CN113049412B - 微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置及其实施方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置，本发明还公开了微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置的实施方法，包括支撑固定机构、高压吹出机构和落块冲击机构，高压吹出机构固定安装在支撑固定机构上，且落块冲击机构活动安装在高压吹出机构上，通过高压气流将安装在连接管头上的落块冲击机构吹出，并冲击在薄膜上，完成对薄膜的冲击，无需将落块冲击机构置于特定的高度上，更加的方便了，且使得仪器的占地面积更小，同时在进行冲击时，若需要改变冲击力度，无需对配重块的质量进行增加或减少，只需要对高压气泵的喷气强度进行调节，使得落块冲击机构从连接管头上吹出的力度得到改变，更加的方便。
Description
技术领域
本发明涉及薄膜生产检测设备技术领域，具体为微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置及其实施方法。
背景技术
由薄的分层介质构成的，通过界面传播光束的一类光学介质材料。光学薄膜的应用始于20世纪30年代。现代，光学薄膜已广泛用于光学和光电子技术领域，制造各种光学仪器。
落镖冲击试验仪又称落镖冲击试验机是在给定高度的自由落镖冲击下，测定50％的试样破损时的能量(用质量表示)的一种试验机，适用于塑料薄膜和薄片以及钢板涂层。该装置在对薄膜进行承重曲张检测时，需要将冲击块置于一定高度上进行下落冲击薄膜，达到检测的目的，但需要将冲击块置于一定的高度上才能进行检测，非常的不方便，且在进行改变冲击力度时，需要对冲击块进行增重处理，给检测带来不便。
针对上述问题，本发明提供了微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置及其实施方法。
发明内容
本发明的目的在于提供微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置及其实施方法，包括支撑固定机构、高压吹出机构和落块冲击机构，高压吹出机构固定安装在支撑固定机构上，且落块冲击机构活动安装在高压吹出机构上，无需特定的高度也可进行检测，且改变冲击力度时无需对冲击块进行质量的改变，非常的方便，从而解决了背景技术中的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置，包括支撑固定机构、高压吹出机构和落块冲击机构，所述高压吹出机构固定安装在支撑固定机构上，且落块冲击机构活动安装在高压吹出机构上，所述支撑固定机构设置有固定箱座、薄膜固定板和防冲击板，固定箱座的上端一侧固定焊接薄膜固定板，防冲击板固定焊接在固定箱座的下端一侧；
所述高压吹出机构包括固定安装在固定箱座内部的高压气泵，以及安装在固定箱座上端的导气管道，且导气管道与高压气泵的输气端固定连接，并在导气管道的出气端固定焊接连接管头；
所述落块冲击机构包括配重块、插接柱头和锁紧磁块件，配重块的上端固定焊接插接柱头，锁紧磁块件设置两组，两组的锁紧磁块件活动安装在插接柱头的上端两侧。
进一步地，薄膜固定板包括开设在中间的贯穿测试孔，以及安装在薄膜固定板上的固定框圈，固定框圈通过螺栓连接在薄膜固定板上，且直径大于贯穿测试孔的直径。
进一步地，防冲击板设置有缓冲橡胶垫，缓冲橡胶垫固定安装在防冲击板的上端面。
进一步地，连接管头设置有磁铁A，磁铁A设置两组，两组的磁铁A固定安装在连接管头的内部。
进一步地，配重块为圆柱状结构，且下端为半球状。
进一步地，插接柱头设置有安装槽位和挡块，安装槽位设置两组，两组的安装槽位开设在插接柱头的上端面，挡块固定焊接在安装槽位内，且挡块为三角斜块结构。
进一步地，锁紧磁块件设置有转动块、安装轴柱和磁块B，转动块为一面平面，一面弧面的结构，安装轴柱固定安装在转动块的两侧，磁块B固定安装在转动块的平面上，且与磁铁A的磁性相反。
进一步地，转动块设置有内腔槽和滚珠，内腔槽开设在转动块的内部，滚珠活动设置在内腔槽内。
本发明提供另一种技术方案：微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置的实施方法，包括以下步骤：
S01：将需检测的薄膜通过固定框圈撑紧固定在薄膜固定板上；
S02：将转动块安装有磁块B的一面转向安装槽位的外侧；
S03：将插接柱头插入连接管头内；
S04：调节高压气泵的喷气强度，将落块冲击机构从连接管头上吹落，
并冲击到薄膜上；
S05：记录薄膜的曲张程度，或是否破损。
与现有技术相比，本发明的有益效果如下：
1、本发明提供的微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置及其实施方法，将导气管道与固定安装在固定箱座内部的高压气泵的输气端固定连接，并将固定框圈通过螺栓连接在开设有贯穿测试孔的薄膜固定板上，检测时将薄膜通过固定框圈撑紧固定在薄膜固定板上，再通过高压气泵对导气管道进行高压输气，通过高压气流将安装在连接管头上的落块冲击机构吹出，并冲击在薄膜上，完成对薄膜的冲击，无需将落块冲击机构置于特定的高度上，更加的方便了，且使得仪器的占地面积更小，同时在进行冲击时，若需要改变冲击力度，无需对配重块的质量进行增加或减少，只需要对高压气泵的喷气强度进行调节，使得落块冲击机构从连接管头上吹出的力度得到改变，更加的方便。
2、本发明提供的微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置及其实施方法，将两组的磁铁A固定安装在连接管头的内部，并在插接柱头上端的安装槽位内活动安装设置有磁块B的转动块，且磁块B与磁铁A的磁性相反，当将落块冲击机构安装在连接管头上时，先将转动块安装有磁块B的一面转向安装槽位的外侧，再将插接柱头插入连接管头内，使得磁块B与磁铁A相互吸引，将落块冲击机构吸附在连接管头内，防止其掉落，且不会造成吹动落块冲击机构时，落块冲击机构卡在连接管头内不掉落的现象发生，同时也能够保证落块冲击机构更加方便的安装在连接管头内，而将转动块设置为一面平面，一面弧面的结构，并将三角斜块结构的挡块设置在安装槽位内，使得再将插接柱头插入连接管头内时，转动块倾斜的设置在安装槽位内，且弧面端靠在挡块上，当进行喷气时，气流吹动转动块，使得转动块安装有磁块B的一面背离磁铁A，方便落块冲击机构从连接管头内掉落。
附图说明
图1为本发明的微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置的整体结构示意图；
图2为本发明的微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置的支撑固定机构与高压吹出机构结构示意图；
图3为本发明的微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置的连接管头截面图；
图4为本发明的微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置的落块冲击机构结构示意图；
图5为本发明的微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置的插接柱头结构示意图；
图6为本发明的微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置的锁紧磁块件结构示意图；
图7为本发明的微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置的转动块结构示意图。
图中：1、支撑固定机构；11、固定箱座；12、薄膜固定板；121、贯穿测试孔；122、固定框圈；13、防冲击板；131、缓冲橡胶垫；2、高压吹出机构；21、高压气泵；22、导气管道；23、连接管头；231、磁铁A；3、落块冲击机构；31、配重块；32、插接柱头；321、安装槽位；322、挡块；33、锁紧磁块件；331、转动块；3311、内腔槽；3312、滚珠；332、安装轴柱；333、磁块B。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1，微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置，包括支撑固定机构1、高压吹出机构2和落块冲击机构3，高压吹出机构2固定安装在支撑固定机构1上，且落块冲击机构3活动安装在高压吹出机构2上。
请参阅图2，支撑固定机构1设置有固定箱座11、薄膜固定板12和防冲击板13，固定箱座11的上端一侧固定焊接薄膜固定板12，防冲击板13固定焊接在固定箱座11的下端一侧。薄膜固定板12包括开设在中间的贯穿测试孔121，以及安装在薄膜固定板12上的固定框圈122，固定框圈122通过螺栓连接在薄膜固定板12上，且直径大于贯穿测试孔121的直径。防冲击板13设置有缓冲橡胶垫131，缓冲橡胶垫131固定安装在防冲击板13的上端面。将导气管道22与固定安装在固定箱座11内部的高压气泵21的输气端固定连接，并将固定框圈122通过螺栓连接在开设有贯穿测试孔121的薄膜固定板12上，检测时将薄膜通过固定框圈122撑紧固定在薄膜固定板12上，再通过高压气泵21对导气管道22进行高压输气，通过高压气流将安装在连接管头23上的落块冲击机构3吹出，并冲击在薄膜上，完成对薄膜的冲击，无需将落块冲击机构3置于特定的高度上，更加的方便了，且使得仪器的占地面积更小，同时在进行冲击时，若需要改变冲击力度，无需对配重块31的质量进行增加或减少，只需要对高压气泵21的喷气强度进行调节，使得落块冲击机构3从连接管头23上吹出的力度得到改变，更加的方便。
请参阅图2-3，高压吹出机构2包括固定安装在固定箱座11内部的高压气泵21，以及安装在固定箱座11上端的导气管道22，且导气管道22与高压气泵21的输气端固定连接，并在导气管道22的出气端固定焊接连接管头23，连接管头23设置有磁铁A231，磁铁A231设置两组，两组的磁铁A231固定安装在连接管头23的内部。
请参阅图4-7，落块冲击机构3包括配重块31、插接柱头32和锁紧磁块件33，配重块31的上端固定焊接插接柱头32，锁紧磁块件33设置两组，两组的锁紧磁块件33活动安装在插接柱头32的上端两侧。配重块31为圆柱状结构，且下端为半球状。插接柱头32设置有安装槽位321和挡块322，安装槽位321设置两组，两组的安装槽位321开设在插接柱头32的上端面，挡块322固定焊接在安装槽位321内，且挡块322为三角斜块结构。锁紧磁块件33设置有转动块331、安装轴柱332和磁块B333，转动块331为一面平面，一面弧面的结构，安装轴柱332固定安装在转动块331的两侧，磁块B333固定安装在转动块331的平面上，且与磁铁A231的磁性相反。转动块331设置有内腔槽3311和滚珠3312，内腔槽3311开设在转动块331的内部，滚珠3312活动设置在内腔槽3311内，将两组的磁铁A231固定安装在连接管头23的内部，并在插接柱头32上端的安装槽位321内活动安装设置有磁块B333的转动块331，且磁块B333与磁铁A231的磁性相反，当将落块冲击机构3安装在连接管头23上时，先将转动块331安装有磁块B333的一面转向安装槽位321的外侧，再将插接柱头32插入连接管头23内，使得磁块B333与磁铁A231相互吸引，将落块冲击机构3吸附在连接管头23内，防止其掉落，且不会造成吹动落块冲击机构3时，落块冲击机构3卡在连接管头23内不掉落的现象发生，同时也能够保证落块冲击机构3更加方便的安装在连接管头23内，而将转动块331设置为一面平面，一面弧面的结构，并将三角斜块结构的挡块322设置在安装槽位321内，使得再将插接柱头32插入连接管头23内时，转动块331倾斜的设置在安装槽位321内，且弧面端靠在挡块322上，当进行喷气时，气流吹动转动块331，使得转动块331安装有磁块B333的一面背离磁铁A231，方便落块冲击机构3从连接管头23内掉落。
本发明提供另一种技术方案：微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置的实施方法，包括以下步骤：
S01：将需检测的薄膜通过固定框圈122撑紧固定在薄膜固定板12上；
S02：将转动块331安装有磁块B333的一面转向安装槽位321的外侧；
S03：将插接柱头32插入连接管头23内；
S04：调节高压气泵21的喷气强度，将落块冲击机构3从连接管头23上吹落，并冲击到薄膜上；
S05：记录薄膜的曲张程度，或是否破损。
综上所述：本发明提供了微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置及其实施方法，包括支撑固定机构1、高压吹出机构2和落块冲击机构3，高压吹出机构2固定安装在支撑固定机构1上，且落块冲击机构3活动安装在高压吹出机构2上，将导气管道22与固定安装在固定箱座11内部的高压气泵21的输气端固定连接，并将固定框圈122通过螺栓连接在开设有贯穿测试孔121的薄膜固定板12上，检测时将薄膜通过固定框圈122撑紧固定在薄膜固定板12上，再通过高压气泵21对导气管道22进行高压输气，通过高压气流将安装在连接管头23上的落块冲击机构3吹出，并冲击在薄膜上，完成对薄膜的冲击，无需将落块冲击机构3置于特定的高度上，更加的方便了，且使得仪器的占地面积更小，同时在进行冲击时，若需要改变冲击力度，无需对配重块31的质量进行增加或减少，只需要对高压气泵21的喷气强度进行调节，使得落块冲击机构3从连接管头23上吹出的力度得到改变，更加的方便。将两组的磁铁A231固定安装在连接管头23的内部，并在插接柱头32上端的安装槽位321内活动安装设置有磁块B333的转动块331，且磁块B333与磁铁A231的磁性相反，当将落块冲击机构3安装在连接管头23上时，先将转动块331安装有磁块B333的一面转向安装槽位321的外侧，再将插接柱头32插入连接管头23内，使得磁块B333与磁铁A231相互吸引，将落块冲击机构3吸附在连接管头23内，防止其掉落，且不会造成吹动落块冲击机构3时，落块冲击机构3卡在连接管头23内不掉落的现象发生，同时也能够保证落块冲击机构3更加方便的安装在连接管头23内，而将转动块331设置为一面平面，一面弧面的结构，并将三角斜块结构的挡块322设置在安装槽位321内，使得再将插接柱头32插入连接管头23内时，转动块331倾斜的设置在安装槽位321内，且弧面端靠在挡块322上，当进行喷气时，气流吹动转动块331，使得转动块331安装有磁块B333的一面背离磁铁A231，方便落块冲击机构3从连接管头23内掉落。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置，包括支撑固定机构(1)、高压吹出机构(2)和落块冲击机构(3)，所述高压吹出机构(2)固定安装在支撑固定机构(1)上，且落块冲击机构(3)活动安装在高压吹出机构(2)上，其特征在于：所述支撑固定机构(1)设置有固定箱座(11)、薄膜固定板(12)和防冲击板(13)，固定箱座(11)的上端一侧固定焊接薄膜固定板(12)，防冲击板(13)固定焊接在固定箱座(11)的下端一侧；
所述高压吹出机构(2)包括固定安装在固定箱座(11)内部的高压气泵(21)，以及安装在固定箱座(11)上端的导气管道(22)，且导气管道(22)与高压气泵(21)的输气端固定连接，并在导气管道(22)的出气端固定焊接连接管头(23)；
所述落块冲击机构(3)包括配重块(31)、插接柱头(32)和锁紧磁块件(33)，配重块(31)的上端固定焊接插接柱头(32)，锁紧磁块件(33)设置两组，两组的锁紧磁块件(33)活动安装在插接柱头(32)的上端两侧；
所述薄膜固定板(12)包括开设在中间的贯穿测试孔(121)，以及安装在薄膜固定板(12)上的固定框圈(122)，固定框圈(122)通过螺栓连接在薄膜固定板(12)上，且直径大于贯穿测试孔(121)的直径；
所述插接柱头(32)设置有安装槽位(321)和挡块(322)，安装槽位(321)设置两组，两组的安装槽位(321)开设在插接柱头(32)的上端面，挡块(322)固定焊接在安装槽位(321)内，且挡块(322)为三角斜块结构；
所述锁紧磁块件(33)设置有转动块(331)、安装轴柱(332)和磁块B(333)，转动块(331)为一面平面，一面弧面的结构，安装轴柱(332)固定安装在转动块(331)的两侧，磁块B(333)固定安装在转动块(331)的平面上，且与磁铁A(231)的磁性相反。
2.根据权利要求1所述的微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置，其特征在于：所述防冲击板(13)设置有缓冲橡胶垫(131)，缓冲橡胶垫(131)固定安装在防冲击板(13)的上端面。
3.根据权利要求1所述的微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置，其特征在于：所述连接管头(23)设置有磁铁A(231)，磁铁A(231)设置两组，两组的磁铁A(231)固定安装在连接管头(23)的内部。
4.根据权利要求1所述的微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置，其特征在于：所述配重块(31)为圆柱状结构，且下端为半球状。
5.根据权利要求1所述的微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置，其特征在于：所述转动块(331)设置有内腔槽(3311)和滚珠(3312)，内腔槽(3311)开设在转动块(331)的内部，滚珠(3312)活动设置在内腔槽(3311)内。
6.根据权利要求1-5任一项所述的微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置的实施方法，其特征在于，包括以下步骤：
S01：将需检测的薄膜通过固定框圈(122)撑紧固定在薄膜固定板(12)上；
S02：将转动块(331)安装有磁块B(333)的一面转向安装槽位(321)的外侧；
S03：将插接柱头(32)插入连接管头(23)内；
S04：调节高压气泵(21)的喷气强度，将落块冲击机构(3)从连接管头(23)上吹落，并冲击到薄膜上；
S05：记录薄膜的曲张程度，或是否破损。
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