CN113050811B - 一种电子设备及输入设备 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种电子设备及输入设备,电子设备包括:显示组件;检测组件,与所述显示组件对应设置,所述检测组件用于获得对应于所述显示组件的目标电流,所述目标电流为所述检测组件在被输入设备输出的满足第一条件的目标光线照射后产生的;控制组件,用于依据所述目标电流,获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。
Description
技术领域
本申请涉及输入输出技术领域,尤其涉及一种电子设备及输入设备。
背景技术
随着技术的发展,电子笔等输入设备的应用越来越广泛。例如,使用电子笔在数位屏或者数位板上进行输入,由此在数位屏或数位板对应的显示屏上输出相应的绘画。
目前电子笔的实现中,有电容式或者电磁式等多种不同的实现结构,而针对不同实现结构的电子笔需要配套使用相应结构的显示屏。以电容式电子笔为例,需要显示屏上装配触控装置,才能在显示屏上实现输入。
可见,目前的电子笔必须配套特殊的显示屏才能实现输入。
发明内容
有鉴于此,本申请提供一种电子设备及输入设备,如下:
一种电子设备,包括:
显示组件;
检测组件,与所述显示组件对应设置,所述检测组件用于获得对应于所述显示组件的目标电流,所述目标电流为所述检测组件在被输入设备输出的满足第一条件的目标光线照射后产生的;
控制组件,用于依据所述目标电流,获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。
上述电子设备,优选的,所述显示组件包括显示元件阵列,所述检测组件至少包括第一电流检测元件阵列;
其中,所述第一电流检测元件用于获得对应于所述显示元件阵列的第一目标电流集合,所述第一目标电流集合中的目标电流为所述第一电流检测元件被所述目标光线照射后产生的;
所述控制组件用于根据所述第一目标电流集合,获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。
上述电子设备,优选的,所述控制组件具体用于:判断所述第一目标电流集合中的目标电流是否大于或等于电流阈值,以获得所述目标光线照射在所述第一电流检测元件阵列上的目标位置,所述目标位置对应的第一电流检测元件所获得到的目标电流大于或等于所述电流阈值。
上述电子设备,优选的,所述显示组件包括显示元件阵列,所述检测组件至少包括第一电流检测元件阵列和第二电流检测元件阵列,所述第二电流检测元件的阵列密度小于所述第一电流检测元件的阵列密度;
其中,所述第一电流检测元件用于获得对应于所述显示元件阵列的第一目标电流集合,所述第一目标电流集合中的目标电流为所述第一电流检测元件被所述目标光线照射后产生的;所述第二电流检测元件用于获得对应于所述显示元件阵列的第二目标电流集合,所述第二目标电流集合中的目标电流为所述第二电流检测元件被所述目标光线照射后产生的;
所述控制组件用于根据所述第一目标电流集合和所述第二目标电流集合,获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。
上述电子设备,优选的,所述控制组件具体用于:
判断所述第二目标电流集合中的目标电流是否大于或等于电流阈值,以获得所述目标光线照射在所述第二电流检测元件上的目标位置,所述目标位置对应的第二电流检测元件所获得到的目标电流大于或等于所述电流阈值;
其中,在所述第二电流检测元件的阵列密度小于密度阈值的情况下,所述控制组件还用于:获得所述第一电流检测元件阵列中与所述目标位置对应的目标电流检测元件,根据所述第一目标电流集合中所述目标电流检测元件对应的目标电流,获得所述目标光线照射在所述目标电流检测元件上的目标位置。
上述电子设备,优选的,所述电流检测元件为薄膜晶体管,所述薄膜晶体管被所述目标光线照射后产生所述目标电流。
上述电子设备,优选的,所述电流检测元件还用于控制对应的显示元件的颜色显示。
上述电子设备,优选的,所述电流检测元件阵列中的电流检测元件通过信号线连接到所述控制组件;其中:
所述信号线用于所述电流检测元件阵列向所述控制组件传输所述目标电流集合,所述信号线还用于所述电流检测元件阵列控制对应显示元件的颜色显示。
一种输入设备,包括:
本体;
光线输出组件,设置在所述本体内,且所述光线输出组件通过所述本体上的开口将满足第一条件的目标光线照射到电子设备,其中,所述电子设备包括:
显示组件;
检测组件,与所述显示组件对应设置,所述检测组件用于获得对应于所述显示组件的目标电流,所述目标电流为所述检测组件在被输入设备输出的满足第一条件的目标光线照射后产生的;
控制组件,用于依据所述目标电流,获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。
上述输入设备,优选的,所述光线输出组件输出的目标光线为波长处于预设波长范围的电磁波。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例一提供的一种电子设备的结构示意图;
图2为本申请实施例一中显示组件的示例图;
图3-图8分别为本申请实施例一中检测组件的示例图;
图9为本申请实施例一中显示组件进行内容输出的示例图;
图10为本申请实施例二提供的一种输入设备的结构示意图;
图11-图12分别为本申请实施例二提供的一种输入设备的另一结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
参考图1,为本申请实施例一提供的一种电子设备的结构示意图,该电子设备可以为能够进行输入和输出的显示设备,如显示屏或显示器等。本实施例中的技术方案主要用于实现在显示设备上的输入。
具体的,本实施例中的电子设备可以包含如下结构:
显示组件1,显示组件1上具有显示区域,显示组件1通过其内的显示元件阵列形成该显示区域,如图2中所示。
检测组件2,与显示组件1对应设置,如图2中所示,检测组件2的检测区域与显示组件1的显示区域相对应。具体的,检测组件2用于获得对应于显示组件1的目标电流,而目标电流为检测组件2在被输入设备输出的满足第一条件的目标光线照射后产生的。
其中,第一条件为:波长处于预设波长范围的条件,也就是说,输入设备所输出的目标光线为波长处于预设波长范围的电磁波,如红外线等。
如图3中所示,输入设备能够输出光线,而输入设备所输出的满足第一条件的目标光线在照射到与显示组件1相对应的检测组件2上后,检测组件2能够获得对应于显示组件1的目标电流,而目标电流的电流状态如是否发生变化或者变化增量或者当前值等数据与目标光线照射在检测组件2上的具体位置相关。
具体的,检测组件2可以通过显示设备中的薄膜晶体管TFT(Thin FilmTransistor)结构实现,该TFT结构可以检测被目标光线照射所产生的漏电流,由此,电子设备中无需添加触控元件或传感器等器件,就可以实现检测。
需要说明的是,显示设备上的每个像素点都是由集成在像素点后面的薄膜晶体管来驱动,从而可以做到高速度、高亮度、高对比度的显示屏幕信息。具体的,TFT层通过信号线对显示元件的背光进行控制从而控制对应的显示元件的颜色显示。也就是说,本实施例中检测组件2复用了显示设备中用来进行显示的TFT实现目标电流检测。
控制组件3,用于依据目标电流,获得目标光线照射在检测组件2上的目标位置。
其中,控制组件3可以为处理器或其他能够进行数据处理的器件,以便于对目标电流的电流状态等数据进行解析,从而获得到目标光线照射在检测组件2上的目标位置。
由上述方案可知,本申请实施例一提供的一种电子设备中,通过电子设备中已有的检测组件来获得显示组件上被输入设备输出的目标光线照射后所产生的目标电流,就可以根据目标电流获得到目标光线照射在检测组件上的目标位置,无需为电子设备添加额外的组件,使用已有的能够受光照产生电流的检测组件就可以实现输入位置的获取,从而在显示组件上实现输入设备的输入。
在一种实现方式中,显示组件1包含显示元件阵列11,该显示元件阵列11中包含有多个显示元件,如图4所示,显示元件阵列11有多个显示元件组成m*n的阵列,而检测组件2中至少包括第一电流检测元件阵列21,第一电流检测元件阵列21中包含有多个第一电流检测元件,如图4中所示,第一电流检测元件阵列21有多个第一电流检测元件组成m1*n1的阵列。
需要说明的是,第一电流检测元件阵列21与显示元件阵列11是相对应的,第一电流检测元件阵列21中的第一电流检测元件与显示元件阵列11中的显示元件是相对应的。其中,m1与m之间的比值与n1与n之间的比值之间的对应关系与显示元件和第一电流检测元件的尺寸相关,使得第一电流检测元件阵列21的长和宽与显示元件阵列11的长和宽相一致。例如,在显示元件和第一电流检测元件的尺寸完全一致或长宽比例一致的情况下,m1与m之间的比值与n1与n之间的比值是相同的,如图4中所示。
基于此,第一电流检测元件阵列21中的第一电流检测元件用于获得对应于显示元件阵列11的第一目标电流集合,第一目标电流集合包含有每个第一电流检测元件所获得到的目标电流,这个目标电流所属的第一电流检测元件对应于显示元件阵列11中的一个或多个显示元件。而第一目标电流集合中的目标电流为相应的第一电流检测元件被目标光线照射后产生的,基于此,控制组件3就可以根据第一目标电流集合,获得目标光线照射在检测组件2上的目标位置。
具体的,控制组件3在根据第一目标电流集合,获得目标光线照射在检测组件2上的目标位置时,可以先判断第一目标电流集合中的目标电流是否大于或等于电流阈值,以获得目标光线照射在第一电流检测元件阵列上的目标位置,而目标位置对应的第一电流检测元件所获得到的目标电流大于或等于电流阈值。
其中,控制组件3在判断第一目标电流集合中的目标电流是否大于或等于电流阈值之后,所得到的判断结果包含有每个第一电流检测元件所产生的目标电流是否大于或等于电流阈值,而目标电流大于或等于电流阈值的情况下,表明产生该目标电流的第一电流检测单元上被目标光线照射,进而确定该第一电流检测元件所在的位置即为目标位置。
如图5中所示,第一电流检测元件阵列21中的第一电流检测元件与显示元件阵列11中的显示元件相对应,第一电流检测元件所产生的目标电流是否大于或等于电流阈值的判断结果,表征其对应的显示元件是否被输入设备输出的满足第一条件的目标光线照射到。其中,控制组件3在判断出第一电流检测元件所产生的目标电流大于或等于电流阈值时,就可以确定该第一电流检测元件被目标光线照射到,此时就可以确定该第一电流检测元件所在的位置或者说该第一电流检测元件对应的显示元件的位置即为目标位置,由此实现输入位置的检测。
具体实现中,第一电流检测元件阵列中的第一电流检测元件可以为薄膜晶体管TFT实现,薄膜晶体管被目标光线照射后产生目标电流。这些TFT形成的层结构平铺在显示组件的下层。
另外,第一电流检测元件阵列21中的第一电流检测元件还用于控制对应的显示元件的颜色显示,具体的,第一电流检测元件通过控制显示元件对应的背光来实现对显示元件的颜色显示的控制。
具体的,第一电流检测元件阵列21中的第一电流检测元件通过信号线连接到控制组件3,而该信号线用于第一电流检测元件阵列21向控制组件3传输第一目标电流集合,以便于控制组件3根据第一目标电流集合中的目标电流获得到目标位置。而且,信号线还用于第一电流检测元件阵列21控制对应显示元件的颜色显示。例如,第一电流检测元件阵列21通过信号线对显示元件的背光进行控制从而控制对应的显示元件的颜色显示。
例如,第一电流检测元件阵列为显示设备中的TFT层,该TFT层设置在显示元件阵列的下层,在输入设备输出的目标光线照射到TFT层上时,TFT层可以检测到漏电流增加,在漏电流增加到电流阈值的情况下,显示设备中的处理器就可以根据这一判断确定漏电流增加到电流阈值的位置为目标光线的输入位置,即输入设备的输入位置,同时,TFT层通过信号线对显示元件的背光进行控制从而控制对应的显示元件的颜色显示。
在另一种实现方式中,显示组件1包括显示元件阵列11,而检测组件2至少包括有第一电流检测元件阵列21和第二电流检测元件阵列22,其中,第二电流检测元件的阵列密度小于第一电流检测元件的阵列密度,如图6中所示,第二电流检测元件阵列22中的第二电流检测元件的个数小于第一电流检测元件阵列21中的第二电流检测元件的个数,第一电流检测元件和第二电流检测元件的布局方式均为均匀分布。而且,第二电流检测元件阵列22与显示元件阵列11是相对应的,第二电流检测元件阵列22中的第二电流检测元件与显示元件阵列11中的显示元件是相对应的。例如,第二电流检测元件阵列22有多个第二电流检测元件组成m2*n2的阵列,m2与m之间的比值与n2与n之间的比值之间的对应关系与显示元件和第二电流检测元件的尺寸相关,使得第二电流检测元件阵列22的长和宽与显示元件阵列11的长和宽相一致。例如,在显示元件和第二电流检测元件的尺寸完全一致或长宽比例一致的情况下,m2与m之间的比值与n2与n之间的比值是相同的。
具体实现中,第一电流检测元件阵列中的第一电流检测元件和第二电流检测元件阵列中的第二电流检测元件均可以为薄膜晶体管TFT实现,薄膜晶体管被目标光线照射后产生目标电流。这些TFT形成的层结构平铺在显示组件的下层,且第二电流检测元件阵列的TFT层结构设置在第一电流检测元件阵列的层结构的下层。
例如,第一电流检测元件阵列为通用的发光二极管LED(Light Emitting Diode)的TFT层,而第二电流检测元件阵列为miniLED的TFT层,也可以称为主动式miniLED的TFT层,其中,通用LED TFT层与miniLED TFT层的密度不同,即用于支持显示组件进行内容显示的分辨率不同。
基于此,第一电流检测元件阵列21中的第一电流检测元件可以用于获得对应于显示元件阵列11的第一目标电流集合,第一目标电流集合中包含有每个第一电流检测元件所获得到的目标电流,这个目标电流所属的第一电流检测元件对应于显示元件阵列11中的一个或多个显示元件。而第一目标电流集合中的目标电流为相应的第一电流检测元件被目标光线照射后产生的;
而第二电流检测元件阵列22中的第二电流检测元件可以用于获得对应于显示元件阵列11的第二目标电流集合,第二目标电流集合中包含有每个第二电流检测元件所获得到的目标电流,这个目标电流所属的第二电流检测元件对应于显示元件阵列11中的一个或多个显示元件。而第二目标电流集合中的目标电流为相应的第二电流检测元件被目标光线照射后产生的;
基于此,控制组件3可以根据第一目标电流集合和第二目标电流集合,获得目标光线照射在检测组件上的目标位置。
具体的,控制组件3在根据第一目标电流集合和第二目标电流集合,获得目标光线照射在检测组件上的目标位置时,可以首先判断第二目标电流集合中的目标电流是否大于或等于电流阈值,以获得目标光线照射在第二电流检测元件上的目标位置,此时目标位置对应的第二电流检测元件所获得到的目标电流大于或等于电流阈值;
基于此,如果第二电流检测元件的阵列密度小于密度阈值,那么为了提高目标位置的精度,控制组件3还进一步获得第一电流检测元件阵列中与目标位置对应的目标电流检测元件,其中可以包含有一个或多个目标电流检测元件,之后,根据第一目标电流集合中目标电流检测元件对应的目标电流,获得目标光线照射在目标电流检测元件上的目标位置。
其中,由于第一电流检测元件的阵列密度大于第二电流检测元件的阵列密度且第一电流检测元件和第二电流检测元件在各自的阵列中均匀分布,因此,一个第二电流检测元件可能对应于一个或多个第一电流检测元件。
基于此,控制组件3首先对阵列密度小的第二电流检测元件所对应的目标电流是否大于或等于电流阈值进行判断,从而找到大于或等于电流阈值的目标电流所对应的第二电流检测元件所在的位置,即为目标位置。由于第二电流检测元件的阵列密度小,所以检测组件2所检测的目标电流的数量小,从而可以加快检测的速率,实现快速的位置检测。
而如果第二电流检测元件的阵列密度小于密度阈值,那么表明此时根据第二电流检测元件所获得的目标电流所找到的目标位置的精度较低。因此,为了进一步提高位置检测的精度,本实施例中在根据第二电流检测元件所获得的目标电流获得到目标位置之后,在第一电流检测元件阵列中找到与目标位置对应的目标电流检测元件,基于前文中的描述,此时所找到的目标电流检测元件可以有一个或多个,如图7中所示,基于此,控制组件3对第一目标电流集合中这些目标电流检测元件对应的目标电流进行电流阈值的比较,从而将大于或等于电流阈值的目标电流所对应的目标电流检测元件所对应的位置确定为更精确的新的目标位置,如图8中所示,在此实现方式中,控制组件3无需对第一电流检测元件阵列中所有第一电流检测元件所获得的目标电流都进行阈值判断,从而减少计算量,由此,在保证位置检测高精度的同时,提高位置检测的效率。
在另一种可选的方式中,如果第二电流检测元件的阵列密度小于密度阈值,那么表明此时根据第二电流检测元件所获得的目标电流所找到的目标位置的精度较低。因此,为了进一步提高位置检测的精度,控制组件3也可以对第一目标电流集合中的所有目标电流进行电流阈值的比较,从而将大于或等于电流阈值的目标电流所对应的第一电流检测元件所对应的位置确定为更精确的目标位置。
另外,第一电流检测元件阵列21中的第一电流检测元件和第二电流检测元件阵列22中的第二电流检测元件还用于控制对应的显示元件的颜色显示,具体的,第一电流检测元件和第二电流检测元件各自通过控制显示元件对应的背光来实现对显示元件的颜色显示的控制。
具体的,第一电流检测元件阵列21中的第一电流检测元件通过信号线连接到控制组件3,第二电流检测元件阵列22中的第二电流检测元件通过信号线连接到控制组件3,而第一电流检测元件所连接的信号线用于第一电流检测元件阵列21向控制组件3传输第一目标电流集合,第二电流检测元件所连接的信号线用于第二电流检测元件阵列22向控制组件3传输第二目标电流集合,以便于控制组件3根据第一目标电流集合和第二目标电流集合获得到目标位置。
而且,第一电流检测元件所连接的信号线还用于第一电流检测元件阵列21控制对应显示元件的颜色显示,同时,第二电流检测元件所连接的信号线也用于第二电流检测元件阵列22控制对应显示元件的颜色显示。例如,第一电流检测元件阵列21和第二电流检测元件阵列22各自通过对应的信号线一起对显示元件的背光进行控制从而控制对应的显示元件的颜色显示。
例如,第一电流检测元件阵列为显示设备中的通用LED TFT层,第二电流检测元件阵列为miniLED TFT层,密度小的miniLED TFT层处于通用LED TFT层的下层,在输入设备输出的目标光线照射到miniLED TFT层和通用LED TFT层上时,miniLED TFT层和通用LED TFT层均可以检测到漏电流增加,本实施例中,处理器先对miniLED TFT层所检测到的漏电流进行判断,在miniLED TFT层的漏电流增加到电流阈值的情况下,就可以根据这一判断结果确定漏电流增加到电流阈值的位置为目标光线的输入位置,而如果miniLED TFT层的密度过小而不满足精度要求的时候,处理器在利用miniLED TFT层检测的漏电流所确定的输入位置的基础上使用通用LED TFT层所检测到的漏电流进行精确定位,此时处理器无需对通用LED TFT层中的所有位置的漏电流都进行阈值判断,从而减少计算量,由此,在保证位置检测高精度的同时,提高位置检测的效率;或者,处理器可以在miniLED TFT层的密度过小而不满足精度要求的时候对通用LED TFT层所有区域检测到的漏电流进行判断,在通用LEDTFT层的漏电流增加到电流阈值的情况下,就可以根据这一判断结果确定漏电流增加到电流阈值的位置为目标光线的输入位置,同时,通用LED TFT层和miniLED TFT层通过各自的信号线一起对显示元件的背光进行控制从而控制对应的显示元件的颜色显示。
在一种实现方式中,本实施例中在控制组件3获得到目标位置之后,还可以根据目标位置在显示组件1上输出相应的目标内容。如图9中所示,在显示区域上将目标位置所形成的轨迹以点连接的形式进行输出,实现输入设备的内容输入。
参考10,为本申请实施例二提供的一种输入设备的结构示意图,该输入设备可以为能够在显示设备上进行内容输入的设备,如电子笔等。本实施例中的技术方案主要用于实现在显示设备上的输入。
具体的,本实施例中的输入设备可以包含如下结构:
本体4,本体4可以为中空架构,以便于内置输入设备的其他组件;
光线输出组件5,设置在本体4内,且光线输出组件5通过本体4上的开口6将满足第一条件的目标光线照射到电子设备。
具体的,第一条件为:波长处于预设波长范围的条件,也就是说,光线输出组件5所输出的目标光线为波长处于预设波长范围的电磁波,如红外光等。例如,光线输出组件5可以为红外光输出组件,所输出的红外光的波长可以处于750纳米至1毫米之间。
其中,电子设备包括:
显示组件1;
检测组件2,与显示组件1对应设置,检测组件2用于获得对应于显示组件1的目标电流,目标电流为检测组件2在被输入设备输出的满足第一条件的目标光线照射后产生的。
控制组件3,用于依据目标电流,获得目标光线照射在检测组件2上的目标位置。
需要说明的是,为了不影响显示组件1上内容的正常显示,本实施例中红外光输出组件所输出的红外光的波长与小于电子设备上的背光源的发光阈值的目标值相对应。这里的目标值可以为不影响显示组件1内容显示的最大电流限值,也就是说,红外光的波长与检测组件如TFT层上所产生的最大电流限值是对应的,这里的最大电流限值小于背光源的发光阈值,由此使得红外光照射到显示组件上不影响显示组件的显示发光效果。
另外,本实施例中的输入设备中还可以包含如下结构,如图11中所示:
聚光透镜7,设置在本体4内,且聚光透镜7处于开口6和光线输出组件5之间,用于将光线输出组件5输出的目标光线聚焦在电子设备的检测组件2上,以提高输入精度。
在一种实现方式中,本体4可以为笔形结构,笔形结构中包括有笔身41和笔尖42,如图12中所示,开口6设置在笔尖42顶端,以使得红外光输出组件输出的红外光透过笔尖输出在电子设备的显示组件1。
另外,笔身41可以为遮光结构并采用遮光材质,而笔尖42为透明结构,以便于红外光从笔尖42输出。
由上述方案可知,本申请实施例二提供的一种输入设备中,通过在输入设备中设置能够输出目标光线的光线输出组件,进而就可以通过电子设备中已有的检测组件来获得显示组件上被输入设备输出的目标光线照射后所产生的目标电流,就可以根据目标电流获得到目标光线照射在检测组件上的目标位置,无需为电子设备添加额外的组件,使用已有的能够受光照产生电流的检测组件就可以实现输入位置的获取,从而在显示组件上实现输入设备的输入。
以电子设备为显示屏为例,本申请的发明人在使用电子笔对显示屏进行输入的过程中发现一些缺陷:随着电子产品的性能的提高、价格的降低以及相关技术的发展,电子笔越来越普及,作会议记录以及学习笔记等,比起键盘更加符合操作习惯,同时资料可以长久保存,易于查找并不容易遗失等。
但是目前电子笔的应用中,对显示设备特性的要求比较强,同时对于精度、分辨率及线性度较弱。例如,电容式电子笔需要利用电子笔和显示屏的触摸屏传感器相接触所产生的电容变化来侦测接触点位置,从而实现书写功能;而电磁式电子笔则需要在显示屏下部安装一个柔性电路板FPC(Flexible Printed Circuit)传感器,以便于电子笔笔在切割磁力线的情况下,引起该FPC传感器电流变化,实现书写。可见,目前所实现的输入方案都对显示屏有特殊要求,会导致成本增加;且,受制于传感器的制作,以上传感器的物理分辨率都是毫米以上级别,精度较差,线性度也不好。以触摸屏为例,并不是所有显示屏都有触摸屏功能,且触摸屏显示屏成本高,大尺寸制作困难,而且触摸屏传感器图形一般都大于5mm,导致笔的精度/分辨率及线性度并不好。
为解决以上问题,本申请的发明人经过进一步研究,提出一种高精度、线性度、不易误触且成本友好的输入装置,即一种新型电子笔,还提出一种显示屏上针对这种电子笔的显示控制方案,新型电子笔中写字精度以及分辨率为显示屏子像素级,同时确保了产品的线性度;而且相比于电容式方案,也不容易发生误触;同时可以不依赖于触摸传感层,成本竞争力高。
以下对本申请的技术方案进行说明:
1、本申请中在电子笔等输入装置上安置电子波发射装置,优选可以为红外光发射装置,在红外光发射装置接触显示屏时,红外光触发主动式显示屏的TFT层漏电流变化,进而显示屏上通过侦测漏电流,来判断显示屏上的书写点即接触点的位置;
2、优选方案中,输入装置通过聚光透镜将光斑聚焦于显示屏的TFT层;
3、针对采用了主动式miniLED TFT显示背光的显示器,在分辨率满足需求情况下,优选针对miniLED TFT层进行漏电流侦测;而分辨率不足的情况下,可以补充通用LED TFT层以增加分辨率;
4、优选方案中,针对电流型显示装置如有机电激光显示屏OLED(Organic Light-Emitting Diode)或Micro LED等,将书写TFT漏电流的电流阈值上限设定为OLED或microLED等电流型显示装置的发光阈值的下限以下,避免输入装置输出的光影响显示装置的内容显示;
5、优选方案中,本申请中的输入装置中除笔尖顶端外的其他区域的材质都采用遮光或吸光材料;
6、优选方案中,本申请中的输入装置中笔尖顶端采用透明树脂弹性体材料。
可见,本申请所提出的输入装置为一种新型的电子笔结构,如红外光电子笔,照射主动式显示屏的TFT层后,显示屏上通过侦测漏电流的方法来侦测书写笔记,这一过程中无需对显示屏增加额外的传感层,成本友好;而且相比电容式方案,本申请中也不容易发生误触,且侦测传感为子像素级,书写精度、线性度都大幅增加。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言,由于其与实施例公开的方法相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见方法部分说明即可。
专业人员还可以进一步意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现,为了清楚地说明硬件和软件的可互换性,在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块,或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (9)
1.一种电子设备,包括:
显示组件,所述显示组件包括显示元件阵列;
检测组件,与所述显示组件对应设置,所述检测组件用于获得对应于所述显示组件的目标电流,所述目标电流为所述检测组件在被输入设备输出的满足第一条件的目标光线照射后产生的;所述检测组件至少包括第一电流检测元件阵列;其中,所述第一电流检测元件用于获得对应于所述显示元件阵列的第一目标电流集合,所述第一目标电流集合中的目标电流为所述第一电流检测元件被所述目标光线照射后产生的;所述第一电流检测元件还用于控制对应的显示元件的颜色显示;
控制组件,用于依据所述目标电流,获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。
2.根据权利要求1所述电子设备,所述控制组件用于根据所述第一目标电流集合,获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。
3.根据权利要求2所述的电子设备,所述控制组件具体用于:判断所述第一目标电流集合中的目标电流是否大于或等于电流阈值,以获得所述目标光线照射在所述第一电流检测元件阵列上的目标位置,所述目标位置对应的第一电流检测元件所获得到的目标电流大于或等于所述电流阈值。
4.根据权利要求1所述的电子设备,所述检测组件还至少包括第二电流检测元件阵列,所述第二电流检测元件的阵列密度小于所述第一电流检测元件的阵列密度;
其中,所述第二电流检测元件用于获得对应于所述显示元件阵列的第二目标电流集合,所述第二目标电流集合中的目标电流为所述第二电流检测元件被所述目标光线照射后产生的;
所述控制组件用于根据所述第一目标电流集合和所述第二目标电流集合,获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。
5.根据权利要求4所述的电子设备,所述控制组件具体用于:
判断所述第二目标电流集合中的目标电流是否大于或等于电流阈值,以获得所述目标光线照射在所述第二电流检测元件上的目标位置,所述目标位置对应的第二电流检测元件所获得到的目标电流大于或等于所述电流阈值;
其中,在所述第二电流检测元件的阵列密度小于密度阈值的情况下,所述控制组件还用于:获得所述第一电流检测元件阵列中与所述目标位置对应的目标电流检测元件,根据所述第一目标电流集合中所述目标电流检测元件对应的目标电流,获得所述目标光线照射在所述目标电流检测元件上的目标位置。
6.根据权利要求2或4所述的电子设备,所述电流检测元件为薄膜晶体管,所述薄膜晶体管被所述目标光线照射后产生所述目标电流。
7.根据权利要求2所述的电子设备,所述电流检测元件阵列中的电流检测元件通过信号线连接到所述控制组件;其中:
所述信号线用于所述电流检测元件阵列向所述控制组件传输所述目标电流集合,所述信号线还用于所述电流检测元件阵列控制对应显示元件的颜色显示。
8.一种输入设备,包括:
本体;
光线输出组件,设置在所述本体内,且所述光线输出组件通过所述本体上的开口将满足第一条件的目标光线照射到电子设备,其中,所述电子设备包括:
显示组件,所述显示组件包括显示元件阵列;
检测组件,与所述显示组件对应设置,所述检测组件用于获得对应于所述显示组件的目标电流,所述目标电流为所述检测组件在被输入设备输出的满足第一条件的目标光线照射后产生的;所述检测组件至少包括第一电流检测元件阵列,所述第一电流检测元件用于获得对应于所述显示元件阵列的第一目标电流集合,所述第一目标电流集合中的目标电流为所述第一电流检测元件被所述目标光线照射后产生的,所述第一电流检测元件还用于控制对应的显示元件的颜色显示;
控制组件,用于依据所述目标电流,获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。
9.根据权利要求8所述的输入设备,所述光线输出组件输出的目标光线为波长处于预设波长范围的电磁波。
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