CN113311259A - 基于电子元件的红外测试系统 - Google Patents

基于电子元件的红外测试系统 Download PDF

Info

Publication number
CN113311259A
CN113311259A CN202110476156.7A CN202110476156A CN113311259A CN 113311259 A CN113311259 A CN 113311259A CN 202110476156 A CN202110476156 A CN 202110476156A CN 113311259 A CN113311259 A CN 113311259A
Authority
CN
China
Prior art keywords
infrared
unit
processing unit
test
test system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202110476156.7A
Other languages
English (en)
Inventor
乔雪娜
陈乐�
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pingdingshan Juxin Network Technology Co ltd
Original Assignee
Pingdingshan Juxin Network Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pingdingshan Juxin Network Technology Co ltd filed Critical Pingdingshan Juxin Network Technology Co ltd
Priority to CN202110476156.7A priority Critical patent/CN113311259A/zh
Publication of CN113311259A publication Critical patent/CN113311259A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明提供的电子元件的红外测试系统，存储单元、红外发射单元和红外接收单元分别连接至处理单元，电源单元为所述红外测试系统供电；红外发射单元用于发射预设的红外测试信号，红外接收单元用于接收电子元件的返回信号，并将返回信号传递给处理单元；所述返回信号包括响应脉冲和电子元件ID；处理单元用于生成所述红外测试信号，对返回信号进行分析，得到电子元件的测试结果。该系统可以对电子元件进行红外通讯功能的批量测试，缩短测试时间，提高测试效率，克服现有技术一个一个电子元件测试的弊端。

Description

基于电子元件的红外测试系统
技术领域
本发明属于电子电路技术领域，具体涉及基于电子元件的红外测试系统。
背景技术
现有一些电子元件为了实现功能的拓展，集成了红外通讯功能。这类电子元件的红外通讯功能在生产过程中需要进行测试，确认电子元件的红外通讯功能是否正常。现有的测试方法是依次对每个电子元件进行红外测试，但是如果需要测试的电子元件数量较多，就会导致测试时间较长、测试效率低下。
发明内容
针对现有技术中的缺陷，本发明提供一种基于电子元件的红外测试系统，缩短测试时间，提高测试效率。
一种电子元件的红外测试系统，包括处理单元、存储单元、红外发射单元、红外接收单元和电源单元；
其中存储单元、红外发射单元和红外接收单元分别连接至处理单元，电源单元为所述红外测试系统供电；
红外发射单元用于发射预设的红外测试信号，红外接收单元用于接收电子元件的返回信号，并将返回信号传递给处理单元；所述返回信号包括响应脉冲和电子元件ID；
处理单元用于生成所述红外测试信号，对返回信号进行分析，得到电子元件的测试结果。
优选地，所述处理单元具体用于：从返回信息中分离出所述响应脉冲和电子元件ID；判断响应脉冲是否与预设的响应信号一致，如果是，设置该电子元件ID对应的测试结果为正常，否则，设置该电子元件ID对应的测试结果为异常。
优选地，所述响应信号与所述红外测试信号相对应。
优选地，所述存储单元包括存储器U1，存储器U1的型号为24C02；
存储器U1的第一管脚、第二管脚、第三管脚和第四管脚相互连接，且通过电容CX8连接至高电平；存储器U1的第八管脚连接至高电平；
存储器U1的第五管脚、第六管脚和第七管脚连接至处理单元。
优选地，所述红外发射单元包括红外发射头L4和三极管Q2；三极管Q2的漏极接地，三极管Q2的源极反接所述红外发射头L4到高电平，三极管Q2的栅极通过电阻R14连接至处理单元。
优选地，所述红外接收单元包括红外接收头U8，红外接收头U8的第一管脚与处理单元电连接，红外接收头U8的第二管脚接地，红外接收头U8的第三管脚连接至高电平。
优选地，该系统还包括分别与所述处理单元电连接的蜂鸣器单元和LED显示单元；
所述处理单元还用于当检测到异常的测试结果时，控制蜂鸣器单元启动；处理单元还用于根据各个电子元件ID的测试结果，控制LED显示单元中对应的发光二极管启动或关闭；
其中电子元件安装在测试架上，测试架上设有多个底座，每个底座安装一电子元件；所述电子元件ID为底座ID；每个底座对应一发光二极管。
优选地，所述显示单元包括若干个所述发光二极管；每个发光二极管的阳极接高电平，阴极通过一电阻连接至所述处理单元。
优选地，所述蜂鸣器单元包括三极管Q2和蜂鸣器；
三极管Q2的源极接高电平，三极管Q2的栅极通过电阻R39连接至处理单元，三极管Q2的漏极连接至蜂鸣器的一端子，蜂鸣器的另一端子通过电阻R19接地。
优选地，所述LED显示单元还包括与所述处理单元电连接的显示屏。
由上述技术方案可知，本发明提供的基于电子元件的红外测试系统，可以对电子元件进行红外通讯功能的批量测试，缩短测试时间，提高测试效率，克服现有技术一个一个电子元件测试的弊端。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。
图1为本发明实施例提供的红外测试系统的模块框图。
图2为本发明实施例提供的存储单元的电路图。
图3为本发明实施例提供的红外发射单元的电路图。
图4为本发明实施例提供的红外接收单元的电路图。
图5为本发明实施例提供的显示单元的电路图。
图6为本发明实施例提供的蜂鸣器单元的电路图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本发明的保护范围。需要注意的是，除非另有说明，本申请使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域技术人员所理解的通常意义。
应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
如在本说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
实施例：
一种电子元件的红外测试系统，参见图1，包括处理单元、存储单元、红外发射单元、红外接收单元和电源单元；
其中存储单元、红外发射单元和红外接收单元分别连接至处理单元，电源单元为所述红外测试系统供电；
红外发射单元用于发射预设的红外测试信号，红外接收单元用于接收电子元件的返回信号，并将返回信号传递给处理单元；所述返回信号包括响应脉冲和电子元件ID；
处理单元用于生成所述红外测试信号，对返回信号进行分析，得到电子元件的测试结果。
该基于电子元件的红外测试系统使用时，红外测试系统向所有需要测试的电子元件发出红外测试信号，如果电子元件接收到红外测试信号，就会返回相应的返回信号给红外测试系统。如果电子元件正常，那么就会根据红外测试信号返回相应的信号。如果电子元件异常，红外测试系统就收不到该电子元件返回的信号，或者是接收到错误的返回信号。
存储单元用于存储各种数据，包括红外测试信号、电子元件ID及其关联的其他数据。该红外测试系统可以对电子元件进行红外通讯功能的批量测试，缩短测试时间，提高测试效率，克服现有技术一个一个电子元件测试的弊端。
优选地，所述处理单元具体用于：从返回信息中分离出所述响应脉冲和电子元件ID；判断响应脉冲是否与预设的响应信号一致，如果是，设置该电子元件ID对应的测试结果为正常，否则，设置该电子元件ID对应的测试结果为异常。所述响应信号与所述红外测试信号相对应。
具体地，该系统分别比对每个电子元件ID返回的脉冲信号是否与预设的响应信号一致，如果一致，说明电子元件返回了正确的信号，该电子元件是正常的。如果不一致，说明电子元件返回的数据有误，该电子元件是异常的。该系统通过该方法实现电子元件红外通讯功能的批量测试。
参见图2，所述存储单元包括存储器U1，存储器U1的型号为24C02；
存储器U1的第一管脚、第二管脚、第三管脚和第四管脚相互连接，且通过电容CX8连接至高电平；存储器U1的第八管脚连接至高电平；
存储器U1的第五管脚、第六管脚和第七管脚连接至处理单元。
具体地，该方法采用EEPROM来存储数据，实现了数据掉电不丢失功能。
参见图3，所述红外发射单元包括红外发射头L4和三极管Q2；三极管Q2的漏极接地，三极管Q2的源极反接所述红外发射头L4到高电平，三极管Q2的栅极通过电阻R14连接至处理单元。
具体地，当处理单元传输低电平给三极管Q2时，三极管Q2导通，红外发射单元通电发光。当处理单元传输高电平给三极管Q2时，三极管Q2截止，红外发射单元不工作。该系统通过上述电路实现红外发射功能。
参见图4，所述红外接收单元包括红外接收头U8，红外接收头U8的第一管脚与处理单元电连接，红外接收头U8的第二管脚接地，红外接收头U8的第三管脚连接至高电平。
具体地，该系统通过一红外接收头接收红外信号，并传递给处理模块处理。
优选地，该系统还包括分别与所述处理单元电连接的蜂鸣器单元和LED显示单元；
所述处理单元还用于当检测到异常的测试结果时，控制蜂鸣器单元启动；处理单元还用于根据各个电子元件ID的测试结果，控制LED显示单元中对应的发光二极管启动或关闭；
其中电子元件安装在测试架上，测试架上设有多个底座，每个底座安装一电子元件；所述电子元件ID为底座ID；每个底座对应一发光二极管。
具体地，该系统还设置LED显示单元，用于显示各个电子元件的测试结果，例如可以设置当电子元件的测试结果为正常或异常时，点亮对应的发光二极管。当存在一电子元件的测试结果为异常时，控制蜂鸣器启动报警，提醒相关的工作人员这一批电子元件中存在异常的电子元件。然后工作人员通过查看发光二极管，确定是哪一个电子元件异常。
测试架主要给电子元件供电，便于完成电子元件的测试。该系统可以在同一批次的测试中，将多个电子元件安装在测试架上，实现电子元件的批量测试。
参见图5，所述显示单元包括若干个所述发光二极管；每个发光二极管的阳极接高电平，阴极通过一电阻连接至所述处理单元。
具体地，当处理单元输出低电平给发光二极管，发光二极管导通发光。当处理单元输出高电平给发光二极管，发光二极管截止不工作。
参见图6，所述蜂鸣器单元包括三极管Q2和蜂鸣器；
三极管Q2的源极接高电平，三极管Q2的栅极通过电阻R39连接至处理单元，三极管Q2的漏极连接至蜂鸣器的一端子，蜂鸣器的另一端子通过电阻R19接地。
具体地，当处理单元输出低电平给三极管Q2时，三极管Q2导通，蜂鸣器工作，进行报警。当处理单元输出高电平给三极管Q2时，三极管Q2截止，蜂鸣器不工作。
优选地，所述LED显示单元还包括与所述处理单元电连接的显示屏。
具体地，显示屏用于进行数据显示。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围，其均应涵盖在本发明的权利要求和说明书的范围当中。

Claims (10)

1.一种电子元件的红外测试系统，其特征在于，包括处理单元、存储单元、红外发射单元、红外接收单元和电源单元；
其中存储单元、红外发射单元和红外接收单元分别连接至处理单元，电源单元为所述红外测试系统供电；
红外发射单元用于发射预设的红外测试信号，红外接收单元用于接收电子元件的返回信号，并将返回信号传递给处理单元；所述返回信号包括响应脉冲和电子元件ID；
处理单元用于生成所述红外测试信号，对返回信号进行分析，得到电子元件的测试结果。
2.根据权利要求1所述电子元件的红外测试系统，其特征在于，
所述处理单元具体用于：从返回信息中分离出所述响应脉冲和电子元件ID；判断响应脉冲是否与预设的响应信号一致，如果是，设置该电子元件ID对应的测试结果为正常，否则，设置该电子元件ID对应的测试结果为异常。
3.根据权利要求2所述电子元件的红外测试系统，其特征在于，
所述响应信号与所述红外测试信号相对应。
4.根据权利要求1所述电子元件的红外测试系统，其特征在于，
所述存储单元包括存储器U1，存储器U1的型号为24C02；
存储器U1的第一管脚、第二管脚、第三管脚和第四管脚相互连接，且通过电容CX8连接至高电平；存储器U1的第八管脚连接至高电平；
存储器U1的第五管脚、第六管脚和第七管脚连接至处理单元。
5.根据权利要求1所述电子元件的红外测试系统，其特征在于，
所述红外发射单元包括红外发射头L4和三极管Q2；三极管Q2的漏极接地，三极管Q2的源极反接所述红外发射头L4到高电平，三极管Q2的栅极通过电阻R14连接至处理单元。
6.根据权利要求5所述电子元件的红外测试系统，其特征在于，
所述红外接收单元包括红外接收头U8，红外接收头U8的第一管脚与处理单元电连接，红外接收头U8的第二管脚接地，红外接收头U8的第三管脚连接至高电平。
7.根据权利要求2所述电子元件的红外测试系统，其特征在于，
该系统还包括分别与所述处理单元电连接的蜂鸣器单元和LED显示单元；
所述处理单元还用于当检测到异常的测试结果时，控制蜂鸣器单元启动；处理单元还用于根据各个电子元件ID的测试结果，控制LED显示单元中对应的发光二极管启动或关闭；
其中电子元件安装在测试架上，测试架上设有多个底座，每个底座安装一电子元件；所述电子元件ID为底座ID；每个底座对应一发光二极管。
8.根据权利要求7所述电子元件的红外测试系统，其特征在于，
所述显示单元包括若干个所述发光二极管；每个发光二极管的阳极接高电平，阴极通过一电阻连接至所述处理单元。
9.根据权利要求7所述电子元件的红外测试系统，其特征在于，
所述蜂鸣器单元包括三极管Q2和蜂鸣器；
三极管Q2的源极接高电平，三极管Q2的栅极通过电阻R39连接至处理单元，三极管Q2的漏极连接至蜂鸣器的一端子，蜂鸣器的另一端子通过电阻R19接地。
10.根据权利要求7所述电子元件的红外测试系统，其特征在于，
所述LED显示单元还包括与所述处理单元电连接的显示屏。
CN202110476156.7A 2021-04-29 2021-04-29 基于电子元件的红外测试系统 Pending CN113311259A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110476156.7A CN113311259A (zh) 2021-04-29 2021-04-29 基于电子元件的红外测试系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110476156.7A CN113311259A (zh) 2021-04-29 2021-04-29 基于电子元件的红外测试系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN113311259A true CN113311259A (zh) 2021-08-27

Family

ID=77371791

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110476156.7A Pending CN113311259A (zh) 2021-04-29 2021-04-29 基于电子元件的红外测试系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113311259A (zh)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006025870A2 (en) * 2004-08-26 2006-03-09 Springbok Incorporated Method of precisely determining the location, and validity of a fault on an electrical transmission system
CN103630791A (zh) * 2012-08-24 2014-03-12 海洋王（东莞）照明科技有限公司 一种红外线控制电池短路测试装置
CN103675553A (zh) * 2013-12-23 2014-03-26 黄宇嵩 红外遥控器性能检测仪
CN103698023A (zh) * 2013-12-23 2014-04-02 吴建堂 红外线遥控器信号测试器
CN104280625A (zh) * 2013-07-10 2015-01-14 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 红外线发射装置测试系统及其方法
CN208766738U (zh) * 2018-10-09 2019-04-19 云南拓洲科技有限公司 一种远程启动的防盗环网柜电子锁

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006025870A2 (en) * 2004-08-26 2006-03-09 Springbok Incorporated Method of precisely determining the location, and validity of a fault on an electrical transmission system
CN103630791A (zh) * 2012-08-24 2014-03-12 海洋王（东莞）照明科技有限公司 一种红外线控制电池短路测试装置
CN104280625A (zh) * 2013-07-10 2015-01-14 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 红外线发射装置测试系统及其方法
CN103675553A (zh) * 2013-12-23 2014-03-26 黄宇嵩 红外遥控器性能检测仪
CN103698023A (zh) * 2013-12-23 2014-04-02 吴建堂 红外线遥控器信号测试器
CN208766738U (zh) * 2018-10-09 2019-04-19 云南拓洲科技有限公司 一种远程启动的防盗环网柜电子锁

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6862695B2 (en) Method and device for identifying failed devices in computer
US5444390A (en) Means and method for sequentially testing electrical components
US20070027981A1 (en) Computer diagnostic system
US11403978B2 (en) Chip programming voltage detection circuit and detection method
CN102203742B (zh) 组件安装引导
US20130315582A1 (en) Optical communication module, method for recording log of optical communication module, and optical communication apparatus
US9529069B2 (en) Test system for testing electrostatic tester and method thereof
US7928745B2 (en) Endurance testing system and method
CN107589568B (zh) 一种led灯串自动学习检测装置及方法
CN114325316A (zh) 一种板卡的测试方法、装置、电子设备及存储介质
US20100026190A1 (en) Led driver circuit and the method thereof
KR100414522B1 (ko) 점검기능을 갖는 전광판 및 에러검출방법
CN113311259A (zh) 基于电子元件的红外测试系统
CN112614535B (zh) 一种相控阵雷达驱动控制电路内嵌eeprom存储器自动化测试装置
CN112654119B (zh) Led驱动测试方法、驱动器、系统及电子设备
CN117054721A (zh) 一种电流自动化测试电路、测试方法及测试装置
CN218568024U (zh) 一种usb端口检测装置
CN114089162B (zh) Tcon芯片测试方法、装置和存储介质
US6542082B1 (en) Remote and non-visual detection of illumination device operation
US20100185879A1 (en) Load balancing power supplies
CN111402766A (zh) 模组的测试方法
CN100578245C (zh) 振荡器检测治具
CN113125938A (zh) 老化测试监控方法和系统
CN112858871A (zh) 一种集成电路测试用电流电压数据采集系统
CN117472696B (zh) 转接卡装配位置检测方法、装置、设备、介质及服务器

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination