CN113219257A - 电容的参数测量电路及电容的esr容量测量仪 - Google Patents

Abstract

一种电容的参数测量电路及电容的ESR容量测量仪，通过控制电路输出数字驱动信号；数模转换电路将数字驱动信号转换为模拟驱动电压；模拟驱动电压的频率与数字驱动信号相关联；驱动电路对模拟驱动电压进行放大以输出驱动放大电压；分压电路对驱动放大电压进行分压以输出第一电压；待测电容根据第一电压进行充放电以输出第一待测电压和第一待测电流；电压检测电路对第一待测电压和第一电压进行检测以输出第一电压检测信号；电流检测电路对第一待测电流进行检测以输出第一电流检测信号；控制电路根据第一电压检测信号和第一电流检测信号得到初始电容参数；从而提高了电容的参数测量电路的检测精度。

Description

电容的参数测量电路及电容的ESR容量测量仪

技术领域

本申请属于仪表领域，尤其涉及一种电容的参数测量电路及电容的ESR容量测量仪。

背景技术

传统的电容的参数测量电路通过在待测电容的第一端接入预设频率的驱动电压，并检测电容电压和电容电流，且根据电容电压和电容电流得到待测电容的电容参数。

由于传统的电容的参数测量电路只能测量预设频率的驱动电压下待测电容的电容参数，导致电容的等效串联电阻检测精度低的问题。

发明内容

本申请的目的在于提供一种电容的参数测量电路及电容的ESR容量测量仪，旨在解决传统的电容的参数测量电路检测精度低的缺陷。

本申请实施例提供了一种电容的参数测量电路，与待测电容连接，所述待测电容配置为根据第一电压进行充放电以输出第一待测电压和第一待测电流；其特征在于，包括：

控制电路，配置为从所连接的线路输出数字驱动信号；

数模转换电路，与所述控制电路连接，配置为将所述数字驱动信号转换为模拟驱动电压；其中，所述模拟驱动电压的频率与所述数字驱动信号相关联；

驱动电路，与所述数模转换电路连接，配置为对所述模拟驱动电压进行放大以输出驱动放大电压；

分压电路，与所述驱动电路和所述待测电容连接，配置为对所述驱动放大电压进行分压以输出所述第一电压；

电压检测电路，与所述待测电容连接，配置为对所述第一待测电压和所述第一电压进行检测以输出第一电压检测信号；

电流检测电路，与所述待测电容连接，配置为对所述第一待测电流进行检测以输出第一电流检测信号；

所述控制电路还配置为根据所述第一电压检测信号和所述第一电流检测信号得到初始电容参数。

在其中一个实施例中，所述控制电路还配置为根据所述初始电容参数输出电压控制信号；

所述分压电路还配置为根据所述电压控制信号对所述驱动放大电压进行分压以输出第二电压；

所述待测电容还配置为根据所述第二电压进行充放电以输出第二待测电压和第二待测电流；

所述电压检测电路还配置为对所述第二待测电压和所述第二电压进行检测以输出第二电压检测信号；

所述电流检测电路还配置为根据所述第一电流控制信号对所述第二待测电流进行检测以输出第二电流检测信号；

所述控制电路还配置为根据所述第二电压检测信号和所述第二电流检测信号得到第一目标电容参数。

在其中一个实施例中，所述电流检测电路包括：

第一放大组件，与所述待测电容连接，配置为对所述第一待测电压进行放大以生成第一待测放大电压；

取样组件，与所述第一放大组件和所述控制电路连接，配置为根据所述第一待测电压和所述第一待测放大电压输出第一电流检测信号。

在其中一个实施例中，所述控制电路还配置为根据所述初始电容参数输出电流控制信号；

所述第一放大组件还配置为根据所述电流控制信号对所述第一待测电压进行放大以生成第二待测放大电压；

所述取样组件还配置为根据所述第一待测电压和所述第二待测放大电压输出第三电流检测信号；

所述控制电路还配置为根据所述第一电压检测信号和所述第三电流检测信号得到第二目标电容参数。

在其中一个实施例中，所述第一放大组件包括：

档位选择组件，与所述待测电容和所述取样组件连接，配置为根据所述电流控制信号将所述第二待测放大电压转换为第一偏置电压；

电压转换组件，与所述档位选择组件、所述待测电容和所述取样组件连接，配置为根据所述第一偏置电压将所述第一待测电压转换为所述第一待测放大电压。

在其中一个实施例中，所述取样组件包括：

第一电压采样组件，与所述待测电容和所述第一放大组件连接，配置为对所述第一待测电压进行采样以生成第一电压采样信号；

第二电压采样组件，与所述第一放大组件连接，配置为对所述第一待测放大电压进行采样以生成第二电压采样信号；

第一运算放大组件，与所述第一电压采样组件和所述第二电压采样组件连接，配置为对所述第一电压采样信号和所述第二电压采样信号进行运算和放大以输出第一模拟电流检测信号；

第一模数转换组件，与所述第一运算放大组件和所述控制电路连接，配置为将所述第一模拟电流检测信号转换为第一电流检测信号。

在其中一个实施例中，所述控制电路还配置为根据所述初始电容参数输出第一档位信号；

所述第一运算放大组件还配置为根据所述第一档位信号对所述第一电压采样信号和所述第二电压采样信号进行运算和放大以输出第二模拟电流检测信号；

所述第一模数转换组件还配置为将所述第二模拟电流检测信号转换为第四电流检测信号；

所述控制电路还配置为根据所述第一电压检测信号和所述第四电流检测信号得到第三目标电容参数。

在其中一个实施例中，所述电压检测电路包括：

第三电压采样组件，与所述待测电容和所述分压电路连接，配置为对所述第一电压进行采样以生成第三电压采样信号；

第四电压采样组件，与所述待测电容和所述电流检测电路连接，配置为对所述第一待测电压进行采样以生成第四电压采样信号；

第二运算放大组件，与所述第三电压采样组件和所述第四电压采样组件连接，配置为对所述第三电压采样信号和所述第四电压采样信号进行运算和放大以输出第一模拟电压检测信号；

第二模数转换组件，与所述第二运算放大组件和所述控制电路连接，配置为将所述第一模拟电压检测信号转换为第一电压检测信号。

在其中一个实施例中，所述控制电路还配置为根据所述初始电容参数输出第二档位信号；

所述第二运算放大组件还配置为根据所述第二档位信号对所述第三电压采样信号和所述第四电压采样信号进行运算和放大以输出第二模拟电压检测信号；

所述第二模数转换组件还配置为将所述第二模拟电压检测信号转换为第三电压检测信号；

所述控制电路还配置为根据所述第三电压检测信号和所述第一电流检测信号得到第四目标电容参数。

本申请实施例还提供一种电容的等效串联电阻(Equivalent SeriesResistance，ESR)容量测量仪，所述电容的ESR容量测量仪包括如上述的电容的参数测量电路。

本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是：由于模拟驱动电压的频率与控制电路输出的数字驱动信号相关联；，故实现了不同频率下的待测电容的等效串联电阻的测量，从而提高了电容的参数测量电路的检测精度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术发明，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请一实施例提供的电容的参数测量电路的一种结构示意图；

图2为本申请一实施例提供的电容的参数测量电路中电流检测电路的一种结构示意图；

图3为本申请一实施例提供的电容的参数测量电路中第一放大组件的一种结构示意图；

图4为本申请一实施例提供的电容的参数测量电路中取样组件的一种结构示意图；

图5为本申请一实施例提供的电容的参数测量电路中电压检测电路的一种结构示意图；

图6为本申请一实施例提供的电容的参数测量电路的一种部分示例电路原理图。

具体实施方式

为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

图1示出了本申请较佳实施例提供的电容的参数测量电路的结构示意图，为了便于说明，仅示出了与本实施例相关的部分，详述如下：

上述电容的参数测量电路与待测电容10连接，待测电容10配置为根据第一电压进行充放电以输出第一待测电压和第一待测电流；电容的参数测量电路包括控制电路11、数模转换电路12、驱动电路13、分压电路14、电压检测电路15以及电流检测电路16。

控制电路11，配置为从所连接的线路输出数字驱动信号；

数模转换电路12，与控制电路11连接，配置为将数字驱动信号转换为模拟驱动电压；其中，模拟驱动电压的频率与数字驱动信号相关联；

驱动电路13，与数模转换电路12连接，配置为对模拟驱动电压进行放大以输出驱动放大电压；

分压电路14，与驱动电路13和待测电容10连接，配置为对驱动放大电压进行分压以输出第一电压；

电压检测电路15，与待测电容10连接，配置为对第一待测电压和第一电压进行检测以输出第一电压检测信号；标注：后面增加一级ADC，ADC后送给控制电路。

电流检测电路16，与待测电容10连接，配置为对第一待测电流进行检测以输出第一电流检测信号；标注：后面增加一级ADC，ADC后送给控制电路。

控制电路11还配置为根据第一电压检测信号和第一电流检测信号得到初始电容参数。具体地，初始电容参数包括初始等效串联电阻值和初始电容容量值。

作为示例而非限定，控制电路11还配置为根据初始电容参数输出电压控制信号；分压电路14还配置为根据电压控制信号对驱动放大电压进行分压以输出第二电压；待测电容10还配置为根据第二电压进行充放电以输出第二待测电压和第二待测电流；电压检测电路15还配置为对第二待测电压和第二电压进行检测以输出第二电压检测信号；电流检测电路16还配置为根据第一电流控制信号对第二待测电流进行检测以输出第二电流检测信号；控制电路11还配置为根据第二电压检测信号和第二电流检测信号得到第一目标电容参数。具体地，第一目标电容参数包括第一目标等效串联电阻值和第一目标电容容量值。

在得到初始电容参数之后，通过控制电路11根据初始电容参数输出第二电压控制信号以调节分压电路14对驱动放大电压进行分压，从而调节加载在待测电容10上的电压，改变了参数测量电路的档位设置，扩大了电容的参数测量电路的量程。

如图2所示，电流检测电路16包括第一放大组件161和取样组件162。

第一放大组件161，与待测电容10连接，配置为对第一待测电压进行放大以生成第一待测放大电压。

取样组件162，与第一放大组件161和控制电路11连接，配置为根据第一待测电压和第一待测放大电压输出第一电流检测信号。

作为示例而非限定，控制电路11还配置为根据初始电容参数输出电流控制信号；第一放大组件161还配置为根据电流控制信号对第一待测电压进行放大以生成第二待测放大电压；取样组件162还配置为根据第一待测电压和第二待测放大电压输出第三电流检测信号；控制电路11还配置为根据第一电压检测信号和第三电流检测信号得到第二目标电容参数。具体地，第二目标电容参数包括第二目标等效串联电阻值和第二目标电容容量值。

在得到初始电容参数之后，通过控制电路11根据初始电容参数输出第二电流控制信号以调节第一放大组件161的放大倍数，从而调节电流检测信号，改变了参数测量电路的档位设置，扩大了电容的参数测量电路的量程。

如图3所示，第一放大组件161包括档位选择组件1611和电压转换组件1612。

档位选择组件1611，与待测电容10和取样组件162连接，配置为根据电流控制信号将第二待测放大电压转换为第一偏置电压；

电压转换组件1612，与档位选择组件1611、待测电容10和取样组件162连接，配置为根据第一偏置电压将第一待测电压转换为第一待测放大电压。

通过档位选择组件1611生成与第二电流控制信号对应的第一偏置电压，从而改变电压转换组件1612的电参数转换系数，从而改变电容的参数测量电路的档位，扩大了电容的参数测量电路的量程。

如图4所示，取样组件162包括第一电压采样组件1621、第二电压采样组件1622、第一运算放大组件1623以及第一模数转换组件1624。

第一电压采样组件1621，与待测电容10和第一放大组件161连接，配置为对第一待测电压进行采样以生成第一电压采样信号；

第二电压采样组件1622，与第一放大组件161连接，配置为对第一待测放大电压进行采样以生成第二电压采样信号；

第一运算放大组件1623，与第一电压采样组件1621和第二电压采样组件1622连接，配置为对第一电压采样信号和第二电压采样信号进行运算和放大以输出第一模拟电流检测信号；

第一模数转换组件1624，与第一运算放大组件1623和控制电路11连接，配置为将第一模拟电流检测信号转换为第一电流检测信号。

通过第一电压采样组件1621、第二电压采样组件1622、第一运算放大组件1623以及第一模数转换组件1624，检测了第一待测电压和第一待测放大电压，并根据检测结果输出第一电流检测信号，实现了对待测电容10的电流的检测。

作为示例而非限定，控制电路11还配置为根据初始电容参数输出第一档位信号；第一运算放大组件1623还配置为根据第一档位信号对第一电压采样信号和第二电压采样信号进行运算和放大以输出第二模拟电流检测信号；第一模数转换组件1624还配置为将第二模拟电流检测信号转换为第四电流检测信号；控制电路11还配置为根据第一电压检测信号和第四电流检测信号得到第三目标电容参数。具体地，第三目标电容参数包括第三目标等效串联电阻值和第三目标电容容量值。

在得到初始电容参数之后，通过控制电路11根据初始电容参数输出第一档位信号以调节第一运算放大组件1623的放大倍数，从而调节电流检测信号，改变了参数测量电路的档位设置，扩大了电容的参数测量电路的量程。

如图5所示，电压检测电路15包括第三电压采样组件151、第四电压采样组件152、第二运算放大组件153以及第二模数转换组件154。

第三电压采样组件151，与待测电容10和分压电路14连接，配置为对第一电压进行采样以生成第三电压采样信号；

第四电压采样组件152，与待测电容10和电流检测电路16连接，配置为对第一待测电压进行采样以生成第四电压采样信号；

第二运算放大组件153，与第三电压采样组件151和第四电压采样组件152连接，配置为对第三电压采样信号和第四电压采样信号进行运算和放大以输出第一模拟电压检测信号；

第二模数转换组件154，与第二运算放大组件153和控制电路11连接，配置为将第一模拟电压检测信号转换为第一电压检测信号。

通过第三电压采样组件151、第四电压采样组件152、第二运算放大组件153以及第二模数转换组件154，对第一电压和第一待测电压进行采样，并根据采样结果输出第一电压检测信号，实现了对待测电容10两端电压的检测。

作为示例而限定，控制电路11还配置为根据初始电容参数输出第二档位信号；第二运算放大组件153还配置为根据第二档位信号对第三电压采样信号和第四电压采样信号进行运算和放大以输出第二模拟电压检测信号；第二模数转换组件154还配置为将第二模拟电压检测信号转换为第三电压检测信号；控制电路11还配置为根据第三电压检测信号和第一电流检测信号得到第四目标电容参数。具体地，第四目标电容参数包括第四目标等效串联电阻值和第四目标电容容量值。

在得到初始电容参数之后，通过控制电路11根据初始电容参数输出第二档位信号以调节第二运算放大组件153的放大倍数，从而调节电压检测信号，改变了参数测量电路的档位设置，扩大了电容的参数测量电路的量程。

图6示出了本发明实施例提供的电容的参数测量电路的一种部分示例电路结构，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下：

控制电路11包括现场可编程门阵列U1。

现场可编程门阵列U1的第一通用输入输出端PT13B、现场可编程门阵列U1的第二通用输入输出端PT13A、现场可编程门阵列U1的第三通用输入输出端PT11B、现场可编程门阵列U1的第四通用输入输出端PT11A、现场可编程门阵列U1的第五通用输入输出端PT10B以及现场可编程门阵列U1的第六通用输入输出端PT10A共同连接至控制电路11的数字驱动信号输出端；

现场可编程门阵列U1的第七通用输入输出端PB25B、现场可编程门阵列U1的第八通用输入输出端PB25A、现场可编程门阵列U1的第九通用输入输出端PR14B、现场可编程门阵列U1的第十通用输入输出端PR14A、现场可编程门阵列U1的第十一通用输入输出端PR13B、现场可编程门阵列U1的第十二通用输入输出端PR13A、现场可编程门阵列U1的第十三通用输入输出端PR12B、现场可编程门阵列U1的第十四通用输入输出端PR12A、现场可编程门阵列U1的第十五通用输入输出端PR11B、现场可编程门阵列U1的第十六通用输入输出端PR11A、现场可编程门阵列U1的第十七通用输入输出端PR10B以及现场可编程门阵列U1的第十八通用输入输出端PR10A共同连接至控制电路11的第一电流检测信号输入端。

现场可编程门阵列U1的第十九通用输入输出端PR1B、现场可编程门阵列U1的第二十通用输入输出端PR1A、现场可编程门阵列U1的第二十一通用输入输出端PR1B、现场可编程门阵列U1的第二十二通用输入输出端PR2A、现场可编程门阵列U1的第二十三通用输入输出端PR2B、现场可编程门阵列U1的第二十四通用输入输出端PR3A、现场可编程门阵列U1的第二十五通用输入输出端PR3B、现场可编程门阵列U1的第二十六通用输入输出端PR4A、现场可编程门阵列U1的第二十七通用输入输出端PR4B、现场可编程门阵列U1的第二十八通用输入输出端PR5A、现场可编程门阵列U1的第二十九通用输入输出端PR5B、现场可编程门阵列U1的第三十通用输入输出端PR6A、现场可编程门阵列U1的第三十一通用输入输出端PR6B以及现场可编程门阵列U1的第三十二通用输入输出端PR7C共同连接至控制电路11的第一电压检测信号输入端。

现场可编程门阵列U1的第三十三通用输入输出端PB22B以及现场可编程门阵列U1的第三十四通用输入输出端PB24A共同连接至控制电路11的第一电压检测信号输入端共同连接至控制电路11的电压控制信号输出端。

现场可编程门阵列U1的第三十五通用输入输出端PB22A、现场可编程门阵列U1的第三十六通用输入输出端PB21B、现场可编程门阵列U1的第三十七通用输入输出端PB21A以及现场可编程门阵列U1的第三十八通用输入输出端PB19B共同连接至控制电路11的电流控制信号输出端。

该控制电路11结构简单可靠。

分压电路14包括第一继电器K1、第二继电器K2、第一二极管D1、第二二极管D2、第一电容C1、第二电容C2、第一电阻R1、第二电阻R2以及第三电阻R3；

第一继电器K1的第一线圈端、第一二极管D1的负极、第二继电器K2的第一线圈端和第二二极管D2的负极共接于第一电源VAA，第一继电器K1第二线圈端、第一二极管D1的正极、第一电容C1的第一端、第二继电器K2的第二线圈端、第二二极管D2的正极以及第二电容C2的第一端共同连接至分压电路14第一电压控制信号输入端和分压电路14的第二电压控制信号输入端，第一继电器K1的A通道常闭触点端与第一继电器K1的B通道常闭触点端、第二电阻R2的第二端、第三电阻R3的第一端、第二继电器K2的A通道常开触点端以及第二继电器K2的B通道常开触点端连接，第一继电器K1的A通道常开触点端、第一继电器K1的B通道常开触点端以及第一电阻R1的第一端共同连接至分压电路14的驱动放大电压输入端，第二继电器K2的A通道常闭触点端与第二继电器K2的B通道常闭触点端、第一电阻R1的第二端以及第二电阻R2的第一端连接，第三电阻R3的第二端连接至分压电路14的第一电压输出端和分压电路14的第二电压输出端。

通过继电器和电阻网络实现分压电路14，实现了根据数字信号调节分压电路14的分压系数。

以下结合工作原理对图6所示的作进一步说明：

现场可编程门阵列U1的第一通用输入输出端PT13B至现场可编程门阵列U1的第六通用输入输出端PT10A输出数字驱动信号至数模转换电路12；数模转换电路12将数字驱动信号转换为模拟驱动电压；其中，模拟驱动电压的频率与数字驱动信号相关联。驱动电路13，与数模转换电路12连接，配置为对模拟驱动电压进行放大以输出驱动放大电压。

现场可编程门阵列U1的第三十三通用输入输出端PB22B以及现场可编程门阵列U1的第三十四通用输入输出端PB24A输出第一电压控制信号至分压电路14；分压电路14中的第一继电器K1和第二继电器K2根据第一电压控制信号闭合或断开，从而改变第一电阻R1至第三电阻R3的连接方式，设置由第一电阻R1至第三电阻R3组成的电阻网络的阻值以调节分压电路14的分压系数。分压电路14根据该分压系数对驱动放大电压进行分压以输出第一电压；待测电容10根据第一电压进行充放电以输出第一待测电压和第一待测电流。

电流检测电路16对第一待测电流进行检测以输出第一电流检测信号。

电压检测电路15对第一待测电压和第一电压进行检测以输出第一电压检测信号；控制电路11根据第一电压检测信号和第一电流检测信号得到初始电容参数。

可以通过两种方式进行档位调节：

第一种方式，在得到初始电容参数后，现场可编程门阵列U1的第三十三通用输入输出端PB22B以及现场可编程门阵列U1的第三十四通用输入输出端PB24A输出电压控制信号至分压电路14；分压电路14中的第一继电器K1和第二继电器K2根据电压控制信号闭合或断开，从而改变第一电阻R1至第三电阻R3的连接方式，设置由第一电阻R1至第三电阻R3组成的电阻网络的阻值以调节分压电路14的分压系数。分压电路14根据该分压系数对驱动放大电压进行分压以输出第二电压；待测电容10根据第二电压进行充放电以输出第二待测电压和第二待测电流。电压检测电路15对第二待测电压和第二电压进行检测以输出第二电压检测信号；电流检测电路16根据第一电流控制信号对第二待测电流进行检测以输出第二电流检测信号；控制电路11根据第二电压检测信号和第二电流检测信号得到第一目标电容参数。

第二种方式，在得到初始电容参数后，现场可编程门阵列U1的第三十五通用输入输出端PB22A至现场可编程门阵列U1的第三十八通用输入输出端PB19B输出电流控制信号至第一放大组件161，第一放大组件161根据电流控制信号对第一待测电压进行放大以生成第二待测放大电压；取样组件162根据第一待测电压和第二待测放大电压输出第三电流检测信号；控制电路11根据第一电压检测信号和第三电流检测信号得到第二目标电容参数。

可以理解的是，具体实施中，第一种方式和第二种方式可以同时使用，以进一步扩大参数测量电路的量程。本申请实施例还提供一种电容的ESR容量测量仪，电容的ESR容量测量仪包括如上述的电容的参数测量电路。

本发明实施例与待测电容连接，通过控制电路从所连接的线路输出数字驱动信号；数模转换电路将数字驱动信号转换为模拟驱动电压；其中，模拟驱动电压的频率与数字驱动信号相关联；驱动电路对模拟驱动电压进行放大以输出驱动放大电压；分压电路对驱动放大电压进行分压以输出第一电压；待测电容根据第一电压进行充放电以输出第一待测电压和第一待测电流；电压检测电路对第一待测电压和第一电压进行检测以输出第一电压检测信号；电流检测电路对第一待测电流进行检测以输出第一电流检测信号；控制电路根据第一电压检测信号和第一电流检测信号得到初始电容参数；从而实现了不同频率下的待测电容的等效串联电阻的测量，提高了电容的参数测量电路的检测精度。

应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。

以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电容的参数测量电路，与待测电容连接，所述待测电容配置为根据第一电压进行充放电以输出第一待测电压和第一待测电流；其特征在于，包括：

控制电路，配置为从所连接的线路输出数字驱动信号；

数模转换电路，与所述控制电路连接，配置为将所述数字驱动信号转换为模拟驱动电压；其中，所述模拟驱动电压的频率与所述数字驱动信号相关联；

驱动电路，与所述数模转换电路连接，配置为对所述模拟驱动电压进行放大以输出驱动放大电压；

分压电路，与所述驱动电路和所述待测电容连接，配置为对所述驱动放大电压进行分压以输出所述第一电压；

电压检测电路，与所述待测电容连接，配置为对所述第一待测电压和所述第一电压进行检测以输出第一电压检测信号；

电流检测电路，与所述待测电容连接，配置为对所述第一待测电流进行检测以输出第一电流检测信号；

所述控制电路还配置为根据所述第一电压检测信号和所述第一电流检测信号得到初始电容参数。

2.如权利要求1所述的电容的参数测量电路，其特征在于，所述控制电路还配置为根据所述初始电容参数输出电压控制信号；

所述分压电路还配置为根据所述电压控制信号对所述驱动放大电压进行分压以输出第二电压；

所述待测电容还配置为根据所述第二电压进行充放电以输出第二待测电压和第二待测电流；

所述电压检测电路还配置为对所述第二待测电压和所述第二电压进行检测以输出第二电压检测信号；

所述电流检测电路还配置为根据所述第一电流控制信号对所述第二待测电流进行检测以输出第二电流检测信号；

所述控制电路还配置为根据所述第二电压检测信号和所述第二电流检测信号得到第一目标电容参数。

3.如权利要求1所述的电容的参数测量电路，其特征在于，所述电流检测电路包括：

第一放大组件，与所述待测电容连接，配置为对所述第一待测电压进行放大以生成第一待测放大电压；

取样组件，与所述第一放大组件和所述控制电路连接，配置为根据所述第一待测电压和所述第一待测放大电压输出第一电流检测信号。

4.如权利要求3所述的电容的参数测量电路，其特征在于，所述控制电路还配置为根据所述初始电容参数输出电流控制信号；

所述第一放大组件还配置为根据所述电流控制信号对所述第一待测电压进行放大以生成第二待测放大电压；

所述取样组件还配置为根据所述第一待测电压和所述第二待测放大电压输出第三电流检测信号；

所述控制电路还配置为根据所述第一电压检测信号和所述第三电流检测信号得到第二目标电容参数。

5.如权利要求4所述的电容的参数测量电路，其特征在于，所述第一放大组件包括：

档位选择组件，与所述待测电容和所述取样组件连接，配置为根据所述电流控制信号将所述第二待测放大电压转换为第一偏置电压；

电压转换组件，与所述档位选择组件、所述待测电容和所述取样组件连接，配置为根据所述第一偏置电压将所述第一待测电压转换为所述第一待测放大电压。

6.如权利要求3所述的电容的参数测量电路，其特征在于，所述取样组件包括：

第一电压采样组件，与所述待测电容和所述第一放大组件连接，配置为对所述第一待测电压进行采样以生成第一电压采样信号；

第二电压采样组件，与所述第一放大组件连接，配置为对所述第一待测放大电压进行采样以生成第二电压采样信号；

第一运算放大组件，与所述第一电压采样组件和所述第二电压采样组件连接，配置为对所述第一电压采样信号和所述第二电压采样信号进行运算和放大以输出第一模拟电流检测信号；

第一模数转换组件，与所述第一运算放大组件和所述控制电路连接，配置为将所述第一模拟电流检测信号转换为第一电流检测信号。

7.如权利要求6所述的电容的参数测量电路，其特征在于，所述控制电路还配置为根据所述初始电容参数输出第一档位信号；

所述第一运算放大组件还配置为根据所述第一档位信号对所述第一电压采样信号和所述第二电压采样信号进行运算和放大以输出第二模拟电流检测信号；

所述第一模数转换组件还配置为将所述第二模拟电流检测信号转换为第四电流检测信号；

所述控制电路还配置为根据所述第一电压检测信号和所述第四电流检测信号得到第三目标电容参数。

8.如权利要求1所述的电容的参数测量电路，其特征在于，所述电压检测电路包括：

第三电压采样组件，与所述待测电容和所述分压电路连接，配置为对所述第一电压进行采样以生成第三电压采样信号；

第四电压采样组件，与所述待测电容和所述电流检测电路连接，配置为对所述第一待测电压进行采样以生成第四电压采样信号；

第二运算放大组件，与所述第三电压采样组件和所述第四电压采样组件连接，配置为对所述第三电压采样信号和所述第四电压采样信号进行运算和放大以输出第一模拟电压检测信号；

第二模数转换组件，与所述第二运算放大组件和所述控制电路连接，配置为将所述第一模拟电压检测信号转换为第一电压检测信号。

9.如权利要求8所述的电容的参数测量电路，其特征在于，所述控制电路还配置为根据所述初始电容参数输出第二档位信号；

所述第二运算放大组件还配置为根据所述第二档位信号对所述第三电压采样信号和所述第四电压采样信号进行运算和放大以输出第二模拟电压检测信号；

所述第二模数转换组件还配置为将所述第二模拟电压检测信号转换为第三电压检测信号；

所述控制电路还配置为根据所述第三电压检测信号和所述第一电流检测信号得到第四目标电容参数。

10.一种电容的ESR容量测量仪，其特征在于，所述电容的ESR容量测量仪包括如权利要求1至9任意一项所述的电容的参数测量电路。

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