CN113009414A - 信号源位置确定方法、装置、电子设备及计算机存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例公开了一种信号源位置确定方法、装置、电子设备及计算机存储介质。该信号源位置确定方法,包括:获取各个采样点的频谱扫描数据;利用任两采样点的频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定预设数量个交叉点;聚类预设数量个交叉点,确定交叉点聚类中心并将交叉点聚类中心作为信号源位置。根据本发明实施例,能够高效率地确定信号源位置。

Description

信号源位置确定方法、装置、电子设备及计算机存储介质
技术领域
本发明属于无线技术领域,尤其涉及一种信号源位置确定方法、装置、电子设备及计算机存储介质。
背景技术
目前,传统信号源位置确定方法是使用扫频仪和八木天线,通过手动旋转八木天线获得信号源的方位,再利用交叉线定位算法确定信号源位置。但是,人工手动旋转八木天线、利用交叉线定位算法计算信号源位置,导致信号源位置确定效率低。
因此,如何高效率地确定信号源位置是本领域技术人员亟需解决的技术问题。
发明内容
本发明实施例提供一种信号源位置确定方法、装置、电子设备及计算机存储介质,能够高效率地确定信号源位置。
第一方面,提供了一种信号源位置确定方法,包括:
获取各个采样点的频谱扫描数据;
利用任两采样点的频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定预设数量个交叉点;
聚类预设数量个交叉点,确定交叉点聚类中心并将交叉点聚类中心作为信号源位置。
可选地,确定交叉点聚类中心并将交叉点聚类中心作为信号源位置之后,还包括:
将信号源位置与预设现网工参基站位置进行匹配;
当信号源位置与预设现网工参基站位置无法匹配时,则将信号源位置作为干扰源位置。
可选地,利用任两采样点的频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定预设数量个交叉点,包括:
对各个采样点的频谱扫描数据进行频率维度降维,得到对应的第一频谱扫描数据;
对各个第一频谱扫描数据进行去重,得到对应的第二频谱扫描数据;
利用任两采样点的第二频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定预设数量个交叉点。
可选地,获取各个采样点的频谱扫描数据之后,还包括:
根据任一采样点的频谱扫描数据中的现网工作频段,确定任一采样点的采样点类型。
可选地,获取各个采样点的频谱扫描数据,包括:
利用扫频仪和相控阵天线采集各个采样点的频谱扫描数据。
可选地,聚类预设数量个交叉点,确定交叉点聚类中心并将交叉点聚类中心作为信号源位置,包括:
基于k-means聚类算法聚类预设数量个交叉点,确定信号源位置。
第二方面,提供了一种信号源位置确定装置,包括:
获取模块,用于获取各个采样点的频谱扫描数据;
第一确定模块,用于利用任两采样点的频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定预设数量个交叉点;
第二确定模块,用于聚类预设数量个交叉点,确定交叉点聚类中心并将交叉点聚类中心作为信号源位置。
可选地,第二确定模块还用于将信号源位置与预设现网工参基站位置进行匹配;当信号源位置与预设现网工参基站位置无法匹配时,则将信号源位置作为干扰源位置。
可选地,第一确定模块用于对各个采样点的频谱扫描数据进行频率维度降维,得到对应的第一频谱扫描数据;对各个第一频谱扫描数据进行去重,得到对应的第二频谱扫描数据;利用任两采样点的第二频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定预设数量个交叉点。
可选地,获取模块还用于根据任一采样点的频谱扫描数据中的现网工作频段,确定任一采样点的采样点类型。
可选地,获取模块用于利用扫频仪和相控阵天线采集各个采样点的频谱扫描数据。
可选地,第二确定模块用于基于k-means聚类算法聚类预设数量个交叉点,确定信号源位置。
第三方面,提供了一种电子设备,该电子设备包括:
处理器以及存储有计算机程序指令的存储器;处理器执行计算机程序指令时实现第一方面或者第一方面任一可选的实现方式中的信号源位置确定方法。
第四方面,提供了一种计算机存储介质,计算机存储介质上存储有计算机程序指令,计算机程序指令被处理器执行时实现第一方面或者第一方面任一可选的实现方式中的信号源位置确定方法。
本发明实施例的信号源位置确定方法、装置、电子设备及计算机存储介质,能够高效率地确定信号源位置。该信号源位置确定方法先是获取各个采样点的频谱扫描数据;然后,利用任两采样点的频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定预设数量个交叉点;最后,聚类预设数量个交叉点,确定交叉点聚类中心并将交叉点聚类中心作为信号源位置。可见,信号源位置确定方法通过聚类预设数量个交叉点以确定信号源位置,能够高效率地确定信号源位置。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单的介绍,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种信号源位置确定方法的流程示意图;
图2是本发明实施例提供的一种干扰源位置确定方法的流程示意图;
图3是本发明实施例提供的一种计算信号源位置的流程示意图;
图4是本发明实施例提供的一种获取交叉点的流程示意图;
图5是本发明实施例提供的一种信号源和采样点相对位置示意图;
图6是本发明实施例提供的一种两条直线位置关系示意图;
图7是本发明实施例提供的一种交叉点聚类中心示意图;
图8是本发明实施例提供的一种信号源位置确定装置的结构示意图;
图9是本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例,为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及具体实施例,对本发明进行进一步详细描述。应理解,此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本发明,并不被配置为限定本发明。对于本领域技术人员来说,本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更好的理解。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
目前,传统信号源位置确定方法是使用扫频仪和八木天线,通过手动旋转八木天线获得信号源的方位,再利用交叉线定位算法确定信号源位置。但是,人工手动旋转八木天线、利用交叉线定位算法计算信号源位置,导致在信号源位置确定过程中效率低下。
为了解决现有技术问题,本发明实施例提供了一种信号源位置确定方法、装置、电子设备及计算机存储介质。下面首先对本发明实施例所提供的信号源位置确定方法进行介绍。
图1是本发明实施例提供的一种信号源位置确定方法的流程示意图。如图1所示,该信号源位置确定方法包括:
S101、获取各个采样点的频谱扫描数据。
为了自动地获取各个采样点的频谱扫描数据,在一个实施例中,获取各个采样点的频谱扫描数据,通常可以包括:利用扫频仪和相控阵天线采集各个采样点的频谱扫描数据。
在一个实施例中,获取各个采样点的频谱扫描数据之后,通常还可以包括:根据任一采样点的频谱扫描数据中的现网工作频段,确定任一采样点的采样点类型。
S102、利用任两采样点的频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定预设数量个交叉点。
为了准确地获取交叉点,在一个实施例中,利用任两采样点的频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定预设数量个交叉点,通常可以包括:对各个采样点的频谱扫描数据进行频率维度降维,得到对应的第一频谱扫描数据;对各个第一频谱扫描数据进行去重,得到对应的第二频谱扫描数据;利用任两采样点的第二频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定预设数量个交叉点。
S103、聚类预设数量个交叉点,确定交叉点聚类中心并将交叉点聚类中心作为信号源位置。
为了准确地确定信号源位置,在一个实施例中,聚类预设数量个交叉点,确定交叉点聚类中心并将交叉点聚类中心作为信号源位置,通常可以包括:基于k-means聚类算法聚类预设数量个交叉点,确定信号源位置。
进一步地,为了准确地确定干扰源位置,在一个实施例中,确定交叉点聚类中心并将交叉点聚类中心作为信号源位置之后,通常还可以包括:将信号源位置与预设现网工参基站位置进行匹配;当信号源位置与预设现网工参基站位置无法匹配时,则将信号源位置作为干扰源位置。
下面以一个具体实施例对上述内容进行说明,具体如下:
本发明实施例利用扫频仪和相控阵天线采集频谱扫描数据,再通过数据处理、交叉点计算、聚类算法处理、现网工参基站位置比对,确定干扰源的位置。如图2所示,干扰源位置确定方法包括如下步骤:
步骤S11:扫频数据获取,也即获取频谱扫描数据。具体地,确定频谱测量范围,获取扫频仪和相控阵天线采集的频谱扫描数据,包括测试时间、扫频仪频率、扫频仪信号强度、相控阵天线波达角、采样点经度、采样点纬度,填入A表。为步骤S12提供完整可靠的分析数据。
步骤S12:计算信号源位置,也即对步骤S11中获取的频谱扫描数据按照图3进行分步骤处理,最终获取信号源位置,具体处理步骤如下:
步骤S21:功率积分处理。将设定频率范围内的扫频仪接收信号强度作对数功率合并,即进行功率转换,转换公式:
W=(power(10,dBm/10))/1000
设定频率分为业务频率W2,以及业务频率上旁带W1和业务频率下旁带W3。分别计算W1、W2、W3的积分功率,单位为dBm。
如果业务频率上旁带(W1)的积分功率与业务频率(W2)的积分功率相差6db以内且电平大于-100dbm,则认为有阻塞干扰,并将阻塞干扰中的带外干扰标记为1。以上信息填写入B表,B表包含测试时间、经度、纬度、频率、电平(瓦)、相控阵天线波达角信息、带外干扰标记。
步骤S22:邻近测试轨迹整合。按测试时间顺序,将天线波达角相同的采样点进行整合,具体需要根据扫频仪的扫描速度和相控阵天线的旋转周期制定,测试电平取平均值,经纬度取均值填写入C表,C表包含经度、纬度、频率、电平、相控阵天线波达角信息。
步骤S23:区分带内和带外,即区分采样点的采样点类型。根据需要排查干扰的现网网络带宽,将采样点区分为带内采样点和带外采样点。现网网络带宽内用“带内”表示,现网网络带宽外用“带外”表示,填入D表,D表包含经度、纬度、频率、电平、相控阵天线波达角、带内/带外标示信息。
步骤S24:获取交叉点。针对干扰场强范围内的采样点与信号源形成的直线,确定任意两条直线的交叉点。交叉点与采样点之间的距离小于设定距离的交叉点填写入E表,E表包含交叉点经度、交叉点纬度、带内/带外标示信息。在一个实施例中,可以按照图4所示的步骤确定任意两条直线的交叉点,具体处理步骤如下:
步骤S41:计算距离采样点一定距离d的信号源经纬度。根据采样点的经度、纬度、相控阵天线波达角计算距离采样点一定距离d的信号源经度和纬度。计算方法如下:
设采样点A(x1,y1),信号源B(x2,y2),则线段AB的距离
Figure BDA0002329121430000071
d可任意设置。
如图5所示,相控阵天线波达角α定义为信号源与采样点所在直线与Y轴正向的夹角,Y轴正向为0°,顺时针增大,范围为0°≦α<360°。计算信号源B的经度和纬度:
信号源B点的经纬度坐标需要按照信号源B相对于采样点A所在位置的象限来计算,信号源B点坐标计算结果见表1:
表1
Figure BDA0002329121430000072
步骤S42:判断两条直线位置关系。两条直线位置关系包括相交、平行。
判断直线的位置关系,需要用到向量的相关知识,即定义两个向量p(x1,y1)和q(x2,y2),向量积系数k=p×q=x1·y2-x2·y1,若k=0则p与q平行,否则相交。如图6所示,现在有4个点A(x1,y1)、B(x2,y2)、C(x3,y3)、D(x4,y4),若线段AB和CD存在交点,则设其交点为E(x,y),向量AB记为p1(dx1,dy1),向量CD记为p2(dx2,dy2),向量AC记为p3(dx3,dy3),
步骤S43:计算两条直线的交点。
根据前面的定义能够得到下面的关系:dx1=x2-x1,dy1=y2-y1,dx2=x4-x3,dy2=y4-y3,dx3=x3-x1,dy3=y3-y1。对k=x1·y2-x2·y1不为0的AB和CD两条直线计算交点,为了方便计算结果的表示,再定义下面的两个量:t1=dx2·dy1-dx1·dy2,t2=dx1·dy3-dx3·dy1。设直线AB的斜率为k1,直线CD的斜率为k2,则有k1=(y-y1)/(x-x1)=(y2-y1)/(x2-x1)=dy1/dx1,k2=(y-y3)/(x-x3)=(y4-y3)/(x4-x3)=dy2/dx2,联立求解得直线AB与CD的交点坐标(x,y):
x=x3+dx2·t2/t1;y=y3+dy2·(x-x3)/dx2=y3+dy2·t2/t1
步骤S25:聚类计算。经过以上步骤处理后得到带内交叉点经纬度信息、带外交叉点经纬度信息,分别对带内交叉点、带外交叉点做k-means聚类计算,得到带内交叉点聚类中心点和带外交叉点聚类中心点。
步骤S26:数据校准。计算每个交叉点距离其聚类中心的距离,距离超过3倍标准差的交叉点做剔除处理。
步骤S27:再次聚类计算获取信号源或干扰源位置。对剔除距离超过3倍标准差的带内交叉点和带外交叉点,重复步骤S25再次聚类,分别得到数据校准后的带内交叉点聚类中心和带外交叉点聚类中心。
分别用直径预设长度的圆,圈住尽可能多的聚类中心,每个圆内包含n倍测试区域基站数则认为该圆为信号源或干扰源有效位置,该圆范围即为信号源位置或干扰源位置。如图7所示,图7中的圆圈即为信号源位置或干扰源位置。
步骤S13:比对工参,即将信号源位置与预设现网工参基站位置进行匹配。根据步骤S12处理得到的的聚类中心为信号源位置或干扰源位置,再与现网工参基站位置进行比对,确定除已知基站位置以外的干扰源位置。
步骤S14:地理呈现干扰源位置。带内信号源位置与预设现网工参基站位置不一致的,则认为疑似干扰源,可现场排查;带外信号源位置可直接排查。
本发明实施例具有如下有益效果:
1.可针对全频段进行干扰源分析。
2.不需要人工逐个对每个干扰区域进行分析,可以运用电脑算力批量定位干扰源位置并地理呈现。
3.定位干扰源精度较高(在50米以内),能缩小干扰排查范围和难度。
下面对本发明实施例提供的一种信号源位置确定装置、电子设备及计算机存储介质进行介绍,下文描述的信号源位置确定装置、电子设备及计算机存储介质与上文描述的信号源位置确定方法可相互对应参照。图8是本发明实施例提供的一种信号源位置确定装置的结构示意图,如图8所示,该信号源位置确定装置包括:
获取模块801,用于获取各个采样点的频谱扫描数据;
第一确定模块802,用于利用任两采样点的频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定预设数量个交叉点;
第二确定模块803,用于聚类预设数量个交叉点,确定交叉点聚类中心并将交叉点聚类中心作为信号源位置。
可选地,第二确定模块803还用于将信号源位置与预设现网工参基站位置进行匹配;当信号源位置与预设现网工参基站位置无法匹配时,则将信号源位置作为干扰源位置。
可选地,第一确定模块802用于对各个采样点的频谱扫描数据进行频率维度降维,得到对应的第一频谱扫描数据;对各个第一频谱扫描数据进行去重,得到对应的第二频谱扫描数据;利用任两采样点的第二频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定预设数量个交叉点。
可选地,获取模块801还用于根据任一采样点的频谱扫描数据中的现网工作频段,确定任一采样点的采样点类型。
可选地,获取模块801用于利用扫频仪和相控阵天线采集各个采样点的频谱扫描数据。
可选地,第二确定模块803用于基于k-means聚类算法聚类预设数量个交叉点,确定信号源位置。
图8提供的信号源位置确定装置中的各个模块具有实现图1所示实例中各个步骤的功能,并达到与图1所示信号源位置确定方法相同的技术效果,为简洁描述,在此不再赘述。
图9是本发明一个实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
电子设备可以包括处理器901以及存储有计算机程序指令的存储器902。
具体地,上述处理器901可以包括中央处理器(CPU),或者特定集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC),或者可以被配置成实施本发明实施例的一个或多个集成电路。
存储器902可以包括用于数据或指令的大容量存储器。举例来说而非限制,存储器902可包括硬盘驱动器(Hard Disk Drive,HDD)、软盘驱动器、闪存、光盘、磁光盘、磁带或通用串行总线(Universal Serial Bus,USB)驱动器或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下,存储器902可包括可移除或不可移除(或固定)的介质。在合适的情况下,存储器902可在综合网关容灾设备的内部或外部。在特定实施例中,存储器902是非易失性固态存储器。在特定实施例中,存储器902包括只读存储器(ROM)。在合适的情况下,该ROM可以是掩模编程的ROM、可编程ROM(PROM)、可擦除PROM(EPROM)、电可擦除PROM(EEPROM)、电可改写ROM(EAROM)或闪存或者两个或更多个以上这些的组合。
处理器901通过读取并执行存储器902中存储的计算机程序指令,以实现上述实施例中的任意一种信号源位置确定方法。
在一个示例中,电子设备还可包括通信接口903和总线910。其中,如图9所示,处理器901、存储器902、通信接口903通过总线910连接并完成相互间的通信。
通信接口903,主要用于实现本发明实施例中各模块、装置、单元和/或设备之间的通信。
总线910包括硬件、软件或两者,将在线数据流量计费设备的部件彼此耦接在一起。举例来说而非限制,总线可包括加速图形端口(AGP)或其他图形总线、增强工业标准架构(EISA)总线、前端总线(FSB)、超传输(HT)互连、工业标准架构(ISA)总线、无限带宽互连、低引脚数(LPC)总线、存储器总线、微信道架构(MCA)总线、外围组件互连(PCI)总线、PCI-Express(PCI-X)总线、串行高级技术附件(SATA)总线、视频电子标准协会局部(VLB)总线或其他合适的总线或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下,总线910可包括一个或多个总线。尽管本发明实施例描述和示出了特定的总线,但本发明考虑任何合适的总线或互连。
另外,结合上述实施例中的信号源位置确定方法,本发明实施例可提供一种计算机存储介质来实现。该计算机存储介质上存储有计算机程序指令;该计算机程序指令被处理器执行时实现上述实施例中的任意一种信号源位置确定方法。
需要明确的是,本发明并不局限于上文所描述并在图中示出的特定配置和处理。为了简明起见,这里省略了对已知方法的详细描述。在上述实施例中,描述和示出了若干具体的步骤作为示例。但是,本发明的方法过程并不限于所描述和示出的具体步骤,本领域的技术人员可以在领会本发明的精神后,作出各种改变、修改和添加,或者改变步骤之间的顺序。
以上所述的结构框图中所示的功能块可以实现为硬件、软件、固件或者它们的组合。当以硬件方式实现时,其可以例如是电子电路、专用集成电路(ASIC)、适当的固件、插件、功能卡等等。当以软件方式实现时,本发明的元素是被用于执行所需任务的程序或者代码段。程序或者代码段可以存储在机器可读介质中,或者通过载波中携带的数据信号在传输介质或者通信链路上传送。“机器可读介质”可以包括能够存储或传输信息的任何介质。机器可读介质的例子包括电子电路、半导体存储器设备、ROM、闪存、可擦除ROM(EROM)、软盘、CD-ROM、光盘、硬盘、光纤介质、射频(RF)链路,等等。代码段可以经由诸如因特网、内联网等的计算机网络被下载。
还需要说明的是,本发明中提及的示例性实施例,基于一系列的步骤或者装置描述一些方法或系统。但是,本发明不局限于上述步骤的顺序,也就是说,可以按照实施例中提及的顺序执行步骤,也可以不同于实施例中的顺序,或者若干步骤同时执行。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,上述描述的系统、模块和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。应理解,本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到各种等效的修改或替换,这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (13)

1.一种信号源位置确定方法,其特征在于,包括:
获取各个采样点的频谱扫描数据;
利用任两所述采样点的所述频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定预设数量个交叉点;
聚类所述预设数量个交叉点,确定交叉点聚类中心并将所述交叉点聚类中心作为信号源位置。
2.根据权利要求1所述的信号源位置确定方法,其特征在于,所述确定交叉点聚类中心并将所述交叉点聚类中心作为信号源位置之后,还包括:
将所述信号源位置与预设现网工参基站位置进行匹配;
当所述信号源位置与所述预设现网工参基站位置无法匹配时,则将所述信号源位置作为干扰源位置。
3.根据权利要求1所述的信号源位置确定方法,其特征在于,所述利用任两所述采样点的所述频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定预设数量个交叉点,包括:
对各个所述采样点的所述频谱扫描数据进行频率维度降维,得到对应的第一频谱扫描数据;
对各个所述第一频谱扫描数据进行去重,得到对应的第二频谱扫描数据;
利用任两所述采样点的所述第二频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定所述预设数量个交叉点。
4.根据权利要求1所述的信号源位置确定方法,其特征在于,所述获取各个采样点的频谱扫描数据之后,还包括:
根据任一采样点的所述频谱扫描数据中的现网工作频段,确定所述任一采样点的采样点类型。
5.根据权利要求1所述的信号源位置确定方法,其特征在于,所述获取各个采样点的频谱扫描数据,包括:
利用扫频仪和相控阵天线采集各个所述采样点的所述频谱扫描数据。
6.根据权利要求1至5任一项所述的信号源位置确定方法,其特征在于,所述聚类所述预设数量个交叉点,确定交叉点聚类中心并将所述交叉点聚类中心作为信号源位置,包括:
基于k-means聚类算法聚类所述预设数量个交叉点,确定所述信号源位置。
7.一种信号源位置确定装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取各个采样点的频谱扫描数据;
第一确定模块,用于利用任两所述采样点的所述频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定预设数量个交叉点;
第二确定模块,用于聚类所述预设数量个交叉点,确定交叉点聚类中心并将所述交叉点聚类中心作为信号源位置。
8.根据权利要求7所述的信号源位置确定装置,其特征在于,所述第二确定模块还用于将所述信号源位置与预设现网工参基站位置进行匹配;当所述信号源位置与所述预设现网工参基站位置无法匹配时,则将所述信号源位置作为干扰源位置。
9.根据权利要求7所述的信号源位置确定装置,其特征在于,所述第一确定模块用于对各个所述采样点的所述频谱扫描数据进行频率维度降维,得到对应的第一频谱扫描数据;对各个所述第一频谱扫描数据进行去重,得到对应的第二频谱扫描数据;利用任两所述采样点的所述第二频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角,确定所述预设数量个交叉点。
10.根据权利要求7所述的信号源位置确定装置,其特征在于,所述获取模块还用于根据任一采样点的所述频谱扫描数据中的现网工作频段,确定所述任一采样点的采样点类型。
11.根据权利要求7所述的信号源位置确定装置,其特征在于,所述获取模块用于利用扫频仪和相控阵天线采集各个所述采样点的所述频谱扫描数据。
12.一种电子设备,所述电子设备包括:
处理器以及存储有计算机程序指令的存储器;所述处理器执行计算机程序指令时实现如权利要求1-6任意一项所述的信号源位置确定方法。
13.一种计算机存储介质,其特征在于,所述计算机存储介质上存储有计算机程序指令,所述计算机程序指令被处理器执行时实现如权利要求1-6任意一项所述的信号源位置确定方法。
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