CN113237640A - 一种光耦合测试方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光耦合测试方法、装置、电子设备及存储介质，属于光器件测试技术领域，所述方法包括：获取阵列排布的待测试光器件中的至少一个样本光器件集的目标输出端口对应的位置坐标参数；根据所述位置坐标参数计算所述目标输出端口之间的间距，得到用于测试光纤的移动距离序列；基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试。本发明提高了光耦合测试的效率，减少了对测试人员的依赖性，并且提高了测试结果的准确性。

Description

一种光耦合测试方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本发明涉及光器件测试技术领域，尤其涉及一种光耦合测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

在光芯片领域，对光芯片的性能进行光的耦合测试是至关重要的步骤，现有的光耦合测试方法是通过人工反复调整夹持测试光纤的方式使测试光纤对准测试端口，并在测试完一个测试端口（即光器件的输出端口）后，再手动地将测试光纤调整到下一个测试端口上。

但是，一块光芯片往往具有成百上千个光器件（即成百上千个测试端口）需要测试，通过逐个手动对准的方式不仅繁琐、耗时，而且对测试人员的能力和熟练程度要求也较高。因此，现有的光耦合测试方法对测试人员依赖性过大，难以方便快捷地完成光芯片的光耦合测试，也难以保证测试结果的准确性。

发明内容

本发明提供一种光耦合测试方法、装置、电子设备及存储介质，用以解决现有技术中通过手动测试带来的繁琐、耗时、准确性不高的问题，提高光耦合测试的测试效率和提高测试结果的准确性。

本发明提供一种光耦合测试方法，所述方法包括：

获取阵列排布的待测试光器件中的至少一个样本光器件集的目标输出端口对应的位置坐标参数；

根据所述位置坐标参数计算所述目标输出端口之间的间距，得到用于测试光纤的移动距离序列；

基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试。

根据本发明所述的光耦合测试方法，所述至少一个样本光器件集包括多个样本光器件，并且所述获取阵列排布的待测试光器件中的至少一个样本光器件集的目标输出端口对应的位置坐标参数的步骤包括：

识别所述多个样本光器件中的基础光器件集合；

其中，所述基础光器件集合内的相邻样本光器件之间的间距变化规律表示所有所述待测试光器件中相邻光器件之间的间距变化规律。

根据本发明所述的光耦合测试方法，所述根据所述位置坐标参数计算所述目标输出端口之间的间距，得到用于测试光纤的移动距离序列，包括：

基于所述基础光器件集合中的样本光器件的输出端口之间的间距得到用于测试光纤的所述移动距离序列；

其中，所述移动距离序列包括内循环距离序列和外循环距离序列，所述内循环距离序列中的每个元素的值依序对应于一个样本光器件的相邻输出端口之间的间距，所述外循环距离序列中的每个元素的值依序对应于所述基础光器件集合中相邻光器件之间的间距。

根据本发明所述的光耦合测试方法，所述基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试的步骤包括：

步骤1，基于所述内循环距离序列依序移动所述测试光纤从当前光器件的首个输出端口开始逐个遍历该光器件的每个输出端口并对其进行光耦合测试，遍历结束后执行步骤2；

步骤2，从所述外循环距离序列中提取出当前匹配元素的值并随后执行步骤3；

步骤3，若存在剩余未进行光耦合测试的光器件，则基于所述当前匹配元素的值将所述测试光纤从当前光器件移动到下一个光器件的首个输出端口，并将所述下一个光器件作为新的当前光器件，随之返回步骤1执行后续测试并将所述外循环距离序列中的当前匹配元素的下一个元素作为新的当前匹配元素，其中，若当前匹配元素已是所述外循环距离序列中的最后一个元素，则将所述外循环距离序列中的第一个元素作为新的当前匹配元素；

若不存在剩余未进行光耦合测试的光器件，则结束测试；

其中，所述外循环距离序列中的第一个元素作为原始的当前匹配元素。

根据本发明所述的光耦合测试方法，在每个所述待测试光器件的所有输出端口之间的间距均相等的情况下，所述内循环距离序列仅包括一个元素，并且所述元素的值是两个相邻的输出端口之间的间距；在每个所述测试光器件的所有输出端口之间的间距不相等的情况下，所述内循环距离序列包括多个元素，每个元素的值依序对应于一个样本光器件的相邻输出端口之间的间距。

根据本发明所述的光耦合测试方法，在任两个相邻的所述待测试光器件之间的间距均相等的情况下，所述基础光器件集合仅包括相邻的两个光器件，并且所述外循环距离序列仅包括一个元素，并且所述元素的值是所述两个相邻的光器件之间的间距；在任两个相邻的所述待测试光器件之间的间距不相等的情况下，所述基础光器件集合包括多个相邻的光器件，并且所述外循环距离序列包括多个元素，每个元素的值依序对应于所述基础光器件集合中相邻光器件之间的间距。

根据本发明所述的光耦合测试方法，所述基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试还包括：

在基于所述移动距离序列驱动所述测试光纤到达预期位置后，通过微调所述测试光纤在当前输出端口的测试位置，得到所述测试光纤进行光耦合测试的最优测试位置；

基于所述最优测试位置，扫描所述当前输出端口输出光的光谱；

将所述光谱的数据存储至存储器以进行后续分析。

根据本发明所述的光耦合测试方法，所述基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试还包括：

当驱动测试光纤移动所述移动距离序列中某一元素所指示的距离值后，若所述测试光纤没有接收到输出光信号，则结束所述光耦合测试。

根据本发明所述的光耦合测试方法，所述方法还包括：

根据当前待测试光器件的输入端口的位置参数坐标和后一个待测试光器件的输入端口的位置参数坐标计算相邻输入端口之间的间距，得到输入光信号的后移距离；

当测试光纤完成对所述当前待测试光器件的光耦合测试后，根据所述当前待测试光器件的输入端口的位置控制光信号输入装置移动所述后移距离，以给所述后一个待测试光器件的输入端口输入光信号。

本发明还提供了一种光耦合测试装置，应用于测试光纤对光器件进行光耦合测试，所述装置包括：

参数获取模块，用于获取阵列排布的待测试光器件中的至少一个样本光器件集的目标输出端口对应的位置坐标参数；

计算模块，用于根据所述位置坐标参数计算所述目标输出端口之间的间距，得到用于测试光纤的移动距离序列；

测试模块，用于基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试。

本发明还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述光耦合测试方法的步骤。

本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述光耦合测试方法的步骤。

本发明提供的光耦合测试方法、装置、电子设备及存储介质，通过获取待测试光器件输出端口的位置坐标参数，并根据所述位置坐标参数计算出测试光纤的移动距离序列，从而实现测试光纤自动根据所述移动距离序列对待测试光器件的输出端口进行光耦合测试，提高了光耦合测试的效率，减少了对测试人员的依赖性，并且提高了测试结果的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有技术的光器件的结构示意图；

图2是本发明提供的光耦合测试方法的流程示意图；

图3是本发明提供的对输出端口进行耦合测试的流程示意图；

图4是本发明提供的光耦合测试方法的两个输出端口的流程示意图；

图5是本发明提供的两个输出端口的移动距离序列的示意图；

图6是本发明提供的光耦合测试方法的四个输出端口的流程示意图；

图7是本发明提供的四个输出端口的移动距离序列的示意图；

图8是本发明提供的输出端口间距不相等的示意图之一；

图9是本发明提供的输出端口间距不相等的示意图之二；

图10是本发明提供的进行光耦合测试过程的流程示意图；

图11是本发明提供的给输入端口输入光信号的流程示意图；

图12是本发明提供的光耦合测试装置的结构示意图；

图13是本发明提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。

以下对本发明涉及的技术术语进行描述：

光芯片一般指光子芯片。光芯片中存在多个阵列排布的光器件，例如阵列排布的MMI器件（多模干涉器）、Y分束器、DC（定向耦合器）。光器件一般具有多个输出端口（例如1*n，1表示一个输入端口，n表示多个输出端口，n可以是2、3或4或其他数量值），光器件的结构示意图如图1所示。

光器件的输入端设置光耦合输入端口，光器件的输出端设置有光耦合输出端口，图1示出的是两个光耦合输出端口，但本发明不限于两个光耦合输出端口，也可以是三个或四个光耦合输出端口，或其他数量的光耦合输出端口。通过对光器件的输出端口进行光耦合测试，可实现对光芯片的性能测试。

下面结合图2-图13描述本发明的光耦合测试方法、装置、电子设备及存储介质。

图2是本发明提供的光耦合测试方法的流程示意图，如图2所示。一种光耦合测试方法，应用于测试光纤对光器件进行光耦合测试，所述方法包括：

步骤201，获取阵列排布的待测试光器件中的至少一个样本光器件集的目标输出端口对应的位置坐标参数。

可选的，通过传感器或人工检测可获取到待测试光器件的输出端口的位置坐标参数，每个输出端口对应一个位置坐标参数。

所述目标输出端口为所述待测试光器件的输出端口（比如图5示出的输出端口A1~A2，B1~B2，C1~C2，D1~D2，E1~E2），所述待测试光器件的输出端口可以是一个或多个，一般所述待测试光器件的输出端口为两个或两个以上，比如图5中光器件1的输出端口为A1和A2，图7中光器件1的输出端口为A1，A2，A3，A4，本发明不限于图5或图7中示出的输出端口的数量。

可选的，所述至少一个样本光器件集包括多个样本光器件，并且所述获取阵列排布的待测试光器件中的至少一个样本光器件集的目标输出端口对应的位置坐标参数的步骤包括：识别所述多个样本光器件中的基础光器件集合。

其中，所述基础光器件集合内的相邻样本光器件之间的间距变化规律表示所有所述待测试光器件中相邻光器件之间的间距变化规律。

需要说明的是规律变化会影响到是否重复读取待测试光器件的目标端口的位置坐标参数。如果是符合规律变化的，只需要读取符合规律变化的其中相同的样本光器件的目标输出端口的位置坐标参数即可，不需要重复获取每个目标输出端口的位置坐标参数。如果是不符合规律变化的，则需要一一读取不相同的光器件的目标输出端口的位置坐标参数。

此外，待测试光器件的相邻两个输出端口之间的间距可以是等距的，也可以是不等距；相邻两个待测试光器件之间的间距（即前一个待测试光器件的最后输出端口与后一个待测试光器件的首个输出端口的间距）可以是等距的，也可以是不等距。

如果相邻两个待测试光器件之间的间距是不等距的，则可分为规律变化的和不规律变化的。而规律变化的可进一步划分为符合规律变化的基础光器件集合，每个基础光器件集合内的相邻样本光器件之间的间距变化规律表示所有所述待测试光器件中相邻光器件之间的间距变化规律。如果是不规律变化的，则需要一一读取每个待测试器件的目标端口的坐标参数。

步骤202，根据所述位置坐标参数计算所述目标输出端口之间的间距，得到用于测试光纤的移动距离序列。

可选的，所述根据所述位置坐标参数计算所述目标输出端口之间的间距，得到用于测试光纤的移动距离序列，包括：

基于所述基础光器件集合中的样本光器件的输出端口之间的间距得到用于测试光纤的所述移动距离序列；

其中，所述移动距离序列包括内循环距离序列（比如图9中由元素d1、元素d2以及元素d3共同组成的内循环距离序列）和外循环距离序列（比如图9中由元素d4和元素d5共同组成的外循环距离序列），所述内循环距离序列中的每个元素的值依序对应于一个样本光器件的相邻输出端口之间的间距，所述外循环距离序列中的每个元素的值依序对应于所述基础光器件集合中相邻光器件之间的间距。

可选的，在每个所述待测试光器件的所有输出端口之间的间距均相等的情况下，所述内循环距离序列仅包括一个元素，并且所述元素的值是两个相邻的输出端口之间的间距；在每个所述测试光器件的所有输出端口之间的间距不相等的情况下，所述内循环距离序列包括多个元素，每个元素的值依序对应于一个样本光器件的相邻输出端口之间的间距。

可选的，在任两个相邻的所述待测试光器件之间的间距均相等的情况下，所述基础光器件集合仅包括相邻的两个光器件，并且所述外循环距离序列仅包括一个元素，并且所述元素的值是所述两个相邻的光器件之间的间距；在任两个相邻的所述待测试光器件之间的间距不相等的情况下，所述基础光器件集合包括多个相邻的光器件，并且所述外循环距离序列包括多个元素，每个元素的值依序对应于所述基础光器件集合中相邻光器件之间的间距。

可选的，通过系统提供的计算控制单元根据输出端口对应的位置坐标参数计算得到移动距离序列，所述移动距离序列是指输出端口之间的距离，包括待测试光器件输出端口之间的距离，也包括待测试光器件的一输出端口与下一个待测试光器件的一输出端口之间的距离。

可选的，所述移动距离序列为计算控制单元控制测试光纤进行光耦合测试所移动的距离，以便于测试光纤能够准确定位到待测试光器件的输出端口以进行光耦合测试。

可选的，所述计算控制单元包括马达，通过马达可驱动测试光纤的移动。

步骤203，基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试。

因此，基于计算出的移动距离序列，使得测试光纤可以自动并准确地定位到待测试光器件对应的输出端口的位置，从而使得本发明所述光耦合测试无需过多依赖于测试人员，提供了测试效率和测试结果的准确性。

图3是本发明提供的对输出端口进行耦合测试的流程示意图，如图3所示。上述步骤203中，所述基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试的步骤包括：

步骤301，基于所述内循环距离序列依序移动所述测试光纤从当前光器件的首个输出端口开始逐个遍历该光器件的每个输出端口并对其进行光耦合测试，遍历结束后执行步骤302；

步骤302，从所述外循环距离序列中提取出当前匹配元素的值并随后执行步骤303；

步骤303，判断是否存在剩余未进行光耦合测试的光器件。

若存在剩余未进行光耦合测试的光器件，则基于所述当前匹配元素的值将所述测试光纤从当前光器件移动到下一个光器件的首个输出端口进行光耦合测试，并将所述下一个光器件作为新的当前光器件，随之返回步骤301执行后续测试并将所述外循环距离序列中的当前匹配元素的下一个元素作为新的当前匹配元素，其中，若当前匹配元素已是所述外循环距离序列中的最后一个元素，则将所述外循环距离序列中的第一个元素作为新的当前匹配元素。

需要说明的是，所述外循环距离序列中的第一个元素作为原始的当前匹配元素。所述外循环距离序列的元素的值为测试光纤从当前器件移动到下一个光器件的首个输出端口的距离值。

步骤304，若不存在剩余未进行光耦合测试的光器件，则结束测试。

需要说明的是，上述待测试器件的输出端口的数量可通过图像传感器或人工识别的方式获取到。以下对待测试器件为两个输出端口和四个输出端口的情况进行具体描述。

图4是本发明提供的光耦合测试方法的两个输出端口的流程示意图，图5是本发明提供的两个输出端口的移动距离序列的示意图，如图4、图5所示。

当所述待测试光器件（比如光器件1~5）的输出端口的数量为两个（比如光器件1的输出端口为A1和A2）时，所述方法包括：

步骤401，获取待测试光器件1的第一输出端口A1的第一位置坐标参数和第二输出端口A2的第二位置坐标参数，以及后一个待测试光器件2的第五输出端口B1的第五位置坐标参数。

步骤402，根据所述第一位置坐标参数、第二位置坐标参数以及第五位置坐标参数进行输出端口之间的间距计算，得到第一距离d1和第二距离d2。

步骤403，驱动测试光纤对所述待测试光器件1的第一输出端口A1进行光耦合测试后，驱动测试光纤后移所述第一距离d1对所述第二输出端口A2进行光耦合测试。

步骤404，驱动测试光纤后移所述第二距离d2对所述后一个待测试光器件2的第五输出端口B1进行光耦合测试，以及驱动测试光纤后移所述第一距离d1对所述后一个待测试光器件2的第六输出端口B2进行光耦合测试。

其中，所述移动距离序列包括所述第一距离d1和所述第二距离d2，所述待测试光器件1的输出端口包括所述第一输出端口A1和所述第二输出端口A2，所述后一个待测试光器件2的输出端口包括所述第五输出端口B1和所述第六输出端口B2。

同理，如果测试光纤需要对再一下待测试光器件3进行光耦合测试，则需要后移第二距离d2对待测试光器件3的输出端口C1进行光耦合测试，然后再后移第一距离d1对另一输出端口C2进行光耦合测试。

同理，如果测试光纤需要对再一下待测试光器件4进行光耦合测试，则需要后移第二距离d2对待测试光器件4的输出端口D1进行光耦合测试，然后再后移第一距离d1对另一输出端口D2进行光耦合测试。

同理，如果测试光纤需要对再一下待测试光器件5进行光耦合测试，则需要后移第二距离d2对待测试光器件5的输出端口E1进行光耦合测试，然后再后移第一距离d1对另一输出端口E2进行光耦合测试。

需要说明的是，本发明两个输出端口的待测试光器件并不限于上述5个待测试光器件（即光器件1~光器件5），光芯片内部包括成百上千个光器件。

图6是本发明提供的光耦合测试方法的四个输出端口的流程示意图，图7是本发明提供的四个输出端口的移动距离序列的示意图，如图6、图7所示。

当所述待测试光器件（比如光器件1~3）的输出端的数量为四个（比如光器件1的输出端口为A1、A2、A3、A4）时，所述方法包括：

步骤601，获取待测试光器件1的第一输出端口A1的第一位置坐标参数和第二输出端口A2的第二位置坐标参数，以及后一个待测试光器件2的第五输出端口B1的第五位置坐标参数。

步骤602，根据所述第一位置坐标参数、第二位置坐标参数以及第五位置坐标参数进行输出端口之间的间距计算，得到第一距离d1和第二距离d2。

步骤603，驱动测试光纤对所述待测试光器件1的第一输出端口A1进行光耦合测试后，驱动测试光纤后移所述第一距离d1分别对所述第二输出端口A2、第三输出端口A3、第四输出端口A4进行光耦合测试。

步骤604，驱动测试光纤后移所述第二距离d2对所述后一个待测试光器件2的第五输出端口B1进行光耦合测试后，驱动测试光纤后移所述第一距离d1分别对所述后一个待测试光器件2的第六输出端口B2、第七输出端口B3、第八输出端口B4进行光耦合测试。

其中，所述移动距离序列包括所述第一距离d1和所述第二距离d2，所述待测试光器件1包括所述第一输出端口A1、第二输出端口A2、第三输出端口A3以及第四输出端口A4，所述后一个待测试光器件2包括所述第五输出端口B1、第六输出端口B2、第七输出端口B3以及第八输出端口B4。

同理的，如果测试光纤需要对再一下待测试光器件3进行光耦合测试，则需要后移第二距离d2对待测试光器件3的输出端口C1进行光耦合测试，然后再后移第一距离d1分别对其他输出端口（C2~C4）进行光耦合测试。

需要说明的是，本发明四个输出端口的待测试光器件并不限于上述3个待测试光器件（即光器件1~光器件3），光芯片内部包括成百上千个光器件，更多输出端口的情况时同理。

由此可知，测试光纤对光器件进行光耦合测试时，对同一光器件内的输出端口之间的测试（即同一个光器件的一个输出端口到另外一个输出端口，可称为内循环），需要后移第一距离d1；而对不同光器件之间的输出端口（即从一个光器件的输出端口到另外一个光器件的输出端口，可称为外循环），则需要后移第二距离d2。通过控制测试光纤移动距离序列（内循环距离d1或外循环距离d2）就可以实现对光器件的输出端口进行光耦合测试。

图5示出的是每个光器件（比如光器件1~光器件5）具有两个输出端口，相邻输出端口的间距d1是相等的，相邻光器件的间距d2也是相等的。图7示出的是每个光器件（比如光器件1~光器件3）具有四个输出端口，相邻输出端口的d1也是相等的，相邻光器件的间距d2也是相等。但本发明并不限于图5、图7示出的两个输出端口或四个输出端口，光器件还可以是其他数量值的输出端口。

而且，本发明光器件的相邻输出端口的间距也可以是不相等，相邻光器件的间距也可以是不相等。

图8是本发明提供的输出端口间距不相等的示意图之一，如图8所示。光芯片包括多个光器件，图8仅仅示出了样本待测试光器件（即由光器件1、光器件2以及光器件3组成的样本待测试光器件），即示出了其中的四个光器件。光器件1的输出端口A1与输出端口A2的间距是d1，光器件2的输出端口B1与输出端口B2的间距是d1，光器件3的输出端口C1与输出端口C2的间距是d1，光器件4的输出端口D1与输出端口D2的间距是d1。光器件1与光器件2的间距（即光器件1的输出端口A2与光器件2的输出端口B1之间的间距）是d2，光器件3与光器件4的间距（即光器件3的输出端口C2与光器件4的输出端口D1之间的间距）是d2。光器件2与光器件3的间距（即光器件2的输出端口B2与光器件3的输出端口C1之间的间距）是d3，而d2≠d3。所以，光器件内部的相邻输出端口的间距是否相等与相邻光器件之间的间距是否相等，只影响测试光纤移动距离的多少，并不影响测试光纤自动对光器件每个输出端口进行光耦合测试。

比如，测试光纤对光器件1的输出端口A1进行光耦合测试后，会自动移动d1的距离定位到光器件1的输出端口A2进行光耦合测试。测试光纤对光器件1的输出端口A2进行光耦合测试完毕后，会自动移动d2的距离定位到光器件2的输出端口B1进行光耦合测试，然后再移动d1的距离定位到光器件2的输出端口B2进行光耦合测试，然后再移动d3的距离定位到光器件3的输出端口C1进行光耦合测试，一直到测试完每个光器件的每个输出端口为止。

图9是本发明提供的输出端口间距不相等的示意图之二，如同9所示。光芯片包括多个光器件，图9仅仅示出了样本待测试光器件（即由光器件1、光器件2以及光器件3组成的样本待测试光器件），即示出了其中的三个光器件。光器件1包括四个输出端口（A1，A2，A3，A4），光器件2也包括四个输出端口（B1，B2，B3，B4）、光器件3也包括四个输出端口（C1，C2，C3，C4）。

光器件（1~3）的相邻两个输出端口的间距分别是d1，d2，d3，d1≠d2≠d3，光器件1与光器件2的间距是d4，光器件2与光器件3的间距是d5，d4≠d5。

由此可知，本发明并不限定每个光器件的输出端口数量，也不限定每个光器件的相邻两个输出端口的间距是否相等，也不限定相邻光器件的间距是否相等。

需要说明的是，光器件的相邻两个输出端口的间距与对应的输出端口的位置坐标参数有关，可根据对应的输出端口的坐标参数计算出同一光器件中相邻输出端口之间的间距。同理，相邻光器件的间距与相邻光器件的上一个光器件的最后输出端口与下一个光器件的首个输出端口的位置坐标参数有关，可根据对应的输出端口的坐标参数计算出相邻光器件的间距。

通过计算出光器件内相邻输出端口的间距以及相邻光器件的间距，就可以自动控制测试光纤根据计算出的间距准确定位到对应的输出端口以便于进行光耦合测试。

图10是本发明提供的进行光耦合测试过程的流程示意图，如同10所示。上述步骤203中，所述基于所述移动距离序列，驱动测试光纤对所述待测试光器件的多个输出端口分别进行光耦合测试还包括：

步骤1001，在基于所述移动距离序列驱动所述测试光纤到达预期位置后，通过微调所述测试光纤在当前输出端口的测试位置，得到所述测试光纤进行光耦合测试的最优测试位置。

可选的，可通过计算控制单元对测试位置进行微调，即在所述测试位置的附近位置，来回微小地移动测试光纤，搜索到一个最有的输出功率位置，即最优测试位置。搜寻最优输出功率的步骤也称为爬山。

步骤1002，基于所述最优测试位置，扫描所述当前输出端口输出光的光谱。

可选的，在找到最优的输出功率位置后，开始扫描输出光的光谱。

步骤1003，将所述光谱的数据存储至存储器以进行后续分析。

可选的，基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试还包括：

当驱动测试光纤移动所述移动距离序列中某一元素所指示的距离值后，若所述测试光纤没有接收到输出光信号，则结束所述光耦合测试。

图11是本发明提供的给输入端口输入光信号的流程示意图，如图11所示。所述光耦合测试方法还包括：

步骤1101，根据当前待测试光器件的输入端口的位置参数坐标和后一个待测试光器件的输入端口的位置参数坐标计算相邻输入端口之间的间距，得到输入光信号的后移距离。

步骤1102，当测试光纤完成对所述当前待测试光器件的光耦合测试后，根据所述当前待测试光器件的输入端口的位置控制光信号输入装置移动所述后移距离，以给所述后一个待测试光器件的输入端口输入光信号。

需要说明的是，本发明对光器件的输入端的情况不做特别的限制。例如，光器件的输入端也可以是通过检测出第一个光耦合输入端口的位置参数坐标和后一个光耦合输入端口的位置参数坐标后，计算出后移间距，以后对光器件每完成一个内循环测试后，计算控制单元根据上一个光器件的光耦合输入端口的位置,往后移所述后移距离，以给下一个光器件的光耦合输入端口提供输入光信号。

下面对本发明提供的光耦合测试装置进行描述，下文描述的光耦合测试装置与上文描述的光耦合测试方法可相互对应参照。

图12是本发明提供的光耦合测试装置的结构示意图，如图12所示。一种光耦合测试装置1200，应用于测试光纤对光器件进行光耦合测试，所述装置包括参数获取模块1210、计算模块1220以及测试模块1230。其中，

参数获取模块1210，用于获取阵列排布的待测试光器件中的至少一个样本光器件集的目标输出端口对应的位置坐标参数。

计算模块1220，用于根据所述位置坐标参数计算所述目标输出端口之间的间距，得到用于测试光纤的移动距离序列。

测试模块1230，用于基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试。

可选的，所述参数获取模块1210，还用于：

识别所述多个样本光器件中的基础光器件集合；

其中，所述至少一个样本光器件集包括多个样本光器件，所述基础光器件集合内的相邻样本光器件之间的间距变化规律表示所有所述待测试光器件中相邻光器件之间的间距变化规律。

可选的，所述计算模块1220，还用于：

基于所述基础光器件集合中的样本光器件的输出端口之间的间距得到用于测试光纤的所述移动距离序列；

其中，所述移动距离序列包括内循环距离序列和外循环距离序列，所述内循环距离序列中的每个元素的值依序对应于一个样本光器件的相邻输出端口之间的间距，所述外循环距离序列中的每个元素的值依序对应于所述基础光器件集合中相邻光器件之间的间距。

可选的，所述测试模块1230，还用于：

步骤1，基于所述内循环距离序列依序移动所述测试光纤从当前光器件的首个输出端口开始逐个遍历该光器件的每个输出端口并对其进行光耦合测试，遍历结束后执行步骤2；

步骤2，从所述外循环距离序列中提取出当前匹配元素的值并随后执行步骤3；

步骤3，若存在剩余未进行光耦合测试的光器件，则基于所述当前匹配元素的值将所述测试光纤从当前光器件移动到下一个光器件的首个输出端口，并将所述下一个光器件作为新的当前光器件，随之返回步骤1执行后续测试并将所述外循环距离序列中的当前匹配元素的下一个元素作为新的当前匹配元素，其中，若当前匹配元素已是所述外循环距离序列中的最后一个元素，则将所述外循环距离序列中的第一个元素作为新的当前匹配元素；

若不存在剩余未进行光耦合测试的光器件，则结束测试；

其中，所述外循环距离序列中的第一个元素作为原始的当前匹配元素。

可选的，在每个所述待测试光器件的所有输出端口之间的间距均相等的情况下，所述内循环距离序列仅包括一个元素，并且所述元素的值是两个相邻的输出端口之间的间距；在每个所述测试光器件的所有输出端口之间的间距不相等的情况下，所述内循环距离序列包括多个元素，每个元素的值依序对应于一个样本光器件的相邻输出端口之间的间距。

可选的，在任两个相邻的所述待测试光器件之间的间距均相等的情况下，所述基础光器件集合仅包括相邻的两个光器件，并且所述外循环距离序列仅包括一个元素，并且所述元素的值是所述两个相邻的光器件之间的间距；在任两个相邻的所述待测试光器件之间的间距不相等的情况下，所述基础光器件集合包括多个相邻的光器件，并且所述外循环距离序列包括多个元素，每个元素的值依序对应于所述基础光器件集合中相邻光器件之间的间距。

可选的，所述测试模块1230，还用于：

在基于所述移动距离序列驱动所述测试光纤到达预期位置后，通过微调所述测试光纤在当前输出端口的测试位置，得到所述测试光纤进行光耦合测试的最优测试位置；

基于所述最优测试位置，扫描所述当前输出端口输出光的光谱；

将所述光谱的数据存储至存储器以进行后续分析。

可选的，所述光耦合测试装置1200，还用于：

当驱动测试光纤移动所述移动距离序列中某一元素所指示的距离值后，若所述测试光纤没有接收到输出光信号，则结束所述光耦合测试。

可选的，所述光耦合测试还包括光信号输入模块，所述光信号输入模块用于：

根据当前待测试光器件的输入端口的位置参数坐标和后一个待测试光器件的输入端口的位置参数坐标计算相邻输入端口之间的间距，得到输入光信号的后移距离；

当测试光纤完成对所述当前待测试光器件的光耦合测试后，根据所述当前待测试光器件的输入端口的位置控制光信号输入装置移动所述后移距离，以给所述后一个待测试光器件的输入端口输入光信号。

图13示例了一种电子设备的实体结构示意图，如图13所示，该电子设备可以包括：处理器(processor)1310、通信接口(CommunicationsInterface)1320、存储器(memory)1330和通信总线1340，其中，处理器1310，通信接口1320，存储器1330通过通信总线1340完成相互间的通信。处理器1310可以调用存储器1330中的逻辑指令，以执行所述光耦合测试方法，所述方法包括：

获取阵列排布的待测试光器件中的至少一个样本光器件集的目标输出端口对应的位置坐标参数；

根据所述位置坐标参数计算所述目标输出端口之间的间距，得到用于测试光纤的移动距离序列；

基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试。

此外，上述的存储器1330中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-OnlyMemory）、随机存取存储器（RAM，RandomAccessMemory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

另一方面，本发明还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，计算机能够执行上述各方法所提供的所述光耦合测试方法，所述方法包括：

获取阵列排布的待测试光器件中的至少一个样本光器件集的目标输出端口对应的位置坐标参数；

根据所述位置坐标参数计算所述目标输出端口之间的间距，得到用于测试光纤的移动距离序列；

基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试。

又一方面，本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述各提供的所述光耦合测试方法，所述方法包括：

获取阵列排布的待测试光器件中的至少一个样本光器件集的目标输出端口对应的位置坐标参数；

根据所述位置坐标参数计算所述目标输出端口之间的间距，得到用于测试光纤的移动距离序列；

基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (11)

1.一种光耦合测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取阵列排布的待测试光器件中的至少一个样本光器件集的目标输出端口对应的位置坐标参数；

根据所述位置坐标参数计算所述目标输出端口之间的间距，得到用于测试光纤的移动距离序列；

基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试。

2.根据权利要求1所述的光耦合测试方法，其特征在于，所述至少一个样本光器件集包括多个样本光器件，并且所述获取阵列排布的待测试光器件中的至少一个样本光器件集的目标输出端口对应的位置坐标参数的步骤包括：

识别所述多个样本光器件中的基础光器件集合；

其中，所述基础光器件集合内的相邻样本光器件之间的间距变化规律表示所有所述待测试光器件中相邻光器件之间的间距变化规律。

3.根据权利要求2所述的光耦合测试方法，其特征在于，所述根据所述位置坐标参数计算所述目标输出端口之间的间距，得到用于测试光纤的移动距离序列，包括：

基于所述基础光器件集合中的样本光器件的输出端口之间的间距得到用于测试光纤的所述移动距离序列；

其中，所述移动距离序列包括内循环距离序列和外循环距离序列，所述内循环距离序列中的每个元素的值依序对应于一个样本光器件的相邻输出端口之间的间距，所述外循环距离序列中的每个元素的值依序对应于所述基础光器件集合中相邻光器件之间的间距。

4.根据权利要求3所述的光耦合测试方法，其特征在于，所述基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试的步骤包括：

步骤1，基于所述内循环距离序列依序移动所述测试光纤从当前光器件的首个输出端口开始逐个遍历该光器件的每个输出端口并对其进行光耦合测试，遍历结束后执行步骤2；

步骤2，从所述外循环距离序列中提取出当前匹配元素的值并随后执行步骤3；

步骤3，若存在剩余未进行光耦合测试的光器件，则基于所述当前匹配元素的值将所述测试光纤从当前光器件移动到下一个光器件的首个输出端口进行光耦合测试，并将所述下一个光器件作为新的当前光器件，随之返回步骤1执行后续测试并将所述外循环距离序列中的当前匹配元素的下一个元素作为新的当前匹配元素，其中，若当前匹配元素已是所述外循环距离序列中的最后一个元素，则将所述外循环距离序列中的第一个元素作为新的当前匹配元素；若不存在剩余未进行光耦合测试的光器件，则结束测试；

其中，所述外循环距离序列中的第一个元素作为原始的当前匹配元素。

5.根据权利要求3所述的光耦合测试方法，其特征在于，在每个所述待测试光器件的所有输出端口之间的间距均相等的情况下，所述内循环距离序列仅包括一个元素，并且所述元素的值是两个相邻的输出端口之间的间距；在每个所述测试光器件的所有输出端口之间的间距不相等的情况下，所述内循环距离序列包括多个元素，每个元素的值依序对应于一个样本光器件的相邻输出端口之间的间距。

6.根据权利要求3所述的光耦合测试方法，其特征在于，在任两个相邻的所述待测试光器件之间的间距均相等的情况下，所述基础光器件集合仅包括相邻的两个光器件，并且所述外循环距离序列仅包括一个元素，并且所述元素的值是所述两个相邻的光器件之间的间距；在任两个相邻的所述待测试光器件之间的间距不相等的情况下，所述基础光器件集合包括多个相邻的光器件，并且所述外循环距离序列包括多个元素，每个元素的值依序对应于所述基础光器件集合中相邻光器件之间的间距。

7.根据权利要求1所述的光耦合测试方法，其特征在于，所述基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试还包括：

在基于所述移动距离序列驱动所述测试光纤到达预期位置后，通过微调所述测试光纤在当前输出端口的测试位置，得到所述测试光纤进行光耦合测试的最优测试位置；

基于所述最优测试位置，扫描所述当前输出端口输出光的光谱；

将所述光谱的数据存储至存储器以进行后续分析。

8.根据权利要求1所述的光耦合测试方法，其特征在于，所述基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试还包括：

当驱动测试光纤移动所述移动距离序列中某一元素所指示的距离值后，若所述测试光纤没有接收到输出光信号，则结束所述光耦合测试。

9.一种光耦合测试装置，其特征在于，所述装置包括：

参数获取模块，用于获取阵列排布的待测试光器件中的至少一个样本光器件集的目标输出端口对应的位置坐标参数；

计算模块，用于根据所述位置坐标参数计算所述目标输出端口之间的间距，得到用于测试光纤的移动距离序列；

测试模块，用于基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试。

10.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至8任一项所述光耦合测试方法的步骤。

11.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8任一项所述光耦合测试方法的步骤。

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