CN113282442A - 芯片量产自动化校准预设固件高速下载的方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明的芯片量产自动化校准预设固件高速下载的方法及系统，属于芯片检测方法的技术领域，解决现有技术的方法在测试前下载ATE固件耗时长的技术问题，芯片量产检测效率较低的技术问题。所述芯片的只读存储器存储固化的ROM CODE，所述芯片与PC上位机数据交互，PC上位机指令将量产测试软件中的ATE固件下载至芯片的SRAM中，PC上位机能够指令将保存在其内部的预设固件下载至芯片的SRAM中并运行，以协助芯片ATE固件的下载，所述方法包括：获取ATE固件长度和所述预设固件的大小；根据所述ATE固件长度和所述预设固件的长度或大小确定ATE固件下载的波特率，以烧录在芯片存储区域内。本发明在芯片检测时缩短ATE固件下载的时间。

Description

芯片量产自动化校准预设固件高速下载的方法及系统

技术领域

本发明属于芯片测试下载预设固件方法的技术领域，尤其涉及一种芯片量产自动化校准预设固件高速下载的方法及系统。

背景技术

对具有射频功能但未搭载flash的芯片工厂量产测试时需要先烧录ATE固件到芯片SRAM中，才能进行测试。针对采用串口传输预设固件的方式，使用串口下载预设固件是比较常用的方法，对于没有flash的芯片，烧录预设固件的做法通常是基于固化的ROMCODE，来下载ATE固件到SRAM（静态随机存取存储器）。芯片出厂后其ROM CODE是不能轻易变动的，当工厂要求提升速度，一般可以通过优化缩小ATE固件的大小来实现，但随着ATE固件的完善与新的需求，ATE固件仍然变大，需要保存原功能，因此，需要一种既要保留ATE固件的大小，又要在测试时，缩短ATE固件下载的时间，完成芯片的量产自动化测试。

有鉴于此，特提出本发明。

发明内容

本发明的目的在于提供一种芯片量产自动化校准预设固件高速下载的方法，解决现有技术的方法在测试前下载ATE固件耗时长的技术问题，芯片量产检测效率较低的技术问题。本案的技术方案有诸多技术有益效果，见下文介绍：

一方面本案提供一种芯片量产自动化校准预设固件高速下载的方法，适用于未搭载flash的芯片测试预设固件的下载，并通过测试软件进行芯片功能测试，所述芯片的只读存储器存储固化的ROM CODE，所述芯片与PC上位机数据交互，PC上位机指令将量产测试软件中的ATE固件下载至芯片的SRAM中，所述PC上位机存储有预设固件，PC上位机能够指令将所述预设固件下载至芯片的SRAM中并运行，所述预设固件用以协助芯片ATE固件的下载，所述方法包括：

获取ATE固件长度和所述预设固件的大小；

根据所述ATE固件长度和所述预设固件的长度或大小确定ATE固件下载的波特率，以烧录在芯片存储区域内。

在一个优选或可选的实施方式中，PC上位机的开发者选项设有常规波特率a和高波特率b两种速率，确定ATE固件下载的波特率的方法包括：

根据所述ATE固件和所述预设固件的长度或大小确定所述ATE固件以所述a或b的速率下载至芯片存储区域内。

在一个优选或可选的实施方式中，以所述a或b的速率下载至芯片存储区域内的方法包括：

判断所述ATE固件的大小或长度是否小于所述预设固件的大小或长度，如是，PC上位机指令以所述常规波特率a将所述ATE固件烧录至芯片的SRAM中，如否，确定总耗时以确定是否采用所述高度波特率b下载将所述ATE固件至芯片的SRAM中。

在一个优选或可选的实施方式中，所述确定总耗时的方法包括：获取以高度波特率b下载所述ATE固件的耗时及其以常规波特率a下载所述预设固件的耗时之和，即为，第一耗时；获取以常规波特率a下载所述ATE固件的第二耗时；

判断，所述第一耗时是否小于所述第二耗时，如是，以常规波特率a下载预设固件并运行所述预设固件，运行所述预设固件后，PC上位机指令以所述高度波特率b下载所述ATE固件至芯片内，如否，运行所述ROM CODE并与PC上位机交互，PC上位机指令以所述常规波特率a下载所述ATE固件至芯片内且不进行所述预设固件的下载。

在一个优选或可选的实施方式中，所述预设固件存储在PC上位机内，在所述第一耗时小于所述第二耗时，PC上位机与芯片交互并运行芯片内的ROM CODE，PC上位机指令将所述预设固件下载至芯片的SRAM中并运行，所述预设固件与PC上位机数据交互后，以所述高度波特率b完成芯片内ATE固件的下载。

另一方面提供一种芯片量产自动化校准预设固件高速下载的系统，适用于未搭载flash的芯片测试预设固件的下载，并通过测试软件进行芯片功能测试，所述芯片的只读存储器存储固化的ROM CODE，所述芯片与PC上位机数据交互，PC上位机指令将量产测试软件中的ATE固件下载至芯片的SRAM中，所述PC上位机存储有预设固件，PC上位机能够指令将所述预设固件下载至芯片的SRAM中并运行，所述预设固件用以协助芯片ATE固件的下载，所述系统包括：

获取模块，用于获取ATE固件长度和所述预设固件的长度；

计算模块，用于根据所述ATE固件长度和所述预设固件的长度或大小确定ATE固件下载的波特率，以烧录在芯片存储区域内。

在一个优选或可选的实施方式中，PC上位机的开发者选项设有常规波特率a和高波特率b两种速率，所述计算模块，还用于根据所述ATE固件和所述预设固件的长度或大小确定所述ATE固件以所述a或b的速率下载至芯片存储区域内。

在一个优选或可选的实施方式中，所述计算模块还用于判断所述ATE固件的大小或长度是否小于所述预设固件的大小或长度，如是，PC上位机指令以所述常规波特率a将所述ATE固件烧录至芯片的SRAM中，如否，确定总耗时以确定是否采用所述高度波特率b下载将所述ATE固件至芯片的SRAM中。

在一个优选或可选的实施方式中，所述获取模块还用于获取以高度波特率b下载所述ATE固件的耗时及其以常规波特率a下载所述预设固件的耗时之和，即为，第一耗时，和，以常规波特率a下载所述ATE固件的第二耗时；

所述计算模块还用于判断，所述第一耗时是否小于所述第二耗时，如是，以常规波特率a下载预设固件并运行所述预设固件，运行所述预设固件后，PC上位机指令以所述高度波特率b下载所述ATE固件至芯片内，如否，运行所述ROM CODE并与PC上位机交互，PC上位机指令以所述常规波特率a下载所述ATE固件至芯片内且不进行所述预设固件的下载。

与现有技术相比，本发明提供的技术方案包括以下有益效果：

本案的方法，通过预设固件和ATE固件大小比较，确定在芯片烧录ATE固件的方式。在配置高速波特率下载文件时，基于预设固件实现程序下载速率的可变性，本案方法设计的程序或系统，当芯片测试程序的ATE固件大小或长度小于预设固件的长度或大小时，直接采用传统的方式进行下载即可，说明检测程序的功能较少或代码的长度较短，采用常规的速度也能在较短的时间周期内完成下载，采用高速的方法反而会增加耗时；当芯片测试程序的ATE固件大小或长度大于预设固件的长度或大小时，说明测试的ATE固件完善与新的需求功能较多，常规速率的下载方式进行批量芯片的检测或测试影响测试效率，因此，在判断后，指令通过预设固件与PC上位机进行交互，以高度波特率b下载ATE固件至芯片内，能够大幅度的缩短下载时间，提高完成芯片测试的速率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明的流程图；

图2为发明的与PC上位机数据交互下载ATE固件的示意图；

图3为发明的系统的框架图。

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明的是，下文描述在所附权利要求书的范围内的实施例的各种方面。应显而易见，本文中所描述的方面可体现于广泛多种形式中，且本文中所描述的任何特定结构及/或功能仅为说明性的。基于本发明，所属领域的技术人员应了解，本文中所描述的一个方面可与任何其它方面独立地实施，且可以各种方式组合这些方面中的两者或两者以上。举例来说，可使用本文中所阐述的任何数目个方面来实施设备及/或实践方法。另外，可使用除了本文中所阐述的方面中的一或多者之外的其它结构及/或功能性实施此设备及/或实践此方法。

还需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想，图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。

另外，在以下描述中，提供具体细节是为了便于透彻理解实例。然而，所属领域的技术人员将理解，可在没有这些特定细节的情况下实践所述方面。为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

目前芯片量产的测试系统，例如，极致汇仪（itest程序），芯片只读存储器存储（ROM）固化的ROM CODE由于程序已被写好，只能以常规波特率a来下载测试系统中的ATE固件来进行测试，造成检测耗时较长的缺点。本案值仅针对将测试系统下载ATE固件的方法做出改进，其余与现有技术的测试方法相同。PC上位机相当于测试系统的外挂或插件。

芯片自带，只读存储器存储（ROM）和静态随机存取存储器（Static Random-AccessMemory，SRAM）。ROM 存储的ROM CODE是可以掉电保存的，即ROM CODE运行在芯片ROM中，芯片下电了，其数据仍然保存在芯片内，不会丢失，而预设固件和ATE固件是运行在SRAM中，芯片下电了，SRAM中的数据会丢失。

如图1所示的芯片量产自动化校准预设固件高速下载的方法，适用于未搭载flash的芯片测试预设固件的下载，并通过测试软件进行芯片功能测试，芯片的只读存储器（ROM）存储固化的ROM CODE（芯片制造时烧录的程序），ROM CODE（芯片内的预设固件，在生产时已烧录的程序或代码，晶圆厂生产时）。芯片与PC上位机数据交互，PC上位机指令将量产测试软件中的ATE固件下载至芯片的SRAM中，PC上位机存储有预设固件，PC上位机能够指令将预设固件下载至芯片的SRAM中并运行，预设固件用以协助芯片ATE固件的下载。预测固件，例如，具备下载指令和/或修改波特率指令的功能性代码，能够协助ATE固件的下载，例如，使用现有技术中的ATE固件或其他功能相同的固件。

传统的下载方法中，ROM CODE是被固化，即为，应该说晶圆厂烧录了ROM CODE后，波特率也随之固定了，再想提速就不能轻易来修改ROM CODE来达到目的，然而，厂家为加速芯片量产自动化校准并降低测试时间或耗时，只能是对ATE固件做出改变，一般的，通过优化缩小ATE固件的大小来实现（部分功能测试代码的剔除），但随着预设固件的完善与新的需求，如，标准技术与规范及其新功能的增加，ATE固件仍然变大，因此，本案在整个测试过程中，仅针对ATE固件的下载提供一种新的方法，以缩短下载ATE固件到SRAM中的耗时，后续的测试方法采用现有技术的设备或方法即可。

芯片与PC上位机数据交互，PC上位机指令将测试系统中的ATE固件下载至芯片的SRAM中，由于ROM CODE是被固化的，下载时，运行ROM CODE先将预设固件下载至芯片的SRAM中，在运行提前写好的预设固件，用于协助或辅助芯片ATE固件的下载。预设固件是运行在SRAM中，SRAM的存储是不被固化的，因此，高速的下载的关键因素是可以通过修改预设固件的代码来支持更高速率的下载。

本案的方法是改变传统的下载方式，先利用ROM CODE完成芯片与PC上位机的数据交互并在下预设固件，再利用预设固件与PC上位机的数据交互，以高速波特率的将ATE固件下载至芯片SRAM中。提供高速下载ATE固件的方法，以克服传统ROM CODE被固化，具体的方法包括：

获取ATE固件长度和预设固件的长度。如图2所示，预设固件的作用是：基于未搭载flash芯片内部SRAM（静态随机存取存储器）下载ATE固件，如，使用串口的方式进行下载。如，PC上位机的开发者选项设有常规波特率a和高波特率b两种速率，PC上位机出厂就写好的。获取a和b两种速率，并根据ATE固件长度和预设固件的长度或大小确定ATE固件以a或b下载至芯片存储区域内，具体的，如下：

判断ATE固件的大小或长度是否小于预设固件的大小或长度，如是，PC上位机指令以常规波特率a将ATE固件烧录至芯片的SRAM中，如否，确定总耗时以确定是否采用高度波特率b下载将ATE固件至芯片的SRAM中，其中，确定总耗时的方法包括：

获取以高度波特率b下载ATE固件的耗时及其以常规波特率a下载预设固件的耗时之和，即为，第一耗时；

获取以常规波特率a下载ATE固件的第二耗时；

判断，第一耗时是否小于第二耗时，如是，以常规波特率a下载预设固件并运行预设固件，运行预设固件后，PC上位机指令以高度波特率b下载ATE固件至芯片内，如否，运行ROM CODE并与PC上位机交互，PC上位机指令以常规波特率a下载ATE固件至芯片内且不进行预设固件的下载。

运行的顺序为：预设固件存储在PC上位机内，在第一耗时小于第二耗时，PC上位机与芯片交互并运行芯片内的ROM CODE，PC上位机指令将预设固件下载至芯片的SRAM中并运行，预设固件与PC上位机数据交互后，以高速波特率b完成芯片内ATE固件的下载

需要指出的是，在配置高速波特率下载文预设固件时，基于预设固件实现程序下载速率的可变性，本案方法设计的程序或系统，当芯片测试程序的ATE固件大小或长度小于预设固件的长度或大小时，直接采用传统的方式进行下载即可，说明检测程序的功能多少或代码的长度较短，采用常规的速度也能在较短的时间周期内完成下载，采用高速的方法反而增加耗时，当芯片测试程序的ATE固件大小或长度大于预设固件的长度或大小时，说明测试的ATE固件完善与新的需求功能较多，常规速率的下载方式进行批量芯片的检测或测试影响测试效率，因此，在判断后，指令通过预设固件与PC上位机进行交互，以高度波特率b下载ATE固件至芯片内，能够大幅度的缩短下载时间，提高完成芯片测试的速率。

具体的高速下载过程，如：

首先PC上位机（简称：工具）和待测芯片之间建立串口连接；

待测芯片上电运行ROM CODE，工具与待测芯片通过协定的指令进行交互，指令交互完成后，工具将固化在其内的预设固件数据下载到待测芯片的指定SRAM区域；

预设固件传输完成，待测芯片会返回一个确认指令给工具，并自动跳转到预设固件下运行；工具收到确认指令，会发送配置高速波特率的指令与待测芯片交互，双方配置一个相同的高速波特率；

波特率配置完成，开始进行传输预设固件前的指令交互；

交互完成后，工具选择指定的ATE固件，并下载到待测芯片的指定SRAM区域。ATE固件传输完成，待测芯片会返回一个确认指令给工具，然后恢复到正常工作状态下的波特率，并自动跳转到ATE工作模式；工具收到确认指令，也恢复到相同的正常波特率，以便于完成与下一块待测芯片的下载流程。

整个下载过程完成，此时待测芯片处于ATE模式，即可进行后续的校准测试。

如图3所示，其次是提供一种芯片量产自动化校准预设固件高速下载的系统，另一方面提供一种芯片量产自动化校准预设固件高速下载的系统，适用于未搭载flash的芯片测试预设固件的下载，并通过测试软件进行芯片功能测试，芯片的只读存储器存储固化的ROM CODE，芯片与PC上位机数据交互，PC上位机指令将量产测试软件中的ATE固件下载至芯片的SRAM中，PC上位机存储有预设固件，PC上位机能够指令将预设固件下载至芯片的SRAM中并运行，预设固件用以协助芯片ATE固件的下载，系统包括：

获取模块，用于获取ATE固件长度和预设固件的长度；

计算模块，用于根据ATE固件长度和预设固件的长度或大小确定ATE固件下载的波特率，以烧录在芯片存储区域内。

作为本案所提供的具体实施方式，PC上位机的开发者选项设有常规波特率a和高波特率b两种速率，计算模块，还用于根据ATE固件和预设固件的长度或大小确定ATE固件以a或b的速率下载至芯片存储区域内。

作为本案所提供的具体实施方式，计算模块还用于判断ATE固件的大小或长度是否小于预设固件的大小或长度，如是，PC上位机指令以常规波特率a将ATE固件烧录至芯片的SRAM中，如否，确定总耗时以确定是否采用高度波特率b下载将ATE固件至芯片的SRAM中。

作为本案所提供的具体实施方式，获取模块还用于获取以高度波特率b下载ATE固件的耗时及其以常规波特率a下载预设固件的耗时之和，即为，第一耗时，和，以常规波特率a下载ATE固件的第二耗时；

计算模块还用于判断，第一耗时是否小于第二耗时，如是，以常规波特率a下载预设固件并运行预设固件，运行预设固件后，PC上位机指令以高度波特率b下载ATE固件至芯片内，如否，运行ROM CODE并与PC上位机交互，PC上位机指令以常规波特率a下载ATE固件至芯片内且不进行预设固件的下载。

上述的PC上位机，在打开串口与芯片数据交互时选择使用哪种波特率。芯片运行之初默认芯片串口是常规波特率，PC上位机串口也是常规波特率，切换到高速是这样：首先PC上位机判断要使用高速波特率时，首先发一条指令给芯片，让芯片切换串口波特率到高速，然后自己也切换串口到高速波特率，接着开始继续数据交互。

以上对本发明所提供的方法及其产品进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离发明创造原理的前提下，还可以对发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入发明权利要求的保护范围。

Claims (9)

1.一种芯片量产自动化校准预设固件高速下载的方法，适用于未搭载flash的芯片测试预设固件的下载，并通过测试软件进行芯片功能测试，所述芯片的只读存储器存储固化的ROM CODE，所述芯片与PC上位机数据交互，PC上位机指令将量产测试软件中的ATE固件下载至芯片的SRAM中，其特征在于，所述PC上位机存储有预设固件，PC上位机能够指令将所述预设固件下载至芯片的SRAM中并运行，所述预设固件用以协助芯片ATE固件的下载，所述方法包括：

获取ATE固件长度和所述预设固件的大小；

根据所述ATE固件长度和所述预设固件的长度或大小确定ATE固件下载的波特率，以烧录在芯片存储区域内。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，PC上位机的开发者选项设有常规波特率a和高波特率b两种速率，确定ATE固件下载的波特率的方法包括：

根据所述ATE固件和所述预设固件的长度或大小确定所述ATE固件以所述a或b的速率下载至芯片存储区域内。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，以所述a或b的速率下载至芯片存储区域内的方法包括：

判断所述ATE固件的大小或长度是否小于所述预设固件的大小或长度，如是，PC上位机指令以所述常规波特率a将所述ATE固件烧录至芯片的SRAM中，如否，确定总耗时以确定是否采用所述高度波特率b下载将所述ATE固件至芯片的SRAM中。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定总耗时的方法包括：

获取以高度波特率b下载所述ATE固件的耗时及其以常规波特率a下载所述预设固件的耗时之和，即为，第一耗时；

获取以常规波特率a下载所述ATE固件的第二耗时；

判断，所述第一耗时是否小于所述第二耗时，如是，以常规波特率a下载预设固件并运行所述预设固件，运行所述预设固件后，PC上位机指令以所述高度波特率b下载所述ATE固件至芯片内，如否，运行所述ROM CODE并与PC上位机交互，PC上位机指令以所述常规波特率a下载所述ATE固件至芯片内且不进行所述预设固件的下载。

5.根据权利要求4任意所述的方法，其特征在于，所述预设固件存储在PC上位机内，在所述第一耗时小于所述第二耗时，PC上位机与芯片交互并运行芯片内的ROM CODE，PC上位机指令将所述预设固件下载至芯片的SRAM中并运行，所述预设固件与PC上位机数据交互后，以所述高度波特率b完成芯片内ATE固件的下载。

6.一种芯片量产自动化校准预设固件高速下载的系统，适用于未搭载flash的芯片测试预设固件的下载，并通过测试软件进行芯片功能测试，所述芯片的只读存储器存储固化的ROM CODE，所述芯片与PC上位机数据交互，PC上位机指令将量产测试软件中的ATE固件下载至芯片的SRAM中，其特征在于，所述PC上位机存储有预设固件，PC上位机能够指令将所述预设固件下载至芯片的SRAM中并运行，所述预设固件用以协助芯片ATE固件的下载，所述系统包括：

获取模块，用于获取ATE固件长度和所述预设固件的长度；

计算模块，用于根据所述ATE固件长度和所述预设固件的长度或大小确定ATE固件下载的波特率，以烧录在芯片存储区域内。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，PC上位机的开发者选项设有常规波特率a和高波特率b两种速率，所述计算模块，还用于根据所述ATE固件和所述预设固件的长度或大小确定所述ATE固件以所述a或b的速率下载至芯片存储区域内。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述计算模块还用于判断所述ATE固件的大小或长度是否小于所述预设固件的大小或长度，如是，PC上位机指令以所述常规波特率a将所述ATE固件烧录至芯片的SRAM中，如否，确定总耗时以确定是否采用所述高度波特率b下载将所述ATE固件至芯片的SRAM中。

9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述获取模块还用于获取以高度波特率b下载所述ATE固件的耗时及其以常规波特率a下载所述预设固件的耗时之和，即为，第一耗时，和，以常规波特率a下载所述ATE固件的第二耗时；

所述计算模块还用于判断，所述第一耗时是否小于所述第二耗时，如是，以常规波特率a下载预设固件并运行所述预设固件，运行所述预设固件后，PC上位机指令以所述高度波特率b下载所述ATE固件至芯片内，如否，运行所述ROM CODE并与PC上位机交互，PC上位机指令以所述常规波特率a下载所述ATE固件至芯片内且不进行所述预设固件的下载。

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