CN113268016B - 一种基于fpga实现电机控制的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种基于FPGA实现电机控制的方法和装置，包括：获取介质进入信号；对介质进入信号进行采样，得到采样信号；根据采样信号确定介质张数统计值；获取检测组件信号；根据检测组件信号确定介质张数统计锁存值；采用介质张数统计值和介质张数统计锁存值，确定介质承载组件的下移时刻点；在下移时刻点，控制介质承载组件在容器中下移。检测组件介质承载组件通过本发明实施例，可以根据介质张数统计值和介质张数统计锁存值确定介质承载组件的下移时刻点介质承载组件，以保证介质承载组件在合适的时刻下移。

Description

一种基于FPGA实现电机控制的方法和装置

技术领域

本发明涉及移动控制技术领域，特别是涉及一种基于FPGA实现电机控制的方法和一种基于FPGA实现电机控制的装置。

背景技术

如图1所示，在现有技术中，容器收取介质时，会通过收纳组件101高速转动将介质带入容器，介质在进入容器后，会飘落至介质承载组件102上。而随着介质承载组件102上的介质越来越多，介质会对检测组件103产生的信号形成遮挡，此时电机104会带动介质承载组件102逐渐下移，为后续进入的介质提供空间。

然而，介质在飘落过程中，检测组件信号会叠加形成一个占空比和频率均随机的脉冲信号，在这种情况下，即使检测到检测组件产生了遮挡信号，也无法确定是否需要下移介质承载组件。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种基于FPGA实现电机控制的方法和相应的一种基于FPGA实现电机控制的装置，通过FPGA的运算与控制技术，解决了当检测到检测组件产生了遮挡信号，也无法确定是否需要下移介质承载组件的问题。

为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种基于FPGA实现电机控制的方法，包括：

获取介质进入信号；

对所述介质进入信号进行采样，得到采样信号；

根据所述采样信号确定介质张数统计值；

获取检测组件信号；

根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值；

采用所述介质张数统计值和所述介质张数统计锁存值，确定所述介质承载组件的下移时刻点；

在所述下移时刻点，控制所述介质承载组件下移。

可选地，所述介质张数统计值包括第一介质张数统计值；所述对所述介质进入信号进行采样，得到采样信号的步骤，包括：

对所述介质进入信号进行一次采样，得到第一采样信号；

所述根据所述采样信号确定介质张数统计值的步骤，包括：

检测所述第一采样信号中的上升沿信号；

统计所述第一采样信号中的上升沿信号的个数，将所述第一采样信号中的上升沿信号的个数确定为所述第一介质张数统计值。

可选地，所述介质张数统计值包括第二介质张数统计值；所述对所述介质进入信号进行采样，得到采样信号的步骤，包括：

对所述介质进入信号进行二次采样，得到第二采样信号和第三采样信号；

所述根据所述述采样信号确定介质张数统计值的步骤，包括：

当从所述第二采样信号中检测到上升沿信号时，确定所述第三采样信号的电平状态；

当所述电平状态为低电平时，将检测到所述第二采样信号的上升沿信号的时刻确定为统计时刻点；

统计所述统计时刻点的个数，将所述统计时刻点的个数确定为所述第二介质张数统计值。

可选地，所述介质张数统计锁存值包括第一介质张数统计锁存值；所述根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值的步骤，包括：

当检测到所述检测组件信号中的上升沿信号时，将所述介质张数统计值确定为所述第一介质张数统计锁存值。

可选地，所述介质张数统计锁存值包括第二介质张数统计锁存值；所述根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值的步骤，包括：

当检测到所述检测组件信号中的下降沿信号时，将预设重置值确定为所述第二介质张数统计锁存值。

可选地，所述采用所述介质张数统计值和所述介质张数统计锁存值，确定所述介质承载组件的下移时刻点的步骤，包括：

计算所述介质张数统计锁存值与预设统计常量的加和；

确定所述加和等于所述介质张数统计值的检测时刻点；

将所述检测时刻点确定为所述介质承载组件的下移时刻点。

可选地，所述方法还包括：

当满足预设停止条件时，控制所述介质承载组件停止下移。

本发明实施例还公开了一种基于FPGA实现电机控制的装置，包括：

介质进入信号获取模块，用于获取介质进入信号；

采样模块，用于对所述介质进入信号进行采样，得到采样信号；

介质张数统计值确定模块，用于根据所述采样信号确定介质张数统计值；

检测组件信号获取模块，用于获取检测组件信号；

介质张数统计锁存值确定模块，用于根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值；

下移时刻点确定模块，用于采用所述介质张数统计值和所述介质张数统计锁存值，确定所述介质承载组件的下移时刻点；

下移控制模块，用于在所述下移时刻点，控制所述介质承载组件下移。

可选地，所述介质张数统计值包括第一介质张数统计值；所述采样模块，包括：

一次采样子模块，用于对所述介质进入信号进行一次采样，得到第一采样信号；

所述介质张数统计值确定模块，包括：

第一采样信号上升沿信号检测子模块，用于检测所述第一采样信号中的上升沿信号；

第一介质张数统计值确定子模块，用于统计所述第一采样信号中的上升沿信号的个数，将所述第一采样信号中的上升沿信号的个数确定为所述第一介质张数统计值。

可选地，所述介质张数统计值包括第二介质张数统计值；所述采样模块，包括：

二次采样子模块，用于对所述介质进入信号进行二次采样，得到第二采样信号和第三采样信号；

所述介质张数统计值确定模块，包括：

电平状态确定子模块，用于当从所述第二采样信号中检测到上升沿信号时，确定所述第三采样信号的电平状态；

统计时刻点确定子模块，用于当所述电平状态为低电平时，将检测到所述第二采样信号的上升沿信号的时刻确定为统计时刻点；

第二介质张数统计值确定模块，用于统计所述统计时刻点的个数，将所述统计时刻点的个数确定为所述第二介质张数统计值。

可选地，所述介质张数统计锁存值包括第一介质张数统计锁存值；所述介质张数统计锁存值确定模块，包括：

第一介质张数统计锁存值确定子模块，用于当检测到所述检测组件信号中的上升沿信号时，将所述介质张数统计值确定为所述第一介质张数统计锁存值。

可选地，所述介质张数统计锁存值包括第二介质张数统计锁存值；所述介质张数统计锁存值确定模块，包括：

第二介质张数统计锁存值确定子模块，用于当检测到所述检测组件信号中的下降沿信号时，将预设重置值确定为所述第二介质张数统计锁存值。

可选地，所述下移时刻点确定模块，包括：

加和计算子模块，用于计算所述介质张数统计锁存值与预设统计常量的加和；

检测时刻点确定子模块，用于确定所述加和等于所述介质张数统计值的检测时刻点；

下移时刻点确定子模块，用于将所述检测时刻点确定为所述介质承载组件的下移时刻点。

可选地，所述装置还包括：

下移停止模块，用于当满足预设停止条件时，控制所述介质承载组件停止下移。

本发明实施例还公开了一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如上所述的基于FPGA实现电机控制的方法的步骤。

本发明实施例还公开了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上任一项所述的基于FPGA实现电机控制的方法。

本发明实施例包括以下优点：本发明实施例通过对介质进入信号进行采样得到采样信号，并通过采样信号确定介质张数统计值；以及通过检测组件信号确定介质张数统计值。从而根据介质张数统计值和介质张数统计锁存值确定介质承载组件的下移时刻点。通过本发明实施例，可以确定介质承载组件进行下移的下移时刻点，以保证介质承载组件在合适的时刻下移。

附图说明

图1是本发明的一种介质承载组件在容器中移动的示意图；

图2是本发明的一种基于FPGA实现电机控制的方法实施例的步骤流程图；

图3是本发明的一种基于FPGA实现电机控制的方法实施例的步骤流程图；

图4是本发明的一种介质张数统计时序图；

图5是本发明的一种检测组件信号检测时序图；

图6是本发明的一种基于FPGA实现电机控制的装置实施例的结构框图；

图7示意性地示出了用于执行根据本发明的方法的电子设备的框图；

图8示意性地示出了用于保持或者携带实现根据本发明的方法的程序代码的存储单元。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

容器收钞时，收纳组件会高速转动将介质带入容器，介质会飘落至介质承载组件上，随着介质承载组件上的介质越来越多，介质会对检测组件信号形成遮挡，此时传动机构会带动介质承载组件逐渐下移，为后续进入的介质提供空间。

然而，上述方案会存在以下两个问题：

1、收纳组件在收纳介质的过程中会不停拍打介质上表面，导致检测组件形成高(遮挡)低(不遮挡)状态的脉冲信号，且占空比和频率均随机。

2、由于介质不停高速进入，且存在空间“飘落”现象；会对检测组件的检测组件信号形成干扰，即使介质飘落过程中介质之间有间隔，会产生不一样的检测组件信号，也很难分辨各信号分别表征什么(脉冲信号为高的情况有可能是飘落导致的，检测组件实际不为遮挡状态)。

如前所述，介质在飘落过程中，检测组件会叠加形成一个占空比和频率均随机的脉冲信号，在这种情况下，即使检测到检测组件产生了遮挡信号，也无法确定是否需要下移介质承载组件。

本发明实施例的核心构思之一在于，首先通过对介质进入信号进行采样得到采样信号，从而根据采样信号确定介质张数统计值；再通过检测检测组件的遮挡状态来确定介质张数统计锁存值，当介质张数统计锁存值与预设介质间隔量的加和等于介质张数统计值时，可以判断检测组件持续处于遮挡状态时，此时便可以确定介质承载组件的移动时刻点，并移动介质承载组件。

参照图2，示出了本发明的一种基于FPGA实现电机控制的方法实施例的步骤流程图，具体可以包括如下步骤：

步骤201，获取介质进入信号；

当容器接收到介质收纳指令时，舌片会高速转动将介质带入容器，容器会实时检测介质的进入，生成介质进入信号。

介质收纳指令可以用用户点击控制面板上相应模块触发，也可以通过其他可控制容器的方式触发，本发明实施例对此不作具体限制。

检测组件可通过向介质发送信号得到的反馈结果，来确定是否有介质进入容器，在一个示例中，检测组件可以为红外线传感器，其可以通过向介质发送红外线并接收返回的红外线的方式，来判断是否有介质进入容器。

在一个示例中，在介质进入容器的过程中时，根据红外线传感器的接收到的传感器信号的电平状态，可以判断是否有介质进入容器。当检测到有介质进入容器时，可以依次生成介质进入信号。

步骤202，对所述介质进入信号进行采样，得到采样信号；

在本发明实施例中，可以利用系统时钟，在收纳开始后，按照时钟频率，对介质进入信号进行一次或两次采样。并通过分析采样结果，确定介质进入信号的上升沿，以进行张数统计。

步骤203，根据所述采样信号确定介质张数统计值；

介质张数统计值用于统计在收纳开始后，进入容器中的介质张数。容器中每进入一张介质，介质张数统计值便会变更一次，变更方式为在原有数值基础上加1。

在本发明实施例中，在生成采样信号后，可以根据采样信号确定介质张数统计值。

步骤204，获取检测组件信号；

在介质收纳开始的同时，检测组件会对介质承载组件上的介质进行检测，判断介质是否会对检测组件造成遮挡，并生成检测组件信号。

因此，在本发明实施例中，为了了解介质是否对检测组件形成遮挡，可以获取检测组件信号。

步骤205，根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值；

在获取了检测组件信号后，可以根据检测组件信号不同时刻的边沿信号来生成介质张数统计锁存值。介质张数统计锁存值可以用于表征检测组件信号不同时刻的介质张数，其可以与实际张数对应，也可以根据需要设置定值。本发明实施例对此不作具体限制。

步骤206，采用所述介质张数统计值和所述介质张数统计锁存值，确定所述介质承载组件的下移时刻点；

在确定了介质张数统计值和介质张数统计锁存值之后，便可以根据介质张数统计值和介质张数统计锁存值之间的相对关系确定介质承载组件的下移时刻点。例如，可以将介质张数统计锁存值和介质张数统计值之间的差值等于设定的数值时的时刻点，确定为下移时刻点。此外，还可以采用其他方式确定下移时刻点，本发明实施例对此不作具体限制。

步骤207，在所述下移时刻点，控制所述介质承载组件下移。

在确定了介质承载组件的下移时刻点后，便可以控制介质承载组件在容器中下移。

本发明实施例通过对介质进入信号进行采样得到采样信号，并通过采样信号确定介质张数统计值；以及通过检测组件信号确定介质张数统计值。从而根据介质张数统计值和介质张数统计锁存值确定介质承载组件的下移时刻点。通过本发明实施例，可以确定介质承载组件进行下移的下移时刻点，以保证介质承载组件在合适的时刻下移。

参照图3，示出了本发明的一种基于FPGA实现电机控制的方法实施例的步骤流程图，具体可以包括如下步骤：

步骤301，获取介质进入信号；

当容器接收到介质收纳指令时，收纳组件会高速转动将介质带入容器，容器会实时检测介质的进入，生成介质进入信号。

在一个示例中，可以通过检测组件来对介质进行检测，以根据检测组件信号的电平状态判断是否有介质进入容器。同时，在检测到有介质进入容器时，生成介质进入信号。

步骤302，对所述介质进入信号进行采样，得到采样信号；

在本发明实施例中，可以利用系统时钟，在收纳开始后，按照时钟频率，对介质进入信号进行一次或二次采样，一般进行二次采样，可消除亚稳态，以检测介质进入信号的上升沿，进行张数统计。

在本发明实施例中，系统时钟可以是外部晶振源经片内时钟管理单元生成的系统时钟。

步骤303，根据所述采样信号确定介质张数统计值；

介质张数统计值用于统计在收纳开始后，进入容器中的介质张数。容器中每进入一张介质，介质张数统计值便会变更一次，变更方式可以为在原有数值基础上加1。

在本发明实施例中，在生成采样信号后，便可以根据采样信号确定介质张数统计值。

在一个示例中，当对介质进入信号进行一次采样得到第一采样信号时，步骤303可以包括以下子步骤：

S11，检测所述第一采样信号中的上升沿信号；

当只进行一次采样时，第一采样信号便表征介质的收纳情况。当第一采样信号中出现上升沿信号时，意味着介质进入容器的过程中对检测设备产生了遮挡，比如对检测组件发出的信号产生了遮挡，因此可以通过第一采样信号中的上升沿信号来对介质收纳过程中进入容器的介质进行统计。

S12，统计所述第一采样信号中的上升沿信号的个数，将所述第一采样信号中的上升沿信号的个数确定为所述第一介质张数统计值。

统计收纳开始后第一采样信号中的上升沿信号的个数，将第一采样信号中的上升沿确定为第一介质张数统计值。第一介质张数统计值表征介质收纳开始后，进入容器的介质数量。

在另一个示例中，当对介质进入信号进行二次采样得到第二采样信号和第三采样信号时，步骤303可以包括以下子步骤：

S21，当从所述第二采样信号中检测到上升沿信号时，确定所述第三采样信号的电平状态；

在本发明实施例中，按照预设时间差对介质进入信号进行二次采样，分别得到第二采样信号和第三采样信号，当从第二采样信号中检测到上升沿信号时，确定第三采样信号的电平状态。由于第三采样信号的采样时间比第二采样信号的采样时间晚，当第二采样信号采样到上升沿信号时，第三采样信号应处于还未采样到上升沿信号的低电平状态。

S22，当所述电平状态为低电平时，将检测到所述第二采样信号的上升沿信号的时刻确定为统计时刻点；

当第三采样信号的电平状态为低电平时，将检测到第二采样信号的上升沿的时刻确定为介质进入信号进入上升沿的时刻点。

S23，统计所述统计时刻点的个数，将所述统计时刻点的个数确定为所述第二介质张数统计值。

统计检测到的介质进入信号的上升沿的个数，便可得到进入容器的介质的张数，保存介质张数得到第二介质张数统计值。

步骤304，获取检测组件信号；

检测组件，用于检测介质承载组件上介质上表面的高度是否超过预设高度，当检测组件信号为遮挡信号时，表征介质承载组件上介质上表面超过预设高度，介质承载组件需要适当下移。

在本发明实施例中，判断介质承载组件是否需要下移可以结合检测组件产生的检测组件信号。

步骤305，根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值；

在获取了检测组件信号后，可以根据检测组件信号不同时刻的边沿信号来生成介质张数统计锁存值。介质张数统计锁存值可以用于表征根据检测组件信号的不同锁存的介质张数，其可以与实际张数对应，也可以根据需要设置定值。具体可以根据检测组件信号的边沿信号决定。

在一个示例中，当检测到所述检测组件信号中的上升沿信号时，将所述介质张数统计值确定为所述第一介质张数统计锁存值。

在实际应用中，当检测到检测组件信号中的上升沿信号时，可以对介质张数统计值进行采样，锁存，得到第一介质张数统计锁存值。

在另一个示例中，当检测到所述检测组件信号中的下降沿信号时，将预设重置值确定为所述第二介质张数统计锁存值。

在实际应用中，当检测到检测组件信号中的下降沿信号时，可以将在先保存的介质张数统计锁存值重置位，得到第二介质张数统计锁存值。重置值可以按实际需求设定。

步骤306，采用所述介质张数统计值和所述介质张数统计锁存值，确定所述介质承载组件的下移时刻点；

在确定了介质张数统计值和介质张数统计锁存值之后，便可以根据介质张数统计值和介质张数统计锁存值之间的相对关系确定介质承载组件的下移时刻点。

在本发明实施例中，步骤306可以包括以下子步骤：

S31，计算所述介质张数统计锁存值与预设统计常量的加和；

S32，确定所述加和等于所述介质张数统计值的检测时刻点；

S33，将所述检测时刻点确定为所述介质承载组件的下移时刻点。

在本发明实施例中，当检测组件检测到的检测组件信号持续为遮挡信号时，证明在介质承载组件上的介质的高度高过预设高度，此时检测组件信号保持不变，介质张数统计锁存值保持不变，而介质张数统计值随着介质的进入还在不断变化中。因此，当检测组件信号为遮挡信号，且介质张数统计锁存值小于介质张数统计值的时候，证明此时介质承载组件需要下移。在一个示例中，可以设定一个统计常量，当介质张数统计锁存值与介质张数统计值之间的数值差满足给定条件时，判断该时刻为介质承载组件需要移动的下移时刻点。

在本发明实施例中，由于介质连续进入，需要不停统计张数，且高速检测检测组件信号，因此可以通过FPGA来进行张数统计和检测组件信号的并行检测。FPGA具有速度快，精度高的优点，其速度可以轻易达到纳秒级，其精度可以达到皮秒级。可以满足本发明实施例对采样精度和速度的要求。

在本发明实施例中，FPGA的运行逻辑分为介质张数统计部分和检测组件信号检测部分。

图4是本发明的介质张数统计的时序图。如图所示，本发明实施例可以利用系统时钟，在介质收纳开始后，对介质进入信号进行一次或两次采样，从而检测介质进入信号的上升沿，以完成张数统计(如图中n，n+1，n+2…)。

图5是本发明的检测组件信号检测的时序图。如图所示，在本发明实施例中，可以采用与图4同源、同频、同相的系统时钟，来检测检测组件信号。

当检测到检测组件信号出现上升沿信号时，对介质张数统计值进行采样、锁存(如图中n，n+1，n+2…)。

当检测到检测组件信号出现下降沿时，重置位介质张数统计锁存值(图中所示重置值为0，但不限于0)。

当介质张数统计值与介质张数统计锁存值满足下述条件时，便可以确定介质承载组件的移动时刻点。

条件：张数统计锁存值+K＝张数统计值

其中，K为自定义区间，图中所示为2，也可以为其他整数值，但不可过大，否则导致介质承载组件上介质过多堆积而溢出，导致收纳异常。

步骤307，在所述下移时刻点，控制所述介质承载组件下移。

在确定了介质承载组件的下移时刻点后，便可以控制介质承载组件在容器中下移。

步骤308，当满足预设停止条件时，控制所述介质承载组件停止下移。

在本发明实施例中，当满足预设停止条件时，需要控制介质承载组件停止下移。

在一个示例中，预设条件可以为介质承载组件移动固定位移量，且检测组件检测到脉冲信号。

本发明实施例通过对介质进入信号进行采样得到采样信号，并通过采样信号确定介质张数统计值；以及通过检测组件信号确定介质张数统计值。从而根据介质张数统计值和介质张数统计锁存值确定介质承载组件的下移时刻点。通过本发明实施例，可以确定介质承载组件进行下移的下移时刻点，以保证介质承载组件在合适的时刻下移。

需要说明的是，对于方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明实施例，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。

参照图6，示出了本发明的一种基于FPGA实现电机控制的装置实施例的结构框图，具体可以包括如下模块：

介质进入信号获取模块601，用于获取介质进入信号；

采样模块602，用于对所述介质进入信号进行采样，得到采样信号；

介质张数统计值确定模块603，用于根据所述采样信号确定介质张数统计值；

检测组件信号获取模块604，用于获取检测组件信号；

介质张数统计锁存值确定模块605，用于根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值；

下移时刻点确定模块606，用于采用所述介质张数统计值和所述介质张数统计锁存值，确定所述介质承载组件的下移时刻点；

下移控制模块607，用于在所述下移时刻点，控制所述介质承载组件下移。

在本发明实施例中，所述介质张数统计值包括第一介质张数统计值；所述采样模块，可以包括：

一次采样子模块，用于对所述介质进入信号进行一次采样，得到第一采样信号；

所述介质张数统计值确定模块，包括：

第一采样信号上升沿信号检测子模块，用于检测所述第一采样信号中的上升沿信号；

第一介质张数统计值确定子模块，用于统计所述第一采样信号中的上升沿信号的个数，将所述第一采样信号中的上升沿信号的个数确定为所述第一介质张数统计值。

在本发明实施例中，所述介质张数统计值包括第二介质张数统计值；所述采样模块，可以包括：

二次采样子模块，用于对所述介质进入信号进行二次采样，得到第二采样信号和第三采样信号；

所述介质张数统计值确定模块，可以包括：

电平状态确定子模块，用于当从所述第二采样信号中检测到上升沿信号时，确定所述第三采样信号的电平状态；

统计时刻点确定子模块，用于当所述电平状态为低电平时，将检测到所述第二采样信号的上升沿信号的时刻确定为统计时刻点；

第二介质张数统计值确定模块，用于统计所述统计时刻点的个数，将所述统计时刻点的个数确定为所述第二介质张数统计值。

在本发明实施例中，所述介质张数统计锁存值包括第一介质张数统计锁存值；所述介质张数统计锁存值确定模块，可以包括：

第一介质张数统计锁存值确定子模块，用于当检测到所述检测组件信号中的上升沿信号时，将所述介质张数统计值确定为所述第一介质张数统计锁存值。

在本发明实施例中，所述介质张数统计锁存值包括第二介质张数统计锁存值；所述介质张数统计锁存值确定模块，包括：

第二介质张数统计锁存值确定子模块，用于当检测到所述检测组件信号中的下降沿信号时，将预设重置值确定为所述第二介质张数统计锁存值。

在本发明实施例中，所述下移时刻点确定模块，可以包括：

加和计算子模块，用于计算所述介质张数统计锁存值与预设统计常量的加和；

检测时刻点确定子模块，用于确定所述加和等于所述介质张数统计值的检测时刻点；

下移时刻点确定子模块，用于将所述检测时刻点确定为所述介质承载组件的下移时刻点。

在本发明实施例中，所述装置还包括：

下移停止模块，用于当满足预设停止条件时，控制所述介质承载组件停止下移。

对于装置实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

本发明实施例还提供了一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行本发明实施例所述的方法。

本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现本发明实施例所述的方法。

本发明的各个部件实施例可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的计算处理设备中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或者以任何其他形式提供。

例如，图7示出了可以实现根据本发明的方法的计算处理设备。该计算处理设备传统上包括处理器710和以存储器720形式的计算机程序产品或者计算机可读介质。存储器720可以是诸如闪存、EEPROM(电可擦除可编程只读存储器)、EPROM、硬盘或者ROM之类的电子存储器。存储器720具有用于执行上述方法中的任何方法步骤的程序代码731的存储空间730。例如，用于程序代码的存储空间730可以包括分别用于实现上面的方法中的各种步骤的各个程序代码731。这些程序代码可以从一个或者多个计算机程序产品中读出或者写入到这一个或者多个计算机程序产品中。这些计算机程序产品包括诸如硬盘，紧致盘(CD)、存储卡或者软盘之类的程序代码载体。这样的计算机程序产品通常为如参考图8所述的便携式或者固定存储单元。该存储单元可以具有与图7的计算处理设备中的存储器720类似布置的存储段、存储空间等。程序代码可以例如以适当形式进行压缩。通常，存储单元包括计算机可读代码731’，即可以由例如诸如710之类的处理器读取的代码，这些代码当由计算处理设备运行时，导致该计算处理设备执行上面所描述的方法中的各个步骤。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

本领域内的技术人员应明白，本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此，本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上，使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明实施例的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的一种基于FPGA实现电机控制的方法和一种基于FPGA实现电机控制的装置，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种基于FPGA实现电机控制的方法，其特征在于，所述的方法包括：

获取介质进入信号；

对所述介质进入信号进行采样，得到采样信号；

根据所述采样信号确定介质张数统计值；

获取检测组件信号；所述检测组件信号用于表征检测组件的遮挡状态；

根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值；

采用所述介质张数统计值和所述介质张数统计锁存值，确定介质承载组件的下移时刻点；

在所述下移时刻点，控制所述介质承载组件下移。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述介质张数统计值包括第一介质张数统计值；所述对所述介质进入信号进行采样，得到采样信号的步骤，包括：

对所述介质进入信号进行一次采样，得到第一采样信号；

所述根据所述采样信号确定介质张数统计值的步骤，包括：

检测所述第一采样信号中的上升沿信号；

统计所述第一采样信号中的上升沿信号的个数，将所述第一采样信号中的上升沿信号的个数确定为所述第一介质张数统计值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述介质张数统计值包括第二介质张数统计值；所述对所述介质进入信号进行采样，得到采样信号的步骤，包括：

对所述介质进入信号进行二次采样，得到第二采样信号和第三采样信号；

所述根据所述述采样信号确定介质张数统计值的步骤，包括：

当从所述第二采样信号中检测到上升沿信号时，确定所述第三采样信号的电平状态；

当所述电平状态为低电平时，将检测到所述第二采样信号的上升沿信号的时刻确定为统计时刻点；

统计所述统计时刻点的个数，将所述统计时刻点的个数确定为所述第二介质张数统计值。

4.根据权利要求1或2或3所述的方法，其特征在于，所述介质张数统计锁存值包括第一介质张数统计锁存值；所述根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值的步骤，包括：

当检测到所述检测组件信号中的上升沿信号时，将所述介质张数统计值确定为所述第一介质张数统计锁存值。

5.根据权利要求1或2或3所述的方法，其特征在于，所述介质张数统计锁存值包括第二介质张数统计锁存值；所述根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值的步骤，包括：

当检测到所述检测组件信号中的下降沿信号时，将预设重置值确定为所述第二介质张数统计锁存值。

6.根据权利要求1或2或3所述的方法，其特征在于，所述采用所述介质张数统计值和所述介质张数统计锁存值，确定所述介质承载组件的下移时刻点的步骤，包括：

计算所述介质张数统计锁存值与预设统计常量的加和；

确定所述加和等于所述介质张数统计值的检测时刻点；

将所述检测时刻点确定为所述介质承载组件的下移时刻点。

7.根据权利要求1或2或3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当满足预设停止条件时，控制所述介质承载组件停止下移。

8.一种基于FPGA实现电机控制的装置，其特征在于，包括：

介质进入信号获取模块，用于获取介质进入信号；

采样模块，用于对所述介质进入信号进行采样，得到采样信号；

介质张数统计值确定模块，用于根据所述采样信号确定介质张数统计值；

检测组件信号获取模块，用于获取检测组件信号；所述检测组件信号用于表征检测组件的遮挡状态；

介质张数统计锁存值确定模块，用于根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值；

下移时刻点确定模块，用于采用所述介质张数统计值和所述介质张数统计锁存值，确定介质承载组件的下移时刻点；

下移控制模块，用于在所述下移时刻点，控制所述介质承载组件下移。

9.一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1-7中任一项所述的基于FPGA实现电机控制的方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述的基于FPGA实现电机控制的方法。

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