CN113257330B - 存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质，所述方法包括：获取预设测试流程和测试信息；基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程；获取预设测试参数，对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数；基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程。通过对传统的掉电测试方法进行改进，一方面，对现有掉电测试流程中的无效测试环节及非必须测试环节进行识别并对现有掉电测试流程进行优化，从而有效降低掉电测试流程的时间消耗；另一方面，对掉电测试过程中的测试参数进行优化，进一步降低在每个掉电测试环节过程中的时间消耗，从而大大减少整个掉电测试过程中的时间消耗，提高掉电测试效率。

Description

存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质

技术领域

本发明涉及存储器测试技术领域，具体地涉及一种存储装置掉电保护的测试方法、一种存储装置掉电保护的测试装置以及一种计算机可读存储介质。

背景技术

非易失性存储器是芯片在实现功能时必备的物理器件，用于存储各类文件、密钥、交易日志、应用数据甚至程序代码等重要信息和资产，其所承载的数据信息的稳定性和可靠性对于整个芯片的正常使用至关重要。

芯片在使用过程中，由于使用环境的复杂变化，会因为各种意外而遭遇停电、虚接等情况的发生，而此时芯片正处于运行过程中，因此会不可避免遭遇重大影响，尤其针对非易失性存储器，将会导致如数据丢失、存储器损坏等情况的发生，将会为用户的使用或存储器的寿命等造成极大的影响，因此需要建立合理有效的测试环境以对存储器掉电保护功能的实现进行评估。

在现有的测试方法中，主要通过采用低间隔的掉电间隔的方法对存储器进行测试，以及通过对接收的指令进行直接处理以执行对应的测试操作。然而在实际应用过程中，一方面，随着技术的不断发展，低间隔的测试时间间隔会导致测试时间不断增大；另一方面，由于测试环节较多，因此每个测试环节所需要的时间较多，因此现有的测试流程耗时较长，测试效率较低，为技术人员造成了极大的困扰。

发明内容

为了克服现有技术中存在的上述技术问题，本发明实施例提供一种存储装置掉电保护的测试方法，通过对掉电测试过程中的测试流程以及测试参数均进行优化，并根据优化后的测试参数以及用户后的测试流程执行掉电测试操作，从而有效减少了测试时间消耗，提高了测试效率。

为了实现上述目的，本发明实施例提供一种存储装置掉电保护的测试方法，所述方法包括：获取预设测试流程和测试信息；基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程；获取预设测试参数，对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数；基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程。

优选地，所述预设测试流程包括指令收发步骤，所述基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程，包括：获取所述测试信息的时长信息；获取存储装置的设计信息；基于所述设计信息和所述时长信息获得与所述指令收发步骤对应的指令收发时段；基于所述指令收发时段对所述预设测试流程进行优化，获得第一优化后测试流程；将所述第一优化后测试流程作为所述优化后测试流程。

优选地，所述设计信息包括第一掉电时间间隔，所述指令收发步骤包括指令接收步骤和指令发送步骤，所述基于所述设计信息和所述时长信息获得与所述指令收发步骤对应的指令收发时段，包括：基于所述时长信息获取所述指令接收步骤的指令接收时间，以及获取所述指令发送步骤的指令发送时间；基于所述第一掉电时间间隔和所述指令接收时间确定指令接收时段；基于所述第一掉电时间间隔和所述指令发送时间确定指令发送时段；基于所述指令接收时段和所述指令发送时段确定所述指令收发步骤对应的指令收发时段。

优选地，所述基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程，包括：基于所述测试信息判断是否需要执行备份恢复操作；在判断结果为不需要执行所述备份恢复操作的情况下，基于所述判断结果对所述预设测试流程进行优化，获得第二优化后测试流程；将所述第二优化后测试流程作为所述优化后测试流程。

优选地，所述测试信息包括掉电时刻，所述基于所述测试信息判断是否需要执行备份恢复操作，包括：获取预设备份恢复时刻；判断所述掉电时刻是否早于所述预设备份恢复时刻；在所述掉电时刻早于所述预设备份恢复时刻的情况下，确定不需要执行所述备份恢复操作。

优选地，所述获取预设备份恢复时刻，包括：S2110）获取第一上电延时值和预设掉电步长；S2111）基于所述第一上电延时值和所述预设掉电步长执行第一掉电测试操作；S2112）重复执行步骤S2111），在首次获取到与所述第一掉电测试操作对应的第一指令超时反馈信息的情况下，获取与所述第一指令超时反馈信息对应的第一掉电时刻；S2113）按照第一预设比值对所述预设掉电步长进行调整，获得调整后的预设掉电步长；S2114）基于所述第一上电延时值和所述调整后的预设掉电步长执行第二掉电测试操作；S2115）重复执行步骤S2113）-S2114），在首次获取到与所述第二掉电测试操作对应的第二指令超时反馈信息的情况下，获取与所述第二指令超时反馈信息对应的第二掉电时刻，所述第二掉电时刻早于所述第一掉电时刻；S2116）判断所述第二掉电时刻是否符合预设临界要求；S2117）在所述第二掉电时刻符合所述预设临界要求的情况下，将所述第二掉电时刻确定为预设备份恢复时刻。

优选地，所述预设测试参数包括第二上电延时值，所述对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数，包括：基于所述第二上电延时值执行所述备份恢复操作；基于所述备份恢复操作确定最小上电延时值；所述基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程，还包括：基于所述最小上电延时值执行所述优化后测试流程。

优选地，所述基于所述备份恢复操作确定最小上电延时值，包括：S3120）基于所述第二上电延时值执行第一备份恢复操作；S3121）判断是否完成所述第一备份恢复操作；S3122）在完成所述第一备份恢复操作的情况下，按照第二预设比值对所述第二上电延时值进行调整，获得调整后的第二上电延时值；S3123）基于所述调整后的第二上电延时值执行第二备份恢复操作；S3124）判断是否完成所述第二备份恢复操作；S3125）在确定完成所述第二备份恢复操作的情况下，重复执行步骤S3122）-S3124）；在确定未完成所述第二备份恢复操作的情况下，按照第三预设比值对所述调整后的第二上电延时值进行调整，获得再次调整后的第二上电延时值；S3126）基于所述再次调整后的第二上电延时值执行第三备份恢复操作；S3127）判断是否完成所述第三备份恢复操作；S3128）在确定未完成所述第三备份恢复操作的情况下，重复执行步骤S3125）-S3127）；在确定完成所述第三备份恢复操作的情况下，将所述再次调整后的第二上电延时值作为所述最小上电延时值。

优选地，所述预设测试参数包括预设掉电-上电时间，所述对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数，包括：获取预设调整系数值；基于所述预设调整系数值和所述预设掉电-上电时间确定最小掉电-上电时间；所述基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程，还包括：基于所述最小掉电-上电时间执行所述优化后测试流程。

优选地，所述基于所述预设调整系数值和所述预设掉电-上电时间确定最小掉电-上电时间，包括：基于所述预设掉电-上电时间执行掉电-上电运行操作；获取对所述掉电-上电运行操作的评估结果；在所述评估结果为运行稳定的情况下，基于所述预设调整系数值对所述预设掉电-上电时间进行调整，获得调整后掉电-上电时间；将所述调整后掉电-上电时间作为最小掉电-上电时间。

优选地，所述对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数，包括：获取预设指令操作时间，以及获取第四预设比值；基于所述第四预设比值和所述预设指令操作时间确定最小掉电间隔时间；所述基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程，还包括：基于所述最小掉电间隔时间执行所述优化后测试流程。

优选地，所述获取第四预设比值，包括：获取预设偏差值β；基于所述预设偏差值β确定所述第四预设比值α，其中所述第四预设比值α表征为：α＜1/（1+β）。

优选地，所述方法还包括：获取与所述测试信息对应的指令执行信息；对所述指令执行信息执行缓存存储操作；基于所述指令执行信息获取掉电测试次数；在所述掉电测试次数达到预设次数阈值的情况下，获取对执行所述优化后测试流程的评估结果；在所述评估结果为测试正常的情况下，提取所述指令执行信息中的所有掉电时间信息；对所有掉电时间信息执行日志存储操作；在所述评估结果为测试异常的情况下，对所述指令执行信息执行日志存储操作。

相应的，本发明实施例还提供一种存储装置掉电保护的测试装置，所述装置包括：获取单元，用于获取预设测试流程和测试信息；第一优化单元，用于基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程；第二优化单元，用于获取预设测试参数，对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数；测试单元，用于基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程。

优选地，所述预设测试流程包括指令收发步骤，所述第一优化单元包括：第一信息获取模块，用于获取所述测试信息的时长信息；第二信息获取模块，用于获取存储装置的设计信息；时段获取模块，用于基于所述设计信息和所述时长信息获得与所述指令收发步骤对应的指令收发时段；第一优化模块，用于基于所述指令收发时段对所述预设测试流程进行优化，获得第一优化后测试流程；第一确定模块，用于将所述第一优化后测试流程作为所述优化后测试流程。

优选地，所述设计信息包括第一掉电时间间隔，所述指令收发步骤包括指令接收步骤和指令发送步骤，所述时段获取模块用于：基于所述时长信息获取所述指令接收步骤的指令接收时间，以及获取所述指令发送步骤的指令发送时间；基于所述第一掉电时间间隔和所述指令接收时间确定指令接收时段；基于所述第一掉电时间间隔和所述指令发送时间确定指令发送时段；基于所述指令接收时段和所述指令发送时段确定所述指令收发步骤对应的指令收发时段。

优选地，所述第一优化单元包括：判断模块，用于基于所述测试信息判断是否需要执行备份恢复操作；第二用户模块，用于在判断结果为不需要执行所述备份恢复操作的情况下，基于所述判断结果对所述预设测试流程进行优化，获得第二优化后测试流程；第二确定模块，用于将所述第二优化后测试流程作为所述优化后测试流程。

优选地，所述测试信息包括掉电时刻，所述判断模块用于：获取预设备份恢复时刻；判断所述掉电时刻是否早于所述预设备份恢复时刻；在所述掉电时刻早于所述预设备份恢复时刻的情况下，确定不需要执行所述备份恢复操作。

优选地，所述获取预设备份恢复时刻，包括：S2110）获取第一上电延时值和预设掉电步长；S2111）基于所述第一上电延时值和所述预设掉电步长执行第一掉电测试操作；S2112）重复执行步骤S2111），在首次获取到与所述第一掉电测试操作对应的第一指令超时反馈信息的情况下，获取与所述第一指令超时反馈信息对应的第一掉电时刻；S2113）按照第一预设比值对所述预设掉电步长进行调整，获得调整后的预设掉电步长；S2114）基于所述第一上电延时值和所述调整后的预设掉电步长执行第二掉电测试操作；S2115）重复执行步骤S2113）-S2114），在首次获取到与所述第二掉电测试操作对应的第二指令超时反馈信息的情况下，获取与所述第二指令超时反馈信息对应的第二掉电时刻，所述第二掉电时刻早于所述第一掉电时刻；S2116）判断所述第二掉电时刻是否符合预设临界要求；S2117）在所述第二掉电时刻符合所述预设临界要求的情况下，将所述第二掉电时刻确定为预设备份恢复时刻。

优选地，所述预设测试参数包括第二上电延时值，所述第二优化单元包括：备份模块，用于基于所述第二上电延时值执行所述备份恢复操作；上电延时确定模块，用于基于所述备份恢复操作确定最小上电延时值；所述测试单元还用于：基于所述最小上电延时值执行所述优化后测试流程。

优选地，所述上电延时确定模块用于：S3120）基于所述第二上电延时值执行第一备份恢复操作；S3121）判断是否完成所述第一备份恢复操作；S3122）在完成所述第一备份恢复操作的情况下，按照第二预设比值对所述第二上电延时值进行调整，获得调整后的第二上电延时值；S3123）基于所述调整后的第二上电延时值执行第二备份恢复操作；S3124）判断是否完成所述第二备份恢复操作；S3125）在确定完成所述第二备份恢复操作的情况下，重复执行步骤S3122）-S3124）；在确定未完成所述第二备份恢复操作的情况下，按照第三预设比值对所述调整后的第二上电延时值进行调整，获得再次调整后的第二上电延时值；S3126）基于所述再次调整后的第二上电延时值执行第三备份恢复操作；S3127）判断是否完成所述第三备份恢复操作；S3128）在确定未完成所述第三备份恢复操作的情况下，重复执行步骤S3125）-S3127）；在确定完成所述第三备份恢复操作的情况下，将所述再次调整后的第二上电延时值作为所述最小上电延时值。

优选地，所述预设测试参数包括预设掉电-上电时间，所述第二优化单元还包括：调整系数获取模块，用于获取预设调整系数值；第一时间确定模块，用于基于所述预设调整系数值和所述预设掉电-上电时间确定最小掉电-上电时间；所述测试单元还用于：基于所述最小掉电-上电时间执行所述优化后测试流程。

优选地，所述时间确定模块用于：基于所述预设掉电-上电时间执行掉电-上电运行操作；获取对所述掉电-上电运行操作的评估结果；在所述评估结果为运行稳定的情况下，基于所述预设调整系数值对所述预设掉电-上电时间进行调整，获得调整后掉电-上电时间；将所述调整后掉电-上电时间作为最小掉电-上电时间。

优选地，所述第二优化单元还包括：第三信息获取模块，用于获取预设指令操作时间，以及获取第四预设比值；第二时间确定模块，用于基于所述第四预设比值和所述预设指令操作时间确定最小掉电间隔时间；所述测试单元还用于：基于所述最小掉电间隔时间执行所述优化后测试流程。

优选地，所述第三信息获取模块用于：获取预设偏差值β；基于所述预设偏差值β确定所述第四预设比值α，其中所述第四预设比值α表征为：α＜1/（1+β）。

优选地，所述装置还包括日志存储单元，所述日志存储单元包括：第四信息获取模块，用于获取与所述测试信息对应的指令执行信息；缓存模块，用于对所述指令执行信息执行缓存存储操作；次数获取模块，用于基于所述指令执行信息获取掉电测试次数；评估模块，用于在所述掉电测试次数达到预设次数阈值的情况下，获取对执行所述优化后测试流程的评估结果；第一日志存储模块，用于在所述评估结果为测试正常的情况下，提取所述指令执行信息中的所有掉电时间信息；对所有掉电时间信息执行日志存储操作；第二日志存储模块，用于在所述评估结果为测试异常的情况下，对所述指令执行信息执行日志存储操作。

另一方面，本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本发明实施例提供的方法。

通过本发明提供的技术方案，本发明至少具有如下技术效果：

通过对传统的掉电测试方法进行改进，一方面，对现有掉电测试流程中的无效测试环节以及非必须测试环节进行识别并对现有掉电测试流程进行优化，从而有效降低掉电测试流程的时间消耗；另一方面，对掉电测试过程中的测试参数进行优化，进一步降低在每个掉电测试环节过程中的时间消耗，从而大大减少了整个掉电测试过程中的时间消耗，提高了掉电测试效率。

本发明实施例的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

附图说明

附图是用来提供对本发明实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明实施例，但并不构成对本发明实施例的限制。在附图中：

图1是本发明实施例提供的现有掉电测试流程的示意图；

图2是本发明实施例提供的存储装置掉电保护的测试方法的具体实现流程图；

图3是本发明实施例提供的存储装置掉电保护的测试方法中对预设测试流程进行优化的具体实现流程图；

图4是本发明另一实施例提供的存储装置掉电保护的测试方法中对预设测试流程进行优化的具体实现流程图；

图5是本发明实施例提供的现有技术中上电后备份恢复的示意图；

图6是本发明实施例提供的存储装置掉电保护的测试装置的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明实施例的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明实施例，并不用于限制本发明实施例。

本发明实施例中的术语“系统”和“网络”可被互换使用。“多个”是指两个或两个以上，鉴于此，本发明实施例中也可以将“多个”理解为“至少两个”。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，字符“/”，如无特殊说明，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。另外，需要理解的是，在本发明实施例的描述中，“第一”、“第二”等词汇，仅用于区分描述的目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，也不能理解为指示或暗示顺序。

下面首先介绍本发明的背景技术。

为了对存储器的性能进行最大化的保护，实现在突然掉电的情况下对存储器的性能有更好的了解，需要对存储器的掉电运行进行测试。请参见图1，在现有的测试流程中，主要采用如下步骤：首先向存储器发送掉电测试指令，存储器在t_接收指令时段获取到掉电测试指令后，进入测试流程，例如首先在t_非NVM操作时段执行一些非NVM（Non-Volatile Memory，非易失性存储器）操作，然后在t_写备份区时段将旧值写入到备份区中，并在t_{置有效标记}时段将该备份区的有效标记置为有效，然后在t_写目标区时段将新值写入目标区，并在t_{置无效标记}时段将该目标区的有效标记置为无效，然后在第二个t_非NVM操作时段再次执行一些非NVM操作，从而完成整个掉电测试指令，即第一个t_非NVM操作时段至第二个t_非NVM操作时段所涉及的时间区间为执行上述掉电测试指令的执行时间（即t_指令处理），最后，在t_发送响应时段反馈对应的响应指令。

然而在实际应用过程中，一方面，由于上述测试流程的执行环节较多，而每个测试环节均需要消耗一定测试时间，因此导致整个测试时间较长；另一方面，现有的测试流程存在部分测试环节对测试结果影响不大，但依然需要占用整个测试过程的测试时间，因此进一步导致测试效率的降低，无法满足现有的测试效率需求。

为了解决上述技术问题，请参见图2，本发明实施例提供一种存储装置掉电保护的测试方法，所述方法包括：

S10）获取预设测试流程和测试信息；

S20）基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程；

S30）获取预设测试参数，对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数；

S40）基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程。

在一种可能的实施方式中，为了提高测试过程的测试效率，技术人员分别对整个测试流程以及测试参数进行优化，以大大提高测试效率。在测试过程中，首先获取预设测试流程和测试信息，然后根据测试信息对预设测试流程进行优化，并获得优化后测试流程。

请参见图3，在本发明实施例中，所述预设测试流程包括指令收发步骤，所述基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程，包括：

S211）获取存储装置的设计信息以及所述测试信息的时长信息；

S212）基于所述设计信息和所述时长信息获得与所述指令收发步骤对应的指令收发时段；

S213）基于所述指令收发时段对所述预设测试流程进行优化，获得第一优化后测试流程；

S214）将所述第一优化后测试流程作为所述优化后测试流程。

进一步地，在本发明实施例中，所述设计信息包括第一掉电时间间隔，所述指令收发步骤包括指令接收步骤和指令发送步骤，所述基于所述设计信息和所述时长信息获得与所述指令收发步骤对应的指令收发时段，包括：基于所述时长信息获取所述指令接收步骤的指令接收时间，以及获取所述指令发送步骤的指令发送时间；基于所述第一掉电时间间隔和所述指令接收时间确定指令接收时段；基于所述第一掉电时间间隔和所述指令发送时间确定指令发送时段；基于所述指令接收时段和所述指令发送时段确定所述指令收发步骤的指令收发时段。

在一种可能的实施方式中，将存储器在掉电测试过程中所涉及的指令接收、指令处理以及指令发送（即指令响应）所对应的通信信息作为上述测试信息，例如在本发明实施例中，指令收发步骤即指令接收步骤和指令响应步骤，由于指令接收步骤和指令响应步骤都是存储器用来接收和发送指令的时间，不涉及对存储器的掉电保护，因此不需要进行掉电测试，因此在本发明实施例中，通过测试信息的时长信息分别获取指令接收步骤对应的指令接收时间，以及获取指令发送步骤对应的指令发送时间，例如可以通过示波器等监测设备监测存储器执行指令接收步骤以及执行指令发送步骤所占用的通信时间。

此时进一步根据该第一掉电时间间隔和指令接收时间确定指令接收时段，例如指令接收时段表征为[1，t_接收指令/t_{第一掉电时间间隔}]，以及根据第一掉电时间间隔和指令发送时间确定指令发送时段，例如指令发送时段表征为[t_接收指令+ t_指令处理+ t_发送响应）/t_{第一掉电时间间隔}]，其中t_{第一掉电时间间隔}表征为第一掉电时间间隔，例如在本发明实施例中，该第一掉电时间间隔为存储器设计的最小掉电时间间隔，即确定了指令收发步骤对应的指令收发时段，此时进一步地，在后续掉电测试过程中，根据该指令收发时段对预设测试流程进行优化，例如在本发明实施例中，一旦检测到当前时段处于指令接收时段或指令发送时段，则直接跳过当前时段直接进入下一时段进行掉电测试，从而获得第一优化后测试流程，并将该第一优化后测试流程作为优化后测试流程以执行掉电测试操作。

需要说明的是，在本发明实施例中，上述对测试流程以及测试参数的优化，并将优化后的测试参数与优化后的测试流程相结合以执行对应的掉电测试操作属于本发明实施例的最佳实施例，对于本领域技术人员很容易知道，可以根据实际需求仅采用优化后的测试参数结合传统测试流程，或采用传统测试参数结合优化后的测试流程执行掉电测试操作，均属于本领域技术人员在本发明实施例的基础上容易想到的，因此也应该属于本发明的保护范围，在此不做过多赘述。

在本发明实施例中，通过对传统的掉电测试流程进行优化，跳过与测试结果不相关的测试环节以加快执行掉电测试的测试效率，从而实现了对传统的掉电测试流程的优化，大大减少了整个测试环节所需要消耗的测试时间，提高了技术人员的工作效率。

请参见图4，在本发明实施例中，所述基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程，包括：

S221）基于所述测试信息判断是否需要执行备份恢复操作；

S222）在判断结果为不需要执行所述备份恢复操作的情况下，基于所述判断结果对所述预设测试流程进行优化，获得第二优化后测试流程；

S223）将所述第二优化后测试流程作为所述优化后测试流程。

在现有掉电测试过程中，当存储器的掉电事件发生后，存储器在再次上电时会进行备份区的数据恢复，而为了保证备份区数据的准确和可靠恢复，因此往往需要为该环节设置一个延时时间，以允许存储器有充分的时间执行上述备份恢复操作。然而在实际应用过程中，由于存储器并不是每次都在掉电过程中实现了数据备份，因此并不是每次在掉电后的上电过程中都需要执行上述备份恢复操作，即并不一定需要为每次的上电都设置延时时间。

在一种可能的实施方式中，在获取到存储器的测试信息后，首先判断是否需要执行备份恢复操作，例如在本发明实施例中，所述测试信息包括掉电时刻，在基于所述测试信息判断是否需要执行备份恢复操作的过程中，首先获取预设备份恢复时刻，然后判断所述掉电时刻是否早于所述预设备份恢复时刻，例如在本实施例中，监测到存储器的掉电时刻早于预设备份恢复时刻，因此确定不需要执行备份恢复操作。

此时根据该判断结果对预设测试流程进行优化，例如直接跳过预设测试流程中的备份恢复步骤，并直接执行下一步骤的测试，以获得第二优化后测试流程，并在后续测试过程中将该第二优化后测试流程作为优化后测试流程执行掉电测试操作。

在本发明实施例中，通过在对传统测试流程中的测试环节进行执行之前，首先对该测试环节的执行必要性进行分析和判断，并直接跳过不必要执行的测试环节，从而能够进一步减少掉电测试的时间消耗，提高了掉电测试的测试效率，提高了技术人员的工作效率。

请参见图5，当存储器在掉电过程中执行完成数据备份并将备份区置为有效，则在存储器再次上电时会首先触发备份恢复操作，例如在T_上电时刻对存储器进行再次上电，则在t_备份恢复时间内存储器首先执行备份恢复操作，在此时间内，存储器将不能对发送过来的指令进行接收或响应，并在T_备份完成时刻确定完成备份恢复操作后，才能接收指令，例如在t_{接收首条指令}时段内接收上电后的首条指令，在t_{处理首条指令}时段内处理首条指令，以及在t_发送响应时段反馈响应信息。由于存储器的备份恢复时间往往处于t_{置有效标记}和t_写目标区的交界处，因此为了保证上述备份恢复操作判断的准确性，需要进一步确定存储器的备份恢复时刻。

在本发明实施例中，所述获取预设备份恢复时刻，包括：S2110）获取第一上电延时值和预设掉电步长；S2111）基于所述第一上电延时值和所述预设掉电步长执行第一掉电测试操作；S2112）重复执行步骤S2111），在首次获取到与所述第一掉电测试操作对应的第一指令超时反馈信息的情况下，获取与所述第一指令超时反馈信息对应的第一掉电时刻；S2113）按照第一预设比值对所述预设掉电步长进行调整，获得调整后的预设掉电步长；S2114）基于所述第一上电延时值和所述调整后的预设掉电步长执行第二掉电测试操作；S2115）重复执行步骤S2113）-S2114），在首次获取到与所述第二掉电测试操作对应的第二指令超时反馈信息的情况下，获取与所述第二指令超时反馈信息对应的第二掉电时刻，所述第二掉电时刻早于所述第一掉电时刻；S2116）判断所述第二掉电时刻是否符合预设临界要求；S2117）在所述第二掉电时刻符合所述预设临界要求的情况下，将所述第二掉电时刻确定为预设备份恢复时刻。

在一种可能的实施方式中，首先获取第一上电延时和预设掉电步长，例如在本实施例中，可以将该第一上电延时设置为小于t_{置有效标记}的一较小时间值，根据该第一上电延时值，存储器在再次上电后，根据该第一上电延时值向存储器发送指令，若此时存储器发生了超时现象，则可以确定存储器在上次掉电过程中触发了备份恢复操作（因此在此时间内不会响应发送的指令），此时为了确定备份恢复时刻的精确值，首先确定一较大的第一掉电步长，并根据该第一掉电步长执行掉电测试操作。

例如在本实施例中，在执行n次第一掉电测试操作后，监测到上电过程中首次出现超时现象，则确定在n-1次的掉电过程中触发了备份恢复操作，此时将n-1次掉电的时刻记为T1（即第一掉电时刻），此时按照第一预设比值对预设掉电步长进行调整，例如该第一预设比值为50%，例如将预设掉电步长缩小50%，并获得调整后的预设掉电步长，然后根据该调整后的预设掉电步长和第一上电延时值执行再次执行掉电测试操作，例如在本实施例中，从n-2次掉电时刻开始再次执行掉电测试操作，例如在执行m次第二掉电测试操作后，监测到首次获取到对应的第二指令超时反馈信息，则将m-1次掉电的时刻记为T2（即第二掉电时刻），该第二掉电时刻应该小于第一掉电时刻。

进一步地，为了进一步提高获取到的备份恢复时刻的精确性，在获取到上述第二掉电时刻后，还可以继续重复上述第二掉电测试操作若干次，并获取到新的第二掉电时刻，此时可以判断该第二掉电时刻是否符合预设临界要求，例如判断该第二掉电时刻是否处于t_{置有效标记}和t_写目标区的交界处的0.1s范围内，若是，则确定该第二掉电时刻符合预设临界要求，此时将该第二掉电时刻确定为预设备份恢复时刻。在后续的掉电测试操作过程中，在对存储器上电后，可以首先判断上次掉电的时刻是否小于该预设备份恢复时刻，若是，则可以确定存储器在上次掉电过程中并未执行完成数据备份操作，因此本次上电不需要进行延时而可以直接执行后续掉电测试操作。

在本发明实施例中，通过对存储器的备份恢复时间进行精确的确定，而不是采用一个固定的较大值，能够进一步减小在对存储器进行备份恢复判断过程中的时间消耗，提高对存储器的备份恢复操作的判断精确性，提高了掉电测试效率。

在完成对测试流程的优化后，可以继续对测试参数进行优化，以进一步对整个测试所需要消耗的时间进行优化，提高掉电测试效率。

在本发明实施例中，所述预设测试参数包括第二上电延时值，所述对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数，包括：基于所述第二上电延时值执行所述备份恢复操作；基于所述备份恢复操作确定最小上电延时值；所述基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程，还包括：基于所述最小上电延时值执行所述优化后测试流程。

进一步地，在本发明实施例中，所述基于所述备份恢复操作确定最小上电延时值，包括：S3120）基于所述第二上电延时值执行第一备份恢复操作；S3121）判断是否完成所述第一备份恢复操作；S3122）在完成所述第一备份恢复操作的情况下，按照第二预设比值对所述第二上电延时值进行调整，获得调整后的第二上电延时值；S3123）基于所述调整后的第二上电延时值执行第二备份恢复操作；S3124）判断是否完成所述第二备份恢复操作；S3125）在确定完成所述第二备份恢复操作的情况下，重复执行步骤S3122）-S3124）；在确定未完成所述第二备份恢复操作的情况下，按照第三预设比值对所述调整后的第二上电延时值进行调整，获得再次调整后的第二上电延时值；S3126）基于所述再次调整后的第二上电延时值执行第三备份恢复操作；S3127）判断是否完成所述第三备份恢复操作；S3128）在确定未完成所述第三备份恢复操作的情况下，重复执行步骤S3125）-S3127）；在确定完成所述第三备份恢复操作的情况下，将所述再次调整后的第二上电延时值作为所述最小上电延时值。

在一种可能的实施方式中，为了保证再次上电时一定触发备份恢复，则可以将掉电时间设置在t_写目标区中的某个值，此时获取第二上电延时值，例如该第二上电延时值为在再次上电过程中保证备份恢复操作能够完成的延时值，例如在本实施例中，将该第二上电延时值设置为一较大值，并按照该第二上电延时值执行第一备份恢复操作。在执行过程中，监测存储器上电后的首条指令是否能够执行成功，例如在本实施例中，确定存储器首条指令执行成功，则确定该存储器的第一备份恢复操作执行完成，此时按照第二预设比值对第二上电延时值进行调整，例如将第二上电延时值缩减为原值的50%以获得调整后的第二上电延时值，然后以调整后的第二上电延时值执行第二备份恢复操作。

在执行过程中，监测是否出现上电后首条指令执行失败的情况，若没有，则继续将调整后的第二上电延时值缩减50%，以获得新的第二上电延时值并继续执行第二备份恢复操作，直到监测到上电后首条指令执行失败的情况，确定未完成第二备份恢复操作，此时按照第三预设比值对上述经过至少一次调整后的第二上电延时值进行调整，例如将该第二上电延时值增大50%以获得再次调整后的第二上电延时值，然后以再次调整后的第二上电延时值执行第三备份恢复操作。

在执行过程中，继续监测是否出现上电后首条指令执行成功的情况，若是，则确定完成第三备份恢复操作，此时将该再次调整后的第二上电延时值作为最小上电延时值，此时进一步获取该最小上电延时值对应的最小上电延时时刻，在后续掉电测试过程中，按照该最小上电延时值执行上电后的延时操作，从而能够大大优化上电后的延时时间，避免大量延时时间的消耗，提高了掉电测试的测试效率。

在本发明实施例中，所述预设测试参数包括预设掉电-上电时间，所述对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数，包括：获取预设调整系数值；基于所述预设调整系数值和所述预设掉电-上电时间确定最小掉电-上电时间；所述基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程，还包括：基于所述最小掉电-上电时间执行所述优化后测试流程。

进一步地，在本发明实施例中，所述基于所述预设调整系数值和所述预设掉电-上电时间确定最小掉电-上电时间，包括：基于所述预设掉电-上电时间执行掉电-上电运行操作；获取对所述掉电-上电运行操作的评估结果；在所述评估结果为运行稳定的情况下，基于所述预设调整系数值对所述预设掉电-上电时间进行调整，获得调整后掉电-上电时间；将所述调整后掉电-上电时间作为最小掉电-上电时间。

在传统的掉电测试的过程中，需要执行大量的掉电-上电过程，而在该过程中，存储器的掉电-上电之间的时间间隔往往是根据该存储器或芯片的电气特性预先确定的，而为了保证所有芯片或存储器均能够稳定、可靠地执行掉电-上电过程，往往将上述时间间隔设置为一个较大值，因此为掉电测试环境带来了极大的时间消耗。

在一种可能的实施方式中，首先获取预设掉电-上电时间，例如该预设掉电-上电时间为根据存储器的电气特性预先设置的较大值，此时获取预设调整系数值，并根据该预设调整系数值和预设掉电-上电时间确定最小掉电-上电时间。例如首先根据初始掉电-上电时间执行掉电-上电运行操作，在运行过程中，对存储器的运行情况进行评估，例如在本实施例中，存储器根据上述初始掉电-上电时间执行掉电-上电运行操作后，能够稳定运行，则可以生成运行稳定的评估结果。此时根据预设调整系数值对预设掉电-上电时间进行调整，例如预设调整系统为2，则调整后掉电-上电时间可以确定为2*预设掉电-上电时间，将该调整后掉电-上电时间作为最小掉电-上电时间，在后续掉电测试过程中，存储器按照该最小掉电-上电时间执行掉电后的上电操作，从而能够有效减少存储器或芯片在掉电后重新上电所需要的时间消耗，提高了掉电测试效率。

在本发明实施例中，所述预设测试参数包括预设掉电间隔时间，所述对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数，包括：获取第四预设比值；基于所述第四预设比值和所述预设掉电间隔时间确定最小掉电间隔时间；所述基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程，还包括：基于所述最小掉电间隔时间执行所述优化后测试流程。

进一步地，在本发明实施例中，所述获取第四预设比值，包括：获取预设偏差值β；基于所述预设偏差值β确定所述第四预设比值α，其中所述第四预设比值α表征为：α＜1/（1+β）。

为了保证在掉电测试过程中，存储器在每个测试环节都能够发生掉电测试，因此需要保证其掉电的时间间隔必须满足其物理特性，而在现有技术中，为了实现对所有的芯片或存储器的兼容，采用固定的较大值作为其掉电时间间隔以满足上述要求，显然的，将会导致大量的测试时间消耗。

为了解决上述技术问题，在一种可能的实施方式中，首先获取预设指令操作时间，对于本领域技术人员很容易知道，存储器或芯片在执行写备份区、置有效标记、写目标区以及置无效标记的过程中，均是通过最基本的硬件操作组合而成，上述硬件操作包括但不限于页擦、页写、字节擦、字节写等，而上述每个硬件操作均需要消耗对应的操作时间，在本发明实施例中，所述预设指令操作时间为上述硬件操作中耗时最小的最小操作时间。

此时进一步获取在满足其物理特性下的第四预设比值，例如在本发明实施例中，由于不同的芯片或存储器因其物理特性的不同存在一定偏差，因此首先获取预设偏差值β，例如该预设偏差值β可以由技术人员根据实际工作经验得出。在不考虑预设偏差值β的情况下，为保证芯片或存储器在所有的指令环境均能够发送有效的掉电，掉电测试的掉电间隔时长应表征为预设指令操作时间与第四预设比值α的乘积，且其乘积应该小于预设指令操作时间，进一步地，考虑到上述预设偏差值β，则预设指令操作时间与第四预设比值α和预设偏差值β之间的关系可以表征为：

（预设指令操作时间 *α) * (1 + β)<预设指令操作时间；

即获得第四预设比值α表征为：α＜1/（1+β）。

此时根据该第四预设比值和预设指令操作时间确定最小掉电间隔时间，例如最小掉电间隔时间=预设指令操作时间 *α，其中α＜1/（1+β）。此时根据该最小掉电间隔时间执行优化后测试流程，从而进一步降低在掉电测试过程中的时间消耗，进一步提高了掉电测试的测试效率。

在本发明实施例中，通过对掉电测试过程中的测试参数进行优化，以进一步大大减少在掉电测试过程中所需要花费的测试时间，大大提高了技术人员的测试效率，提高了工作效率。

进一步地，对于本领域技术人员很容易知道，在进行测试的过程中需要记录测试日志，以便于后续的追溯，然而在传统的日志记录过程中，往往是将所有的测试日志均通过日志存储的方式对测试过程进行保存，例如对每条指令的执行结果进行日志保存。然而对于掉电测试，并不需要记录每条指令的详细执行结果，因此传统掉电测试方法中在执行日志记录的过程中存在大量的记录时间浪费，大大降低了测试效率。

在本发明实施例中，所述方法还包括：获取与所述测试信息对应的指令执行信息；对所述指令执行信息执行缓存存储操作；基于所述指令执行信息获取掉电测试次数；在所述掉电测试次数达到预设次数阈值的情况下，获取对执行所述优化后测试流程的评估结果；在所述评估结果为测试正常的情况下，提取所述指令执行信息中的所有掉电时间信息；对所有掉电时间信息执行日志存储操作；在所述评估结果为测试异常的情况下，对所述指令执行信息执行日志存储操作。

在一种可能的实施方式中，在开始执行掉电测试后，实时获取每次执行优化后测试流程过程中与测试信息对应的指令执行信息，例如该指令执行信息包括测试过程中的每个指令执行交互信息以及掉电时间信息等，并对上述指令执行信息执行缓存存储操作，例如实时将上述指令执行信息存储至易失性存储器，以提高指令执行信息的存储速度，减少指令执行信息的存储时间消耗，同时，基于上述指令执行信息获取掉电测试次数，例如可以根据指令执行信息中的掉电时间信息确定掉电测试次数，例如每获取到一次掉电测试次数则进行累加，当监测到累加的掉电测试次数达到预设次数阈值（例如2000次、5000次等）的情况下，获取对执行优化后测试流程的评估结果，例如判断本次掉电测试是否存在异常问题，若不存在异常问题，即评估结果为测试正常的情况下，提取缓存的指令执行信息中的所有掉电时间信息，并对上述所有掉电时间信息执行日志存储操作，例如将所有掉电时间信息存储至非易失性存储器。若存在异常问题，即评估结果为测试异常的情况下，将上述指令执行信息均存储在非易失性存储器的日志中。

在本发明实施例中，通过对传统测试过程中的日志保存方式进行优化，一方面，对日志存储的内容进行优化，大大减少了不必要存储的信息，从而有效减少了日志存储过程中的时间消耗，提高了测试效率；另一方面，首先通过易失性存储器对指令执行信息进行缓存存储，从而大大加快了指令执行信息的存储效率，减少了存储时间，进一步提高了掉电测试的测试效率。

下面结合附图对本发明实施例所提供的存储装置掉电保护的测试装置进行说明。

请参见图6，基于同一发明构思，本发明实施例提供一种存储装置掉电保护的测试装置，所述装置包括：获取单元，用于获取预设测试流程和测试信息；第一优化单元，用于基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程；第二优化单元，用于获取预设测试参数，对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数；测试单元，用于基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程。

在本发明实施例中，所述预设测试流程包括指令收发步骤，所述第一优化单元包括：第一信息获取模块，用于获取所述测试信息的时长信息；第二信息获取模块，用于获取存储装置的设计信息；时段获取模块，用于基于所述设计信息和所述时长信息获得与所述指令收发步骤对应的指令收发时段；第一优化模块，用于基于所述指令收发时段对所述预设测试流程进行优化，获得第一优化后测试流程；第一确定模块，用于将所述第一优化后测试流程作为所述优化后测试流程。

在本发明实施例中，所述设计信息包括第一掉电时间间隔，所述指令收发步骤包括指令接收步骤和指令发送步骤，所述时段获取模块用于：基于所述时长信息获取所述指令接收步骤的指令接收时间，以及获取所述指令发送步骤的指令发送时间；基于所述第一掉电时间间隔和所述指令接收时间确定指令接收时段；基于所述第一掉电时间间隔和所述指令发送时间确定指令发送时段；基于所述指令接收时段和所述指令发送时段确定所述指令收发步骤对应的指令收发时段。

在本发明实施例中，所述第一优化单元包括：判断模块，用于基于所述测试信息判断是否需要执行备份恢复操作；第二用户模块，用于在判断结果为不需要执行所述备份恢复操作的情况下，基于所述判断结果对所述预设测试流程进行优化，获得第二优化后测试流程；第二确定模块，用于将所述第二优化后测试流程作为所述优化后测试流程。

在本发明实施例中，所述测试信息包括掉电时刻，所述判断模块用于：获取预设备份恢复时刻；判断所述掉电时刻是否早于所述预设备份恢复时刻；在所述掉电时刻早于所述预设备份恢复时刻的情况下，确定不需要执行所述备份恢复操作。

在本发明实施例中，所述获取预设备份恢复时刻，包括：S2110）获取第一上电延时值和预设掉电步长；S2111）基于所述第一上电延时值和所述预设掉电步长执行第一掉电测试操作；S2112）重复执行步骤S2111），在首次获取到与所述第一掉电测试操作对应的第一指令超时反馈信息的情况下，获取与所述第一指令超时反馈信息对应的第一掉电时刻；S2113）按照第一预设比值对所述预设掉电步长进行调整，获得调整后的预设掉电步长；S2114）基于所述第一上电延时值和所述调整后的预设掉电步长执行第二掉电测试操作；S2115）重复执行步骤S2113）-S2114），在首次获取到与所述第二掉电测试操作对应的第二指令超时反馈信息的情况下，获取与所述第二指令超时反馈信息对应的第二掉电时刻，所述第二掉电时刻早于所述第一掉电时刻；S2116）判断所述第二掉电时刻是否符合预设临界要求；S2117）在所述第二掉电时刻符合所述预设临界要求的情况下，将所述第二掉电时刻确定为预设备份恢复时刻。

在本发明实施例中，所述预设测试参数包括第二上电延时值，所述第二优化单元包括：备份模块，用于基于所述第二上电延时值执行所述备份恢复操作；上电延时确定模块，用于基于所述备份恢复操作确定最小上电延时值；所述测试单元还用于：基于所述最小上电延时值执行所述优化后测试流程。

在本发明实施例中，所述上电延时确定模块用于：S3120）基于所述第二上电延时值执行第一备份恢复操作；S3121）判断是否完成所述第一备份恢复操作；S3122）在完成所述第一备份恢复操作的情况下，按照第二预设比值对所述第二上电延时值进行调整，获得调整后的第二上电延时值；S3123）基于所述调整后的第二上电延时值执行第二备份恢复操作；S3124）判断是否完成所述第二备份恢复操作；S3125）在确定完成所述第二备份恢复操作的情况下，重复执行步骤S3122）-S3124）；在确定未完成所述第二备份恢复操作的情况下，按照第三预设比值对所述调整后的第二上电延时值进行调整，获得再次调整后的第二上电延时值；S3126）基于所述再次调整后的第二上电延时值执行第三备份恢复操作；S3127）判断是否完成所述第三备份恢复操作；S3128）在确定未完成所述第三备份恢复操作的情况下，重复执行步骤S3125）-S3127）；在确定完成所述第三备份恢复操作的情况下，将所述再次调整后的第二上电延时值作为所述最小上电延时值。

在本发明实施例中，所述预设测试参数包括预设掉电-上电时间，所述第二优化单元还包括：调整系数获取模块，用于获取预设调整系数值；第一时间确定模块，用于基于所述预设调整系数值和所述预设掉电-上电时间确定最小掉电-上电时间；所述测试单元还用于：基于所述最小掉电-上电时间执行所述优化后测试流程。

在本发明实施例中，所述时间确定模块用于：基于所述预设掉电-上电时间执行掉电-上电运行操作；获取对所述掉电-上电运行操作的评估结果；在所述评估结果为运行稳定的情况下，基于所述预设调整系数值对所述预设掉电-上电时间进行调整，获得调整后掉电-上电时间；将所述调整后掉电-上电时间作为最小掉电-上电时间。

在本发明实施例中，所述第二优化单元还包括：第三信息获取模块，用于获取预设指令操作时间，以及获取第四预设比值；第二时间确定模块，用于基于所述第四预设比值和所述预设指令操作时间确定最小掉电间隔时间；所述测试单元还用于：基于所述最小掉电间隔时间执行所述优化后测试流程。

在本发明实施例中，所述第三信息获取模块用于：获取预设偏差值β；基于所述预设偏差值β确定所述第四预设比值α，其中所述第四预设比值α表征为：α＜1/（1+β）。

在本发明实施例中，所述装置还包括日志存储单元，所述日志存储单元包括：第四信息获取模块，用于获取与所述测试信息对应的指令执行信息；缓存模块，用于对所述指令执行信息执行缓存存储操作；次数获取模块，用于基于所述指令执行信息获取掉电测试次数；评估模块，用于在所述掉电测试次数达到预设次数阈值的情况下，获取对执行所述优化后测试流程的评估结果；第一日志存储模块，用于在所述评估结果为测试正常的情况下，提取所述指令执行信息中的所有掉电时间信息；对所有掉电时间信息执行日志存储操作；第二日志存储模块，用于在所述评估结果为测试异常的情况下，对所述指令执行信息执行日志存储操作。

进一步地，本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本发明实施例所述的方法。

以上结合附图详细描述了本发明实施例的可选实施方式，但是，本发明实施例并不限于上述实施方式中的具体细节，在本发明实施例的技术构思范围内，可以对本发明实施例的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本发明实施例的保护范围。

另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合。为了避免不必要的重复，本发明实施例对各种可能的组合方式不再另行说明。

本领域技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得单片机、芯片或处理器（processor）执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

此外，本发明实施例的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本发明实施例的思想，其同样应当视为本发明实施例所公开的内容。

Claims (25)

1.一种存储装置掉电保护的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取预设测试流程和测试信息；

基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程；

获取预设测试参数，对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数；

基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程；

所述预设测试流程包括指令收发步骤，所述基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程，包括：

获取所述测试信息的时长信息；

获取存储装置的设计信息；

基于所述设计信息和所述时长信息获得与所述指令收发步骤对应的指令收发时段；

基于所述指令收发时段对所述预设测试流程进行优化，获得第一优化后测试流程；

将所述第一优化后测试流程作为所述优化后测试流程。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设计信息包括第一掉电时间间隔，所述指令收发步骤包括指令接收步骤和指令发送步骤，所述基于所述设计信息和所述时长信息获得与所述指令收发步骤对应的指令收发时段，包括：

基于所述时长信息获取所述指令接收步骤的指令接收时间，以及获取所述指令发送步骤的指令发送时间；

基于所述第一掉电时间间隔和所述指令接收时间确定指令接收时段；

基于所述第一掉电时间间隔和所述指令发送时间确定指令发送时段；

基于所述指令接收时段和所述指令发送时段确定所述指令收发步骤对应的指令收发时段。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程，包括：

基于所述测试信息判断是否需要执行备份恢复操作；

在判断结果为不需要执行所述备份恢复操作的情况下，基于所述判断结果对所述预设测试流程进行优化，获得第二优化后测试流程；

将所述第二优化后测试流程作为所述优化后测试流程。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述测试信息包括掉电时刻，所述基于所述测试信息判断是否需要执行备份恢复操作，包括：

获取预设备份恢复时刻；

判断所述掉电时刻是否早于所述预设备份恢复时刻；

在所述掉电时刻早于所述预设备份恢复时刻的情况下，确定不需要执行所述备份恢复操作。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述获取预设备份恢复时刻，包括：

S2110）获取第一上电延时值和预设掉电步长；

S2111）基于所述第一上电延时值和所述预设掉电步长执行第一掉电测试操作；

S2112）重复执行步骤S2111），在首次获取到与所述第一掉电测试操作对应的第一指令超时反馈信息的情况下，获取与所述第一指令超时反馈信息对应的第一掉电时刻；

S2113）按照第一预设比值对所述预设掉电步长进行调整，获得调整后的预设掉电步长；

S2114）基于所述第一上电延时值和所述调整后的预设掉电步长执行第二掉电测试操作；

S2115）重复执行步骤S2113）-S2114），在首次获取到与所述第二掉电测试操作对应的第二指令超时反馈信息的情况下，获取与所述第二指令超时反馈信息对应的第二掉电时刻，所述第二掉电时刻早于所述第一掉电时刻；

S2116）判断所述第二掉电时刻是否符合预设临界要求；

S2117）在所述第二掉电时刻符合所述预设临界要求的情况下，将所述第二掉电时刻确定为预设备份恢复时刻。

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设测试参数包括第二上电延时值，所述对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数，包括：

基于所述第二上电延时值执行所述备份恢复操作；

基于所述备份恢复操作确定最小上电延时值；

所述基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程，还包括：

基于所述最小上电延时值执行所述优化后测试流程。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述备份恢复操作确定最小上电延时值，包括：

S3120）基于所述第二上电延时值执行第一备份恢复操作；

S3121）判断是否完成所述第一备份恢复操作；

S3122）在完成所述第一备份恢复操作的情况下，按照第二预设比值对所述第二上电延时值进行调整，获得调整后的第二上电延时值；

S3123）基于所述调整后的第二上电延时值执行第二备份恢复操作；

S3124）判断是否完成所述第二备份恢复操作；

S3125）在确定完成所述第二备份恢复操作的情况下，重复执行步骤S3122）-S3124）；在确定未完成所述第二备份恢复操作的情况下，按照第三预设比值对所述调整后的第二上电延时值进行调整，获得再次调整后的第二上电延时值；

S3126）基于所述再次调整后的第二上电延时值执行第三备份恢复操作；

S3127）判断是否完成所述第三备份恢复操作；

S3128）在确定未完成所述第三备份恢复操作的情况下，重复执行步骤S3125）-S3127）；在确定完成所述第三备份恢复操作的情况下，将所述再次调整后的第二上电延时值作为所述最小上电延时值。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设测试参数包括预设掉电-上电时间，所述对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数，包括：

获取预设调整系数值；

基于所述预设调整系数值和所述预设掉电-上电时间确定最小掉电-上电时间；

所述基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程，还包括：

基于所述最小掉电-上电时间执行所述优化后测试流程。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述基于所述预设调整系数值和所述预设掉电-上电时间确定最小掉电-上电时间，包括：

基于所述预设掉电-上电时间执行掉电-上电运行操作；

获取对所述掉电-上电运行操作的评估结果；

在所述评估结果为运行稳定的情况下，基于所述预设调整系数值对所述预设掉电-上电时间进行调整，获得调整后掉电-上电时间；

将所述调整后掉电-上电时间作为最小掉电-上电时间。

10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数，包括：

获取预设指令操作时间，以及获取第四预设比值；

基于所述第四预设比值和所述预设指令操作时间确定最小掉电间隔时间；

所述基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程，还包括：

基于所述最小掉电间隔时间执行所述优化后测试流程。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述获取第四预设比值，包括：

获取预设偏差值β；

基于所述预设偏差值β确定所述第四预设比值α，其中所述第四预设比值α表征为：

α＜1/（1+β）。

12.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取与所述测试信息对应的指令执行信息；

对所述指令执行信息执行缓存存储操作；

基于所述指令执行信息获取掉电测试次数；

在所述掉电测试次数达到预设次数阈值的情况下，获取对执行所述优化后测试流程的评估结果；

在所述评估结果为测试正常的情况下，提取所述指令执行信息中的所有掉电时间信息；

对所有掉电时间信息执行日志存储操作；

在所述评估结果为测试异常的情况下，对所述指令执行信息执行日志存储操作。

13.一种存储装置掉电保护的测试装置，其特征在于，所述装置包括：

获取单元，用于获取预设测试流程和测试信息；

第一优化单元，用于基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程；

第二优化单元，用于获取预设测试参数，对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数；

测试单元，用于基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程；

所述预设测试流程包括指令收发步骤，所述第一优化单元包括：

第一信息获取模块，用于获取所述测试信息的时长信息；

第二信息获取模块，用于获取存储装置的设计信息；

时段获取模块，用于基于所述设计信息和所述时长信息获得与所述指令收发步骤对应的指令收发时段；

第一优化模块，用于基于所述指令收发时段对所述预设测试流程进行优化，获得第一优化后测试流程；

第一确定模块，用于将所述第一优化后测试流程作为所述优化后测试流程。

14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述设计信息包括第一掉电时间间隔，所述指令收发步骤包括指令接收步骤和指令发送步骤，所述时段获取模块用于：

基于所述时长信息获取所述指令接收步骤的指令接收时间，以及获取所述指令发送步骤的指令发送时间；

基于所述第一掉电时间间隔和所述指令接收时间确定指令接收时段；

基于所述第一掉电时间间隔和所述指令发送时间确定指令发送时段；

基于所述指令接收时段和所述指令发送时段确定所述指令收发步骤对应的指令收发时段。

15.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述第一优化单元包括：

判断模块，用于基于所述测试信息判断是否需要执行备份恢复操作；

第二用户模块，用于在判断结果为不需要执行所述备份恢复操作的情况下，基于所述判断结果对所述预设测试流程进行优化，获得第二优化后测试流程；

第二确定模块，用于将所述第二优化后测试流程作为所述优化后测试流程。

16.根据权利要求15所述的装置，其特征在于，所述测试信息包括掉电时刻，所述判断模块用于：

获取预设备份恢复时刻；

判断所述掉电时刻是否早于所述预设备份恢复时刻；

在所述掉电时刻早于所述预设备份恢复时刻的情况下，确定不需要执行所述备份恢复操作。

17.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，所述获取预设备份恢复时刻，包括：

S2110）获取第一上电延时值和预设掉电步长；

S2111）基于所述第一上电延时值和所述预设掉电步长执行第一掉电测试操作；

S2112）重复执行步骤S2111），在首次获取到与所述第一掉电测试操作对应的第一指令超时反馈信息的情况下，获取与所述第一指令超时反馈信息对应的第一掉电时刻；

S2113）按照第一预设比值对所述预设掉电步长进行调整，获得调整后的预设掉电步长；

S2114）基于所述第一上电延时值和所述调整后的预设掉电步长执行第二掉电测试操作；

S2115）重复执行步骤S2113）-S2114），在首次获取到与所述第二掉电测试操作对应的第二指令超时反馈信息的情况下，获取与所述第二指令超时反馈信息对应的第二掉电时刻，所述第二掉电时刻早于所述第一掉电时刻；

S2116）判断所述第二掉电时刻是否符合预设临界要求；

S2117）在所述第二掉电时刻符合所述预设临界要求的情况下，将所述第二掉电时刻确定为预设备份恢复时刻。

18.根据权利要求15所述的装置，其特征在于，所述预设测试参数包括第二上电延时值，所述第二优化单元包括：

备份模块，用于基于所述第二上电延时值执行所述备份恢复操作；

上电延时确定模块，用于基于所述备份恢复操作确定最小上电延时值；

所述测试单元还用于：

基于所述最小上电延时值执行所述优化后测试流程。

19.根据权利要求18所述的装置，其特征在于，所述上电延时确定模块用于：

S3120）基于所述第二上电延时值执行第一备份恢复操作；

S3121）判断是否完成所述第一备份恢复操作；

S3122）在完成所述第一备份恢复操作的情况下，按照第二预设比值对所述第二上电延时值进行调整，获得调整后的第二上电延时值；

S3123）基于所述调整后的第二上电延时值执行第二备份恢复操作；

S3124）判断是否完成所述第二备份恢复操作；

S3125）在确定完成所述第二备份恢复操作的情况下，重复执行步骤S3122）-S3124）；在确定未完成所述第二备份恢复操作的情况下，按照第三预设比值对所述调整后的第二上电延时值进行调整，获得再次调整后的第二上电延时值；

S3126）基于所述再次调整后的第二上电延时值执行第三备份恢复操作；

S3127）判断是否完成所述第三备份恢复操作；

S3128）在确定未完成所述第三备份恢复操作的情况下，重复执行步骤S3125）-S3127）；在确定完成所述第三备份恢复操作的情况下，将所述再次调整后的第二上电延时值作为所述最小上电延时值。

20.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述预设测试参数包括预设掉电-上电时间，所述第二优化单元还包括：

调整系数获取模块，用于获取预设调整系数值；

第一时间确定模块，用于基于所述预设调整系数值和所述预设掉电-上电时间确定最小掉电-上电时间；

所述测试单元还用于：

基于所述最小掉电-上电时间执行所述优化后测试流程。

21.根据权利要求20所述的装置，其特征在于，所述时间确定模块用于：

基于所述预设掉电-上电时间执行掉电-上电运行操作；

获取对所述掉电-上电运行操作的评估结果；

在所述评估结果为运行稳定的情况下，基于所述预设调整系数值对所述预设掉电-上电时间进行调整，获得调整后掉电-上电时间；

将所述调整后掉电-上电时间作为最小掉电-上电时间。

22.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述第二优化单元还包括：

第三信息获取模块，用于获取预设指令操作时间，以及获取第四预设比值；

第二时间确定模块，用于基于所述第四预设比值和所述预设指令操作时间确定最小掉电间隔时间；

所述测试单元还用于：

基于所述最小掉电间隔时间执行所述优化后测试流程。

23.根据权利要求22所述的装置，其特征在于，所述第三信息获取模块用于：

获取预设偏差值β；

基于所述预设偏差值β确定所述第四预设比值α，其中所述第四预设比值α表征为：

α＜1/（1+β）。

24.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述装置还包括日志存储单元，所述日志存储单元包括：

第四信息获取模块，用于获取与所述测试信息对应的指令执行信息；

缓存模块，用于对所述指令执行信息执行缓存存储操作；

次数获取模块，用于基于所述指令执行信息获取掉电测试次数；

评估模块，用于在所述掉电测试次数达到预设次数阈值的情况下，获取对执行所述优化后测试流程的评估结果；

第一日志存储模块，用于在所述评估结果为测试正常的情况下，提取所述指令执行信息中的所有掉电时间信息；对所有掉电时间信息执行日志存储操作；

第二日志存储模块，用于在所述评估结果为测试异常的情况下，对所述指令执行信息执行日志存储操作。

25.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-12中任一项权利要求所述的方法。

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