CN113124760A - 反射式光栅尺 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种反射式光栅尺，包括有光源、镜头、主光栅尺、副光栅尺和接收单元，所述主光栅尺上设有第一光栅条纹，所述副光栅上设有与所述第一光栅条纹相对应的第二光栅条纹，所述接收单元与副光栅尺为相对平行间隔设置，所述光源设置于所述镜头上，所述第一光栅条纹包括RI码道和增量码道，RI码道依次包括第一不反光区、增量码道区、第一反射区、增量码道区、第一不反射区、增量码道区、第二反射区、第二不反光区，接收单元上对应RI码道位置设有接收区，所述接收区依次包括Z+信号区、A+信号区、B+信号区、A‑信号区、B‑信号区、Z‑信号区。本发明优点在于：主光栅与副光栅距离拉远至菲捏尔焦面，RI信号依然强且RI触发位置精准的反射式光栅尺。

Description

反射式光栅尺
技术领域
本发明涉及一种光栅尺，具体涉及一种反射式光栅尺。
背景技术
光栅尺也称为光栅尺位移传感器(光栅尺传感器)，是利用光栅的光学原理工作的测量反馈装置。光栅尺经常应用于数控机床的位置闭环伺服系统中，做直线位移的检测。此伺服系统需得到机械的绝对座标，一般需有RI（Reference Index）的参考位置。
反射式光栅尺是光栅尺的其中一种，常用于安装受限或需要高速移动的工作台间。一般光栅尺因为光信号的关系，副光栅与主光栅间距需在45微米以内，此时需用轴承来保持间距；因此工作台的相对运动就受到限制，且会因轴承滚动磨擦力带来回程差问题。解决方法是，利用莫尔条纹成像原理，在菲捏尔焦面处放上副光栅，但是因为在菲捏尔焦面上放上副光栅，此时副光栅上的RI信号因距离增常会变弱；若加大RI侦测面积，又会引发RI触发位置不稳定的问题。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种主光栅与副光栅距离拉远至菲捏尔焦面，RI信号依然强且RI触发位置精准的反射式光栅尺。
本发明的技术方案如下：
一种反射式光栅尺，包括有光源、镜头、主光栅尺、副光栅尺和接收单元，所述主光栅尺上设有第一光栅条纹，所述副光栅上设有与所述第一光栅条纹相对应的第二光栅条纹，所述接收单元与副光栅尺为相对平行间隔设置，所述光源设置于所述镜头上，所述第一光栅条纹包括RI码道和增量码道，RI码道依次包括第一不反光区、增量码道区、第一反射区、增量码道区、第一不反射区、增量码道区、第二反射区、第二不反光区，接收单元上对应RI码道位置设有接收区，所述接收区依次包括Z+信号区、A+信号区、B+信号区、A-信号区、B-信号区、Z-信号区。
作为本发明的进一步选择：所述增量码道和增量码道区为等间距的光栅条纹，间距为P=1个透光条纹长度+1个不透光条纹长度。
作为本发明的进一步选择：主光栅尺上RI码道的第一反射区和第一不反射区长度相同。
作为本发明的进一步选择：主光栅尺与副光栅尺之间的距离
Figure DEST_PATH_IMAGE001
；其中n=1,2,3...；P为增量码道光栅条纹间距pitch，λ为LED灯光波长。
作为本发明的进一步选择：所述接收单元与所述副光栅尺分开制作或制作合为一体。
作为本发明的进一步选择：所述光源为LED光源。
作为本发明的进一步选择：所述镜头为非球面镜，所述光源经过所述非球面镜输出平行光。
作为本发明的进一步选择：所述RI码道的增量码道区为若干个。
作为本发明的进一步选择：所述RI码道的第二反射区长度大于或等于RI码道的增量码道区长度之和。
作为本发明的进一步选择：所述第一不反光区、所述第二不反光区、所述第一反射区、所述第一不反射区、所述第二反射区反向设置。
作为本发明的进一步选择：所述RI码道的三个增量码道区合成为一个。
相对于现有技术，本发明的有益效果在于：本发明解决副光栅距离主光栅很远距离时的RI 问题；使用本发明，可以使得光栅尺的主光栅与副光栅距离拉远至菲捏尔焦面，同时RI信号依然能达到强且精准位置；本发明也同时考虑光栅尺受污染时，防止误触发RI情形；有利于用在高速、高可靠、高精度、安装空间受限的运动控制上。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的一种反射式光栅尺的结构示意图；
图2为本发明所述RI码道的结构示意图；
图3为本发明所述增量码道的结构示意图；
图4为本发明提供的接收区结构示意图；
图5为本发明所述RI信号求解示意图。
图6为本发明所述Z2信号求解示意图。
附图标记说明：
1--光源 2--镜头
3--主光栅尺 311--RI码道
3111--第一不反光区 3112--增量码道区
3113--第一反射区 3114--增量码道区
3115--第一不反光区 3116--增量码道区
3117--第二反射区 3118--第二不反光区
312--增量码道 4--副光栅尺
41--第二光栅条纹 5--接收单元
51--接收区。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。
实施例
请参阅图1-图6，本发明提供了一种反射式光栅尺，包括有光源1、镜头2、主光栅尺3、副光栅尺4和接收单元5，所述主光栅尺3上设有第一光栅条纹31，所述副光栅4上设有与所述第一光栅条纹31相对应的第二光栅条纹41，所述接收单元5与副光栅尺4为相对平行间隔设置，所述光源1设置于所述镜头2上，所述第一光栅条纹31包括RI码道311和增量码道312，RI码道311依次包括第一不反光区3111、增量码道区3112、第一反射区3113、增量码道区3114、第一不反射区3115、增量码道区3116、第二反射区3117、第二不反光区3118，接收单元5上对应RI码道311位置设有接收区51，所述接收区51依次包括Z+信号区、A+信号区、B+信号区、A-信号区、B-信号区、Z-信号区。增量码道区3112、增量码道区3114、增量码道区3116可以合成为一个，或者是若干个。
Z+信号区、A+信号区、B+信号区、A-信号区、B-信号区、Z-信号区对应Z+、A+、B+、A-、B-、Z-；A=(A+)-(A-)；B=(B+)-(B-)；Z1=(Z+) - (Z-)。
Z2 = 1( if Z1 ＞Vth) ；Z2 = 0( if Z2 ＜Vth )。
RI = Z2﹠( A≥θ1﹠A≤θ1+δ)﹠(B≥θ2﹠B≤θ2+δ )。
θ2 = θ1 + 90°。
δ为信息宽度。
工作原理：如图4所示，所述光源1发出LED光，接收区接收到Z+、A+、B+、A-、B-、Z-信号，由于A=(A+)-(A-)；B=(B+)-(B-)；Z1=(Z+) - (Z-)；Z2 = 1( if Z1 ＞Vth) ；Z2 = 0( ifZ2 ＜Vth )；θ2 =θ1 + 90°；δ为信息宽度，通过RI = Z2﹠( A≥θ1﹠A≤θ1+δ)﹠(B≥θ2﹠B≤θ2+δ)可以得到RI信号。
本发明中：所述增量码道和增量码道区为等间距的光栅条纹，间距为P=1个透光条纹长度+1个不透光条纹长度。
本发明中：主光栅尺上RI码道的第一反射区和第一不反射区长度相同。
本发明中：主光栅尺与副光栅尺之间的距离
Figure 240475DEST_PATH_IMAGE001
；其中n=1,2,3...；P为增量码道光栅条纹间距pitch，λ为LED灯光波长。
本发明中：所述接收单元与所述副光栅尺分开制作或制作合为一体。
本发明中：所述光源为LED光源。
本发明中：所述镜头为非球面镜，所述光源经过所述非球面镜输出平行光。该平行光根据实际情况，为近似平行光。
本发明中：所述RI码道的增量码道区为若干个，即RI码道的增量码道区可以为一个，也就是增量码道区3112、增量码道区3114、增量码道区3116合成为一个，也可以是若干个，至少需要一组。RI码道的增量码道区数量=1、2、3......。图2中所示为3个。
本发明中：所述RI码道的第二反射区长度大于或等于RI码道的增量码道区长度之和。对于本实施例，即第二反射区3117长度大于或等于增量码道区3112、增量码道区3114、增量码道区3116三者长度之后。
本发明中：所述第一不反光区、所述第二不反光区、所述第一反射区、所述第一不反射区、所述第二反射区反向设置。即反光和不反光可以完全相反，反光变成不反光，不反光为反光，只是信号反向而已。反射亦同。左右相反亦同。
莫尔条纹是光栅位移精密测量的基础，在实际应用中由两个空间频率相近的周期性光栅图形叠加而形成的光学条纹就是莫尔条纹，可以由遮光效应、衍射效应和干涉效应等多种原理产生。莫尔条纹的科学含义是指两个周期性结构图案重叠时所产生的差频或拍频图案。
莫尔条纹应用最广泛的领域是光栅位移测量，根据莫尔条纹原理可以实现直线位移和角位移的静态、动态测量，基于莫尔条纹数量与位移的关系实现精密位移测量，能够满足接触、非接触、小量程、大量程、一维、多维等各种需求的测量与控制反馈，广泛应用在程控、数控机床和三坐标测量机、精密测量与定位、超精密加工、微电子IC制造、地震预测、质量检测、纳米材料、机器人、MEMS、振动检测等众多领域。
以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (11)

1.一种反射式光栅尺，其特征在于：包括有光源、镜头、主光栅尺、副光栅尺和接收单元，所述主光栅尺上设有第一光栅条纹，所述副光栅上设有与所述第一光栅条纹相对应的第二光栅条纹，所述接收单元与副光栅尺为相对平行间隔设置，所述光源设置于所述镜头上，所述第一光栅条纹包括RI码道和增量码道，RI码道依次包括第一不反光区、增量码道区、第一反射区、增量码道区、第一不反射区、增量码道区、第二反射区、第二不反光区，接收单元上对应RI码道位置设有接收区，所述接收区依次包括Z+信号区、A+信号区、B+信号区、A-信号区、B-信号区、Z-信号区。
2.根据权利要求1所述的反射式光栅尺，其特征在于：所述增量码道和增量码道区为等间距的光栅条纹，间距为P=1个透光条纹长度+1个不透光条纹长度。
3.根据权利要求1所述的反射式光栅尺，其特征在于：主光栅尺上RI码道的第一反射区和第一不反射区长度相同。
4.根据权利要求1所述的反射式光栅尺，其特征在于：主光栅尺与副光栅尺之间的距离
Figure 822486DEST_PATH_IMAGE001
；其中n=1,2,3...；P为增量码道光栅条纹间距pitch，λ为LED灯光波长。
5.根据权利要求1所述的反射式光栅尺，其特征在于：所述接收单元与所述副光栅尺分开制作或制作合为一体。
6.根据权利要求1所述的反射式光栅尺，其特征在于：所述光源为LED光源。
7.根据权利要求1所述的反射式光栅尺，其特征在于：所述镜头为非球面镜，所述光源经过所述非球面镜输出平行光。
8.根据权利要求1所述的反射式光栅尺，其特征在于：所述RI码道的增量码道区为若干个。
9.根据权利要求1所述的反射式光栅尺，其特征在于：所述RI码道的第二反射区长度大于或等于RI码道的增量码道区长度之和。
10.根据权利要求1所述的反射式光栅尺，其特征在于：所述第一不反光区、所述第二不反光区、所述第一反射区、所述第一不反射区、所述第二反射区反向设置。
11.根据权利要求1所述的反射式光栅尺，其特征在于：所述RI码道的三个增量码道区合成为一个。
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