任意调节物证的角度并对其夹持，能确保显微镜可观测到物证的任何角度的表面。

吸引部件中，第一拉板和第二拉板并拢时，上方可吸附一个容纳部件。为了使得装置可同时对比观察两个物证，设置了弹簧板，增大了吸引部件的表面积，可吸附两个容纳部件，不使用时也便于将弹簧板收纳在第一拉板和第二拉板内部。第一活动足和第二活动足有利于滑动第一拉板和第二拉板。

容纳部件中，结构支撑框作为支撑整个容纳部件的框架，多面体状有利于从不同方向对物证固定，使得物证呈任意角度放置。为了便于显微镜探入容纳部件中对物证进行观测，设置了显微镜探入板。测量固定板有利于固定部件对物证固定。固定框有利于测量固定板吸附在结构支撑框上。为了对容纳部件内的物证固定，设置了刻度条，螺纹孔有利于调节固定部件进入结构支撑框内的长度，从而调节固定部件对物证的挤压力大小，适用于各种形状的物证，避免压力过大而在夹持过程中对物证表面造成微小损害，保证了物证痕迹测量的精确度。多个螺纹孔有利于从多个方向对物证进行固定，使得物证每个面、每个角落都可呈现在显微镜下。

优选的，所述调节部件包括与第一固定座固定的横向位移板，所述横向位移板远离第一固定座的一面设有横向滑槽，所述横向滑槽内活动连接有第一滑条，所述第一滑条远离横向滑槽的一面固定有纵向位移板，调节纵向位移板时所述第一滑条在横向滑槽内滑动；

所述纵向位移板远离第一滑条的一面设有与横向滑槽垂直的纵向滑槽，所述纵向滑槽内活动连接有第二滑条，所述第二滑条远离纵向位移板的一面与支撑板相固定，调节吸引部件时所述第二滑条在纵向滑槽内滑动。

为了使得纵向位移板可滑动，设置了横向滑槽和第一滑条。为了使得吸引部件可滑动，设置了纵向滑槽和第二滑条。调节纵向位移板，可实现吸引部件横向方向位移。调节吸引部件本身，可实现吸引部件纵向方向的位移。

优选的，所述横向位移板与底板垂直的侧面间隔设有第一限位孔若干，所述第一滑条靠近第一限位孔的一面设有第一探入孔；所述纵向位移板与底板垂直的侧面间隔设有第二限位孔若干，所述第二滑条靠近第二限位孔的一面设有第二探入孔；所述第一限位孔和第一探入孔之间、第二限位孔和第二探入孔之间均连接有限位部件；连接限位部件状态下，纵向位移板和吸引部件位置得到限定；卸下限位部件状态下，纵向位移板和吸引部件位置解除限定。

为了限定调节后的纵向位移板和吸引部件的位置，设置了限位部件，避免使用过程中吸引部件位置发生移动，从而影响观测。

优选的，所述限位部件包括用于连接第一限位孔和第一探入孔或连接第二限位孔和第二探入孔的限位主体，所述限位主体一侧设有连接块，所述连接块另一侧设有深入块；所述深入块分别嵌合在第一限位孔、第一探入孔、第二限位孔和第二探入孔内。

限位部件同时连接第一限位孔和第一探入孔，避免纵向位移板位移；同时连接第二限位孔和第二探入孔，避免吸引部件位移。

优选的，所述弹簧板包括设有凹槽的板体，所述凹槽底面固定有弹簧，所述弹簧另一面固定有活动板；所述第一拉板和第二拉板分离状态下，弹簧伸展，活动板高度与第一拉板、第二拉板平齐；所述第一拉板和第二拉板并拢状态下，活动板位于第一拉板、第二拉板内部，弹簧为压缩状态。

在需要多个物证需要对比观测时，分离第一拉板和第二拉板，活动板在弹簧的作用下弹出，且活动板弹出后的高度与第一拉板、第二拉板平齐。在只需要放置一个物证的情况下，下压活动板并合拢第一拉板和第二拉板即可，有利于活动板的收纳，使用便捷。

优选的，所述第二滑条上设有次滑槽，所述第一活动足和第二活动足与次滑槽滑动连接。

优选的，所述固定部件包括一个或多个分体；各所述分体包括长杆，所述长杆一端设有固定孔，另一端设有旋入固定孔内的固定头，与物证接触的所述固定头外部包裹有接触层。

多个分体有利于调节固定部件的长度，避免露在测量固定板外的长度过长、从而影响显微镜、多个容纳部件的位置的调节。固定孔和固定头有利于各个分体之间的连接。接触层与物证直接接触，在固定物证的同时可避免损坏物证。

优选的，所述第二固定座上固定有伸缩柱，所述伸缩柱另一端固定有滑动条，所述显微镜通过铰接支架与滑动条连接。伸缩柱有利于调节显微镜的高度，铰接支架和滑动条有利于调节显微镜与容纳部件之间的距离。

优选的，所述刻度条上标注有刻度表。在利用显微镜观察的同时，刻度表可辅助告诉人们痕迹的长度。根据垂直交错的刻度条，也可估计面积。

优选的，所述第一拉板、第二拉板靠近容纳部件的一面设有磁铁，所述活动板、结构支撑框的材质为磁铁。

第一拉板和第二拉板表面的磁铁有利于吸附容纳部件。结构支撑框材质为磁铁，有利于吸附显微镜探入板和测量固定板，有利于根据需求选择安装测量固定板的数量。

有益效果：(1)本装置设有用于固定物证的容纳部件，包括结构支撑框和灵活吸附的显微镜探入板和测量固定板，将物证放在结构支撑框内后，将固定部件贯穿测量固定板上的螺纹孔，通过不同方向的固定部件上的接触层固定物证。结构支撑框作为支撑整个容纳部件的框架，多面体状的结构支撑架有利于从不同方向对物证固定，使得物证呈任意角度放置。测量固定板可以根据使用需要灵活安装数量，有利于固定部件对物证固定，其内部的螺纹孔有利于调节固定部件进入结构支撑框内的长度，从而调节固定部件对物证的挤压力大小，适用于各种形状的物证，避免压力过大而在夹持过程中对物证表面造成微小损害，保证了物证痕迹测量的精确度。多个螺纹孔有利于从多个方向对物证进行固定，使得物证每个面、每个角落都可呈现在显微镜下。利用容纳部件固定物证，可将物证稳固夹持，在夹持的同时可任意调节物证的角度，确保显微镜可观测到物证的任何角度的表面。

(2)本装置设有吸引部件，可根据使用需求选择吸附的容纳部件的数量，有利于测量装置将两个物证对比测量。吸引部件中的第一拉板和第二拉板并拢时，上方可吸附一个容纳部件。吸引部件中的第一拉板和第二拉板分离时，弹簧板上的活动板在弹簧的作用下上升，且高度与第一拉板和第二拉板平齐，增大了吸引部件的表面积，可吸附两个容纳部件。吸引部件的表面面积可根据物证的数量增大或减小，满足了使用的多元性，缩小了吸引部件所占用的空间。

(3)本装置设有调节部件，调节部件包括横向位移板和横向滑槽，横向滑槽内活动连接有第一滑条，还包括纵向位移板和纵向滑槽，纵向滑槽内活动连接有第二滑条；通过调节纵向位移板，可实现吸引部件横向方向位移，调节吸引部件本身可实现吸引部件纵向方向的位移。通过对吸引部件横向和纵向方向的移动，有利于调节容纳部件的位置，便于人们利用显微镜进行观察和测量。调节容纳部件的位置无需使用电能，节能省电，绿色环保。本装置还设有限位部件，限位部件同时连接第一限位孔和第一探入孔，避免纵向位移板位移，同时连接第二限位孔和第二探入孔，避免吸引部件位移，从而达到限定调节后的纵向位移板和吸引部件的位置的目的，避免使用过程中吸引部件位置发生移动，从而影响观测。

(4)本装置固定部件包括多个分体，通过各分体上的固定孔和固定头依次螺纹连接，便于调节固定部件的长度，避免露在测量固定板外的长度过长、从而影响显微镜、多个容纳部件的位置的调节。固定层上的接触层与物证直接接触，在固定物证的同时可避免损坏物证。

附图说明

图1为本发明一种痕迹检验测量装置的立体结构示意图；

图2为本发明一种痕迹检验测量装置的左侧视结构示意图；

图3为本发明一种痕迹检验测量装置的吸引部件展开结构示意图；

图4为本发明一种痕迹检验测量装置的限位部件结构示意图；

图5为本发明一种痕迹检验测量装置的吸引部件结构示意图；

图6为本发明一种痕迹检验测量装置的弹簧板结构示意图；

图7为本发明一种痕迹检验测量装置的容纳部件结构示意图；

图8为本发明一种痕迹检验测量装置的固定部件结构示意图；

图中标号：1、底板；2、第一固定座；3、横向位移板；4、横向滑槽；5、第一限位孔；6、第一滑条；7、限位部件；701、限位主体；702、连接块；703、深入块；8、纵向位移板；9、纵向滑槽；10、第二限位孔；11、第二滑条；12、次滑槽；13、吸引部件；1301、第一拉板；1302、第一活动足；1303、第二拉板；1304、第二活动足；1305、弹簧板；1305-1、板体；1305-2、弹簧；1305-3、活动板；1306、支撑板14、容纳部件；15、结构支撑框；16、显微镜探入板；17、测量固定板；1701、固定框；1702、刻度条；1703、螺纹孔；18、固定部件；1801、长杆；1802、固定孔；1803、固定头；1804、接触层；19、第二固定座；20、伸缩柱；21、滑动条；22、铰接支架；23、显微镜。

具体实施方式

下面通过附图对本发明技术方案进行详细说明，但是本发明的保护范围不局限于实施例。

实施例1：如图1-8所示，一种痕迹检验测量装置，包括底板1，底板1上方固定有第一固定座2和第二固定座19，第二固定座19远离底板1的一面设有显微镜23一个或多个，其特征在于：第一固定座2远离底板1的一面设有吸引部件13，吸引部件13和第一固定座2之间设有用于调节吸引部件13位置的调节部件；调节部件用于调节吸引部件13的位置，从而调节容纳部14件的位置，便于显微镜23对物证进行观测。吸引部件13可将容纳部件14固定在任意位置。容纳部件14用于放置并固定物证，可任意调节物证的角度并对其夹持，能确保显微镜23可观测到物证的任何角度的表面。

吸引部件13包括与调节部件相固定的支撑板1306，支撑板1306另一面固定有弹簧板1305，弹簧板1305两端包裹有第一拉板1301和第二拉板1303，第一拉板1301和第二拉板1303靠近调节部件的一面分别设有第一活动足1302和第二活动足1304，第一活动足1302和第二活动足1304与调节部件滑动连接，便于滑动第一拉板1301和第二拉板1303；第一拉板1301和第二拉板1303分离状态下，弹簧板1305弹出且高度与第一拉板1301、第二拉板1303齐平；第一拉板1301和第二拉板1303并拢状态下，弹簧板1305被第一拉板1301、第二拉板1303包裹；第一拉板1301和第二拉板1303并拢时，上方可吸附一个容纳部件14。弹簧板1305使得装置可同时对比观察两个物证，，增大了吸引部件13的表面积，可吸附两个容纳部件14，不使用时也便于将弹簧板1305收纳在第一拉板1301和第二拉板1303内部。

吸引部件13远离调节部件的一面吸附有用于固定物证的容纳部件14，容纳部件14数量与显微镜23数量一致；容纳部件14包括呈六面体状的结构支撑框15，作为支撑整个容纳部件14的框架，六面体状便于从不同方向对物证固定，使得物证呈任意角度放置；结构支撑框15一面活动吸附有用于显微镜23探入的显微镜探入板16，便于显微镜23探入容纳部件14中对物证进行观测；结构支撑框15其他五面活动吸附有测量固定板17，结合固定部件18对物证固定；

测量固定板17包括与结构支撑框15吸附的固定框1701，使得测量固定板17吸附在结构支撑框15上；固定框1701内交错垂直固定有刻度条1702若干，各刻度条1702上设有螺纹孔1703若干，螺纹孔1703内旋转连接有起固定作用的固定部件18。螺纹孔1703调节固定部件18进入结构支撑框15内的长度，从而调节固定部件18对物证的挤压力大小，适用于各种形状的物证，避免压力过大而在夹持过程中对物证表面造成微小损害，保证了物证痕迹测量的精确度。多个螺纹孔1703从多个方向对物证进行固定，使得物证每个面、每个角落都可呈现在显微镜23下。

调节部件包括与第一固定座2固定的横向位移板3，横向位移板3远离第一固定座2的一面设有横向滑槽4，横向滑槽4内活动连接有第一滑条6，第一滑条6远离横向滑槽4的一面固定有纵向位移板8，调节纵向位移板8时第一滑条6在横向滑槽4内滑动；调节纵向位移板8，可实现吸引部件13横向方向位移。

纵向位移板8远离第一滑条6的一面设有与横向滑槽4垂直的纵向滑槽9，纵向滑槽9内活动连接有第二滑条11，第二滑条11远离纵向位移板8的一面与支撑板1306相固定，调节吸引部件13时第二滑条11在纵向滑槽9内滑动。调节吸引部件13本身，可实现吸引部件13纵向方向的位移。

横向位移板3与底板1垂直的侧面间隔设有第一限位孔5若干，第一滑条6靠近第一限位孔5的一面设有第一探入孔；纵向位移板8与底板1垂直的侧面间隔设有第二限位孔10若干，第二滑条11靠近第二限位孔10的一面设有第二探入孔；第一限位孔5和第一探入孔之间、第二限位孔10和第二探入孔之间均连接有限位部件7；连接限位部件7状态下，纵向位移板8和吸引部件13位置得到限定；卸下限位部件7状态下，纵向位移板8和吸引部件13位置解除限定。限位部件7限定调节后的纵向位移板8和吸引部件13的位置，避免使用过程中吸引部件13位置发生移动，从而影响观测。

限位部件7包括用于连接第一限位孔5和第一探入孔或连接第二限位孔10和第二探入孔的限位主体701，限位主体701一侧设有连接块702，连接块702另一侧设有深入块703；深入块703分别嵌合在第一限位孔5、第一探入孔、第二限位孔10和第二探入孔内。限位部件7同时连接第一限位孔5和第一探入孔，避免纵向位移板8位移；同时连接第二限位孔10和第二探入孔，避免吸引部件13位移。

弹簧板1305包括设有凹槽的板体1305-1，凹槽底面固定有弹簧1305-2，弹簧1305-2另一面固定有活动板1305-3；在需要多个物证需要对比观测时，分离第一拉板1301和第二拉板1303，活动板1305-3在弹簧1305-2的作用下弹出，且弹出后的活动板1305-3高度与第一拉板1301、第二拉板1303平齐；只需要放在置一个物证的情况下，下压活动板1305-3并合拢第一拉板1301和第二拉板1303，活动板1305-3位于第一拉板1301、第二拉板1303内部，弹簧1305-2为压缩状态。

第二滑条11上设有次滑槽12，第一活动足1302和第二活动足1304与次滑槽12滑动连接。

固定部件18包括三个分体，三个分体便于调节固定部件18的长度，避免露在测量固定板17外的长度过长、从而影响显微镜23、多个容纳部件14的位置的调节。各分体包括长杆1801，长杆1801一端设有固定孔1802，另一端设有旋入固定孔1802内的固定头1803，与物证接触的固定头1803外部包裹有接触层1804。固定孔1802和固定头1803用于各个分体之间的连接。接触层1804与物证直接接触，在固定物证的同时可避免损坏物证。

第二固定座19上固定有伸缩柱20，伸缩柱20另一端固定有滑动条21，显微镜23通过铰接支架22与滑动条21连接。伸缩柱20调节显微镜23的高度，铰接支架22和滑动条21调节显微镜23与容纳部件14之间的距离。

刻度条1702上标注有刻度表。在利用显微镜观察的同时，刻度表可辅助告诉人们痕迹的长度。根据垂直交错的刻度条1702，也可估计面积。

第一拉板1301、第二拉板1303靠近容纳部件14的一面设有磁铁，用于吸附容纳部件14；活动板1305-3、结构支撑框15的材质为磁铁。结构支撑框15材质为磁铁，用于吸附显微镜探入板16和测量固定板17，可根据需求选择安装测量固定板17的数量。

本发明的工作原理是：使用时，若只需观测一个物证，在结构支撑框15底部吸附上测量固定板17，将物证放入结构支撑框15内。在结构支撑框15一个相对的侧面吸附上测量固定板17，调节物证的位置和角度，将多个固定部件18分别旋转贯穿测量固定板17上的螺纹孔1703，使得接触层1804与物证相接触，并初步固定物证；接着，在结构支撑框15另一个相对的侧面吸附上测量固定板17，继续将固定部件18旋转贯穿螺纹孔1703，调节固定部件18伸入螺纹孔1703的长度和位置以调节物证固定的角度和位置；物证固定完毕后，可将裸露在测量固定板17外侧的固定部件18上的分体旋转拆卸下来，避免固定部件18过长而影响观测人员操作。将上述固定好物证后的容纳部件14吸附在吸引部件13上方，调节伸缩柱20、滑动条21和铰接支架22来调节显微镜23的位置，将显微镜23探入容纳部件对物证进行观测。若需要调节容纳部件14的位置，还可通过调节吸引部件13实现。调节纵向位移板8、第一滑条6在横向滑槽4内滑动，可实现吸引部件13横向方向位移。调节吸引部件13时第二滑条11在纵向滑槽9内滑动，可实现吸引部件13纵向方向的位移。调节完毕后，利用限位部件7同时嵌入并连接第一限位孔5和第一探入孔，避免纵向位移板8位移；同时连接第二限位孔10和第二探入孔，避免吸引部件13位移。若需要观测两个物证，分离第一拉板1301和第二拉板1303，弹簧板1305弹出且高度与第一拉板1301、第二拉板1303齐平，此时吸引部件13表面可放置两个容纳部件；使用完毕后，下压活动板1305-3并合拢第一拉板1301和第二拉板1303即可。

如上所述，尽管参照特定的优选实施例已经表示和表述了本发明，但其不得解释为对本发明自身的限制。在不脱离所附权利要求定义的本发明的精神和范围前提下，可对其在形式上和细节上作出各种变化。

Claims (10)

1.一种痕迹检验测量装置，包括底板（1），所述底板（1）上方固定有第一固定座（2）和第二固定座（19），所述第二固定座（19）远离底板（1）的一面设有显微镜（23）一个或多个，其特征在于：所述第一固定座（2）远离底板（1）的一面设有吸引部件（13），所述吸引部件（13）和第一固定座（2）之间设有用于调节吸引部件（13）位置的调节部件；

所述吸引部件（13）包括与调节部件相固定的支撑板（1306），所述支撑板（1306）另一面固定有弹簧板（1305），弹簧板（1305）两端包裹有第一拉板（1301）和第二拉板（1303），所述第一拉板（1301）和第二拉板（1303）靠近调节部件的一面分别设有第一活动足（1302）和第二活动足（1304），所述第一活动足（1302）和第二活动足（1304）与调节部件滑动连接；所述第一拉板（1301）和第二拉板（1303）分离状态下，弹簧板（1305）弹出且高度与第一拉板（1301）、第二拉板（1303）齐平；所述第一拉板（1301）和第二拉板（1303）并拢状态下，弹簧板（1305）被第一拉板（1301）、第二拉板（1303）包裹；

所述吸引部件（13）远离调节部件的一面吸附有用于固定物证的容纳部件（14），所述容纳部件（14）数量与显微镜（23）数量一致；所述容纳部件（14）包括呈多面体状的结构支撑框（15），所述结构支撑框（15）一面活动吸附有用于显微镜（23）探入的显微镜探入板（16）；所述结构支撑框（15）其他面活动吸附有测量固定板（17）；

所述测量固定板（17）包括与结构支撑框（15）吸附的固定框（1701），所述固定框（1701）内交错垂直固定有刻度条（1702）若干，各所述刻度条（1702）上设有螺纹孔（1703）若干，螺纹孔（1703）内旋转连接有起固定作用的固定部件（18）。

2.根据权利要求1所述的一种痕迹检验测量装置，其特征在于：所述调节部件包括与第一固定座（2）固定的横向位移板（3），所述横向位移板（3）远离第一固定座（2）的一面设有横向滑槽（4），所述横向滑槽（4）内活动连接有第一滑条（6），所述第一滑条（6）远离横向滑槽（4）的一面固定有纵向位移板（8），调节纵向位移板（8）时所述第一滑条（6）在横向滑槽（4）内滑动；

所述纵向位移板（8）远离第一滑条（6）的一面设有与横向滑槽（4）垂直的纵向滑槽（9），所述纵向滑槽（9）内活动连接有第二滑条（11），所述第二滑条（11）远离纵向位移板（8）的一面与支撑板（1306）相固定，调节吸引部件（13）时所述第二滑条（11）在纵向滑槽（9）内滑动。

3.根据权利要求2所述的一种痕迹检验测量装置，其特征在于：所述横向位移板（3）与底板（1）垂直的侧面间隔设有第一限位孔（5）若干，所述第一滑条（6）靠近第一限位孔（5）的一面设有第一探入孔；所述纵向位移板（8）与底板（1）垂直的侧面间隔设有第二限位孔（10）若干，所述第二滑条（11）靠近第二限位孔（10）的一面设有第二探入孔；所述第一限位孔（5）和第一探入孔之间、第二限位孔（10）和第二探入孔之间均连接有限位部件（7）；连接限位部件（7）状态下，纵向位移板（8）和吸引部件（13）位置得到限定；卸下限位部件（7）状态下，纵向位移板（8）和吸引部件（13）位置解除限定。

4.根据权利要求3所述的一种痕迹检验测量装置，其特征在于：所述限位部件（7）包括用于连接第一限位孔（5）和第一探入孔或连接第二限位孔（10）和第二探入孔的限位主体（701），所述限位主体（701）一侧设有连接块（702），所述连接块（702）另一侧设有深入块（703）；所述深入块（703）分别嵌合在第一限位孔（5）、第一探入孔、第二限位孔（10）和第二探入孔内。

5.根据权利要求1所述的一种痕迹检验测量装置，其特征在于：所述弹簧板（1305）包括设有凹槽的板体（1305-1），所述凹槽底面固定有弹簧（1305-2），所述弹簧（1305-2）另一面固定有活动板（1305-3）；所述第一拉板（1301）和第二拉板（1303）分离状态下，弹簧（1305-2）伸展，活动板（1305-3）高度与第一拉板（1301）、第二拉板（1303）平齐；所述第一拉板（1301）和第二拉板（1303）并拢状态下，活动板（1305-3）位于第一拉板（1301）、第二拉板（1303）内部，弹簧（1305-2）为压缩状态。

6.根据权利要求3所述的一种痕迹检验测量装置，其特征在于：所述第二滑条（11）上设有次滑槽（12），所述第一活动足（1302）和第二活动足（1304）与次滑槽（12）滑动连接。

7.根据权利要求1所述的一种痕迹检验测量装置，其特征在于：所述固定部件（18）包括一个或多个分体；各所述分体包括长杆（1801），所述长杆（1801）一端设有固定孔（1802），另一端设有旋入固定孔（1802）内的固定头（1803），与物证接触的所述固定头（1803）外部包裹有接触层（1804）。

8.根据权利要求1所述的一种痕迹检验测量装置，其特征在于：所述第二固定座（19）上固定有伸缩柱（20），所述伸缩柱（20）另一端固定有滑动条（21），所述显微镜（23）通过铰接支架（22）与滑动条（21）连接。

9.根据权利要求1所述的一种痕迹检验测量装置，其特征在于：所述刻度条（1702）上标注有刻度表。

10.根据权利要求5所述的一种痕迹检验测量装置，其特征在于：所述第一拉板（1301）、第二拉板（1303）靠近容纳部件（14）的一面设有磁铁，所述活动板（1305-3）、结构支撑框（15）的材质为磁铁。

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