CN113092983A - 测试设备及测试治具 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种测试设备及测试治具。测试治具包括治具本体、测试探针、固定板及用于放置电路板的定位件。治具本体设有安装部，测试探针设于安装部。定位件固定于固定板，并活动地穿设于治具本体，使治具本体能够相对固定板运动。电路板测试时，固定板连接于测试设备本体，并将电路板放置于定位件上，使固定板及电路板相对测试设备本体保持不动。若治具本体与电路板的位置出现偏差，固定板及电路板保持不动，带动测试探针及治具本体整体进行微调。如此，能够避免测试探针的弯曲变形，从而有效延长测试探针的使用寿命，并且使得该测试治具的稳定性更高。此外，通过微调装置对测试治具进行微调，无需使用传统的微调框，使得该测试治具的安装更方便。

Description

测试设备及测试治具

技术领域

本发明涉及电路板测试技术领域，特别是涉及一种测试设备及测试治具。

背景技术

电路板是电子产品中重要的电子部件，其是电子元器件的支撑体，同时也是电子元器件电气连接的提供者。在电路板的制造过程中，电路板的测试步骤是直接影响出货产品质量的至关重要的一个环节。

一般地，将电路板放置在测试治具上，通过微调装置对测试治具的探针进行微调。然而，每做一次调整，测试治具的探针就会产生一次变形，在不断的弯曲变形下，测试治具的探针容易折断，影响测试治具的使用寿命。

发明内容

基于此，有必要提供一种测试设备及测试治具，能够避免测试探针发生弯曲变形，有效延长测试探针的使用寿命。

一种测试治具，所述测试治具包括：

治具本体，所述治具本体设有安装部；

测试探针，所述测试探针设于所述安装部，用于测试电路板；

固定板及用于放置所述电路板的定位件，所述定位件固定于所述固定板，并活动地穿设于所述治具本体，使所述治具本体及所述测试探针能够相对所述固定板运动。

上述的测试治具，电路板测试时，固定板连接于测试设备本体，并将电路板放置于定位件上，使固定板及电路板相对测试设备本体保持不动。若治具本体与电路板的位置出现偏差，固定板及电路板保持不动，带动测试探针及治具本体整体进行微调，直至将测试探针移动至最佳测试位置。如此，通过对测试探针及治具本体整体进行微调，这样能够避免测试探针发生弯曲变形，有效延长测试探针的使用寿命。并且，还使得该测试治具的稳定性更高。

在其中一个实施例中，所述治具本体设有第一标记部，所述第一标记部用于与电路板的第二标记部对应；所述测试治具还包括对应所述第一标记部设置的图像采集器，所述图像采集器用于采集所述电路板的图像，并计算所述第一标记部与所述第二标记部之间的位置偏差值。

在其中一个实施例中，所述测试治具还包括顶杆，所述图像采集器设于所述顶杆，所述顶杆及所述图像采集器设于所述治具本体的内部，所述顶杆远离所述图像采集器的端部抵接于所述治具本体的底部；所述第一标记部设有透过孔，所述图像采集器朝向所述透过孔，并能够通过所述透过孔采集所述电路板的图像。

在另外一个实施例中，所述测试治具还包括焦距调节圈、顶杆及弹性件，所述第一标记部设有透过孔，所述焦距调节圈对应设于所述透过孔，所述弹性件设于所述治具本体远离所述第一标记部的一端；所述图像采集器设于所述顶杆，所述顶杆远离所述图像采集器的端部连接于所述弹性件，所述图像采集器抵接于所述焦距调节圈。

在其中一个实施例中，所述第一标记部设有两个，两个所述第一标记部呈对角设置；所述图像采集器设有两个，两个所述图像采集器一一对应两个所述第一标记部设置。

在其中一个实施例中，所述定位件设有至少两个，至少两个所述定位件沿所述固定板的长度方向间隔设置，且所述定位件用于对应所述电路板的侧部设置。

在其中一个实施例中，所述治具本体包括固定柱及至少两个夹板，所述夹板沿第一方向依次层叠间隔设置，并通过所述固定柱连接；位于最外端的夹板分别为首层夹板及末层夹板，所述固定板设于所述首层夹板与所述末层夹板之间，所述定位件活动地穿设于所述首层夹板，且所述定位件的端部高出于所述首层夹板远离所述末层夹板一侧的表面。

在其中一个实施例中，所述治具本体还包括隔层，所述隔层设有与所述固定柱适配的通孔，所述固定柱设于所述通孔。

在其中一个实施例中，所述安装部设有与所述测试探针适配的安装孔，所述测试探针设于所述安装孔，且所述测试探针的端部高出于所述治具本体的表面。

一种测试设备，包括设备本体、微调装置及所述的测试治具，所述测试治具的固定板连接于所述设备本体。所述微调装置连接于所述测试治具，并能够带动所述测试探针及所述测试治具整体进行微调。

上述的测试设备，电路板测试时，固定板连接于测试设备本体，并将电路板放置于定位件上，使固定板及电路板相对测试设备本体保持不动。若治具本体与电路板的位置出现偏差，固定板及电路板保持不动，带动测试探针及治具本体整体进行微调，直至将测试探针移动至最佳测试位置。如此，通过对测试探针及治具本体整体进行微调，这样能够避免测试探针发生弯曲变形，有效延长测试探针的使用寿命。并且，还使得该测试治具的稳定性更高。此外，通过微调装置对测试治具进行微调，这样无需使用传统的微调框，使得该测试治具的安装更方便。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获取其他的附图。

图1为本发明一实施例的测试治具的侧视图；

图2为图1所述的测试治具的俯视图；

图3为本发明一实施例的电路板安装于测试治具的结构示意图。

附图标号：10、治具本体；11、第一标记部；12、夹板；121、首层夹板；122、末层夹板；123、中间层夹板；13、固定柱；20、测试探针；30、固定板；40、定位件；50、图像采集器；51、顶杆；60、电路板。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

参阅图1和图3，图1示出了本发明一实施例的测试治具的侧视图，图3示出了本发明一实施例的电路板设置于测试治具的结构示意图。本发明一实施例提供的测试治具，包括治具本体10、测试探针20、固定板30及用于放置电路板60的定位件40。治具本体10设有安装部，测试探针20设于安装部，测试探针20用于对电路板60进行测试。定位件40固定于固定板30，并活动地穿设于治具本体10，使治具本体10及测试探针20能够相对固定板30运动。

上述的测试治具，电路板60测试时，固定板30连接于测试设备本体，并将电路板60放置于定位件40上，使固定板30及电路板60相对测试设备本体保持不动。若治具本体10与电路板60的位置出现偏差，固定板30及电路板60保持不动，带动测试探针20及治具本体10整体进行微调，直至将测试探针20移动至最佳测试位置。如此，通过对测试探针20及治具本体10整体进行微调，这样能够避免测试探针20发生弯曲变形，有效延长测试探针20的使用寿命。并且，还使得该测试治具的稳定性更高。

可选地，上述的定位件40为定位PIN，例如定位柱、定位销、定位钉等。当然，在其它实施例中，定位件40也可为其它具有相同功能的构件，不以此为限。

在一个实施例中，参阅图1和图2，图2示出了图1所示的测试治具的俯视图。所述定位件40设有至少两个，至少两个所述定位件40沿固定板30的长度方向间隔设置，且所述定位件40用于对应所述电路板60的侧部设置。如此，能够更好地支撑电路板60，使得电路板60稳定地放置于定位件40上，有效保证电路板60测试的可靠性。另外，一般情况下，电路板60的侧部未设置电子元器件，这样可在电路板60的侧部设置便于定位件40穿过的通孔，避免电路板60损坏。

具体到本实施例中，参阅图2和图3，定位件40设有四个，四个定位件40间隔地设于固定板30，并排布呈两排两列。并且，电路板60的四角均设有通孔，四个定位件40一一对应插设于电路板60的通孔内。其中，需要说明的是，定位件40的数量可根据实际需求进行设置，例如定位件40设置两个、三个等，不以此为限。

在一个实施例中，参阅图2和图3，治具本体10设有第一标记部11，所述第一标记部11用于与电路板60的第二标记部对应。测试治具还包括对应所述第一标记部11设置的图像采集器50，所述图像采集器50用于采集所述电路板60的图像，并计算所述第一标记部11与所述第二标记部之间的位置偏差值。可选地，图像采集器50与微调装置连接。电路板60测试时，图像采集器50采集电路板60的图像，然后通过软件计算分析治具本体10的第一标记部11与电路板60的第二标记部之间的位置偏差值，微调装置根据该位置偏差值对测试探针20及治具本体10整体进行微调，实现图像采集器50的对位。当然，除了采用微调装置带动测试探针20及治具本体10整体进行微调外，也可手动带动测试探针20及治具本体10整体进行微调。

需要说明的是，第一标记部11用于与电路板60的第二标记部对应是指在正常情况下，第一标记部11的中心与第二标记部的中心重合。

可选地，上述的图像采集器50为CCD传感器(电荷耦合器件图像传感器)。当然，在其它实施例中，图像采集器50也可为具有相同功能的器件，不以此为限。

进一步地，参阅图2和图3，测试治具还包括顶杆51，所述图像采集器50设于所述顶杆51，所述顶杆51及所述图像采集器50设于所述治具本体10的内部，所述顶杆51远离所述图像采集器50的端部抵接于所述治具本体10的底部。所述第一标记部11设有透过孔，所述图像采集器50朝向所述透过孔，并通过所述透过孔能够采集所述电路板60的图像。可以理解的是，该图像采集器50为定焦的CCD传感器。如此，通过顶杆51将图像采集器50设于治具本体10的内部，不仅能够采集电路板60的图像并计算电路板60的位置偏差，还使得该测试治具的结构简单，减小该测试治具的体积。

具体到本实施例中，参阅图1，图像采集器50设于顶杆51，顶杆51远离图像传感器的端部抵接于治具本体10的底部，图像采集器50朝向透过孔设置，并抵接于第一标记部11。如此，使得图像采集器50能够稳定地安装于治具本体10内，保证图像采集器50采集图像及计算电路板60位置偏差的准确性。

当然，在其它实施例中，图像采集器50也可为变焦结构。具体地，测试治具还包括焦距调节圈、顶杆51及弹性件，所述第一标记部11设有透过孔，所述焦距调节圈对应设于所述透过孔；所述弹性件设于所述治具本体10远离所述第一标记部11的一端；所述图像采集器50设于所述顶杆51，所述顶杆51远离所述图像采集器50的端部连接于所述弹性件，所述图像采集器50抵接于所述焦距调节圈。如此，通过焦距调节圈、顶杆51及弹性件的配合作用，能够实现焦距的调节。

在一个实施例中，参阅图1和图2，所述第一标记部11设有两个，两个所述第一标记部11呈对角设置。所述图像采集器50设有两个，两个所述图像采集器50一一对应所述两个第一标记部11设置。可以理解的是，两个图像采集器50也呈对角设置。如此，能够更准确地计算电路板60的偏差，这样能够更准确地带动电路板60移动至最佳的测试位置，从而保证电路板60测试的可靠性。

在一个实施例中，参阅图1和图3，治具本体10包括固定柱13及至少两个夹板12，所述夹板12沿第一方向依次层叠间隔设置，并通过所述固定柱13连接。为了便于理解，靠近电路板60且位于最外端的夹板12为首层夹板121，远离电路板60且位于最外端的夹板12为末层夹板122。所述固定板30设于所述首层夹板121与末层夹板122之间，所述定位件40活动地穿设于所述首层夹板121，且所述定位件40的端部高出于所述首层夹板121远离所述末层夹板122一侧的表面。如此，能够节省材料，同时便于该测试治具的生产加工。并且，由于测试探针在测试的过程中会受到外力的作用，本实施例中将夹板层叠间隔设置，能够有效防止测试探针20在受力的情况下弯曲相互接触导致短路。

需要说明的是，参阅图1，若治具本体10正向放置，则该第一方向是指治具本体10的高度方向。若治具本体10侧向放置，则该第一方向是指治具本体10的长度方向或宽度方向。

进一步地，参阅图1，夹板12设有至少三层，依次为首层夹板121、中间层夹板123及末层夹板122，中间夹板123层叠间隔地设于首层夹板121及末层夹板122之间。需要说明的是，中间层夹板123的数量可根据实际需求进行设置，例如中间层夹板123为一个或两个以上。如此，通过设置至少三层夹板12，这样能够增加治具本体10整体的刚度，有效避免治具本体10在电路板60测试的过程中发生形变。

具体到本实施例中，参阅图1，夹板12设有九个，夹板12层叠间隔设置。并且，固定柱13设有四个，四个固定柱13间隔设置，并排布呈两排两列，九个夹板12通过四个固定柱13连接。其中，需要说明的是，夹板12及固定柱13的数量可根据实际需求进行设置，不以此为限。

在一个实施例中，治具本体10还包括隔层，所述隔层设有与所述固定柱13适配的通孔，所述固定柱13设于所述通孔。如此，通过隔层将夹板12隔开，这样能够减少夹板12的用量，降低成本。

在一个实施例中，参阅图3，安装部设有与测试探针20适配的安装孔，测试探针20设于安装孔内，且测试探针20的端部高出于治具本体10的表面。具体地，测试探针20沿治具本体10的高度方向设置，测试探针20的顶部高出于首层夹板121的表面，其底部高出于末层夹板122的表面。如此，通过在治具本体10设置安装孔，便于安装测试探针20。由于测试探针20的顶部及底部分别高出于治具本体10的顶部及底部，这样能够实现电路板60的测试。

需要说明的是，测试探针20的数量及设置位置可根据待测试电路板60的结构进行设置，在此不做具体限定。

参阅图3，本发明一实施例的测试设备，包括设备本体、微调装置及上述任一实施例的测试治具。测试治具的固定板30连接于设备本体，微调装置连接于测试治具，并能够带动测试探针20及测试治具整体进行微调。

上述的测试治具，电路板60测试时，固定板30连接于测试设备本体，并将电路板60放置于定位件40上，使固定板30及电路板60相对测试设备本体保持不动。若治具本体10与电路板60的位置出现偏差，固定板30及电路板60保持不动，带动测试探针20及治具本体10整体进行微调，直至将测试探针20移动至最佳测试位置。如此，通过对测试探针20及治具本体10整体进行微调，这样能够避免测试探针20发生弯曲变形，有效延长测试探针20的使用寿命。并且，还使得该测试治具的稳定性更高。此外，通过微调装置对测试治具进行微调，这样无需使用传统的微调框，使得该测试治具的安装更方便。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种测试治具，其特征在于，所述测试治具包括：

治具本体，所述治具本体设有安装部；

测试探针，所述测试探针设于所述安装部，用于测试电路板；

固定板及用于放置所述电路板的定位件，所述定位件固定于所述固定板，并活动地穿设于所述治具本体，使所述治具本体及所述测试探针能够相对所述固定板运动。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述治具本体设有第一标记部，所述第一标记部用于与电路板的第二标记部对应；所述测试治具还包括对应所述第一标记部设置的图像采集器，所述图像采集器用于采集所述电路板的图像，并计算所述第一标记部与所述第二标记部之间的位置偏差值。

3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括顶杆，所述图像采集器设于所述顶杆，所述顶杆及所述图像采集器设于所述治具本体的内部，所述顶杆远离所述图像采集器的端部抵接于所述治具本体的底部；所述第一标记部设有透过孔，所述图像采集器朝向所述透过孔，并能够通过所述透过孔采集所述电路板的图像。

4.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括焦距调节圈、顶杆及弹性件，所述第一标记部设有透过孔，所述焦距调节圈对应设于所述透过孔，所述弹性件设于所述治具本体远离所述第一标记部的一端；所述图像采集器设于所述顶杆，所述顶杆远离所述图像采集器的端部连接于所述弹性件，所述图像采集器抵接于所述焦距调节圈。

5.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述第一标记部设有两个，两个所述第一标记部呈对角设置；所述图像采集器设有两个，两个所述图像采集器一一对应两个所述第一标记部设置。

6.根据权利要求1至5任一项所述的测试治具，其特征在于，所述定位件设有至少两个，至少两个所述定位件沿所述固定板的长度方向间隔设置，且所述定位件用于对应所述电路板的侧部设置。

7.根据权利要求1至5任一项所述的测试治具，其特征在于，所述治具本体包括固定柱及至少两个夹板，所述夹板沿第一方向依次层叠间隔设置，并通过所述固定柱连接；位于最外端的夹板分别为首层夹板及末层夹板，所述固定板设于所述首层夹板与所述末层夹板之间，所述定位件活动地穿设于所述首层夹板，且所述定位件的端部高出于所述首层夹板远离所述末层夹板一侧的表面。

8.根据权利要求7所述的测试治具，其特征在于，所述治具本体还包括隔层，所述隔层设有与所述固定柱适配的通孔，所述固定柱设于所述通孔。

9.根据权利要求1至5任一项所述的测试治具，其特征在于，所述安装部设有与所述测试探针适配的安装孔，所述测试探针设于所述安装孔，且所述测试探针的端部高出于所述治具本体的表面。

10.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括设备本体、微调装置及如权利要求1至9任一项所述的测试治具，所述测试治具的固定板连接于所述设备本体；所述微调装置连接于所述测试治具，并能够带动所述测试探针及所述测试治具整体进行微调。

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