CN113396325A - 用于化学分析仪的多用途采样设备 - Google Patents

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Abstract

一种采样设备包括与痕量检测头和块体检测头联接的棒延伸部。痕量检测头收集最大量的样品以进行痕量检测分析。块体检测头收集极少量的样品以用于在块体样品识别中使用。

Description

用于化学分析仪的多用途采样设备
相关申请
本申请要求于2019年1月14日提交的美国临时申请号62/792,009的权益。上述申请的全部传授内容通过援引并入本文。
背景技术
用于痕量检测的分析仪器(包含离子迁移谱仪、质谱仪和化学传感器装置(例如，气相色谱仪、电化学传感器和荧光化学传感器))是被设计成从样品检测少量分析物(通常低至纳克)的高灵敏仪器。伴随痕量检测系统的是从物体或表面收集蒸气或残留物的采样设备。采样设备被设计成将收集效率最大化，以确保关注的物质高于仪器的检测水平。
当所引入的样品量在纳克至低微克的范围中时，痕量检测系统效果良好。当样品量太大时，分析仪器可能在仪器准备好进行后续分析之前需要一个(或多个)较长的清洁循环来减小记忆效应。出于此原因，痕量检测系统不太适合从块体样品(例如，粉末和药丸)对关注的物质进行材料识别。相应地，典型地使用其他类型的检测器(比如拉曼光谱仪或傅里叶变换红外光谱仪(FTIR))直接分析样品而不是用收集装置擦拭并通过痕量检测器分析，来从块体样品进行材料识别。
在一些情况下，使用痕量检测器从块体样品进行采样和分析需要利用多个可抛弃式样品收集拭子，以减少输送到检测器的材料量。这个过程既浪费又麻烦。
发明内容
本文所述的用于化学分析仪的采样设备允许从表面污染物收集最大量的残留物以进行痕量检测分析，以及从块体样品收集少量的残留物以进行块体检测分析。分析可以由各种各样的分析仪器执行。
本文描述了一种用于化学分析仪的采样设备。该采样设备可以包括：具有与痕量检测头和块体检测头联接的端部的棒延伸部。该痕量检测头可以包括：用于接纳拭子支撑件并被配置成与该棒延伸部联接的主体；以及用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持器。该块体检测头可以包括用于接纳块体收集器的主体。该块体收集器可以包括基部以及从该块体收集器的基部垂直延伸的构件。
该保持器可以是保持环。该痕量检测头的主体可以具有用于接纳连接到该保持环的梭子的凹槽。磁体可以定位在该凹槽内，以用于与定位在该梭子内的磁体磁耦合。该凹槽可以具有远端磁体和近端磁体，以用于将该梭子分别固持在打开位置和关闭位置。该拭子支撑件可以具有电阻加热元件。该电阻加热元件可以电联接到该痕量检测头的主体上的电触点。该电触点可以被配置成在该痕量检测头与分析仪器配准时接触该分析仪器的电触点。该拭子支撑件可以具有基部，该基部具有约1cm2到约100cm2的表面积。
从该块体收集器的基部垂直延伸的该构件可以进一步包括具有该电阻加热元件的基部。从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部可以具有小于约1cm2的表面积。从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部可以具有约0.1cm2到约1cm2的表面积。
该痕量检测头和该块体检测头中的一个或多个可以是可拆卸的。该棒延伸部可以具有用于与该痕量检测头的配合螺纹接口联接或者与该块体检测头的配合螺纹接口联接的螺纹接口。O形环或垫圈可以密封该棒延伸部与该痕量检测头或该块体检测头之间的接口。
本文描述了一种可拆卸的痕量检测头。该可拆卸的痕量检测头可以包括：用于接纳拭子支撑件并被配置成与棒延伸部联接的主体；以及用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持环。该痕量检测头的主体可以具有用于接纳连接到该保持环的梭子的凹槽。磁体可以定位在该凹槽内，以用于与定位在该梭子内的磁体磁耦合。该凹槽可以具有远端磁体和近端磁体，以用于将该梭子分别固持在打开位置和关闭位置。该拭子支撑件可以包括电阻加热元件，该电阻加热元件可以电联接到该痕量检测头的主体上的电触点。该拭子支撑件可以具有基部，该基部具有约1cm2到约100cm2的表面积。
本文描述了一种可拆卸的块体检测头。该可拆卸的块体检测头可以包括用于接纳块体收集器的主体。该块体收集器可以包括基部以及从该块体收集器的基部垂直延伸的构件。从该块体收集器的基部垂直延伸的该构件可以进一步包括具有该电阻加热元件的基部。从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部可以具有小于约1cm2的表面积。从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部可以具有约0.1cm2到约1cm2的表面积。
本文描述了一种用于采样设备的套件。该套件可以包括棒延伸部，该棒延伸部具有用于与检测头联接的相反端部；痕量检测头；以及块体检测头。该痕量检测头可以包括：用于接纳拭子支撑件并被配置成与该棒延伸部联接的主体；以及用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持器。该块体检测头可以包括用于接纳块体收集器的主体。该块体收集器可以包括基部以及从该块体收集器的基部垂直延伸的构件。
本文描述了一种用于采样设备的套件。该套件可以包括棒延伸部，该棒延伸部具有用于与检测头联接的相反端部；以及检测头，该检测头具有用于接纳拭子支撑件或块体收集器并被配置用于与该棒延伸部联接的主体。该套件可以进一步包括拭子支撑件。该套件可以进一步包括用于将拭子联接到该检测头的主体的保持器。该套件可以进一步包括块体收集器。
本文描述了一种用于化学分析仪的采样设备。该采样设备可以包括具有与痕量检测头联接的端部的棒延伸部。该痕量检测头可以包括：用于接纳拭子支撑件并被配置成与该棒延伸部联接的主体；以及用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持器。
本文描述了一种用于化学分析仪的采样设备。该采样设备可以包括具有与块体检测头联接的端部的棒延伸部。该块体检测头可以包括用于接纳块体收集器的主体。该块体收集器可以包括基部以及从该块体收集器的基部垂直延伸的构件。
本文描述了一种用于化学分析仪的采样设备。该设备可以包括：包括采样接口和棒延伸接口的痕量检测头；包括采样接口和棒延伸接口的块体检测头；以及棒延伸部，该棒延伸部包括该痕量检测头机械联接到的第一接口以及该块体检测头机械联接到的第二接口，该痕量检测头、该块体检测头和该棒延伸部的组合限定了棒。
该痕量检测头和该块体检测头可以分别通过该第一接口和该第二接口从该棒延伸部可拆卸地联接。当处于联接布置中时，该痕量检测头、该棒延伸部和该块体检测头形成线性设备。该痕量检测头采样接口限定了拭子支撑件，并且可以进一步包括被配置成在固定布置中将拭子联接到该拭子支撑件的保持器。该痕量检测头可以进一步包括与该拭子支撑件处于热连通的加热器元件。该痕量检测头可以进一步包括被配置成联接到该分析仪器的对应电接口的电接口。该电接口可以联接到该电接口与该加热器元件之间的电路径，以使得当该痕量检测头与该分析仪器处于联接布置中时，该加热器元件能够被通电并产生热。
该块体检测头采样接口可以包括具有集成加热器元件的收集器，该收集器从(i)该块体检测头的表面或(ii)联接到该块体检测头的元件的表面突出。
该块体检测头可以进一步包括被配置成联接到该分析仪器的对应电接口的电接口。该电接口可以联接到该电接口与该集成加热器元件之间的电路径，以使得当该块体检测头与该分析仪器处于联接布置中时，该集成加热器元件能够被通电并产生热。
样品可以由本文所述的任何采样设备分析。
附图说明
根据示例实施例的以下更具体的说明，上述内容将是明显的，如在这些附图中展示的，其中在所有这些不同的视图，相同的附图标记是指相同的部分。这些图不一定是按比例绘出，而是着重展示实施例。
图1A是具有痕量采样头和块体检测头的采样设备的分解立体图。图1B是具有痕量采样头和块体检测头的采样设备的分解侧视图。
图2A至图2C是图1A至图1B的采样设备，其中痕量检测头处于打开构型。图2A是没有采样拭子的立体图。图2B是具有采样拭子的立体图。图2C是痕量检测头的立体截面图。
图3A至图3C是图1A至图1B的采样设备，其中痕量检测头处于关闭构型。图3A是具有采样拭子的立体图。图3B是侧视截面图。图3C是痕量检测头的立体截面图。
图4是图1A至图1B的采样设备的立体图，示出了块体检测头。
图5是仅具有痕量检测头的采样设备的分解立体图。
图6是仅具有块体检测头的采样设备的分解立体图。
具体实施方式
示例实施例的描述如下。
痕量分析典型地包含在安全检查站擦拭关注的物品(比如，电子装置(例如、膝上型电脑、手机))，以检测是否存在少量关注的化学和/或生物分析物。常见的关注的分析物包含药物和其他受控物质、爆炸物和其他违禁品。安全检查站通常设置在机场和国际边境口岸。
块体分析典型地包含获得样品进行检测。例如，警察、边境管制人员和其他执法人员可能获得疑似违禁品样品进行检测。典型地，期望仅将少量(例如，纳克至低微克的范围)样品引入到分析仪器中。将过多样品引入到分析仪器中可能使仪器和相关联的设备(例如，检测器系统)过载。可以通过各种方式从块体样品收集样品并将其输送到分析仪器进行分析。一种方式是使块体检测头与块体样品接触极小。另一种方式是使块体检测头输送极少量的收集的材料。
在许多实施例中，采样设备具有两个样品收集头。痕量检测头被设计成使被收集以用于在痕量分析操作中使用的样品量最大化。块体检测头被设计成仅收集少量(例如，纳克至低微克的范围)样品以用于在块体分析操作中使用。当采样设备具有痕量检测头与块体检测头两者时，单个采样设备可以用于两种样品收集模式。
在其他实施例中，采样设备具有单个采样头(痕量或块体)，该采样头可以是可拆卸且可互换的。例如，痕量检测头或块体检测头可以被插入到棒延伸部上(与其联接)。
图1A和图1B是用于化学分析仪的采样设备10的实施例的示意图，该采样设备有时也被称为棒。采样设备10具有棒延伸部100、痕量检测头200和块体检测头300。典型地，棒延伸部100、痕量检测头200和块体检测头300是大致圆柱形的，但是圆柱形的几何形状不是必需的。棒延伸部100可以由塑料形成，但是其他材料也是允许的。痕量检测头200和块体检测头300可以由适合以低释气特性高温操作的材料形成。示例包含硅酮、塑料、陶瓷、碳纤维、碳纤维填充塑料、玻璃纤维和玻璃纤维填充塑料。
棒延伸部100由主体110形成，该主体可以是中空圆柱体。主体100的相反端部具有螺纹部分110a，该螺纹部分被配置成与痕量检测头200的螺纹部分240a或块体检测头300的螺纹部分340a联接。如图所示，螺纹部分110a是阳螺纹，螺纹部分240和340a是阴螺纹，但是这可以颠倒。O形环410或垫圈可以定位在棒延伸部100与痕量检测头200或块体检测头300的接口处，以有助于改进密封。
痕量检测头200被设计成在擦拭物品以收集样品来进行痕量分析时最大化表面积覆盖。优选地，痕量检测头最大化被收集以用于痕量分析的任何物质的释放。
如图所示，痕量检测头200具有带有支撑件215a和215b的主体210，该主体适于接纳拭子支撑件220。如图所示，主体210和拭子支撑件220是圆柱形的，但是这种几何形状不是必需的。拭子支撑件220具有侧表面220a和接纳拭子240的基部220b。在一些实施例中，拭子支撑件220具有约2cm的直径。在一些实施例中，圆形基部220b具有约1cm2到约100cm2的表面积。如图所示，主体210是中空的，但它不必需是中空的。
在一些实施例中，拭子支撑件220可以是可拆卸的。拭子支撑件220可以压配合到主体210上，该主体具有一个或多个支撑横向构件215a和215b。所展示的支撑横向构件215a和215b的特定几何形状和布置不是必需的，因为各种合适形状是允许的。如图所示，切口实体减轻了重量。在其他实施例中，拭子支撑件220是痕量检测头200的固定部件。
痕量检测头被配置成接纳采样拭子240，该采样拭子可以是可抛弃式的或可重复使用的。在图中所展示的实施例中，痕量检测头200包含套环或保持环260，该套环或保持环在主体210上横向滑动，以将采样拭子240联接到痕量检测头200。保持环260将推杆270接纳在接纳部分260a中。可以是金属的推杆270被配置成插入到梭子280中，该梭子内插入有磁体290a。主体210具有被配置成接纳推杆270的凹槽210a。凹槽210a内是远端磁体290b和近端磁体290c。磁体290a、290b和290c可以通过使用环氧树脂、胶水或其他粘合剂保持在适当位置中。
为了将采样拭子240放置到拭子支撑件220上，保持环260、推杆270和梭子280被放置在打开位置(图2A至图2C)。主体210的凹槽210a中的远端磁体290b与梭子280的磁体290a磁耦合，以将保持环260固持在打开位置。梭子280可以沿着主体210的凹槽210a滑动，直到梭子280的磁体290a与主体210的近端磁体290c磁耦合。以这种方式，磁体290a和290c的磁耦合固定了保持环260，以使得保持环将拭子240抵靠拭子支撑件220固持。
虽然所展示的特定实施例利用了保持环260，但是其他机构可以将采样拭子联接到痕量检测头。例如，采样拭子可以通过钩、夹具或两者联接到痕量检测头。
痕量检测采样拭子可以由各种材料形成。可抛弃式拭子通常由纸、棉、玻璃纤维、聚合物或其组合形成。可重复使用的拭子通常由玻璃纤维、金属网、碳、聚合物或其组合形成。
块体检测头300被设计成仅收集少量样品进行分析。优选地，块体检测头300最小化被收集进行块体分析的任何物质的释放。
如图所示，块体检测头300具有带有支撑件315a和315b的主体310，该主体适于接纳块体收集器320。如图所示，主体310和块体收集器320是圆柱形的，但是这种几何形状不是必需的。块体收集器320具有侧表面320a和基部320b。在一些实施例中，块体收集器320具有约2cm的直径。块体收集器320具有从基部320b大体垂直地向外延伸的构件325。如图所示，延伸构件325是圆柱形的，但是这种几何形状不是必需的。延伸构件325具有侧部部分325a和基部部分325b。在一些实施例中，延伸构件325具有约0.3cm到约0.65cm的直径。在一些实施例中，基部325b具有小于约1cm2的表面积。在一些实施例中，基部325b具有约0.1cm2到约1cm2的表面积。
在一些实施例中，块体收集器320是可拆卸的。块体收集器可以压配合到主体310上，该主体具有一个或多个支撑横向构件315a和315b。所展示的支撑横向构件315a和315b的特定几何形状和布置不是必需的，因为各种合适形状是允许的。如图所示，切口实体减轻了重量。在其他实施例中，块体收集器320是块体检测头300的固定部件。
如图所示，块体检测头300的主体310还包含凹槽310，类似于痕量检测头的主体210中的凹槽210a。以这种方式，主体310和主体210可以是可互换的，这取决于块体收集器320或拭子支撑件220联接到主体310还是主体210。
许多分析仪器只接受蒸气以进行电离，因此可能需要蒸发样品以进行分析。在一些实施例中，拭子支撑件220包含电阻加热元件230，该电阻加热元件电联接到电触点或接口230a，这些电触点或接口定位在设置在主体210的唇缘210b内的位置210c处。在一些实施例中，块体收集器包含电阻加热元件330，该电阻加热元件电联接到电触点或接口330a，这些电触点或接口定位在设置在主体310的唇缘310b内的位置310c处。在电阻加热元件230或330上施加电压分别引起拭子支撑件220或块体收集器320的温度升高，从而提高样品的脱附速率。如图所示，电阻加热元件330仅存在于延伸构件325的基部325b上，以提供基部325b的选择性加热。如图所示，加热元件330不存在于块体收集器320的基部320b上，但是在其他实施例中，电阻加热元件可以在块体收集器320的其他部分上。一些分析仪器提供足够的热以蒸发样品。因此，电阻加热元件不是必需的，但是包含电阻加热元件可以使样品脱附更有效。
痕量检测头200或其一部分以及块体检测头300或其一部分可以被配置成与分析仪器对齐，比如离子迁移谱仪、质谱仪、气相色谱仪、电化学传感器装置或荧光化学传感器装置。当痕量检测头200或块体检测头300插入到分析仪器中并与之配准时，电触点230a和330a与仪器入口上的配合导电元件形成电路。取决于分析仪器，电力可以自动接通，或者操作者的进一步动作可能是接通电力所需要的，此后，电流流向电阻加热元件230或330，以升高拭子支撑件220或块体收集器320的温度。当痕量检测头200或块体检测头300插入到分析仪器中并与之配准时，电触点230a和330a电联接到电源(例如，可切换电源)。接通电源允许将拭子支撑件220或块体收集器320电阻加热到预定义温度(例如，200℃)，以便蒸发进入到分析仪器中的样品。在一些实施例中，蒸气被主动泵送到分析仪器中。
块体收集器320典型地由允许拾取其上面的样品的材料形成。在一些实施例中，块体收集器320由硅酮形成。在一些实施例中，块体收集器320由陶瓷形成。在一些实施例中，块体收集器由在高温时展现出期望特性(包含耐热性、耐化学性、低释气和机械强度)的聚合物形成。示例聚合物包含聚酰亚胺和聚苯砜。拭子支撑件220可以由与块体收集器320相同的任何材料形成。
痕量检测头200和块体检测头300中的一个或两个可以从棒延伸部100上拆卸。例如，棒延伸部100的主体110可以具有用于与可拆卸的检测头的配合螺纹接口240a或340a联接的螺纹接口110a。因此，不同类型的可拆卸的检测头可以与主体100联接。在这个意义上，可拆卸的检测头是可互换的。用于机械联接的其他机构在本领域中是已知的，包含转锁机构和磁耦合机构。
在一些实施例中，如果被过度污染，拭子支撑件220或块体收集器320可以被拆卸并替换。因此，包含棒延伸部100、痕量检测头200和块体检测头300的采样设备10可以在附加新的拭子支撑件220或块体收集器320之后被清洁并重新使用，并且采样可以继续。
在一些实施例中，采样头可以被配置成通过物理、热、电、静电和化学控制向分析仪器收集和/或释放期望量的材料。
通过引用并入；等同物
所有专利、公开的申请以及本文引用的参考文献的传授内容都通过援引方式以其全文并入。
虽然已经具体示出和描述了示例实施例，但是本领域技术人员将理解，可在不背离由所附权利要求涵盖的实施例的范围的情况下在其中做出在形式和细节方面的各种改变。

Claims (39)

1.一种用于化学分析仪的采样设备，包括：
具有与痕量检测头和块体检测头联接的端部的棒延伸部；
其中，该痕量检测头包括：
用于接纳拭子支撑件并被配置成与该棒延伸部联接的主体；以及
用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持器；
其中，该块体检测头包括：
用于接纳块体收集器的主体，其中，该块体收集器包括基部以及从该块体收集器的基部垂直延伸的构件。
2.如权利要求1所述的采样设备，其中，该保持器是保持环。
3.如权利要求2所述的采样设备，其中，该痕量检测头的主体具有用于接纳连接到该保持环的梭子的凹槽。
4.如权利要求3所述的采样设备，其中，磁体定位在该凹槽内，以用于与定位在该梭子内的磁体磁耦合。
5.如权利要求4所述的采样设备，其中，该凹槽具有远端磁体和近端磁体，以用于将该梭子分别固持在打开位置和关闭位置。
6.如权利要求1至5中任一项所述的采样设备，其中，该拭子支撑件包括电阻加热元件。
7.如权利要求6所述的采样设备，其中，该电阻加热元件电联接到该痕量检测头的主体上的电触点。
8.如权利要求7所述的采样设备，其中，该电触点被配置成在该痕量检测头与分析仪器配准后接触该分析仪器的电触点。
9.如权利要求1所述的采样设备，其中，该拭子支撑件具有基部，该基部具有约1cm2到约100cm2的表面积。
10.如权利要求1至5中任一项所述的采样设备，其中，从该块体收集器的基部垂直延伸的该构件进一步包括具有该电阻加热元件的基部。
11.如权利要求10所述的采样设备，其中，从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部具有小于约1cm2的表面积。
12.如权利要求10所述的采样设备，其中，从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部具有约0.1cm2到约1cm2的表面积。
13.如权利要求1至5中任一项所述的采样设备，其中，该痕量检测头和该块体检测头中的一个或多个是可拆卸的。
14.如权利要求13所述的采样设备，其中，该棒延伸部具有用于与该痕量检测头的配合螺纹接口联接或者与该块体检测头的配合螺纹接口联接的螺纹接口。
15.如权利要求14所述的采样设备，进一步包括用于密封该棒延伸部与该痕量检测头或该块体检测头之间的接口的O形环或垫圈。
16.一种可拆卸的痕量检测头，包括：
用于接纳拭子支撑件并被配置成与棒延伸部联接的主体；以及
用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持环；
其中，该痕量检测头的主体具有用于接纳连接到该保持环的梭子的凹槽；
其中，磁体定位在该凹槽内，以用于与定位在该梭子内的磁体磁耦合。
17.如权利要求16所述的可拆卸的痕量检测头，其中，该凹槽具有远端磁体和近端磁体，以用于将该梭子分别固持在打开位置和关闭位置。
18.如权利要求16或17所述的采样设备，其中，该拭子支撑件包括电阻加热元件。
19.如权利要求18所述的可拆卸的痕量检测头，其中，该电阻加热元件电联接到该痕量检测头的主体上的电触点。
20.如权利要求16或17所述的可拆卸的痕量检测头，其中，该拭子支撑件具有基部，该基部具有约1cm2到约100cm2的表面积。
21.一种可拆卸的块体检测头，包括：
用于接纳块体收集器的主体，
其中，该块体收集器包括基部以及从该块体收集器的基部垂直延伸的构件；并且
其中，从该块体收集器的基部垂直延伸的该构件进一步包括具有该电阻加热元件的基部。
22.如权利要求21所述的可拆卸的块体检测头，其中，从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部具有小于约1cm2的表面积。
23.如权利要求21所述的可拆卸的块体检测头，其中，从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部具有约0.1cm2到约1cm2的表面积。
24.一种用于采样设备的套件，该套件包括：
棒延伸部，该棒延伸部具有用于与检测头联接的相反端部；
痕量检测头，该痕量检测头包括：
用于接纳拭子支撑件并被配置成与该棒延伸部联接的主体；以及
用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持器；
块体检测头，该块体检测头包括：
用于接纳块体收集器的主体，其中，该块体收集器包括基部以及从该块体收集器的基部垂直延伸的构件。
25.一种用于采样设备的套件，该套件包括：
棒延伸部，该棒延伸部具有用于与检测头联接的相反端部；
检测头，该检测头包括：
用于接纳拭子支撑件或块体收集器并被配置成与该棒延伸部联接的主体。
26.如权利要求25所述的套件，进一步包括拭子支撑件。
27.如权利要求25或26所述的套件，进一步包括用于将拭子联接到该检测头的主体的保持器。
28.如权利要求25或26所述的套件，进一步包括块体收集器。
29.一种用于化学分析仪的采样设备，包括：
具有与痕量检测头联接的端部的棒延伸部；
其中，该痕量检测头包括：
用于接纳拭子支撑件并被配置成与该棒延伸部联接的主体；以及
用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持器。
30.一种用于化学分析仪的采样设备，包括：
具有与块体检测头联接的端部的棒延伸部；
其中，该块体检测头包括：
用于接纳块体收集器的主体，其中，该块体收集器包括基部以及从该块体收集器的基部垂直延伸的构件。
31.一种用于化学分析仪的采样设备，该设备包括：
包括采样接口和棒延伸接口的痕量检测头；
包括采样接口和棒延伸接口的块体检测头；以及
棒延伸部，该棒延伸部包括该痕量检测头机械联接到的第一接口以及该块体检测头机械联接到的第二接口，该痕量检测头、该块体检测头和该棒延伸部的组合限定了棒。
32.根据权利要求31所述的设备，其中，该痕量检测头和该块体检测头分别通过该第一接口和该第二接口从该棒延伸部可拆卸地联接。
33.如权利要求31或32所述的设备，其中，当处于联接布置中时，该痕量检测头、该棒延伸部和该块体检测头形成线性设备。
34.如权利要求31或32所述的设备，其中，该痕量检测头采样接口限定了拭子支撑件，并且进一步包括被配置成在固定布置中将拭子联接到该拭子支撑件的保持器。
35.如权利要求31或32所述的设备，其中，该痕量检测头包括与该拭子支撑件处于热连通的加热器元件，并且其中，该痕量检测头进一步包括被配置成联接到该分析仪器的对应电接口的电接口，并且进一步其中，该电接口联接到该电接口与该加热器元件之间的电路径，以使得当该痕量检测头与该分析仪器处于联接布置中时，该加热器元件能够被通电并产生热。
36.如权利要求31或32所述的设备，其中，该块体检测头采样接口包括具有集成加热器元件的收集器，该收集器从(i)该块体检测头的表面或(ii)联接到该块体检测头的元件的表面突出。
37.根据权利要求36所述的设备，其中，该块体检测头进一步包括被配置成联接到该分析仪器的对应电接口的电接口，并且进一步其中，该电接口联接到该电接口与该集成加热器元件之间的电路径，以使得当该块体检测头与该分析仪器处于联接布置中时，该集成加热器元件能够被通电并产生热。
38.一种分析样品的方法，该方法包括使样品与如权利要求1至20、24或31至37中任一项所述的痕量检测头接触。
39.一种分析样品的方法，该方法包括使样品与如权利要求1至15、21至24或31至37中任一项所述的块体检测接触。
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