CN113109599B - 一种精密细探针用滚槽治具 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种精密细探针用滚槽治具,包括:底座,所述底座的中部设置有工作台,所述工作台上至少设置有一个第一探针放置槽;两个定位块,两个所述定位块设置在所述底座上,并抵压在所述工作台的两侧;两个导向块,两个所述导向块设置在两个所述定位块上,并且两个导向块位于工作台的两侧;滑座,所述滑座滑动设置在两个导向块之间,滑座内设置有滚槽刀,所述滚槽刀位于工作台上方。该精密细探针用滚槽治具,解决了测试探针在加工滚槽的过程中,使用现有人工方式存在槽深加工难以控制以及加工效率低的问题。
Description
技术领域
本发明属于探针加工设备技术领域,具体涉及一种精密细探针用滚槽治具。
背景技术
测试探针又称半导体探针,由针管、弹簧和针头组成。测试探针组装完毕后,需要对其针管进行滚槽加工,滚槽加工是通过滚刀在针管旋转一周进行的。
在测试探针的加工行业,滚槽加工主要是人使用滚槽刀在针管划一刀进行的,具体来说,将测试探针固定确保需要加工的部分露出,之后工人使用滚槽刀在该加工部位压紧旋转一周,即可完成滚槽加工。
但是,根据发明人的生产经验,这种操作方式存在以下缺陷:(1)需要工人具有较高的熟练度才能完成,用力过或过小都会导致加工的槽深达不到要求;(2)人工参与度较高,生产效率普遍不高,难以使用大规模的工业化生产作业。
发明内容
本发明的目的是提供一种精密细探针用滚槽治具,解决测试探针在加工滚槽的过程中,使用现有人工方式存在槽深加工难以控制以及加工效率低的问题。
为了达到上述目的,本发明所采用的技术方案是:一种精密细探针用滚槽治具,包括:
底座,所述底座的中部设置有工作台,所述工作台上至少设置有一个第一探针放置槽;
两个定位块,两个所述定位块设置在所述底座上,并抵压在所述工作台的两侧;
两个导向块,两个所述导向块设置在两个所述定位块上,并且两个导向块位于工作台的两侧;
滑座,所述滑座滑动设置在两个导向块之间,滑座内设置有滚槽刀,所述滚槽刀位于工作台上方。
作为本发明的一种优选的技术方案,两个所述定位块靠近所述工作台的一侧设置有限位沿,所述限位沿上至少设置有一个第二探针放置槽。
作为本发明的一种优选的技术方案,两个所述导向块的靠近所述工作台的一侧设置有第一限位台阶,所述第一限位台阶抵压在限位沿的一侧,所述滑座的搭设在两个第一限位台阶上。
作为本发明的一种优选的技术方案,所述滑座的下侧设置有两个第二限位台阶,所述第二限位台阶搭设在对应的第一限位台阶上。
作为本发明的一种优选的技术方案,所述定位块、导向块与底座之间通过螺栓固定。
本发明的有益效果是:(1)本发明的一种精密细探针用滚槽治具,在通过第一探针放置槽完成测试探针的滑动装夹,当滑座从两个导向块之间滑过时,滑座中的滚槽刀将带动测试探针在第一探针放置槽中转动,从而完成滚槽的加工,在此加工过程中,滚槽刀与工作台之间的距离始终是一致的,可以确保滚槽的深浅加工一致;(2)本发明的一种精密细探针用滚槽治具,工作台上设计有多个第一探针放置槽,每个第一探针放置槽可以放置一个测试探针,滚槽刀滑过一次,可以完成多个测试探针的滚槽加工,大大提高了生产效率;(3)本发明的一种精密细探针用滚槽治具,结构简单,操作方便,制造成本较低,具有较好的市场推广使用前景。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本发明的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1为本发明的一种精密细探针用滚槽治具的结构示意图;
图2为本发明的一种精密细探针用滚槽治具中底座、定位块和导向块的安装示意图;
图3为图2的分解图;
图4为本发明的一种精密细探针用滚槽治具中滑槽和滚槽刀的安装示意图;
图5为图4的分解图。
图中:1.底座,2.第二探针放置槽,3.定位块,4.导向块,5.第一限位台阶,6.第一探针放置槽,7.滑座,8.滚槽刀,9.工作台,10.限位沿,11.第二限位台阶,12.测试探针。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中,如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本发明的描述中,除非另有明确的限定,设置、安装、连接等词语应做广义理解,所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
如图1所示,本发明的一种精密细探针用滚槽治具,包括底座1、两个定位块3,两个导向块4和滑座7。其中:底座1的中部设置有工作台9,工作台9上至少设置有一个第一探针放置槽6;两个定位块3设置在底座1上,并抵压在工作台9的两侧;两个导向块4设置在两个定位块3上,并且两个导向块4位于工作台9的两侧;滑座7滑动设置在两个导向块4之间,滑座7内设置有滚槽刀8,滚槽刀8位于工作台9上方。
工作时,操作人员将多个测试探针12分别装入对应的第一探针放置槽6中,之后再将滑座7放在两个导向块4之间,使滑座7在两个导向块4之间滑动,当滑座7中的滚槽刀8经过测试探针12时,测试探针12会在滚槽刀8的作用下缓慢转动,与此同时滚槽刀8将在测试探针12的外部完成滚槽加工。
显而易见,本发明的一种精密细探针用滚槽治具,在通过第一探针放置槽6完成测试探针12的滑动装夹,当滑座7从两个导向块4之间滑过时,滑座7中的滚槽刀8将带动测试探针12在第一探针放置槽6中转动,从而完成滚槽的加工,在此加工过程中,滚槽刀8与工作台9之间的距离始终是一致的,可以确保滚槽的深浅加工一致。另外,本发明的一种精密细探针用滚槽治具,工作台9上设计有多个第一探针放置槽6,每个第一探针放置槽6可以放置一个测试探针12,滚槽刀8滑过一次,可以完成多个测试探针12的滚槽加工,大大提高了生产效率。
另外,本发明的一种精密细探针用滚槽治具,结构简单,操作方便,制造成本较低,具有较好的市场推广使用前景。
结合图2和图3,在本发明的一种精密细探针用滚槽治具中,两个定位块3靠近工作台9的一侧设置有限位沿10,限位沿10上至少设置有一个第二探针放置槽2。
第二探针放置槽2与测试探针12的针头相匹配,第一探针放置槽6与测试探针12的针管相匹配,这样设计可以使用第一探针放置槽6和第二探针放置槽2配合完成对测试探针12实施全方位滑动预紧,确保其能够顺利地在第一探针放置槽6和第二探针放置槽2中转动,以便完成滚槽的加工。
结合图2和图3,在本发明的一种精密细探针用滚槽治具中,两个导向块5的靠近工作台9的一侧设置有第一限位台阶5,第一限位台阶5抵压在限位沿2的一侧,滑座7搭设在两个第一限位台阶5上。
装配时,第一限位台阶5抵压在限位沿2的一侧便于实施精准定位,滑座7搭设在两个第一限位台阶5上,可确保滑座7不与工作台9直接接触,为滚槽刀8与测试探针12接触预留空间。
结合图4和图5,在本发明的一种精密细探针用滚槽治具中,滑座7的下侧设置有两个第二限位台阶11,第二限位台阶11搭设在对应的第一限位台阶5上。
在滑座7的下侧设置有两个第二限位台阶11,另个第二限位台阶11放置在两个第一限位台阶5上,可确保滚槽刀8能够与测试探针12保持紧密的接触,以便完成滚槽加工
结合图2至图5,在本发明的一种精密细探针用滚槽治具中,定位块3、导向块4与底座1之间通过螺栓固定,便于拆装。
上述说明示出并描述了发明的若干优选实施例,但如前所述,应当理解发明并非局限于本文所披露的形式,不应看作是对其他实施例的排除,而可用于各种其他组合、修改和环境,并能够在本文所述发明构想范围内,通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离发明的精神和范围,则都应在发明所附权利要求的保护范围内。
Claims (3)
1.一种精密细探针用滚槽治具,其特征在于,包括:
底座(1),所述底座(1)的中部设置有工作台(9),所述工作台(9)上至少设置有一个第一探针放置槽(6);
两个定位块(3),两个所述定位块(3)设置在所述底座(1)上,并抵压在所述工作台(9)的两侧;
两个导向块(4),两个所述导向块(4)设置在两个所述定位块(3)上,并且两个导向块(4)位于工作台(9)的两侧;
滑座(7),所述滑座(7)滑动设置在两个导向块(4)之间,滑座(7)内设置有滚槽刀(8),所述滚槽刀(8)位于工作台(9)上方;
两个所述定位块(3)靠近所述工作台(9)的一侧设置有限位沿(10),所述限位沿(10)上至少设置有一个第二探针放置槽(2);
两个所述导向块(5)的靠近所述工作台(9)的一侧设置有第一限位台阶(5),所述第一限位台阶(5)抵压在限位沿(2)的一侧,所述滑座(7)的搭设在两个第一限位台阶(5)上。
2.根据权利要求1所述的精密细探针用滚槽治具,其特征在于,所述滑座(7)的下侧设置有两个第二限位台阶(11),所述第二限位台阶(11)搭设在对应的第一限位台阶(5)上。
3.根据权利要求2所述的精密细探针用滚槽治具,其特征在于,所述定位块(3)、导向块(4)与底座(1)之间通过螺栓固定。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
CB02 | Change of applicant information |
Address after: 714000 No. 18, chongye Second Road, high tech Industrial Development Zone, Weinan City, Shaanxi Province Applicant after: Weinan Muwang Intelligent Technology Co.,Ltd. Address before: 710000 northwest corner of cross between Dongfeng Street and Shiquan Road, high tech Industrial Development Zone, Weinan City, Shaanxi Province Applicant before: WEINAN HI-TECH ZONE WOOD KING TECHNOLOGY Co.,Ltd. |
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CB02 | Change of applicant information | ||
GR01 | Patent grant | ||
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