CN112947784B - 触控面板和显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了触控面板和显示装置，触控面板和显示装置包括显示区，所述触控面板包括：多个触控块，每一列触控块的一侧设有对应的盲区，多个触控块和多个盲区均位于所述显示区中；测试电路，测试电路包括测试线，测试线位于对应的所述盲区中；该方案可以避免测试线横跨触控块，以避免部分触控块与其他触控块的结构存在差异，提高了触控面板和显示装置的触控性能。

Description

触控面板和显示装置

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及显示面板制造技术领域，具体涉及触控面板和显示装置。

背景技术

在屏下摄像头技术中，通常采用激光切割形成通孔以放置摄像头，其中激光切割容易产生裂纹导致断路，因此检测电路尤为重要。

其中，由于互容式触控面板包括和触控电极异层设置的桥接层，检测电路可以和桥接层同层设置以避免横跨触控电极；然而，自容式触控面板中大量的触控块均同层设置，检测电路和大量的触控块同层设置会横跨部分触控块，造成部分触控块与其他触控块的结构存在差异，导致触控面板的触控性能下降。

发明内容

本申请实施例提供触控面板和显示装置，以解决现有的检测电路和大量的触控块同层设置而横跨部分触控块，造成部分触控块与其他触控块的结构存在差异，导致触控面板的触控性能下降的问题。

本申请实施例提供触控面板，所述触控面板包括显示区，所述触控面板包括：

多个触控块，每一列所述触控块的一侧设有对应的盲区，多个所述触控块和多个所述盲区均位于所述显示区中；

测试电路，所述测试电路包括测试线，所述测试线位于对应的所述盲区中。

在一实施例中，还包括：

盲线，所述盲线位于所述盲区中，且所述盲线被多个间隙分割；

其中，所述测试线通过所述间隙形成连贯的路径。

在一实施例中，还包括非显示区，所述非显示区围绕所述显示区；

其中，所述测试线从对应的所述盲区延伸至所述非显示区。

在一实施例中，还包括绑定区，所述绑定区位于所述非显示区的一侧；

其中，所述测试电路还包括测试块，所述测试块位于所述绑定区，所述测试线经过对应的所述盲区和所述非显示区连接于所述测试块。

在一实施例中，所述挖孔区位于所述显示区中，所述挖孔区至少包括位于对应的所述盲区的部分；

其中，所述测试电路还包括连接线，所述连接线位于所述挖孔区，所述连接线连接所述测试线。

在一实施例中，多个所述触控块和所述测试线同层设置。

在一实施例中，多条触控线，每一所述触控线连接对应的所述触控块，且每一所述触控线经由对应的所述触控块延伸至对应的所述盲区中。

在一实施例中，还包括：

多个像素电极；

其中，每一所述触控块呈网格状，所述触控块中的网格与对应的所述像素电极相对设置。

在一实施例中，每一所述触控线呈网格状，所述触控线中的网格也与对应的所述像素电极相对设置。本申请实施例提供显示装置，所述显示装置包括如上文任一所述的触控面板。

本申请实施例提供的触控面板和显示装置，所述触控面板包括多个触控块和测试电路，每一列所述触控块的一侧设有对应的盲区，多个所述触控块和多个所述盲区均位于所述显示区中，所述测试电路包括测试线，通过将所述测试线设于对应的所述盲区中，以避免所述测试线横跨所述触控块，进一步避免部分所述触控块与其他所述触控块的结构存在差异，以此提高了所述触控面板和所述显示装置的触控性能。

附图说明

下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。

图1为本申请实施例提供的触控面板的俯视示意图。

图2为本申请实施例提供的触控面板的局部放大的俯视示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、连续地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“围绕”、“延伸”、“行”、“列”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。“连接”表示两者之间是连接的，不限制于是直接连接或者间接连接，全文中的“连接”可以理解为两者之间相互导通，呈电性连接。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

本申请实施例提供触控面板，所述触控面板包括但不限于以下实施例以及以下实施例的组合。

在一实施例中，如图1所示，所述触控面板100包括显示区01，所述触控面板100包括：多个触控块101，每一列所述触控块101的一侧设有对应的盲区02，多个所述触控块101和多个所述盲区02均位于所述显示区01中；测试电路，所述测试电路包括测试线1021，所述测试线1021位于对应的所述盲区02中。可以理解的，所述盲区02和多个所述触控块101无交集，将所述测试线1021设于所述盲区02中，即所述测试线1021和多个所述触控块101无交集，可以避免所述测试线1021横跨所述触控块101，进一步避免部分所述触控块101与其他所述触控块101的结构存在差异，以此提高了所述触控面板100的触控性能。

具体的，如图1所示，多个所述触控块101可以呈矩阵方式排列，多个所述触控块101可以沿第一方向和第二方向排列以形成对应的矩阵。其中，所述第一方向可以为每一行所述触控块101延伸的方向，所述第二方向可以为每一列所述触控块101延伸的方向，例如图1所示，每一行所述触控块101可以包括4个所述触控块101，每一列所述触控块101可以包括5个所述触控块101，或者每一行所述触控块101可以包括5个所述触控块101，每一列所述触控块101可以包括9个所述触控块101，此处对每一行所述触控块101中所述触控块101的数目和每一列所述触控块101中所述触控块101的数目不做限制。

在一实施例中，如图2所示，所述触控面板100还包括：盲线103，所述盲线103位于所述盲区02中，且所述盲线103被多个间隙03分割；其中，所述测试线1021通过所述间隙03形成连贯的路径。具体的，所述盲线103可以位于盲线区07，所述盲线103可以包括多个网格，相邻的网格之间具有所述间隙03以分割所述盲线103，使得所述盲线103保持断路状态。可以理解的，所述测试线1021可以包括多段测试子线，每一所述测试子线的两端分别位于相邻的两所述间隙03处，多段所述测试子线依次连接以形成连贯的路径，使得所述测试线1021保持通路状态。并且，所述测试线1021位于所述盲线区04中除去所述盲线103的区域，可以避免破坏所述盲线103的网格结构，提高了所述盲线103分布的均匀性。其中，多个所述网格的组成材料可以包括但不限于金属等导电材料，例如铜、铝。

在一实施例中，如图1所示，所述触控面板100还包括非显示区04，所述非显示区04围绕所述显示区01；其中，所述测试线1021从对应的所述盲区02延伸至所述非显示区04。可以理解的，所述非显示区04和多个所述触控块101无交集，因此所述测试线1021位于所述非显示区04中的部分仍然与多个所述触控块101无交集，同理，本实施例仍然可以避免所述测试线1021横跨所述触控块101。

进一步的，如图1所示，所述触控面板100还包括绑定区05，所述绑定区05位于所述非显示区04的一侧；其中，所述测试电路还包括测试块1022，所述测试块1022位于所述绑定区05，所述测试线1021经过对应的所述盲区02和所述非显示区04连接于所述测试块1022。具体的，如图1所示，所述测试线1021可以从所述盲区02向上延伸至上方的所述非显示区04，再从上方的所述非显示区04延伸至左侧或者右侧的所述非显示区04，再从左侧或者右侧的所述非显示区04向下延伸至所述绑定区05，直至连接对应的所述测试块1022。可以理解的，所述非显示区04和多个所述触控块101无交集，因此所述测试线1021位于所述非显示区04中的部分仍然与多个所述触控块101无交集，同理，本实施例仍然可以避免所述测试线1021横跨所述触控块101。

再进一步的，如图1、2所示，所述触控面板100还包括挖孔区06，所述挖孔区06位于所述显示区01中，所述挖孔区06至少包括位于对应的所述盲区02的部分；其中，所述测试电路还包括连接线1023，所述连接线1023位于所述挖孔区06，所述连接线1023连接所述测试线1021。其中，所述挖孔区06可以设置摄像器件，为了避免占用所述触控块101的面积，可以优先将所述挖孔区06设于所述盲区02中，或者将所述挖孔区06的大部分设于所述盲区02中。具体的，所述连接线1023可以呈环绕状，即所述连接线1023可以沿着所述挖孔区06的轮廓分布，进一步的，所述连接线1023可以环绕为单层、双层或者更多层。具体的，所述连接线1023包括两端，所述连接线1023的所述两端可以分别连接对应的所述测试线1021以形成连贯的路径，两根所述测试线1021分别连接对应的所述测试块1022。进一步的，可以在两个所述测试块1022之间可以串联一个电阻表以测量对应的电阻值，可以理解的，所述电阻表、两个所述测试块1022、两根所述测试线1021和所述连接线1023共通形成一通路，所述电阻表测量到的电阻值为两个所述测试块1022、两根所述测试线1021和所述连接线1023串联后的电阻值。可以理解的，若所述电阻表测量到的电阻值无限大则表示所述“连贯的路径”为断路，可以大概率认为所述挖孔区06的周围存在裂纹，即可以通过所述测试电路来大致判断所述挖孔区06的周围是否存在裂纹。

可以理解的，所述测试线1021的分布和所述挖孔区06的位置相关。例如，如图1所示，当所述挖孔区06的边界位于所述盲区02中时，所述测试线1021必然从所述盲区02引出，再依次延伸至所述非显示区04和所述绑定区05；又例如，当所述挖孔区06的边界和所述非显示区04的边界相切时，所述测试线1021可以直接从所述非显示区04引出，并延伸至所述绑定区05；再例如，当所述挖孔区06的边界位于上下相邻两个所述触控块101之间时，所述测试线1021则先从上下相邻两个所述触控块101之间的区域引出，再依次延伸至所述盲区02、所述非显示区04和所述绑定区05。

在一实施例中，如图1、2所示，多个所述触控块101和所述测试线1021同层设置。可以理解的，多个所述触控块101同层设置，在此基础上将所述测试线1021和多个所述触控块101同层设置可以有效减小所述触控面板100的厚度。进一步的，根据上文论述可知，由于所述测试线1021位于所述盲区02，且所述盲区02位于对应的一列所述触控块101的一侧，即所述测试线1021和多个所述触控块101无交集。因此，本实施例可以在轻薄化所述触控面板100的同时提高所述触控面板100的触控性能。

在一实施例中，如图1、2所示，所述触控面板100还包括：多条触控线104，每一所述触控线104连接对应的所述触控块101，且每一所述触控线104经由对应的所述触控块101延伸至对应的所述盲区02中。具体的，多条所述触控线104和多个所述触控块101一一对应且连接，多条所述触控线104位于所述盲区02中的触控线区08，所述触控线区08和所述盲线区07无交集；所述触控面板100还包括触控连接垫105，所述触控连接垫105位于所述绑定区05，所述触控连接垫105的数目可以根据所述触控块101的数目进行设置；所述触控面板100还包括弯折区09，所述弯折区09位于所述绑定区05和所述非显示区04之间，所述触控面板100在所述弯折区09弯折以使得所述绑定区05位于所述显示区01和所述非显示区04的背面，多条所述触控线104还依次经由对应的所述盲区02、所述弯折区09和所述绑定区05的部分区域延伸至所述触控连接垫105，并且多条所述触控线104连接所述触控连接垫105。具体的，如图1所示，所述触控面板100可以包括四列所述触控块101和两个所述触控连接垫105，每两列所述触控块101可以连接同一所述触控连接垫105。其中，所述触控连接垫105可以外接对应的触控线路以获取对应的触控信号，进一步的，所述触控连接垫105可以向对应的所述触控线104传输触控信号以使对应的所述触控块101被加载对应的所述触控信号。当然，所述触控块101也可以通过对应的所述触控线104、对应的所述触控连接垫105向所述触控线路传输对应的感应信号。

需要注意的是，当所述挖孔区06包括位于所述盲区02中的部分时，应该避免所述挖孔区06横跨所述触控线104以干扰所述触控线104工作的可靠性，进一步的，由于每一所述触控块101均连接对应的所述触控线104，所述挖孔区06可以和第一行所述触控块101同行设置。需要注意的是，当所述挖孔区06的边界位于上下相邻两个所述触控块101之间时，以图1为例，由于每一所述盲区02位于对应的一列所述触控块101的右侧，即多条触控线104位于对应的一列所述触控块101的右侧，此时可以将所述测试线1021从上下相邻两个所述触控块101之间的区域延伸至左侧的所述盲区02中，以避免横跨所述触控线104。

在一实施例中，如图2所示，所述触控面板100还包括：多个像素电极106；其中，每一所述触控块101呈网格状，所述触控块101中的网格与对应的所述像素电极106相对设置。进一步的，在所述触控面板100的俯视视角中，所述触控块101中的每一个所述网格中均可以设有对应的所述像素电极106，以提高所述触控面板100的分辨率；具体的，每一所述像素电极106的形状可以和对应的所述网格的形状一致以最大化所述像素电极106的面积，以提高所述触控面板100的透光率。进一步的，如图2所示，每一所述触控线104呈网格状，所述触控线104中的网格中也与对应的所述像素电极106相对设置。结合上文可知，所述盲线103可以包括多个网格，且所述盲线103中相邻两个所述网格被对应的所述间隙03分隔，所述盲线103中的网格与对应的所述像素电极106相对设置，进一步的，所述测试线1021可以沿着对应的所述像素电极106外围轮廓分布，以避免横跨对应的所述像素电极106。可以理解的，所述触控块101、所述盲线103和所述触控线104均呈网格状，即所述显示区01中布满网格状的线路，这样可以提高所述触控面板100中线路分布的均一性，避免不同区域中的透光率、电容或者其它参数差异过大。

可以理解的，所述触控块101中的多个所述网格之间相互连接以形成连贯的路线，所述触控线104中的多个所述网格之间也相互连接以形成连贯的路线，进一步的，所述触控块101中的至少一个所述网格和所述触控线104中的至少一个所述网格连接以使得所述触控块101和对应的所述触控线104连接。需要注意的是，每一所述盲区02中的所述触控线区08中包括多条所述触控线104，多条所述触控线104和对应的一列所述触控块101中多个所述触控块101一一对应且连接，因此，每一所述盲区02中的所述触控线区08中任意两条所述触控线104之间绝缘。

进一步的，如图1所示，所述触控面板100还包括：显示连接垫108，所述显示连接垫108位于所述绑定区05，多个像素电极106和所述显示连接垫108连接。具体的，所述触控面板100还包括多条栅极线和多条数据线，每一所述栅极线连接对应的一行所述像素电极106，每一所述数据线连接对应的一列所述像素电极106。其中，多条所述栅极线或者多条所述数据线可以连接所述显示连接垫108，同理，所述显示连接垫108外接对应的栅极线路以获取对应的栅极信号，或者外接对应的数据线路以获取对应的数据信号。

本申请实施例提供显示装置，所述显示装置包括如上文任一所述的触控面板。

本申请实施例提供的触控面板和显示装置，所述触控面板包括多个触控块和测试电路，每一列所述触控块的一侧设有对应的盲区，多个所述触控块和多个所述盲区均位于所述显示区中，所述测试电路包括测试线，通过将所述测试线设于对应的所述盲区中，以避免所述测试线横跨所述触控块，进一步避免部分所述触控块与其他所述触控块的结构存在差异，以此提高了所述触控面板和所述显示装置的触控性能。

以上对本申请实施例所提供的触控面板和显示装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。

Claims (8)

1.一种触控面板，其特征在于，所述触控面板包括显示区，所述触控面板包括：

多个触控块，每一列所述触控块的一侧设有对应的盲区，多个所述触控块和多个所述盲区均位于所述显示区中；

测试电路，所述测试电路包括测试线，所述测试线位于对应的所述盲区中；

盲线，所述盲线位于所述盲区中，且所述盲线被多个间隙分割，所述盲线包括多个网格，相邻的两所述网格之间具有所述间隙；

其中，所述测试线通过所述间隙形成连贯的路径；

其中，所述触控面板还包括挖孔区，所述挖孔区位于所述显示区中，所述挖孔区至少包括位于对应的所述盲区的部分；

其中，所述测试电路还包括连接线，所述连接线位于所述挖孔区，所述连接线连接所述测试线。

2.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于，还包括非显示区，所述非显示区围绕所述显示区；

其中，所述测试线从对应的所述盲区延伸至所述非显示区。

3.如权利要求2所述的触控面板，其特征在于，还包括绑定区，所述绑定区位于所述非显示区的一侧；

其中，所述测试电路还包括测试块，所述测试块位于所述绑定区，所述测试线经过对应的所述盲区和所述非显示区连接于所述测试块。

4.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于，多个所述触控块和所述测试线同层设置。

5.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于，还包括：

多条触控线，每一所述触控线连接对应的所述触控块，且每一所述触控线经由对应的所述触控块延伸至对应的所述盲区中。

6.如权利要求5所述的触控面板，其特征在于，还包括：

多个像素电极；

其中，每一所述触控块呈网格状，所述触控块中的网格与对应的所述像素电极相对设置。

7.如权利要求6所述的触控面板，其特征在于，每一所述触控线呈网格状，所述触控线中的网格也与对应的所述像素电极相对设置。

8.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括如权利要求1至7中任一所述的触控面板。

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