CN113322017A - 芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉 - Google Patents

芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉 Download PDF

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CN113322017A CN202110643998.7A CN202110643998A CN113322017A CN 113322017 A CN113322017 A CN 113322017A CN 202110643998 A CN202110643998 A CN 202110643998A CN 113322017 A CN113322017 A CN 113322017A
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唐春峰
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Abstract

本发明公开了一种芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉,包括内圈层,由开孔的发泡材料制成;外圈层,由半开孔的发泡材料制成;粘接胶层,设置有若干开孔,所述粘接胶层设置在所述内圈层和所述外圈层之间,并用于连接内圈层和外圈层,本发明的结构泡棉通过不同孔径和开孔程度的发泡材料的堆叠,并且粘接胶层进行开孔处理后,使本结构泡棉具有密度低,易压缩且压缩永久变形率低,防水,压缩过程中避免有气泡滞留的优点。

Description

芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉
技术领域
本发明是关于结构泡棉,特别是关于一种芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉。
背景技术
随着电子芯片集成度越来越高,芯片运算速度越来越快,芯片的热功耗会越来越大,尤其是现在的5G设备。在这种背景下,常规的的导热界面材料的导热性能已经达到极限,10W/m·K的导热片基本到达理论的上限,并且导热片很难做薄,导致热阻高;6W/m·K的导热膏在芯片领域应用更广,但是已经不能满足热耗要求。现在已经有设备开始用液态金属来替代常规的热界面材料,一方面,液态金属与导热膏的流动性,可以很好的铺展开填充缝隙,另一方面,液态金属的导热系数可以从30-100W/m·K,是常规导热界面材料的几倍甚至十几倍。
然而液态金属有一个很大的缺陷,液态金属对铝及其合金具有腐蚀性,如果芯片上的液态金属泄露到主板上,就会对主板产生腐蚀。一般情况下,会用橡胶圈或闭孔泡棉来对液态金属进行封闭,防止渗漏,但是实际应用时,液态金属使用量或多或少,造成橡胶圈或闭孔泡棉形成的密封空间不易压缩或有气泡。
因此,有必要提供一种芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉解决上述问题。
公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本发明的总体背景的理解,而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于芯片场所的防泄漏结构泡棉,其能够易于压缩并消除压缩过程中的气泡。
为实现上述目的,本发明的实施例提供了一种芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉,包括:
内圈层,由开孔的发泡材料制成;
外圈层,由半开孔的发泡材料制成;
粘接胶层,设置有若干开孔,所述粘接胶层设置在所述内圈层和所述外圈层之间,并用于连接内圈层和外圈层。
在本发明的一个或多个实施方式中,所述发泡材料包括硅胶泡棉、丙烯酸泡棉、聚氨酯泡棉、三元乙丙泡棉、氯丁泡棉、聚乙烯泡棉、聚丙烯泡棉、聚四氟乙烯泡棉、聚偏氟乙烯泡棉、乙烯-醋酸乙烯酯共聚物泡棉、丁苯橡胶泡棉中的一种或由硅橡胶,丙烯酸橡胶,聚氨酯弹性体,三元乙丙弹性体、氯丁橡胶、聚乙烯弹性体、聚丙烯弹性体、聚四氟乙烯弹性体、聚偏氟乙烯弹性体、乙烯-醋酸乙烯酯共聚物、丁苯橡胶的几种弹性体/橡胶共混发泡形成的泡棉。
在本发明的一个或多个实施方式中,发泡材料为采用自结皮工艺制成的发泡材料。
在本发明的一个或多个实施方式中,所述内圈层中发泡材料的密度为0.05~0.5g/cm3,开孔率不低于70%,开孔的孔径为0.5~1000um。
在本发明的一个或多个实施方式中,开孔的孔径为50~300um。
在本发明的一个或多个实施方式中,所述外圈层中发泡材料的密度为0.05~0.6g/cm3,密度开孔率为30%~95%,开孔的孔径为0.05~100um。
在本发明的一个或多个实施方式中,开孔的孔径为0.1~10um。
在本发明的一个或多个实施方式中,所述粘接胶层包括压敏丙烯酸双面胶,压敏硅胶双面胶,压敏天然橡胶双面胶,聚氨酯热熔胶,EVA热熔胶,PA热熔胶,PES热熔胶,苯乙烯共聚物热熔胶中的一种。
在本发明的一个或多个实施方式中,所述粘接胶层上的开孔的孔径为0.5~1.5mm,孔间距为2.0~4.5mm。
在本发明的一个或多个实施方式中,还包括由双面压敏胶制成的固定层,且所述固定层设置在内圈层、中间层以及外圈层的上下两端,用于将所述结构泡棉固定在芯片上。
与现有技术相比,根据本发明实施方式通过不同孔径和开孔程度的发泡材料的堆叠,并且粘接胶层进行开孔处理后,使本结构泡棉具有密度低,易压缩且压缩永久变形率低,防水,压缩过程中避免有气泡滞留的优点。
附图说明
图1是根据本发明一实施方式的结构泡棉的俯视图;
图2是根据本发明一实施方式的结构泡棉的局部剖面图;
图3是根据本发明一实施方式的结构泡棉的局部爆炸图。
主要附图标记说明:
1、内圈层;2、外圈层;3、粘接胶层。
具体实施方式
下面结合附图,对本发明的具体实施方式进行详细描述,但应当理解本发明的保护范围并不受具体实施方式的限制。
除非另有其它明确表示,否则在整个说明书和权利要求书中,术语“包括”或其变换如“包含”或“包括有”等等将被理解为包括所陈述的元件或组成部分,而并未排除其它元件或其它组成部分。
如图1至图3所示,根据本发明优选实施方式的一种芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉,包括内圈层1、外圈层2、粘接胶层3以及固定层(图中未画出)。
其中,内圈层1由开孔的发泡材料制成;外圈层2由半开孔的发泡材料制成;粘接胶层3设置有若干开孔,粘接胶层3设置在内圈层1和外圈层2之间,并起到连接内圈层1和外圈层2的作用。
其中,发泡材料包括硅胶泡棉、丙烯酸泡棉、聚氨酯泡棉、三元乙丙泡棉、氯丁泡棉、聚乙烯泡棉、聚丙烯泡棉、聚四氟乙烯泡棉、聚偏氟乙烯泡棉、乙烯-醋酸乙烯酯共聚物泡棉、丁苯橡胶泡棉中的一种或由硅橡胶,丙烯酸橡胶,聚氨酯弹性体,三元乙丙弹性体、氯丁橡胶、聚乙烯弹性体、聚丙烯弹性体、聚四氟乙烯弹性体、聚偏氟乙烯弹性体、乙烯-醋酸乙烯酯共聚物、丁苯橡胶的几种弹性体/橡胶共混发泡形成的泡棉。
其中,发泡材料为采用自结皮工艺制成的发泡材料。
其中,内圈层1中发泡材料的密度为0.05~0.5g/cm3,开孔率不低于70%,开孔的孔径为0.5~1000um。
其中,内圈层1中发泡材料的开孔的孔径为50~300um。
其中,外圈层2中发泡材料的密度为0.05~0.6g/cm3,密度开孔率为30%~95%,开孔的孔径为0.05~100um。
其中,外圈层2中发泡材料的开孔的孔径为0.1~10um。
其中,粘接胶层3包括压敏丙烯酸双面胶,压敏硅胶双面胶,压敏天然橡胶双面胶,聚氨酯热熔胶,EVA热熔胶,PA热熔胶,PES热熔胶,苯乙烯共聚物热熔胶中的一种。
其中,粘接胶层3上的开孔的孔径为0.5~1.5mm,孔间距为2.0~4.5mm。
其中,固定层由双面压敏胶制成,且固定层设置在内圈层1、中间层以及外圈层2的上下两端,起到将结构泡棉固定在芯片上。并且双面压敏胶可以为压敏丙烯酸双面胶、压敏硅胶双面胶或压敏天然橡胶双面胶。
实施例1,
制作结构泡棉,结构泡棉组成为:内圈层1中开孔的发泡材料的密度为0.05g/cm3,开孔率为70%,开孔的孔径为1000um。外圈层2中半开孔的发泡材料的密度为0.05/cm3,密度开孔率为30%,开孔的孔径为100um,发泡材料为由三元乙丙弹性体、氯丁橡胶、聚乙烯弹性体共混发泡形成的泡棉。粘接胶层3使用压敏丙烯酸双面胶,粘接胶层3上的开孔的孔径为0.5mm,孔间距为2.0mm。固定层采用压敏丙烯酸双面胶。将制备好的结构泡棉放置在芯片上,并向内圈层1行程的内腔空间内加入液态金属,然后挤压本结构泡棉,并观察内圈层1内的液态金属之中是否有气泡残留,如最终无气泡残留,则记录气泡完全排出的时间。
实施例2,
制作结构泡棉,结构泡棉组成为:内圈层1中开孔的发泡材料的密度为0.15g/cm3,开孔率为80%,开孔的孔径为400um。外圈层2中半开孔的发泡材料的密度为0.6/cm3,密度开孔率为40%,开孔的孔径为0.1um,发泡材料为三元乙丙泡棉。粘接胶层3使用压敏丙烯酸双面胶,粘接胶层3上的开孔的孔径为0.8mm,孔间距为2.8mm。固定层采用压敏丙烯酸双面胶。将制备好的结构泡棉放置在芯片上,并向内圈层1行程的内腔空间内加入液态金属,然后挤压本结构泡棉,并观察内圈层1内的液态金属之中是否有气泡残留,如最终无气泡残留,则记录气泡完全排出的时间。
实施例3,
制作结构泡棉,结构泡棉组成为:内圈层1中开孔的发泡材料的密度为0.15g/cm3,开孔率为80%,开孔的孔径为300um。外圈层2中半开孔的发泡材料的密度为0.6/cm3,密度开孔率为40%,开孔的孔径为0.1um,发泡材料为三元乙丙泡棉。粘接胶层3使用压敏丙烯酸双面胶,粘接胶层3上的开孔的孔径为0.8mm,孔间距为2.8mm。固定层采用压敏丙烯酸双面胶。将制备好的结构泡棉放置在芯片上,并向内圈层1行程的内腔空间内加入液态金属,然后挤压本结构泡棉,并观察内圈层1内的液态金属之中是否有气泡残留,如最终无气泡残留,则记录气泡完全排出的时间。
实施例4,
制作结构泡棉,结构泡棉组成为:内圈层1中开孔的发泡材料的密度为0.15g/cm3,开孔率为80%,开孔的孔径为150um。外圈层2中半开孔的发泡材料的密度为0.6/cm3,密度开孔率为40%,开孔的孔径为0.1um,发泡材料为三元乙丙泡棉。粘接胶层3使用压敏丙烯酸双面胶,粘接胶层3上的开孔的孔径为0.8mm,孔间距为2.8mm。固定层采用压敏丙烯酸双面胶。将制备好的结构泡棉放置在芯片上,并向内圈层1行程的内腔空间内加入液态金属,然后挤压本结构泡棉,并观察内圈层1内的液态金属之中是否有气泡残留,如最终无气泡残留,则记录气泡完全排出的时间。
实施例5,
制作结构泡棉,结构泡棉组成为:内圈层1中开孔的发泡材料的密度为0.15g/cm3,开孔率为80%,开孔的孔径为50um。外圈层2中半开孔的发泡材料的密度为0.6/cm3,密度开孔率为40%,开孔的孔径为0.1um,发泡材料为三元乙丙泡棉。粘接胶层3使用压敏丙烯酸双面胶,粘接胶层3上的开孔的孔径为0.8mm,孔间距为2.8mm。固定层采用压敏丙烯酸双面胶。将制备好的结构泡棉放置在芯片上,并向内圈层1行程的内腔空间内加入液态金属,然后挤压本结构泡棉,并观察内圈层1内的液态金属之中是否有气泡残留,如最终无气泡残留,则记录气泡完全排出的时间。
实施例6,
制作结构泡棉,结构泡棉组成为:内圈层1中开孔的发泡材料的密度为0.15g/cm3,开孔率为80%,开孔的孔径为40um。外圈层2中半开孔的发泡材料的密度为0.6/cm3,密度开孔率为40%,开孔的孔径为0.1um,发泡材料为三元乙丙泡棉。粘接胶层3使用压敏丙烯酸双面胶,粘接胶层3上的开孔的孔径为0.8mm,孔间距为2.8mm。固定层采用压敏丙烯酸双面胶。将制备好的结构泡棉放置在芯片上,并向内圈层1行程的内腔空间内加入液态金属,然后挤压本结构泡棉,并观察内圈层1内的液态金属之中是否有气泡残留,如最终无气泡残留,则记录气泡完全排出的时间。
实施例7,
制作结构泡棉,结构泡棉组成为:内圈层1中开孔的发泡材料的密度为0.15g/cm3,开孔率为80%,开孔的孔径为0.5um。外圈层2中半开孔的发泡材料的密度为0.15/cm3,密度开孔率为95%,开孔的孔径为0.1um,发泡材料为丙烯酸泡棉。粘接胶层3使用EVA热熔胶,粘接胶层3上的开孔的孔径为1.5mm,孔间距为4.5mm。固定层采用压敏硅胶双面胶。将制备好的结构泡棉放置在芯片上,并向内圈层1行程的内腔空间内加入液态金属,然后挤压本结构泡棉,并观察内圈层1内的液态金属之中是否有气泡残留,如最终无气泡残留,则记录气泡完全排出的时间。
实施例8,
制作结构泡棉,结构泡棉组成为:内圈层1中开孔的发泡材料的密度为0.5g/cm3,开孔率为90%,开孔的孔径为500um。外圈层2中半开孔的发泡材料的密度为0.3/cm3,密度开孔率为55%,开孔的孔径为100um,发泡材料为聚四氟乙烯泡棉。粘接胶层3使用聚氨酯热熔胶,粘接胶层3上的开孔的孔径为1.0mm,孔间距为3.5mm。固定层采用压敏天然橡胶双面胶。将制备好的结构泡棉放置在芯片上,并向内圈层1行程的内腔空间内加入液态金属,然后挤压本结构泡棉,并观察内圈层1内的液态金属之中是否有气泡残留,如最终无气泡残留,则记录气泡完全排出的时间。
实施例9,
制作结构泡棉,结构泡棉组成为:内圈层1中开孔的发泡材料的密度为0.5g/cm3,开孔率为90%,开孔的孔径为500um。外圈层2中半开孔的发泡材料的密度为0.3/cm3,密度开孔率为55%,开孔的孔径为0.05um,发泡材料为聚四氟乙烯泡棉。粘接胶层3使用聚氨酯热熔胶,粘接胶层3上的开孔的孔径为1.0mm,孔间距为3.5mm。固定层采用压敏天然橡胶双面胶。将制备好的结构泡棉放置在芯片上,并向内圈层1行程的内腔空间内加入液态金属,然后挤压本结构泡棉,并观察内圈层1内的液态金属之中是否有气泡残留,如最终无气泡残留,则记录气泡完全排出的时间。
实施例10,
制作结构泡棉,结构泡棉组成为:内圈层1中开孔的发泡材料的密度为0.5g/cm3,开孔率为90%,开孔的孔径为500um。外圈层2中半开孔的发泡材料的密度为0.3/cm3,密度开孔率为55%,开孔的孔径为0.1um,发泡材料为聚四氟乙烯泡棉。粘接胶层3使用聚氨酯热熔胶,粘接胶层3上的开孔的孔径为1.0mm,孔间距为3.5mm。固定层采用压敏天然橡胶双面胶。将制备好的结构泡棉放置在芯片上,并向内圈层1行程的内腔空间内加入液态金属,然后挤压本结构泡棉,并观察内圈层1内的液态金属之中是否有气泡残留,如最终无气泡残留,则记录气泡完全排出的时间。
实施例11,
制作结构泡棉,结构泡棉组成为:内圈层1中开孔的发泡材料的密度为0.5g/cm3,开孔率为90%,开孔的孔径为500um。外圈层2中半开孔的发泡材料的密度为0.3/cm3,密度开孔率为55%,开孔的孔径为10um,发泡材料为聚四氟乙烯泡棉。粘接胶层3使用聚氨酯热熔胶,粘接胶层3上的开孔的孔径为1.0mm,孔间距为3.5mm。固定层采用压敏天然橡胶双面胶。将制备好的结构泡棉放置在芯片上,并向内圈层1行程的内腔空间内加入液态金属,然后挤压本结构泡棉,并观察内圈层1内的液态金属之中是否有气泡残留,如最终无气泡残留,则记录气泡完全排出的时间。
实施例12,
制作结构泡棉,结构泡棉组成为:内圈层1中开孔的发泡材料的密度为0.5g/cm3,开孔率为90%,开孔的孔径为500um。外圈层2中半开孔的发泡材料的密度为0.3/cm3,密度开孔率为55%,开孔的孔径为5um,发泡材料为聚四氟乙烯泡棉。粘接胶层3使用聚氨酯热熔胶,粘接胶层3上的开孔的孔径为1.0mm,孔间距为3.5mm。固定层采用压敏天然橡胶双面胶。将制备好的结构泡棉放置在芯片上,并向内圈层1行程的内腔空间内加入液态金属,然后挤压本结构泡棉,并观察内圈层1内的液态金属之中是否有气泡残留,如最终无气泡残留,则记录气泡完全排出的时间。
实施例13,
制作结构泡棉,结构泡棉组成为:内圈层1中开孔的发泡材料的密度为0.3g/cm3,开孔率为100%,开孔的孔径为500um。外圈层2中半开孔的发泡材料的密度为0.6/cm3,密度开孔率为95%,开孔的孔径为100um,发泡材料为由硅橡胶,聚氨酯弹性体,三元乙丙弹性体、聚丙烯弹性体、乙烯-醋酸乙烯酯共聚物共混发泡形成的泡棉。粘接胶层3使用PES热熔胶,粘接胶层3上的开孔的孔径为1.5mm,孔间距为4.5mm。固定层采用压敏天然橡胶双面胶。将制备好的结构泡棉放置在芯片上,并向内圈层1行程的内腔空间内加入液态金属,然后挤压本结构泡棉,并观察内圈层1内的液态金属之中是否有气泡残留,如最终无气泡残留,则记录气泡完全排出的时间。
对比例1,
将制备好的结构泡棉放置在芯片上,并向内圈层1行程的内腔空间内加入液态金属,然后挤压本结构泡棉,并观察内圈层1内的液态金属之中是否有气泡残留,如最终无气泡残留,则记录气泡完全排出的时间。
表1:各实施例和对比例中气泡残留情况
Figure BDA0003108313610000091
Figure BDA0003108313610000101
通过表1中的“液态金属内的气泡残留情况”的数据可以得出本发明的结构泡棉可以有效较少压缩后的液态金属内的气泡。
通过表1中的实施例2~6的“气泡完全排出所用时间”的数据可以得出本发明的结构泡棉的内圈层1中发泡材料的开孔孔径为50~300um时,液态金属内的气泡用时较短。
通过表1中的实施例8~12的“气泡完全排出所用时间”的数据可以得出本发明的结构泡棉的外圈层2中发泡材料的开孔孔径为0.1~10um时,液态金属内的气泡用时较短。
将上述实施例的到的结构泡棉进行性能测试:
尺寸稳定性:使用模切设备将样品模切为68mm×60mm(外框)66mm×58mm(内框)大小,将模切好的样品放到同样大小的标准模具样品对比,若出现偏移说明尺寸稳定性不良,无偏移说明优异。
粘着力:将样品裁切成20mm×150mm大小,放置于恒温环境条件下2hr,将样品贴合于事先打磨好的SUS304板材上,2kg砝码往复辊压3次,20min后使用双臂式拉力机进行测试,剥离角度为180°速度是300mm/min,距离200mm以上,记录测试数据。
下面对各实施例和对比例进行性能测试
表2:各实施例的性能测试
Figure BDA0003108313610000111
Figure BDA0003108313610000121
前述对本发明的具体示例性实施方案的描述是为了说明和例证的目的。这些描述并非想将本发明限定为所公开的精确形式,并且很显然,根据上述教导,可以进行很多改变和变化。对示例性实施例进行选择和描述的目的在于解释本发明的特定原理及其实际应用,从而使得本领域的技术人员能够实现并利用本发明的各种不同的示例性实施方案以及各种不同的选择和改变。本发明的范围意在由权利要求书及其等同形式所限定。

Claims (10)

1.一种芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉,其特征在于,包括:
内圈层,由开孔的发泡材料制成;
外圈层,由半开孔的发泡材料制成;
粘接胶层,设置有若干开孔,所述粘接胶层设置在所述内圈层和所述外圈层之间,并用于连接内圈层和外圈层。
2.如权利要求1所述的芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉,其特征在于,所述发泡材料包括硅胶泡棉、丙烯酸泡棉、聚氨酯泡棉、三元乙丙泡棉、氯丁泡棉、聚乙烯泡棉、聚丙烯泡棉、聚四氟乙烯泡棉、聚偏氟乙烯泡棉、乙烯-醋酸乙烯酯共聚物泡棉、丁苯橡胶泡棉中的一种或由硅橡胶,丙烯酸橡胶,聚氨酯弹性体,三元乙丙弹性体、氯丁橡胶、聚乙烯弹性体、聚丙烯弹性体、聚四氟乙烯弹性体、聚偏氟乙烯弹性体、乙烯-醋酸乙烯酯共聚物、丁苯橡胶的几种弹性体/橡胶共混发泡形成的泡棉。
3.如权利要求2所述的芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉,其特征在于,发泡材料为采用自结皮工艺制成的发泡材料。
4.如权利要求2所述的芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉,其特征在于,所述内圈层中发泡材料的密度为0.05~0.5g/cm3,开孔率不低于70%,开孔的孔径为0.5~1000um。
5.如权利要求4所述的芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉,其特征在于,开孔的孔径为50~300um。
6.如权利要求2所述的芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉,其特征在于,所述外圈层中发泡材料的密度为0.05~0.6g/cm3,密度开孔率为30%~95%,开孔的孔径为0.05~100um。
7.如权利要求6所述的芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉,其特征在于,开孔的孔径为0.1~10um。
8.如权利要求1所述的芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉,其特征在于,所述粘接胶层包括压敏丙烯酸双面胶,压敏硅胶双面胶,压敏天然橡胶双面胶,聚氨酯热熔胶,EVA热熔胶,PA热熔胶,PES热熔胶,苯乙烯共聚物热熔胶中的一种。
9.如权利要求8所述的芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉,其特征在于,所述粘接胶层上的开孔的孔径为0.5~1.5mm,孔间距为2.0~4.5mm。
10.如权利要求1所述的芯片场所用液态金属防泄漏的结构泡棉,其特征在于,还包括由双面压敏胶制成的固定层,且所述固定层设置在内圈层、中间层以及外圈层的上下两端,用于将所述结构泡棉固定在芯片上。
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