CN113092504A - 一种缺陷无损检测系统 - Google Patents

一种缺陷无损检测系统 Download PDF

Info

Publication number
CN113092504A
CN113092504A CN202110370554.0A CN202110370554A CN113092504A CN 113092504 A CN113092504 A CN 113092504A CN 202110370554 A CN202110370554 A CN 202110370554A CN 113092504 A CN113092504 A CN 113092504A
Authority
CN
China
Prior art keywords
detection
defect
workpiece
module
thread
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202110370554.0A
Other languages
English (en)
Inventor
张广才
何继荣
陈志芸
刘兆邦
陈玖冰
曹国兴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yangzhou Hagong Bohao Intelligent Technology Co ltd
Original Assignee
Yangzhou Hagong Bohao Intelligent Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yangzhou Hagong Bohao Intelligent Technology Co ltd filed Critical Yangzhou Hagong Bohao Intelligent Technology Co ltd
Priority to CN202110370554.0A priority Critical patent/CN113092504A/zh
Publication of CN113092504A publication Critical patent/CN113092504A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
    • G01N2223/101—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
    • G01N2223/1016—X-ray
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/646—Specific applications or type of materials flaws, defects

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

本发明涉及缺陷检测系统技术领域，尤其涉及一种缺陷无损检测系统，包括以下操作步骤：S1、运行管理模块；S2、数据传输模块；S3、缺陷检出模块；S4、模式设定模块：检测系统在缺陷检测时，对待检测工件及检测流程建档方便信息管理；S5、缺陷分析模块；S6、完成待检测工件的缺陷分析后将缺陷分析结果关联到工件基础信息并形成检测记录报告。本发明中，此缺陷无损检测系统在使用时，可以根据工件型号信息以及检测标准等级的不同动态匹配算法参数，还可以根据实际需求选择整体性缺陷检测还是专项的缺陷检测，匹配不同的算法类型，有效提高系统缺陷检测的通用性，同时还创建工作子线程的运行方式，有效提升系统响应速度和稳定性。

Description

一种缺陷无损检测系统
技术领域
本发明涉及缺陷检测系统技术领域，尤其涉及一种缺陷无损检测系统。
背景技术
现代工业无损检测技术可以在不破坏或者损伤被检测物体的情况下，检测和评定物体内部的缺陷，而X射线技术是无损检测的一种重要的检测技术手段，X光图像具有纹理清晰，能够准确地反映轮胎的内部结构的特点,因此在工业无损检测领域应用广泛，目前，国内相关产品大多集中于X光扫描设备的研发，缺陷检测一般是通过人工观察扫描的工件图像，结合行业要求及自身经验，识别出工件是否存在内部缺陷，该方法存在检测精度低、主观性强、误捡漏检、效率低等问题，为此，我们提出了一种缺陷无损检测系统。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种缺陷无损检测系统。
为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
一种缺陷无损检测系统，包括以下操作步骤：
S1、运行管理模块：初始化系统，并与X光机设备的连接，后根据需求创建线程任务并管理；
S2、数据传输模块：检测系统在数据传输时，系统运行管理模块创建并管理数据传输子线程，过程中与X光机实时通信并传输数据，并在缓冲区中做好数据的缓存与释放；
S3、缺陷检出模块：检测系统在缺陷检测时，系统运行管理模块创建并管理缺陷检测子线程，过程中对检测模式解析获得检测模式需求及标准，据此对实时缺陷检出算法的类型及参数调整，调用匹配好的算法完成工件的缺陷检测，最后将缺陷检出结果标定并通知到主线程，以及输出到缺陷分析模块；
S4、模式设定模块：检测系统在缺陷检测时，对待检测工件及检测流程建档方便信息管理；
S5、缺陷分析模块：检测系统在缺陷检测时，对缺陷检出模块中完成的工件缺陷的初步检出结果进一步分析，调用离线缺陷分类算法，将X光机扫描图片输入到配套离线缺陷检测算法中，对工件的缺陷分类分析并判别程度；
S6、检测消息发送：完成待检测工件的缺陷分析后将缺陷分析结果关联到工件基础信息并形成检测记录报告。
优选的，所述线程有运行主线程、数据传输子线程和缺陷检测子线程。
优选的，所述检测模式包含工件型号信息、检测标准信息和检测需求信息。
优选的，当产品检测出缺陷时，所述缺陷结果加入生产线整体检测结果中并统计分析，可由厂家进一步分析原因而后实现生产工艺的改进提升。
本发明的有益效果是：
本发明中，此缺陷无损检测系统在使用时，可以根据工件型号信息以及检测标准等级的不同动态匹配算法参数，还可以根据实际需求选择整体性缺陷检测还是专项的缺陷检测，匹配不同的算法类型，有效提高系统缺陷检测的通用性，同时还创建工作子线程的运行方式，有效提升系统响应速度和稳定性。
附图说明
图1为本发明提出的一种缺陷无损检测系统的功能模块图；
图2为本发明提出的一种缺陷无损检测系统的流程方框图图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-2，一种缺陷无损检测系统，包括以下操作步骤：
S1、运行管理模块：初始化系统，并与X光机设备的连接，后根据需求创建线程任务并管理，线程有运行主线程、数据传输子线程和缺陷检测子线程，此模块具体功能有系统初始化、连接状态维护、线程任务管理；
S2、数据传输模块：检测系统在数据传输时，系统运行管理模块创建并管理数据传输子线程，过程中与X光机实时通信并传输数据，并在缓冲区中做好数据的缓存与释放，此模块具体功能有网络通信、缓冲区管理；
S3、缺陷检出模块：检测系统在缺陷检测时，系统运行管理模块创建并管理缺陷检测子线程，过程中对检测模式解析获得检测模式需求及标准，据此对实时缺陷检出算法的类型及参数调整，调用匹配好的算法完成工件的缺陷检测，最后将缺陷检出结果标定并通知到主线程，以及输出到缺陷分析模块，此模块具体功能有检测模式解析、实时算法调用、缺陷检出标定；
S4、模式设定模块：检测系统在缺陷检测时，对待检测工件及检测流程建档方便信息管理，检测模式包含工件型号信息、检测标准信息和检测需求信息，此模块具体功能有基础信息管理、检测模式设置；
S5、缺陷分析模块：检测系统在缺陷检测时，对缺陷检出模块中完成的工件缺陷的初步检出结果进一步分析，调用离线缺陷分类算法，将X光机扫描图片输入到配套离线缺陷检测算法中，对工件的缺陷分类分析并判别程度，此模块具体功能有离线算法调用、检测记录报告、缺陷统计分析；
S6、检测消息发送：完成待检测工件的缺陷分析后将缺陷分析结果关联到工件基础信息并形成检测记录报告，当产品检测出缺陷时，所述缺陷结果加入生产线整体检测结果中并统计分析，可由厂家进一步分析原因而后实现生产工艺的改进提升。
本实施例中，此缺陷无损检测系统在使用时，操作者首先对运行管理模块进行初始化，并与X光机设备的连接，后根据需求创建线程任务并管理，线程有运行主线程、数据传输子线程和缺陷检测子线程，此模块具体功能有系统初始化、连接状态维护、线程任务管理；
检测系统在数据传输时，系统运行管理模块创建并管理数据传输子线程，过程中与X光机实时通信并传输数据，并在缓冲区中做好数据的缓存与释放，此模块具体功能有网络通信、缓冲区管理；
其中，检测系统在缺陷检测时，系统运行管理模块创建并管理缺陷检测子线程，过程中对检测模式解析获得检测模式需求及标准，据此对实时缺陷检出算法的类型及参数调整，调用匹配好的算法完成工件的缺陷检测，最后将缺陷检出结果标定并通知到主线程，以及输出到缺陷分析模块，此模块具体功能有检测模式解析、实时算法调用、缺陷检出标定；
进一步的，对待检测工件及检测流程建档方便信息管理，检测模式包含工件型号信息、检测标准信息和检测需求信息，此模块具体功能有基础信息管理、检测模式设置；
最后对缺陷检出模块中完成的工件缺陷的初步检出结果进一步分析，调用离线缺陷分类算法，将X光机扫描图片输入到配套离线缺陷检测算法中，对工件的缺陷分类分析并判别程度，此模块具体功能有离线算法调用、检测记录报告、缺陷统计分析；
完成待检测工件的缺陷分析后将缺陷分析结果关联到工件基础信息并形成检测记录报告，当产品检测出缺陷时，所述缺陷结果加入生产线整体检测结果中并统计分析，可由厂家进一步分析原因而后实现生产工艺的改进提升。
此缺陷无损检测系统在使用时，可以根据工件型号信息以及检测标准等级的不同动态匹配算法参数，还可以根据实际需求选择整体性缺陷检测还是专项的缺陷检测，匹配不同的算法类型，有效提高系统缺陷检测的通用性，同时还创建工作子线程的运行方式，有效提升系统响应速度和稳定性。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种缺陷无损检测系统，其特征在于，包括以下操作步骤：
S1、运行管理模块：初始化系统，并与X光机设备的连接，后根据需求创建线程任务并管理；
S2、数据传输模块：检测系统在数据传输时，系统运行管理模块创建并管理数据传输子线程，过程中与X光机实时通信并传输数据，并在缓冲区中做好数据的缓存与释放；
S3、缺陷检出模块：检测系统在缺陷检测时，系统运行管理模块创建并管理缺陷检测子线程，过程中对检测模式解析获得检测模式需求及标准，据此对实时缺陷检出算法的类型及参数调整，调用匹配好的算法完成工件的缺陷检测，最后将缺陷检出结果标定并通知到主线程，以及输出到缺陷分析模块；
S4、模式设定模块：检测系统在缺陷检测时，对待检测工件及检测流程建档方便信息管理；
S5、缺陷分析模块：检测系统在缺陷检测时，对缺陷检出模块中完成的工件缺陷的初步检出结果进一步分析，调用离线缺陷分类算法，将X光机扫描图片输入到配套离线缺陷检测算法中，对工件的缺陷分类分析并判别程度；
S6、检测消息发送：完成待检测工件的缺陷分析后将缺陷分析结果关联到工件基础信息并形成检测记录报告。
2.根据权利要求1所述的一种缺陷无损检测系统，其特征在于，所述线程有运行主线程、数据传输子线程和缺陷检测子线程。
3.根据权利要求1所述的一种缺陷无损检测系统，其特征在于，所述检测模式包含工件型号信息、检测标准信息和检测需求信息。
4.根据权利要求1所述的一种缺陷无损检测系统，其特征在于，当产品检测出缺陷时，所述缺陷结果加入生产线整体检测结果中并统计分析，可由厂家进一步分析原因而后实现生产工艺的改进提升。
CN202110370554.0A 2021-04-07 2021-04-07 一种缺陷无损检测系统 Pending CN113092504A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110370554.0A CN113092504A (zh) 2021-04-07 2021-04-07 一种缺陷无损检测系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110370554.0A CN113092504A (zh) 2021-04-07 2021-04-07 一种缺陷无损检测系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN113092504A true CN113092504A (zh) 2021-07-09

Family

ID=76674477

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110370554.0A Pending CN113092504A (zh) 2021-04-07 2021-04-07 一种缺陷无损检测系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113092504A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113592787A (zh) * 2021-07-13 2021-11-02 苏州汇川控制技术有限公司 发光部件检测方法、装置、终端设备以及存储介质

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113592787A (zh) * 2021-07-13 2021-11-02 苏州汇川控制技术有限公司 发光部件检测方法、装置、终端设备以及存储介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2022052480A1 (zh) 锂电池极片瑕疵实时检测处理方法和系统
CN111127571B (zh) 一种小样本缺陷分类方法和装置
CN107966454A (zh) 一种基于fpga的端塞缺陷检测装置及检测方法
CN113470005B (zh) 一种圆柱电池盖帽的焊点检测装置和焊点检测方法
CN113092504A (zh) 一种缺陷无损检测系统
CN114219799A (zh) 一种智能制造用次品分析方法及系统
CN113996556B (zh) 一种融合云端的产品分拣系统及方法
CN114170477A (zh) 一种基于注意力图卷积网络的多模态融合机械缺陷检测方法
CN117152161B (zh) 一种基于图像识别的刨花板质量检测方法及系统
CN110738630A (zh) 递归性深度学习系统的训练方法与检测系统
CN113376175A (zh) 一种基于图像特征的涡流纺断纱检测方法
CN116165220B (zh) 一种基于人工智能的aoi内观检测装置及方法
CN116840240A (zh) 电源分配器视觉检测系统
CN116311053A (zh) 一种缺陷检测方法、系统及其应用
CN112927170B (zh) 半导体制造工艺中的自动缺陷去除方法
CN212255158U (zh) 一种视觉实时检测系统
CN114331944A (zh) 人工智能瑕疵图像分类方法及其系统
CN105204464A (zh) 一种线束压着品质在线管理系统和方法
CN110703730A (zh) 一种基于mes中数据采集测试方法和装置
TWI765364B (zh) 人工智慧瑕疵影像分類方法與其系統
CN113702726A (zh) 一种车载显示器自动测试装置及测试方法
CN113643233B (zh) 油性涂层检测方法、系统及设备、计算机可读存储介质
CN112465784B (zh) 一种地铁夹钳外观异常检测的方法
CN110252686A (zh) 遥控器质量的确定方法及装置
CN108508018A (zh) 一种基于图像数据的质量监控方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination