CN112924783B

CN112924783B - 一种模组的测试方法、装置、设备及介质

Info

Publication number: CN112924783B
Application number: CN202110112105.6A
Authority: CN
Inventors: 王晓斌; 许杨柳; 邓爱国
Original assignee: Kunshanqiu Titanium Photoelectric Technology Co Ltd
Current assignee: Kunshanqiu Titanium Photoelectric Technology Co Ltd
Priority date: 2021-01-27
Filing date: 2021-01-27
Publication date: 2023-10-20
Anticipated expiration: 2041-01-27
Also published as: CN112924783A

Abstract

本发明公开了模组的测试方法、装置、设备及介质，方法包括：在待测模组上电前，在老化环境中对所述待测模组的管脚进行开路短路测试，获得第一测试数据；将所述待测模组进行上电，并对上电后的所述待测模组进行老化测试；在所述待测模组老化测试后，在老化环境中对已经下电的所述待测模组的管脚进行开路短路测试，获得第二测试数据；比较所述第一测试数据和所述第二测试数据，确定所述待测模组的测试结果。本发明提供的方法、装置、设备及介质用以解决现有开路短路测试的通过率低的技术问题。实现了提高测试通过率的技术效果。

Description

一种模组的测试方法、装置、设备及介质

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种模组的测试方法、装置、设备及介质。

背景技术

目前，各行业分工细化，终端厂家往往从模组厂购买模组产品来进行组装。而为了保证所购买的模组产品满足自身终端产品的质量要求，对模组厂的物料、生产环境、生产参数等均有越来越高的管控要求。

为了保证模组产品的质量，在量产前模组厂家往往会根据终端厂家的要求对模组产品进行老化试验，要求产品在一定的非室温状态下，产品的性能仍能达到终端标准。开路短路(OPEN SHORT，O/S)测试为其中一种重要测试项。

目前老化试验的O/S测试，基于老化后的O/S测试数据来确定测试结果，而由于老化时的环境温度与常规测试的室温有差距，故仍用常规温度下的O/S测试规格去管控老化测试环境下获得的O/S测试数据，会导致较低的测试通过率。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的模组的测试方法、装置、设备及介质。

第一方面，提供一种模组的测试方法，包括：

在待测模组上电前，在老化环境中对所述待测模组的管脚进行开路短路测试，获得第一测试数据；

将所述待测模组进行上电，并对上电后的所述待测模组进行老化测试；

在所述待测模组老化测试后，在老化环境中对已经下电的所述待测模组的管脚进行开路短路测试，获得第二测试数据；

比较所述第一测试数据和所述第二测试数据，确定所述待测模组的测试结果。

可选的，所述第一测试数据和所述第二测试数据为测试的所述管脚的压降。

可选的，对所述待测模组的管脚进行开路短路测试，包括：对所述待测模组的管脚施加1mA的测试电流。

可选的，所述比较所述第一测试数据和所述第二测试数据，确定所述待测模组的测试结果，包括：确定所述第一测试数据和所述第二测试数据之间的差异值；比较所述差异值与预设的标准值，根据比较结果确定所述待测模组的测试结果。

可选的，在所述确定所述待测模组的测试结果之后，还包括：如果所述测试结果为存在开路短路现象，则确定所述待测模组不通过所述老化测试；如果所述测试结果为不存在开路短路现象，则继续对所述待测模组进行下一次老化测试或确定所述待测模组通过所述老化测试。

第二方面，提供一种模组的测试装置，包括：

前测模块，用于在待测模组上电前，在老化环境中对所述待测模组的管脚进行开路短路测试，获得第一测试数据；

后测模块，用于在所述待测模组老化测试后，在老化环境中对已经下电的所述待测模组的管脚进行开路短路测试，获得第二测试数据；

确定模块，用于比较所述第一测试数据和所述第二测试数据，确定所述待测模组的测试结果。

可选的，所述确定模块还用于：确定所述第一测试数据和所述第二测试数据之间的差异值；比较所述差异值与预设的标准值，根据比较结果确定所述待测模组的测试结果。

可选的，所述测试装置还包括处理模块，用于：如果所述测试结果为存在开路短路现象，则确定所述待测模组不通过所述老化测试；如果所述测试结果为不存在开路短路现象，则继续对所述待测模组进行下一次老化测试或确定所述待测模组通过所述老化测试。

第三方面，提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现第一方面中任一所述方法的步骤。

第四方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现第一方面中任一所述方法的步骤。

本发明实施例中提供的技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

本发明实施例提供的模组的测试方法、装置、设备及系统，在老化前待测模组上电前，在老化环境中对待测模组的管脚进行O/S测试，获得第一测试数据，在老化后待测模组下电后，在老化环境中对待测模组的管脚进行O/S测试，获得第二测试数据。并根据比较两次测试数据来确定待测模组的测试结果。避免了用常规温度下的O/S测试规格去管控老化测试环境下获得的O/S测试数据，导致的较低的测试通过率。在保证有效识别出O/S测试异常模组的基础上，提高了测试通过率。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

图1为本发明实施例中模组的测试方法的流程图；

图2为本发明实施例中模组的测试装置的示意图；

图3为本发明实施例中电子设备的示意图；

图4为本发明实施例中存储介质的示意图。

具体实施方式

本发明实施例中的技术方案，总体思路如下：

本实施例设置在老化环境中对待测模组的管脚在老化前后进行开路短路测试，获得第一测试数据和第二测试数据，并通过比较两个测试数据，即能保证有效识别出老化后管脚异常的模组，也避免了用常规温度下的O/S测试规格去管控老化测试环境下获得的O/S测试数据，导致的较低的测试通过率的问题。

下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。

本实施例提供了一种模组的测试方法，如图1所示，包括：

步骤S101，在待测模组上电前，在老化环境中对所述待测模组的管脚进行开路短路测试，获得第一测试数据；

步骤S102，将所述待测模组进行上电，并对上电后的所述待测模组进行老化测试；

步骤S103，在所述待测模组老化测试后，在老化环境中对已经下电的所述待测模组的管脚进行开路短路测试，获得第二测试数据；

步骤S104，比较所述第一测试数据和所述第二测试数据，确定所述待测模组的测试结果。

本实施例提供的测试方法可以应用于老化机台、测试线或测试控制设备等，在此不作限制。

需要说明的是，对模组的O/S测试主要是测试管脚的电压，而管脚对应的二极管主要是PN结结构，PN结温度传感器的基本方程为和/>其中，I_F是理想的PN结正向电流；I_m是PN结反向饱和电流；q是电子电量；V_g(0)是热力学温度T＝0时，PN结的能带结构中，它的导带底和价带顶之间的电势差；K是波尔兹曼常数；r是热学中的比热比，也是一个常数；T是热力学温度；C是与半导体截面积、掺杂浓度等因素有关的常数。对应的/>其中，V_F是O/S测试获得的压降。将V_F按照与T的线性关系可以分为V_F＝V₁+V_n1，/> 可见，当正向电流I_F为常数时，V₁是T的线性项，V_n1是T的非线性项，正向压降V_F只随温度的变化而变化，但其中的非线性项V_n1引起的非线性误差很小(据验证，在室温下，r＝1.4时求得的实际响应对线性的理论偏差仅为0.048mV)。因此，在恒流供电的情况下，PN结的正向压降V_F对温度T的依赖关系主要取决于线性项V₁，即正向压降V_F随温度T的升高而线性的下降。

基于上述分析，如果按现有技术采用常规室温下的O/S测试规格作为评判标准，来评判老化后对模组进行O/S测试获得的测试数据是否符合要求，由于温度T已经产生变化，对应的正向压降V_F也会变化，故会导致测试结果的误判，影响测试通过率。

下面结合图1详细介绍本实施例提供的方法的实施步骤：

首先，执行步骤S101，在待测模组上电前，在老化环境中对所述待测模组的管脚进行开路短路测试，获得第一测试数据。

O/S测试是测试模组的管脚是否有开路现象或者与其他管脚是否存在短路现象。如果产品已经存在开路或者短路的现象，那么后续的其他老化测试项目就没有意义了，故通过O/S测试可以提前识别出失效的模组，节省测试时间。需要说明的是，本实施例的O/S测试均是在模组下电状态下进行的测试，以保证测试结果的准确性。

具体来讲，将待测模组放置到老化设备中处于老化环境后，在老化试验前且在上电前对待测模组的管脚进行O/S测试。具体可以对待测模组的每个待测管脚均进行O/S测试，并将获得的第一测试数据与对应的待测模组绑定，具体可以与待测模组的各个管脚绑定。

例如，按下表1绑定存储第一测试数据：

表1

在具体实施过程中，O/S测试获得的测试数据(第一测试数据以及后续获得的第二测试数据)可以为测试的所述管脚的压降。即对待测模组的管脚施加1mA的测试电流，管脚的二极管(也称为P/N结)导通后，测试该管脚的电压(V_F)作为测试数据。当然也可以施加电压测试获得电流作为测试数据，下次不作限制。

然后，执行步骤S102，将所述待测模组进行上电，并对上电后的所述待测模组进行老化测试。

模组上电后的老化测试项目及老化测试流程可以根据终端客户的要求来进行对应设置。在此不作累述。

在老化测试中如果出现测试异常则停止对应异常模组的老化，并输出老化异常的信息。如果老化测试中没有出现测试异常，则完成该次老化的所有测试项目后对模组下电。

接下来，执行步骤S103，在所述待测模组老化测试后，在老化环境中对已经下电的所述待测模组的管脚进行开路短路测试，获得第二测试数据。

具体来讲，老化后下电后再次对待测模组进行O/S测试的测试方法及第二测试数据的存储方法与老化后上电前的O/S测试相同，在此不作累述。

再下来，执行步骤S104，比较所述第一测试数据和所述第二测试数据，确定所述待测模组的测试结果。

在具体实施过程中，比较所述第一测试数据和所述第二测试数据，确定所述待测模组的测试结果的方法可以有多种，下面列举两种为例：

第一种，计算差异值。

即先确定第一测试数据和第二测试数据之间的差异值，再比较差异值与预设的标准值，根据比较结果确定所述待测模组的测试结果。

具体来讲，该差异值可以是第一测试数据和第二测试数据的差值，也可以是第一测试数据和第二测试数据的方差值，或第一测试数据和第二测试数据的比值，只要能标准第一测试数据和第二测试数据的差异即可，在此不作限制，也不再一一列举。预设的标准值可以是经验值，也可以是终端客户要求的规格值，在此也不作限制。

以该差异值为第一测试数据和第二测试数据的差值为例，如下表2所示：

表2

其中，第一列为管脚标号，第二列为管脚名称，第三列和第四列为常规室温下该管脚的规格要求，第五列和第六列分别为第一测试数据和第二测试数据，第七列为第一测试数据和第二测试数据的差值，第八列为预设的标准值，第九列为测试结果。可见，当第七列的差值小于预设的标准值时，测试结果为合格(OK)。

第二种，机器学习算法。

预先采用大量的历史测试数据训练基于机器学习算法的测试结果分析模型，在测试时，将第一测试数据和第二测试数据输入该分析模型，通过模型比较分析确定出待测模组的测试结果。

当然，在具体实施过程中，比较第一测试数据和第二测试数据，确定待测模组的测试结果的方法不限于上述两种，在此不作限制，也不再一一列举。

在确定了待测模组的测试结果之后，如果测试结果为存在开路短路现象(NO或不合格)，则确定所述待测模组不通过，估计是在老化测试时失效。需要剔除该模组，或将该模组作为老化数据里的失效数。如果测试结果为不存在开路短路现象(OK或合格)，则继续对该待测模组进行下一次老化测试或在老化达到预设次数要求后，确定该待测模组通过老化测试，并计入老化数据里的合格数。

具体来讲，本发明在老化前待测模组上电前，在老化环境中对待测模组的管脚进行O/S测试，获得第一测试数据，在老化后待测模组下电后，在老化环境中对待测模组的管脚进行O/S测试，获得第二测试数据。并根据比较两次测试数据来确定待测模组的测试结果。避免了用常规温度下的O/S测试规格去管控老化测试环境下获得的O/S测试数据，导致的较低的测试通过率。在保证有效识别出O/S测试异常模组的基础上，提高了测试通过率。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种模组的测试装置，如图2所示，包括：

前测模块201，用于在待测模组上电前，在老化环境中对所述待测模组的管脚进行开路短路测试，获得第一测试数据；

后测模块202，用于在所述待测模组老化测试后，在老化环境中对已经下电的所述待测模组的管脚进行开路短路测试，获得第二测试数据；

确定模块203，用于比较所述第一测试数据和所述第二测试数据，确定所述待测模组的测试结果。

本实施例提供的测试装置可以为老化机台、测试线或测试控制设备等，该装置可以为计算机、服务器等有计算或存储功能的设备装置。该装置可以为独立的计算设备，也可以为集成于产线或机台的计算模块，在此不作限制。

可选的，确定模块203还用于：

确定所述第一测试数据和所述第二测试数据之间的差异值；

比较所述差异值与预设的标准值，根据比较结果确定所述待测模组的测试结果。

可选的，该测试装置还包括处理模块，用于：

如果所述测试结果为存在开路短路现象，则确定所述待测模组不通过所述老化测试；

如果所述测试结果为不存在开路短路现象，则继续对所述待测模组进行下一次老化测试或确定所述待测模组通过所述老化测试。

由于本发明实施例所介绍的装置，为实施本发明实施例的方法所采用的装置，故而基于本发明实施例所介绍的方法，本领域所属人员能够了解该装置的具体结构及变形，故而在此不再赘述。凡是本发明实施例的方法所采用的装置都属于本发明所欲保护的范围。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种电子设备，如图3所示，包括存储器310、处理器320及存储在存储器310上并可在处理器320上运行的计算机程序311，所述处理器320执行所述计算机程序311时实现以下步骤：

在本发明实施例中，所述处理器320执行所述计算机程序311时可以实现本发明实施例的方法中任一实施方式。

由于本发明实施例所介绍的电子设备，为实施本发明实施例的方法所采用的设备，故而基于本发明实施例所介绍的方法，本领域所属人员能够了解该设备的具体结构及变形，故而在此不再赘述。凡是本发明实施例的方法所采用的设备都属于本发明所欲保护的范围。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质400，如图4所示，其上存储有计算机程序411，该计算机程序411被处理器执行时实现以下步骤：

在具体实施过程中，该计算机程序411被处理器执行时，可以实现本发明实施例的方法中任一实施方式。

由于本发明实施例所介绍的存储介质，为实施本发明实施例的方法对应的计算机程序所处于的存储介质，故而基于本发明实施例所介绍的方法，本领域所属人员能够了解该存储介质内存储的计算机程序，故而在此不再赘述。凡是本发明实施例的方法的计算机程序所存储于的存储介质都属于本发明所欲保护的范围。

在此提供的算法和显示不与任何特定计算机、虚拟系统或者其它设备固有相关。各种通用系统也可以与基于在此的示教一起使用。根据上面的描述，构造这类系统所要求的结构是显而易见的。此外，本发明也不针对任何特定编程语言。应当明白，可以利用各种编程语言实现在此描述的本发明的内容，并且上面对特定语言所做的描述是为了披露本发明的最佳实施方式。

在此处所提供的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。

类似地，应当理解，为了精简本公开并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在上面对本发明的示例性实施例的描述中，本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该公开的方法解释成反映如下意图：即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如下面的权利要求书所反映的那样，发明方面在于少于前面公开的单个实施例的所有特征。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。

本领域那些技术人员可以理解，可以对实施例中的设备中的模块进行自适应性地改变并且把它们设置在与该实施例不同的一个或多个设备中。可以把实施例中的模块或单元或组件组合成一个模块或单元或组件，以及此外可以把它们分成多个子模块或子单元或子组件。除了这样的特征和/或过程或者单元中的至少一些是相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。

此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在下面的权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。

本发明的各个部件实施例可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的网关、代理服务器、系统中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或者以任何其他形式提供。

应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的部件或步骤。位于部件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的部件。本发明可以借助于包括有若干不同部件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

Claims

1.一种模组的测试方法，其特征在于，包括：

比较所述第一测试数据和所述第二测试数据，确定所述待测模组的测试结果；

如果所述测试结果为不存在开路短路现象，则继续对所述待测模组进行下一次老化测试或确定所述待测模组通过所述老化测试；

其中，对所述待测模组的管脚进行开路短路测试，包括：当对所述待测模组的管脚施加测试电流时，则所述第一测试数据和所述第二测试数据为测试的所述管脚的压降；

当对所述待测模组的管脚施加测试电压时，则所述第一测试数据和所述第二测试数据为测试的所述管脚的电流。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，对所述待测模组的管脚进行开路短路测试，包括：

对所述待测模组的管脚施加1mA的测试电流。

3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述比较所述第一测试数据和所述第二测试数据，确定所述待测模组的测试结果，包括：

确定所述第一测试数据和所述第二测试数据之间的差异值；

4.一种模组的测试装置，其特征在于，包括：

后测模块，在老化环境中对已经下电的所述待测模组的管脚进行开路短路测试，获得第二测试数据；

确定模块，用于比较所述第一测试数据和所述第二测试数据，确定所述待测模组的测试结果；

处理模块，用于如果所述测试结果为存在开路短路现象，则确定所述待测模组不通过老化测试；

其中，对所述待测模组的管脚进行开路短路测试，包括：当对所述待测模组的管脚施加测试电流时，则所述第一测试数据和所述第二测试数据为测试的所述管脚的压降；当对所述待测模组的管脚施加测试电压时，则所述第一测试数据和所述第二测试数据为测试的所述管脚的电流。

5.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述确定模块还用于：

确定所述第一测试数据和所述第二测试数据之间的差异值；

6.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1-4中任一项所述方法的步骤。

7.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现权利要求1-4中任一项所述方法的步骤。