CN113218456A - 一种水冷cpu散热器测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明属于散热器测试系统技术领域，涉及一种水冷CPU散热器测试系统，包括：测试台、恒温水浴箱，恒温水浴箱通过测试管道连接到测试台，测试台上设置有测试元件操作面板，测试元件操作面板上放置散热测试元件，散热测试元件连接水冷CPU散热器，散热测试元件表面设置开槽，开槽上焊接第一热电偶，测试台设置第二进水口、第二出水口，第二进水口设置第二热电偶和第一压差计，第二出水口设置第三热电偶和第二压差计，水冷CPU散热器设置第一进水口、第一出水口，第一进水口通过第一控制阀门连接测试台的第二进水口，第一出水口通过第二控制阀门连接测试台的第二出水口。本发明具有全方位对水冷CPU散热器进行温度及压力测量的优点。
Description
技术领域
本发明属于散热器测试系统技术领域，具体涉及一种水冷CPU散热器测试系统。
背景技术
随着现有技术发展对计算机性能要求的提高，计算机的核心技术部件CPU的功耗越来越高，传统的风扇冷却难以满足散热性能要求，水冷CPU散热器技术能够有效解决高功耗CPU，但是水冷CPU散热方法为了保证服务器运行安全需要将散热器及管路进行密封处理，难以对散热器内部构造进行性能检测。因此对水冷散热器的精确有效的性能判定显得尤为重要。
现有的水冷CPU散热器测试系统只能对整个水冷回路进行压力、温度测量，测量精度差，无法全方位对水冷CPU散热器进行温度及压力测量。此为现有技术中存在的技术问题。
有鉴于此，本发明给出一种水冷CPU散热器测试系统的技术方案；以解决现有技术中存在的缺陷和问题。
发明内容
针对现有技术中存在的水冷CPU散热器测试系统无法全方位对水冷CPU散热器进行压力及温度测量，同时测量精度差的技术缺陷；本发明提供一种水冷CPU散热器测试系统，以解决现有技术中存在的问题。
为实现上述目的，本发明给出以下技术方案：
本发明提供一种水冷CPU散热器测试系统，包括：测试台、恒温水浴箱以及测试管道，恒温水浴箱通过测试管道连接到测试台，
测试台上设置有测试元件操作面板，测试元件操作面板上放置散热测试元件，散热测试元件连接有水冷CPU散热器，所述的散热测试元件表面设置有开槽，开槽上焊接第一热电偶，
测试台设置有第二进水口、第二出水口，所述第二进水口设置有第二热电偶和第一压差计，第二出水口设置有第三热电偶和第二压差计，
该测试系统还包括压差变送器，所述的压差变送器的第一端连接到第二进水口，压力变送器的第二端连接到第二出水口，
水冷CPU散热器设置有第一进水口、第一出水口，所述的第一进水口通过第一控制阀门连接到测试台的第二进水口，所述的第一出水口通过第二控制阀门连接到测试台的第二出水口。
作为优选，该系统还包括有齿轮泵、第三控制阀门和过滤器，齿轮泵的第一端通过测试管道连接恒温水浴箱，恒温水浴箱连接测试台的第二出水口，齿轮泵的第二端通过测试管道连接第三控制阀门的第一端，第三控制阀门的第二端通过测试管道连接过滤器，过滤器连接到测试台的第二进水口。所述的齿轮泵提供液体流动的动力，同时配合第三控制阀门控制液体流动的方向，所述过滤器用于过滤测试管道中液体杂质，减少液体杂质对测试数据的影响，从而得出较精确的散热器性能，齿轮泵体积小、工作可靠，同时维护方便。
作为优选，恒温水浴箱为ZSXH-618型号恒温水浴箱，恒温水浴箱根据测试需要调整温度，控温灵敏、性能可靠、使用方便。
作为优选，所述的第二进水口还设置有质量流量计，用于测量第二进水口的流量，当第二进水口的温度和流量一定的情况下，第二出水口温度越大，散热测试元件表面温度越低，确定该系统对散热测试元件散热效果的优劣，使用质量流量计测量流量准确性较高，稳定性较好。
作为优选，该系统还包括有数据采集单元，所述的数据采集单元连接压差变送器、第一热电偶、第二热电偶、第三热电偶、第一压差计、第二压差计，质量流量计，所述的数据采集单元采集压差数据、散热测试元件表面温度数据、第二进水口处温度及压力数据、第二出水口温度及压力数据、质量流量数据，全方位对水冷CPU散热器进行压力及温度测量。
作为优选，该系统还包括有分析处理单元，所述的分析处理单元连接数据采集单元，用于接收数据采集单元的数据信息，对数据信息分析处理，根据分析处理的数据得出水冷CPU散热器的性能，从而筛选出符合CPU散热设置的优质散热器。
作为优选，该系统还包括有电源模块，所述电源模块包括直流稳压电单元和交流电单元，所述直流稳压电单元连接散热测试元件和压差变送器，交流电单元连接数据采集单元、分析处理单元、齿轮泵以及恒温水浴箱，电源模块为该测试系统提供电源，确保测试系统的正常运行。
作为优选，测试元件操作面板四周设置供电线线槽，通过供电线线槽布置供电线，避免供电线缠绕带来安全隐患。
作为优选，所述散热测试元件与水冷CPU散热器之间设置有导热硅脂层，通过导热硅脂层将两者连接，导热硅脂层用来填充散热测试元件与水冷CPU散热器之间的空隙，用于向水冷CPU散热器传导其散发出来的热量，使热量的传导顺畅迅速。
作为优选，所述的测试管道四周包裹保温棉层，避免测试管道内液体传输过程中温度损耗，影响散热器性能测试结果。
本发明的有益效果在于，通过本发明测试系统可以精确测量不同种类的水冷散热器的性能，能够快速筛选出符合要求的散热器类型，该测试系统测试散热器性能，不需要服务器开机检测，极大的减少测试成本；同时全方位对水冷CPU散热器进行温度及压力测量。此外，本发明设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。
由此可见，本发明与现有技术相比，具有突出的实质性特点和显著的进步，其实施的有益效果也是显而易见的。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种水冷CPU散热器测试系统测试台结构示意图。
图2是本发明实施例提供的一种水冷CPU散热器测试系统整体结构示意图。
图3是本发明实施例提供的一种水冷CPU散热器测试系统中CPU TTV与第一热电偶位置关系结构示意图。
其中，1-测试台，2-过滤器，3-第三控制阀门，4-齿轮泵，5-恒温水浴箱，6-第一压差计，7-第二压差计，8-第二热电偶，9-第三热电偶，10-第一热电偶，11-CPU TTV，12-压差变送器，13-质量流量计，14-开槽，15-水冷CPU散热器，16-导热硅脂层，17-测试元件操作面板，18-第一进水口，19-第一出水口，20-第二进水口，21-第二出水口，22-第一控制阀门，23-第二控制阀门，24-供电线线槽。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
下面对本发明中出现的关键性数据进行解释。
CPU TTV是一个仿真CPU，内部是按照真实CPU设置的发热元件。
如图1至图3所示，本实施例提供的一种水冷CPU散热器测试系统，包括：测试台1、恒温水浴箱5、测试管道，恒温水浴箱5通过测试管道连接到测试台1，恒温水浴箱5为ZSXH-618型号恒温水浴箱，恒温水浴箱5根据测试需要调整温度，控温灵敏、性能可靠、使用方便，所述的测试管道四周包裹保温棉层，避免测试管道内液体传输过程中温度损耗，影响散热器性能测试结果，
测试台1上设置有测试元件操作面板17，测试元件操作面板17上放置CPU TTV 11，CPU TTV 11连接有水冷CPU散热器15，所述的CPU TTV 11通过导热硅脂层16连接水冷CPU散热器15，通过导热硅脂层16将两者连接，导热硅脂层16用来填充CPU TTV 11与水冷CPU散热器15之间的空隙，用于向水冷CPU散热器15传导其散发出来的热量，使热量的传导顺畅迅速。
所述的CPU TTV 11表面设置有开槽14，开槽14上焊接第一热电偶8，测试元件操作面板17四周设置供电线线槽24，通过供电线线槽24布置供电线，避免供电线缠绕带来安全隐患，
测试台1设置有第二进水口20、第二出水口21，所述第二进水口20设置有第二热电偶8和第一压差计6，第二出水口21设置有第三热电偶9和第二压差计7，所述的第二进水口20还设置有质量流量计13，所述的质量流量计13用于测量第二进水口20的流量，当第二进水口20的温度和流量一定的情况下，第二出水口21温度越大，CPU TTV11表面温度越低，确定该系统对散热测试元件散热效果的优劣，使用质量流量计13测量流量准确性较高，稳定性较好；
该测试系统还包括压差变送器12，所述的压差变送器12的第一端连接到第二进水口20，压力变送器的第二端连接到第二出水口21，水冷CPU散热器15设置有第一进水口18、第一出水口19，所述的第一进水口18通过第一控制阀门22连接到测试台1的第二进水口20，所述的第一出水口19通过第二控制阀门23连接到测试台1的第二出水口21，通过第一控制阀门22控制水冷CPU散热器15第一进水口18的开闭，通过第二控制阀门23控制水冷CPU散热器15第一出水口19的开闭，该系统还包括有齿轮泵4、第三控制阀门3以及过滤器2，齿轮泵4的第一端通过测试管道连接恒温水浴箱5，恒温水浴箱5连接测试台1的第二出水口21，齿轮泵4的第二端通过测试管道连接第三控制阀门3的第一端，第三控制阀门3的第二端通过测试管道连接过滤器2，过滤器2连接到测试台1的第二进水口20，所述的齿轮泵4提供液体流动的动力，同时配合第三控制阀门3控制液体流动的方向，所述过滤器2用于过滤测试管道中液体杂质，减少液体杂质对测试数据的影响，从而得出较精确的散热器性能，齿轮泵4体积小、工作可靠，同时维护方便。
该系统还包括数据采集单元和分析处理单元，所述的数据采集单元连接压差变送器12、第一热电偶8、第二热电偶9、第三热电偶10、第一压差计6、第二压差计7以及质量流量计13，所述的数据采集单元采集压差数据、CPU TTV 11表面温度数据、第二进水口20的温度及压力数据、第二出水口21温度及压力数据、质量流量数据，全方位对水冷CPU散热器15进行压力及温度测量，所述的分析处理单元连接数据采集单元，用于接收数据采集单元的数据信息，对数据信息分析处理，根据分析处理的数据得出水冷CPU散热器15的性能，从而筛选出符合CPU散热设置的优质散热器；
该系统还包括有电源模块，所述电源模块包括有直流稳压电单元和交流电单元，所述直流稳压电单元为CPU TTV11和压差变送器12供电，交流电单元为数据采集单元、分析处理单元、齿轮泵4以及恒温水浴箱5供电，电源模块为该测试系统提供电源，确保测试系统的正常运行。
本实施例的具体使用过程如下，恒温水浴箱5中充满去离子水，设置恒温水浴箱5的测试温度，启动齿轮泵4、质量流量计13，设置测试流量，将CPU TTV 11安装在测试元件操作面板17上，底部放置一层玻璃纤维纸进行保温，防止CPU TTV 11热量通过底部散出，同时测试台1四周根据水冷CPU散热器15的标准设置有固定螺母，模拟真实CPU安装，从而满足扣合力的要求，水冷CPU散热器15的第一进水口18通过第一控制阀门22连接到测试台1的第二进水口20，第一出水口19通过第二控制阀门23连接到测试台1的第二出水口21，启动电源模块，连接第一热电偶8、第二热电偶9、第三热电偶10、第一压差计6以及第二压差计7，当测试管道中温度稳定及压力稳定后，采集并分析第二进水口20、第二出水口21、压力差以及CPUTTV 11表面温度，根据分析结果对水冷CPU散热器15性能评估，当第二进水口20的温度及流量一定的情况下，第二出水口21的温度越高，CPU TTV 11表面温度越低，从而对比不同水冷CPU散热器15的性能，筛选出符合CPU散热设计的优质水冷CPU散热器15。
尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述，但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下，本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换，而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种水冷CPU散热器测试系统，其特征在于，包括：测试台、恒温水浴箱以及测试管道，恒温水浴箱通过测试管道连接到测试台，
测试台上设置有测试元件操作面板，测试元件操作面板上放置散热测试元件，散热测试元件连接有水冷CPU散热器，所述的散热测试元件表面设置有开槽，开槽上焊接第一热电偶，
测试台设置有第二进水口、第二出水口，所述第二进水口设置有第二热电偶和第一压差计，第二出水口设置有第三热电偶和第二压差计，
该测试系统还包括压差变送器，所述的压差变送器的第一端连接到第二进水口，压力变送器的第二端连接到第二出水口，
水冷CPU散热器设置有第一进水口、第一出水口，所述的第一进水口通过第一控制阀门连接到测试台的第二进水口，所述的第一出水口通过第二控制阀门连接到测试台的第二出水口。
2.根据权利要求1所述的一种水冷CPU散热器测试系统，其特征在于，该系统还包括有齿轮泵、第三控制阀门以及过滤器，齿轮泵的第一端通过测试管道连接恒温水浴箱，恒温水浴箱连接测试台的第二出水口，齿轮泵的第二端通过测试管道连接第三控制阀门的第一端，第三控制阀门的第二端通过测试管道连接过滤器，过滤器连接到测试台的第二进水口。
3.根据权利要求2所述的一种水冷CPU散热器测试系统，其特征在于，所述的恒温水浴箱为ZSXH-618型号恒温水浴箱。
4.根据权利要求3所述的一种水冷CPU散热器测试系统，其特征在于，所述的第二进水口还设置有质量流量计。
5.根据权利要求4所述的一种水冷CPU散热器测试系统，其特征在于，所述散热测试元件与水冷CPU散热器之间设置有导热硅脂层。
6.根据权利要求5所述的一种水冷CPU散热器测试系统，其特征在于，所述的测试管道四周包裹保温棉层。
7.根据权利要求6所述的一种水冷CPU散热器测试系统，其特征在于，所述的测试元件操作面板四周设置供电线线槽。
8.根据权利要求7所述的一种水冷CPU散热器测试系统，其特征在于，该系统还包括有数据采集单元，所述的数据采集单元连接压差变送器、第一热电偶、第二热电偶、第三热电偶、第一压差计、第二压差计，质量流量计。
9.根据权利要求8所述的一种水冷CPU散热器测试系统，其特征在于，该系统还包括有分析处理单元，所述的分析处理单元连接数据采集单元。
10.根据权利要求9所述的一种水冷CPU散热器测试系统，其特征在于，该系统还包括有电源模块，所述电源模块包括直流稳压电单元和交流电单元，所述直流稳压电单元连接散热测试元件和压差变送器，交流电单元连接数据采集单元、分析处理单元、齿轮泵以及恒温水浴箱。
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| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
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Application publication date: 20210806 |