CN113391231A - 一种提高模块测试效率的控制电路 - Google Patents

一种提高模块测试效率的控制电路 Download PDF

Info

Publication number
CN113391231A
CN113391231A CN202110651092.XA CN202110651092A CN113391231A CN 113391231 A CN113391231 A CN 113391231A CN 202110651092 A CN202110651092 A CN 202110651092A CN 113391231 A CN113391231 A CN 113391231A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
layer
pin
control circuit
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202110651092.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN113391231B (zh
Inventor
董新龙
寇琪
李智
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xian Microelectronics Technology Institute
Original Assignee
Xian Microelectronics Technology Institute
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xian Microelectronics Technology Institute filed Critical Xian Microelectronics Technology Institute
Priority to CN202110651092.XA priority Critical patent/CN113391231B/zh
Publication of CN113391231A publication Critical patent/CN113391231A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN113391231B publication Critical patent/CN113391231B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/40—Testing power supplies

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开一种提高模块测试效率的控制电路，包括开关控制电路、外围测试电路和测试仪器对接电路三部分电路，还包括有电脑和测试对象电源模块，开关控制电路由一个六层六档位的波段开关组成；外围测试电路由三块测试板组成，需要测试不同的测试项目时可选择不同的外围测试电路进行测试；测试仪器对接电路由测试仪器、外围测试电路和开关控制电路部分电路组成，采用常用的波段开关实现，成本低、易实现。保证其测试数据精度和一致性。控制电路采用波段开关将所有电源模块测试项目的测试电路隔离开来，保证电源模块各个项目测试时不相互影响干扰。

Description

一种提高模块测试效率的控制电路
技术领域
本发明涉及一种控制电路，特别涉及一种提高模块测试效率的控制电路。
背景技术
为确保电源模块的生产进度和测试数据的准确性，一些公司花费了大量的人力物力在电源模块的电性能测试上，一般公司测试都是直接使用各种不同的测试仪器和测试工装，但是电源模块具有测试项目多，外围测试电路繁杂，测试精度要求高的特性，导致测试人员直接使用测试仪器直接测试时很难保证工作效率和测试精度。这种简单低效的测试方式导致测试成本太高，测试数据一致性太差，由于电源模块是一些系统或设备正常运行的关键部位，保证电源模块良好的电气性能十分重要。因此解决电源模块的这种测试问题迫在眉睫。
目前，在V3电源模块生产过程中没有成熟、有效的测试方式，纯粹依靠手工测试，而这种复杂低效的测试方式导致测试成本太高，时间过多，测试数据一致性太差。由于模块测试用到的测试仪器较多，且每次测试前需要搭建繁琐的外围测试电路，而复杂的外围电路导致在接线和测试过程中容易出错，在出错后也不容易检查排故，每次前期准备工作就需要花费大量的人力物力，再加上后期测试过程中繁琐的测试项目，故很难提高工作效率保证正常的生产进度。
发明内容
为了提高V3电源模块测试效率，本发明提出了一种提高模块测试效率的控制电路。此控制电路包括开关控制电路，外围测试电路，测试仪器对接电路三部分电路，还包括有电脑和测试对象电源模块，开关控制电路控制模块的所有测试项目，外围测试电路提供每个测试项目所需要的外围测试电路，测试仪器对接电路保证进行每个测试项目时测试仪器与控制电路的连接关系。
本发明采用如下技术方案：
此控制电路由开关控制电路、外围测试电路和测试仪器对接电路三部分电路组成，其中测试对象电源模块由A/B两路电路组成；开关控制电路由一个六层六档位的波段开关组成；外围测试电路由三块测试板组成，需要测试不同的测试项目时可选择不同的外围测试电路进行测试；测试仪器为示波器。
电脑传输信号的地线2脚接外围测试电路测试板B1输入的2脚和测试板B2输入的2脚，电脑传输信号的正线1脚接波段开关第1层S1的公共端，测试板B1输入的正端1脚接波段开关第1层S1的1、2档位，测试板B2输入的正端1脚接波段开关第1层S1的3、4、5、6档位；
电源模块A路的正端1脚接波段开关第2层S2的公共端，电源模块A路的负端2脚接波段开关第3层S3的公共端；电源模块B路的正端1脚接波段开关第4层S4的公共端，电源模块B路的负端2脚接波段开关第5层S5的公共端；测试板B1输出的正端3脚接波段开关第2层S2的1档位和波段开关第4层S4的2档位，测试板B1输出的负端4脚接波段开关第3层S3的1档位和波段开关第5层S5的2档位；测试板B2输出的正端3脚接波段开关第2层S2的3、5档位和波段开关第4层S4的4、6档位，测试板B2输出的负端4脚接波段开关第3层S3的3、5档位和波段开关第5层S5的4、6档位；外围测试电路隔离板的正端1脚接波段开关第2层S2的6档位和波段开关第4层S4的5档位，隔离板的负端2脚接波段开关第3层S3的6档位和波段开关第5层S5的5档位；
测试仪器的正端1脚接波段开关第6层S6的公共端，测试仪器的负端2脚分别接外围电路测试板B1和测试板B2输出的4脚；外围测试电路测试板B1输出的正端3脚接波段开关第6层S6的1、2档位，外围测试电路测试板B2输出的正端3脚接波段开关第6层S6的3、4、5、6档位。
本发明和现有技术相比有益效果为：
1)以前完成一只V3电源模块的测试至少需要40min，使用此测试电路只需20min即可完成，测试效率提高了一倍；
2)该电路结构简单，操作方便，且具有开放式电路结构，可以根据不同的测试对象，增加或减少测试电路，实现更多的测试项目；
3)测试过程中避免反复搭建外围测试电路和设置测试参数，极大的提高测试效率和测试数据精度；
4)此控制电路设计简单，元器件为常用器件，易于实现。
附图说明
图1为本发明的电路图。
具体实施方式
本发明所涉及的一种提高V3电源模块测试效率的控制电路，此电路由以下元件组成，具体电原理图见附图1，同时对元件实现的功能进行说明：
1)波段开关S1控制两种测试板B1、B2，1～2档控制电路使用测试板B1，3～
6档控制电路使用测试板B2，测试板B1、B2可是实现两种不同的测试项目。
2)波段开关S2控制电源模块A路正线、S3控制电源模块A路负线，
3)波段开关S4控制电源模块B路正线、S5控制电源模块B路负线，
4)波段开关S4控制测试仪器。
工作原理：现对本发明所涉及的提高V3电源模块测试效率的测试电路工作原理进行详细的说明：
1)当电源模块接入控制电路时，将波段开关放置在1档，波段开关S1将电脑接通到测试板B1输入端，波段开关S2、S3将电源模块A路测试电路接通到测试板B1输出端，波段开关S4、S5断开连接，波段开关S6将测试仪器连接到测试板B1输出端，给电源模块加电即可使用测试版B1，完成电源模块A路的所有电气性能测试；
2)当电源模块接入控制电路时，将波段开关放置在2档，波段开关S1将电脑接通到测试板B1输入端，波段开关S2、S3断开连接，波段开关S4、S5将电源模块B路测试电路接通到测试板B1输出端，波段开关S6将测试仪器连接到测试板B1输出端，给电源模块加电即可使用测试版B1，完成电源模块B路的所有电气性能测试；
3)当电源模块接入控制电路时，将波段开关放置在3档，波段开关S1将电脑接通到测试板B2输入端，波段开关S2、S3将电源模块A路测试电路接通测试板B2输出端，波段开关S4、S5断开连接，波段开关S6将测试仪器连接到测试板B2输出端，给电源模块加电即可使用测试板B2，完成不隔离电源模块B路时，电源模块A路的所有电气性能测试；
4)当电源模块接入控制电路时，将波段开关放置在4档，波段开关S1将电脑接通到测试板B2输入端，波段开关S2、S3断开连接，波段开关S4、S4将电源模块B路测试电路接通测试板B2输出端，波段开关S6将测试仪器连接到测试板B2输出端，给电源模块加电即可使用测试版B2，完成不隔离电源模块A路时，完电源模块B路的所有电气性能测试；
5)当电源模块接入控制电路时，将波段开关放置在5档，波段开关S1将电脑接通到测试板B2输入端，波段开关S2、S3将电源模块A路测试电路接通到测试板B2输出端，波段开关S4、S5将电源模块B路测试电路连接到隔离板B3，波段开关S6将测试仪器连接到测试板B2输出端，给电源模块加电即可使用测试板B2，完成隔离电源模块B路时，电源模块A路的所有电气性能测试；
当电源模块接入控制电路时，将波段开关放置在6档，波段开关S1将电脑接通到测试板B2输入端，波段开关S2、S3将电源模块A路测试电路接通到隔离板B3，波段开关S4、S5将电源模块B路测试电路连接到测试板B2输出端，波段开关S6将测试仪器连接到测试板B2输出端，给电源模块加电即可使用测试板B2，完成隔离电源模块A路时，电源模块B路的所有电气性能测试。
针对V3电源模块测试项目和外围电路，设计出来的V3电源模块测试工装极大提高了测试效率、降低了成本。本发明包括：所选波段开关可以完成电源模块中的六种测试项目。若测试项目变化，可以根据实际情况，选用合适的波段开关，设计相对应的外围测试电路和测试参数，实现相应的测试效果。

Claims (7)

1.一种提高模块测试效率的控制电路，包括开关控制电路、外围测试电路和测试仪器对接电路三部分电路，还包括有电脑和测试对象电源模块，其特征在于，开关控制电路由一个六层六档位的波段开关组成；外围测试电路由三块测试板组成，需要测试不同的测试项目时可选择不同的外围测试电路进行测试；测试仪器对接电路由测试仪器、外围测试电路和开关控制电路部分电路组成，测试仪器为示波器，电脑传输信号的地线2脚接外围测试电路测试板B1输入的2脚和测试板B2输入的2脚，电脑传输信号的正线1脚接波段开关第1层S1的公共端，测试板B1输入的正端1脚接波段开关第1层S1的1、2档位，测试板B2输入的正端1脚接波段开关第1层S1的3、4、5、6档位。
2.根据权利要求1所述的一种提高模块测试效率的控制电路，其特征在于，测试对象电源模块A路的正端1脚接波段开关第2层S2的公共端，测试对象电源模块A路的负端2脚接波段开关第3层S3的公共端。
3.根据权利要求1所述的一种提高模块测试效率的控制电路，其特征在于，测试对象电源模块B路的正端1脚接波段开关第4层S4的公共端，测试对象电源模块B路的负端2脚接波段开关第5层S5的公共端。
4.根据权利要求1所述的一种提高模块测试效率的控制电路，其特征在于，测试板B1输出的正端3脚接波段开关第2层S2的1档位和波段开关第4层S4的2档位，测试板B1输出的负端4脚接波段开关第3层S3的1档位和波段开关第5层S5的2档位。
5.根据权利要求1所述的一种提高模块测试效率的控制电路，其特征在于，测试板B2输出的正端3脚接波段开关第2层S2的3、5档位和波段开关第4层S4的4、6档位，测试板B2输出的负端4脚接波段开关第3层S3的3、5档位和波段开关第5层S5的4、6档位。
6.根据权利要求1所述的一种提高模块测试效率的控制电路，其特征在于，外围测试电路隔离板的正端1脚接波段开关第2层S2的6档位和波段开关第4层S4的5档位，隔离板的负端2脚接波段开关第3层S3的6档位和波段开关第5层S5的5档位。
7.根据权利要求1所述的一种提高模块测试效率的控制电路，其特征在于，测试仪器的正端1脚接波段开关第6层S6的公共端，测试仪器的负端2脚分别接外围电路测试板B1和测试板B2输出的4脚；外围测试电路测试板B1输出的正端3脚接波段开关第6层S6的1、2档位，外围测试电路测试板B2输出的正端3脚接波段开关第6层S6的3、4、5、6档位。
CN202110651092.XA 2021-06-10 2021-06-10 一种提高模块测试效率的控制电路 Active CN113391231B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110651092.XA CN113391231B (zh) 2021-06-10 2021-06-10 一种提高模块测试效率的控制电路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110651092.XA CN113391231B (zh) 2021-06-10 2021-06-10 一种提高模块测试效率的控制电路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN113391231A true CN113391231A (zh) 2021-09-14
CN113391231B CN113391231B (zh) 2023-09-29

Family

ID=77620433

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110651092.XA Active CN113391231B (zh) 2021-06-10 2021-06-10 一种提高模块测试效率的控制电路

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113391231B (zh)

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB752520A (en) * 1954-07-22 1956-07-11 Sperry Corp Power measuring instrument
CN2209355Y (zh) * 1994-05-10 1995-10-04 中国科学院沈阳计算技术研究所 计算机操作终端模板测试台
CN1816242A (zh) * 2005-02-05 2006-08-09 厦门通士达照明有限公司 一种电子镇流器及功率因数校正电路
CN101051067A (zh) * 2006-04-03 2007-10-10 航天科工防御技术研究试验中心 电连接器综合检测控制装置设计方法
JP2009033861A (ja) * 2007-07-26 2009-02-12 Ricoh Co Ltd 電源シーケンス測定装置及び電源シーケンス測定方法
CN101419294A (zh) * 2008-09-23 2009-04-29 中国科学院地质与地球物理研究所 一种多通道测量电极转换器及其测量方法
CN201395678Y (zh) * 2009-03-26 2010-02-03 常熟理工学院 用于电脑横机多支路电源的测控装置
CN202003018U (zh) * 2010-12-29 2011-10-05 海信科龙电器股份有限公司 一种用于空调控制器开关电源负载调试的负载装置
CN202189122U (zh) * 2011-08-30 2012-04-11 温州电力建设有限公司 继电保护操作板测试仪
CN202735497U (zh) * 2012-08-01 2013-02-13 天水七四九电子有限公司 一种dc/dc电源模块测试装置
CN204086501U (zh) * 2014-07-31 2015-01-07 佛山中用自动化装备有限公司 一种高精度多工位弧焊电源测试台
CN104316824A (zh) * 2014-11-18 2015-01-28 国家电网公司 铁心接地电流在线监测装置
CN204832473U (zh) * 2015-07-17 2015-12-02 江苏辰阳电子有限公司 一种电源产品集成测试系统

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB752520A (en) * 1954-07-22 1956-07-11 Sperry Corp Power measuring instrument
CN2209355Y (zh) * 1994-05-10 1995-10-04 中国科学院沈阳计算技术研究所 计算机操作终端模板测试台
CN1816242A (zh) * 2005-02-05 2006-08-09 厦门通士达照明有限公司 一种电子镇流器及功率因数校正电路
CN101051067A (zh) * 2006-04-03 2007-10-10 航天科工防御技术研究试验中心 电连接器综合检测控制装置设计方法
JP2009033861A (ja) * 2007-07-26 2009-02-12 Ricoh Co Ltd 電源シーケンス測定装置及び電源シーケンス測定方法
CN101419294A (zh) * 2008-09-23 2009-04-29 中国科学院地质与地球物理研究所 一种多通道测量电极转换器及其测量方法
CN201395678Y (zh) * 2009-03-26 2010-02-03 常熟理工学院 用于电脑横机多支路电源的测控装置
CN202003018U (zh) * 2010-12-29 2011-10-05 海信科龙电器股份有限公司 一种用于空调控制器开关电源负载调试的负载装置
CN202189122U (zh) * 2011-08-30 2012-04-11 温州电力建设有限公司 继电保护操作板测试仪
CN202735497U (zh) * 2012-08-01 2013-02-13 天水七四九电子有限公司 一种dc/dc电源模块测试装置
CN204086501U (zh) * 2014-07-31 2015-01-07 佛山中用自动化装备有限公司 一种高精度多工位弧焊电源测试台
CN104316824A (zh) * 2014-11-18 2015-01-28 国家电网公司 铁心接地电流在线监测装置
CN204832473U (zh) * 2015-07-17 2015-12-02 江苏辰阳电子有限公司 一种电源产品集成测试系统

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
"一种便携式车载微机测试装置的设计", 《科技创新与应用》 *
M. ABU BAKAR 等: "High frequency (MHz) soft switched flyback dc-dc converter using GaN switches and six-layered PCB transformer", 《8TH IET INTERNATIONAL CONFERENCE ON POWER ELECTRONICS, MACHINES AND DRIVES》 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN113391231B (zh) 2023-09-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101701971B (zh) 高精度多通道模拟信号源
CN212258965U (zh) 一种射频模块的自动测试系统
CN205179063U (zh) 一种车用射频通讯装置硬件在环测试工具
CN113917308A (zh) 一种印制电路板的自动化测试平台
CN106291321B (zh) 基于LabWindows/CVI的等离子电源电路自动测试平台及方法
CN101315409A (zh) 一种手机电路板测试方法
CN113391231A (zh) 一种提高模块测试效率的控制电路
CN108803566A (zh) 汽车发动机冷却风扇控制器通用测试平台
CN209372983U (zh) 微控制器管脚参数自动测试平台
CN108646172B (zh) 一种芯片测试装置
CN201548649U (zh) 一种单板测试工装
CN213457293U (zh) 一种通用新型多通道电源模块测试系统
CN205176076U (zh) 连接多端口测试装置和多端口器件的开关装置
CN211375588U (zh) 一种多调试接口切换电路
CN110780183B (zh) 一种用于jtag边界扫描测试的接口电路
CN210015193U (zh) 一种用于多台测试仪表间的切换系统
CN211263672U (zh) 一种基于cpci总线的电缆通用自动测试系统
CN220367596U (zh) 一种jtag菊花链拓扑结构和jtag调试系统
CN2932402Y (zh) 直流电子负载仪的主从模组装置
CN100390555C (zh) 按键讯号自动产生装置
CN215341059U (zh) 一种串口调试系统及串口调试电路
CN217848366U (zh) 一种多功能fpc转接板
CN202330640U (zh) 键盘薄膜电路板功能测试简易治具
CN221007786U (zh) 芯片测试装置
CN215375507U (zh) 高低温性能测试治具

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant