CN112924110A

CN112924110A - 密封装置检测方法、装置、设备及存储介质

Info

Publication number: CN112924110A
Application number: CN202110290388.3A
Authority: CN
Inventors: 方兴; 郑登科; 翁文庆; 李剑波; 张伟
Original assignee: China General Nuclear Power Corp; China Nuclear Power Technology Research Institute Co Ltd; CGN Power Co Ltd
Current assignee: China General Nuclear Power Corp; China Nuclear Power Technology Research Institute Co Ltd; CGN Power Co Ltd
Priority date: 2021-03-18
Filing date: 2021-03-18
Publication date: 2021-06-08
Anticipated expiration: 2041-03-18
Also published as: CN112924110B

Abstract

本申请实施例提供了一种密封装置率检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，该方法通过为密封装置输入不同试验压力的气体；并在第一预设时间段后采集对应的多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率；根据多个试验压力下的泄漏率、流动方程以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率；以此来检测密封装置是否合格。本申请通过低于设计压力的气体对密封装置进行试验，使得在对密封装置是否合格的检测过程均在压力较低的环境下进行，降低了人身伤害以及设备损坏等不安全事故发生的概率；同时缩短了密封装置的检测时间，降低了检测成本，增加了密封装置带来的经济收益。

Description

密封装置检测方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种密封装置检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

大多数密封装置上都有焊接缝、阀门、电缆孔等使密封装置中的气体泄漏到大气中的结构，为了检测一个密封装置是否合格，就需要确定密封装置的泄漏率。为了得到密封装置更为准确的泄漏率，通常会为密封装置输入设计压力的气体对密封装置是否合格进行检测(设计压力指设定在密封装置的最高压力，其值不低于密封装置的工作压力)，然后通过设置在密封装置内的各传感器获取例如可以是温度、压力、湿度等数据，并根据该数据计算得到该密封装置在设计压力下的泄漏率，然后将计算值与设计压力下的最大允许泄漏率进行比对，根据比对结果检测该密封装置是否合格。但通过设计压力对密封装置进行检测，其检测时间较长，且安全性差，容易造成人身伤害以及设备损坏。

发明内容

本申请实施例提供了一种密封装置检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，可以通过远低于设计压力的气体检测密封装置的密封性能，进一步判断密封装置是否合格，检测时间短，安全性好。

本申请实施例的第一方面提供了一种密封装置检测方法，该方法通过密封装置检测设备执行，包括：

为密封装置输入不同试验压力的气体；试验压力大于标准大气压且小于设计压力；

在将试验压力的气体输入至密封装置预设时间段后采集对应的多组数据，数据为设置在密封装置内的传感器采集的数据；

根据多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率；

根据多个试验压力下的泄漏率、流动方程以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率；

根据试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格。

本申请实施例的第二方面提供了一种密封装置检测装置，该装置包括：

输入模块，用于为密封装置输入不同试验压力的气体；试验压力大于标准大气压且小于设计压力；

采集模块，用于在将试验压力的气体输入至密封装置预设时间段后采集对应的多组数据，数据为设置在密封装置内的传感器采集的数据；

处理模块，用于根据多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率；

处理模块，还用于根据多个试验压力下的泄漏率、流动方程以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率；

处理模块，还用于根据试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格。

本申请实施例的第三方面提供了一种密封装置检测设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述任一项方法的步骤。

本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述任一项方法的步骤。

本申请实施例提供了一种密封装置检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，该方法通过为密封装置输入不同试验压力的气体；该试验压力大于标准大气压且小于设计压力；在将试验压力的气体输入至密封装置第一预设时间段后采集对应的多组数据，该数据为设置在密封装置内的传感器采集的数据；根据多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率；根据多个试验压力下的泄漏率、流动方程以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率；根据试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格。本申请通过低于设计压力的气体对密封装置进行试验，并根据试验数据计算得到在试验压力下的最大允许泄漏率，在预设时间段后只需要根据试验压力下的最大允许泄漏率检测该密封装置是否合格，不需要再输入设计压力的气体至该密封装置进行检测，使得在对密封装置是否合格的检测过程均在压力较低的环境下进行，降低了人身伤害以及设备损坏等不安全事故发生的概率；同时由于设计压力在输入密封装置所需的时间以及采集数据所需的时间均大于较低压力下的时间，所以本申请的检测过程在较低压力完成缩短了密封装置的检测时间，且能够降低检测成本，增加密封装置带来的经济收益。

附图说明

图1为一个实施例中密封装置检测方法的应用环境图；

图2为另一个实施例中密封装置检测方法的流程示意图；

图3为另一个实施例中密封装置检测方法的流程示意图；

图4为另一个实施例中密封装置检测方法的流程示意图；

图5为一个实施例中密封装置的泄漏率检测装置的结构框图；

图6为一个实施例中密封装置的泄漏率检测设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本申请提供的密封装置的泄漏率检测方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。其中，密封装置检测设备102中的输入模块通过管道与密封装置104连接，密封装置检测设备102中的采集模块设置在密封装置104内并通过网络与密封装置的检测设备102中的处理模块进行通信。密封装置检测设备102能够通过管道为密封装置104输入不同压力的气体，检测设备102中的处理模块能够通过设置在密封装置104内的传感器获取多组不同类型的数据计算得到对应的多个泄漏率，进一步得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率，并根据该试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格。其中，密封装置检测设备102的处理模块可以但不限于是各种计算机设备、独立的服务器或者是多个服务器组成的服务器集群。

在一个实施例中，如图2所示，提供了一种密封装置检测方法，以该方法应用于图1中的密封装置检测设备为例进行说明，包括以下步骤：

步骤S202，为密封装置输入不同试验压力的气体；所述试验压力大于标准大气压且小于设计压力。

其中，密封装置例如可以是核电站的安全壳、发酵罐、天然气储藏罐等装置；试验压力为绝对压力，不同试验压力例如可以是0.2MPa、0.25MPa、0.30MPa等大于标准大气压且小于设计压力的多组试验压力。

示例性的，密封装置检测设备可以根据压力值为0.2MPa、0.25MPa、0.30MPa等小于设计压力的多组试验压力确定输入密封装置内气体的质量，然后按照预设的气体质量为密封装置输入不同质量的气体，以使该密封装置内气体压力的压力值等于试验压力的压力值，且在不同的时刻使密封装置内气体的压力值不同。例如，在第一时刻为密封装置输入50kg的气体，该密封装置内的压力为0.15MPa，第二时刻为密封装置输入100kg的气体，该密封装置内可以是有149kg(从第一时刻到第二时刻，密封装置可能泄漏了1kg的气体)，那么该密封装置内的压力为0.28MPa。

步骤S204，在将试验压力的气体输入至密封装置第一预设时间段后按照预设的时间间隔采集对应的多组数据，数据为设置在密封装置内的传感器采集的数据。

其中，第一预设时间段可以是2min、5min、10min等，预设的时间间隔例如可以是1min、2min、3min等；可选的，数据包括温度数据、湿度数据以及压力数据；该数据可以是由设置在密封装置内的温度传感器、湿度传感器、压力传感器采集，每一种传感器的数量至少包括一个，还可以是多个，那么每一次采集到的温度数据、湿度数据等可以包括多个。需要说明的是，各类传感器可以是一直不间断的采集数据，检测设备可以是设置获取数据的时间段，以确定在某一时刻开始获取数据，在另一个时刻结束获取数据。

示例性的，首先为密封装置输入100kg气体，此时该密封装置内的压力为0.28MPa，在经过2min后，检测设备按照60s的时间间隔开始获取密封装置内设备的传感器采集的数据，例如为：在第一个60s采集的一组温度数据为：10℃、11℃、10.2℃、10.4℃、9.8℃……(有几个温度传感器就获取几个温度数据)；一组湿度数据，例如为：1％RH、1.001％RH、0.009％RH、1.002％RH、1.010％RH……(有几个湿度传感器就获取几个湿度数据)；一组压力数据，例如为：0.212MPa、0.213MPa、0.214MPa、0.217MPa、0.216MPa……(有几个压力传感器就获取几个压力数据)。然后，在第二个60s采集的一组温度数据为：9.1℃、9.11℃、9.12℃、9.13℃、9.15℃……；一组湿度数据，例如为：1.011％RH、1.008％RH、1.009％RH、1.010％RH、1.012％RH……；一组压力数据，例如为：0.19MPa、0.204MPa、0.201MPa、0.202MPa、0.211MPa……。以此类推，可以是或者至少100组这样的数据。然后根据这些数据计算该密封装置在0.28MPa试验压力下的泄漏率。

步骤S206，根据多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率。

示例性的，泄漏率可以根据下述方法计算得到：

当密封装置内输入的是干空气时，可以是根据下述公式得到密封装置内干空气的质量：

其中，P_i表示第i组数据对应的密封装置内空气的绝对压力(单位为MPa)；P_Vi表示第i组数据对应的密封装置内水蒸气加权平均分压力(单位为MPa)；T_i表示第i组数据对应的密封装置内空气加权平均温度(单位为K)；V表示密封装置内自由空间的容积(单位为m3)；R表示干空气气体常数，287.0J/(kg·K)。

每一个时间点t_i对应的密封装置内水蒸气加权平均分压力可以按照下列公式计算得到：

其中，H_ji表示第j个湿度传感器在第i时刻的相对湿度(％RH)；T_ji表示第j个温度传感器在第i时刻的温度(℃)；a、b、c为常数。

那么，密封装置在一个试验压力下的泄漏率可以通过下列公式计算得到：

其中，L_am表示泄漏率，

需要说明的是，每一个试验压力下的泄漏率都可以参照上述方法计算得到，该计算过程可以是通过计算机、服务器等具有强大计算功能的设备计算得到，不需要人工进行计算，计算结果更加的准确，效率也更高。

步骤S208，根据多个试验压力下的泄漏率、流动方程以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率。

其中，流动方程用于计算密封装置内的气体通过不同形状的泄漏点泄漏气体的质量率，一个密封装置在一段时间内可以是通过多种不同形状的泄漏点泄漏气体，根据气体泄漏方式的不同，流动方程可以是包括哈根-泊肃叶层流流动方程、尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程以及绝热孔流流动方程。设计压力例如可以是1MPa、2MPa、3MPa等，需要说明的是，不同的密封装置都会有规定的设计压力以及与设计压力对应的最大允许泄漏率，其为已知值。气体泄漏方式可以是单独层流、单独孔流、单独湍流的泄漏方式；可以是层流加孔流的泄漏方式；还可以是湍流加孔流的泄漏方式。

示例性的，本申请实施例可以是将多个泄漏率、哈根-泊肃叶层流流动方程以及绝热孔流流动方程进行拟合得到气体泄漏函数，并结合密封装置设计最大允许泄漏率得到试验压力下的最大允许泄漏率；还可以是将多个泄漏率、尼古拉兹湍流流动方程以及绝热孔流流动方程进行拟合得到气体泄漏函数，并结合密封装置设计最大允许泄漏率得到试验压力下的最大允许泄漏率等。其中，试验压力下的最大允许泄漏率的计算是根据设计压力下的最大允许泄漏率与密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率的比例关系确定，该比例关系例如可以是：设计压力最大允许泄漏率与试验压力最大允许泄漏率的比值等于在设计压力下通过层流流动方程计算得到的泄漏率与设计压力下通过孔流流动方程计算得到的泄漏率之和与试验压力下通过层流流动方程计算得到的泄漏率与试验压力下通过孔流流动方程之和的比值计算得到的泄漏率；还可以为设计压力最大允许泄漏率与试验压力最大允许泄漏率的比值等于对设计压力下通过湍流流动方程计算得到的泄漏率与设计压力下通过孔流流动方程计算得到的泄漏率之和与试验压力下通过湍流流动方程计算得到的泄漏率与试验压力下通过孔流流动方程计算得到的泄漏率之和的比值。

步骤S210，根据试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格。

可选的，如图3所示，根据试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格包括以下步骤：

步骤S2101，在第二预设时间段后为密封装置输入测试压力的气体；测试压力为不同试验压力中的一个。

示例性的，第二预设时间段可以为几个月、几年等，测试压力属于试验压力，可以是试验压力中的一个，例如，上一次使用的第一试验压力包括：0.2MPa、0.25MPa、0.30MPa……，那么，这一次选取的测试压力就可以是0.2MPa、0.25MPa、0.30MPa……等中的一个。在第二次对该密封装置是否合格进行检测时，不需要为密封装置输入设计压力的气体或者多组压力值趋近于设计压力的气体来计算密封装置的泄漏率以对该密封装置是否合格进行检测，使得检测的环境更加的安全，并可缩短检测时间。

步骤S2102，在将测试压力的气体输入至密封装置预设时间段后采集对应的多组数据。

示例性的，采集数据的方式与上一次试验采集数据的方式相同，在此不做赘述。

步骤S2103，根据多组数据计算得到密封装置在测试压力下的泄漏率。

示例性的，泄漏率的计算方法与上述根据试验压力计算泄露率的计算方法相同，在此不做赘述。

步骤S2104，将测试压力下的泄漏率与试验压力下的最大允许泄漏率进行比对；

在测试压力下的泄漏率小于试验压力下的最大允许泄漏率的情况下，检测密封装置合格。

示例性的，根据上述计算过程计算得到了与测试压力对应的一个泄露率，若该泄漏率小于试验压力下的最大允许泄漏率，则表示该密封装置的密封性能在允许的范围之类，所以检测得到该密封装置合格。

本申请实施例提供的密封装置检测方法，该方法通过一个低于设计压力的气体以及试验压力下的最大允许泄漏率就能够在下一次进行密封装置检测的时候，确定该密封装置是否合格，避免了在每一次进行密封装置检测的时候，都需要通过设计压力或者趋近于设计压力压力值的压力对该密封装置进行检测，缩短了检测时间，且检测的过程都处于一个较低压力的环境，降低了人身伤害以及设备损坏等不安全事故发生的概率，缩短了检测时间。

本申请实施例提供了一种密封装置检测，该方法通过为密封装置输入不同试验压力的气体；该试验压力大于标准大气压且小于设计压力；在将试验压力的气体输入至密封装置预设时间段后采集对应的多组数据，该数据为设置在密封装置内的传感器采集的数据；根据多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率；根据多个试验压力下的泄漏率、流动方程以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率；根据试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格。本申请通过低于设计压力的气体对密封装置进行试验，并根据试验数据计算得到在试验压力下的最大允许泄漏率，在预设时间段后再对该密封装置进行检测时，只需要根据试验压力下的最大允许泄漏率检测该密封装置是否合格，不需要再将设计压力输入至该密封装置进行检测，使得在对密封装置是否合格的检测过程均在压力较低的环境下进行，降低了人身伤害以及设备损坏等不安全事故发生的概率；同时由于设计压力在输入密封装置所需的时间以及采集数据所需的时间均大于较低压力下的时间，所以本申请的检测方法缩短了密封装置的检测时间，且能够降低检测成本，增加密封装置带来的经济收益。

在一个实施例中，该实施例是确定流动方程对应的综合系数值的一种可能的实现方法，该方法包括：

根据流动方程的约束关系对多个试验压力下的泄漏率进行拟合，并根据拟合结果确定与流动方程对应的综合系数值。

示例性的，可以是将哈根-泊肃叶层流流动方程、尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程以及绝热孔流流动方程输入至检测设备，然后通过不同的流动方程对上述得到的多个泄漏率进行拟合，例如可以是通过哈根-泊肃叶层流流动方程对上述得到的多个泄漏率进行拟合；可以是尼古拉兹湍流流动方程对上述得到的多个泄漏率进行拟合；可以是通过哈根-泊肃叶层流流动方程以及绝热孔流流动方程对上述得到的多个泄漏率进行拟合，并在拟合收敛的情况下根据拟合结果得到各流动方程的的综合系数值。需要说明的是，也可能出现通过任何一个流动方程或者几个流动方程均无法拟合收敛，那么就需要通过增加调整因子、设置层流和湍流分段点等方式重新进行拟合。

本申请实施例提供的密封装置检测方法，该方法通过流动方程的约束关系对多个泄漏率进行拟合以确定流动方程对应的综合系数值，为后续计算试验压力下的最大允许泄漏率提供必要的数据支持，同时，可以验证该密封装置检测方法的可实施性，为其它不同类型的密封装置检测提供参考依据。

在另一个实施例中，如图4所示，该实施例可以是在流动方程包括层流流动方程、湍流流动方程以及孔流流动方程的情况下，得到确定各流动方程中综合系数值的一个可选的方法实施例，该方法包括如下步骤：

步骤S302，将多个试验压力下的泄漏率、哈根-泊肃叶层流流动方程以及绝热孔流流动方程进行拟合，在拟合结果收敛的情况下，执行步骤S304；在拟合结果不收敛的情况下，执行步骤S306；

步骤S304，从拟合结果中获取哈根-泊肃叶层流流动方程中的第一综合系数值和绝热孔流流动方程中的第二综合系数值；

步骤S306，将多个试验压力下的泄漏率、尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程以及绝热孔流流动方程进行拟合，从拟合结果中获取绝热孔流流动方程中的第二综合系数值和尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程中的第三综合系数值。

示例性的，本申请实施例基于通过层流流动方程计算得到的泄漏率与通过孔流流动方程计算得到的泄漏率的和等于总泄漏率的关系，或者，通过湍流流动方程计算得到的泄漏率与通过孔流流动方程计算得到的泄漏率的和等于总泄漏率的关系建立方程，将上述计算得到的多个泄漏率在该方程的约束关系下进行拟合。多个泄漏率例如为：50kg/h、60kg/h、85kg/h、110kg/h、……、200kg/h、至少5个泄漏率在层流流动方程w₁＝K₁(p_a ²-p₀ ²)，以及孔流流动方程

的约束下进行拟合，若拟合结果收敛，得到K₁以及K₃。其中，K₁为第一综合系数，K₃为第二综合系数，p_a为第一试验压力，p₀为标准大气压。若拟合结果不收敛，则再将多个泄漏率例如为：50kg/h、60kg/h、85kg/h、110kg/h、……、200kg/h、至少5个泄漏率在孔流流动方程

以及湍流流动方程

的约束下进行拟合，若拟合结果收敛，得到K₂以及K₃。其中，K₂为第三综合系数，K₃为第二综合系数，p_a为试验压力，p₀为标准大气压。若都不收敛，可以是通过增加调整因子、设置层流和湍流分段点等方式重新进行拟合。

需要说明的是，湍流流动方程还包括气体泄漏点为气体泄漏点为光滑管对应的湍流流动方程；光滑管对应的湍流流动方程：

其中，K₂为第二综合系数，p_a为试验压力，p₀为标准气压。孔流流动方程还包括试验压力大于0.192MPa时对应的孔流流动方程：w₃＝0.259K₃；其中，K₃为第二综合系数。在实际的拟合过程中，需要根据具体的情况选择不同的公式进行拟合。

本申请实施例提供了一种密封装置检测方法，该方法将多组泄漏率以及不同的流动方程进行拟合以在拟合结果收敛的情况下得到不同流动方程中的综合系数，从不同的层面为得到密封装置试验压力下的最大允许泄漏率提供全面的数据支持，使得计算得到的试验压力下的最大允许泄漏率更加的准确。

在另一个实施例中，该实施例可以是在流动方程包括层流流动方程、湍流流动方程以及孔流流动方程的情况下，得到确定密封装置试验压力下的最大允许泄漏率的一个可选的方法实施例，该方法包括：

根据第一综合系数值、第二综合系数值以及密封装置设计压力下的最大允许泄漏率计算密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率；

或者，

根据第二综合系数值、第三综合系数值以及密封装置设计压力下的最大允许泄漏率计算密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率。

示例性的，根据上述方法可以得到第一综合系数值、第二综合系数值以及第三综合系数值，然后再根据密封装置设计压力下的最大允许泄漏率与密封装置试验压力下的最大允许泄漏率的比例关系确定试验下的最大允许泄漏率。例如，该密封装置为安全壳，安全壳的设计压力以及设计压力下的最大允许泄漏率可以是0.52MPa和21kg/24h，通过下述方式确定密封装置试验压力下的最大允许泄漏率：

其中，P_a为设计压力0.52MPa，L_a为设计压力下的最大允许泄漏率21kg/24h，P_t为某一试验压力，L_t为与试验压力p_t对应的的最大允许泄漏率，K₁与K₃可以通过上述方法得到，则根据上述比例关系可以得到试验压力P_t下的最大允许泄漏率L_t。需要说明的是，还可以根据第二综合系数值、第三综合系数值以及密封装置预设压力下的最大允许泄漏率与密封装置试验压力下的最大允许泄漏率的比例关系确定试验压力下的最大允许泄漏率，还可以只根据第一综合系数值、第二综合系数值或者第三综合系数值中的一个系数值与密封装置试验压力下的最大允许泄漏率的比例关系确定试验压力下的最大允许泄漏率，本申请实施例对此不做限定。

本申请实施例提供了一种密封装置检测方法，该方法根据试验压力下的最大允许泄漏率与设计压力下的最大允许泄漏率的比例关系确定试验压力下的最大允许泄漏率，数据之间的关系不复杂使得数据处理的过程简单，能够提高得到试验压力下的最大允许泄漏率的效率，从而缩短了单次检测密封装置的时间，使得密封装置能够更早的投入使用，创造更多的经济效益。

应该理解的是，虽然图2-4的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2-4中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

在一个实施例中，如图5所示，提供了一种密封装置的泄漏率检测装置200，包括：输入模块21、采集模块22和处理模块23，其中：

输入模块21，用于为密封装置输入不同试验压力的气体；试验压力大于标准大气压且小于设计压力；

采集模块22，用于在将试验压力的气体输入至密封装置预设时间段后采集对应的多组数据，数据为设置在密封装置内的传感器采集的数据；

处理模块23，用于根据多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率；

处理模块23，还用于根据多个试验压力下的泄漏率、流动方程以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率；

处理模块23，还用于根据试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格。

在另一个实施例中，上述处理模块23，具体用于根据流动方程的约束关系对多个试验压力下的泄漏率进行拟合，并根据拟合结果确定与流动方程对应的综合系数值。

在另一个实施例中，上述处理模块23，具体用于将多个试验压力下的泄漏率、哈根-泊肃叶层流流动方程以及绝热孔流流动方程进行拟合；在拟合结果收敛的情况下，从拟合结果中获取哈根-泊肃叶层流流动方程中的第一综合系数值和绝热孔流流动方程中的第二综合系数值；在拟合结果不收敛的情况下，将多个试验压力下的泄漏率、尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程以及绝热孔流流动方程进行拟合，从拟合结果中获取绝热孔流流动方程中的第二综合系数值和尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程中的第三综合系数值。

在另一个实施例中，上述处理模块23，具体用于根据第一综合系数值、第二综合系数值以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率。

在另一个实施例中，上述处理模块23，具体用于根据第二综合系数值、第三综合系数值以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率。

在另一个实施例中，上述处理模块23，还用于在第二预设时间段后为密封装置输入测试压力的气体；测试压力为不同试验压力中的一个；并在将测试压力的气体输入至密封装置预设时间段后采集对应的多组数据；根据多组数据计算得到密封装置在测试压力下的泄漏率；将测试压力下的泄漏率与试验压力下的最大允许泄漏率进行比对；在测试压力下的泄漏率小于试验压力下的最大允许泄漏率的情况下，检测密封装置合格。

在另一个实施例中，数据包括：温度数据、压力数据以及湿度数据。

关于密封装置检测装置的具体限定可以参见上文中对于密封装置检测方法的限定，在此不再赘述。上述密封装置检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，如图6所示，提供了一种密封装置检测设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

根据多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率；

根据试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格。

在另一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据流动方程的约束关系对多个试验压力下的泄漏率进行拟合，并根据拟合结果确定与流动方程对应的综合系数值。

在另一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：将多个试验压力下的泄漏率、哈根-泊肃叶层流流动方程以及绝热孔流流动方程进行拟合；在拟合结果收敛的情况下，从拟合结果中获取哈根-泊肃叶层流流动方程中的第一综合系数值和绝热孔流流动方程中的第二综合系数值；在拟合结果不收敛的情况下，将多个试验压力下的泄漏率、尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程以及绝热孔流流动方程进行拟合，从拟合结果中获取绝热孔流流动方程中的第二综合系数值和尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程中的第三综合系数值。

在另一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据第一综合系数值、第二综合系数值以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率。

在另一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据第二综合系数值、第三综合系数值以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率。

在另一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：在第二预设时间段后为密封装置输入测试压力的气体；测试压力为不同试验压力中的一个；并在将测试压力的气体输入至密封装置预设时间段后采集对应的多组数据；根据多组数据计算得到密封装置在测试压力下的泄漏率；将测试压力下的泄漏率与试验压力下的最大允许泄漏率进行比对；在测试压力下的泄漏率小于试验压力下的最大允许泄漏率的情况下，检测密封装置合格。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

根据多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率；

根据试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格。

在另一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据流动方程的约束关系对多个试验压力下的泄漏率进行拟合，并根据拟合结果确定与流动方程对应的综合系数值。

在另一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：将多个试验压力下的泄漏率、哈根-泊肃叶层流流动方程以及绝热孔流流动方程进行拟合；在拟合结果收敛的情况下，从拟合结果中获取哈根-泊肃叶层流流动方程中的第一综合系数值和绝热孔流流动方程中的第二综合系数值；在拟合结果不收敛的情况下，将多个试验压力下的泄漏率、尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程以及绝热孔流流动方程进行拟合，从拟合结果中获取绝热孔流流动方程中的第二综合系数值和尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程中的第三综合系数值。

在另一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据第一综合系数值、第二综合系数值以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率。

在另一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据第二综合系数值、第三综合系数值以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率。

在另一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：在第二预设时间段后为密封装置输入测试压力的气体；测试压力为不同试验压力中的一个；并在将测试压力的气体输入至密封装置预设时间段后采集对应的多组数据；根据多组数据计算得到密封装置在测试压力下的泄漏率；将测试压力下的泄漏率与试验压力下的最大允许泄漏率进行比对；在测试压力下的泄漏率小于试验压力下的最大允许泄漏率的情况下，检测密封装置合格。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims

1.一种密封装置检测方法，其特征在于，该方法通过密封装置检测设备执行，包括：

为所述密封装置输入不同试验压力的气体；所述试验压力大于标准大气压且小于设计压力；

在将所述试验压力的气体输入至所述密封装置第一预设时间段后按照预设的时间间隔采集对应的多组数据，所述数据为设置在所述密封装置内的传感器采集的数据；

根据所述多组数据计算得到所述密封装置在所述试验压力下的泄漏率；

根据多个所述试验压力下的泄漏率、流动方程以及所述密封装置在所述设计压力下的最大允许泄漏率计算得到所述密封装置在所述试验压力下的最大允许泄漏率；

根据所述试验压力下的最大允许泄漏率检测所述密封装置是否合格。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：

根据流动方程的约束关系对多个所述试验压力下的泄漏率进行拟合，并根据拟合结果确定与所述流动方程对应的综合系数值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述流动方程包括哈根-泊肃叶层流流动方程、尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程以及绝热孔流流动方程，所述根据流动方程的约束关系对对多个所述试验压力下的泄漏率进行拟合，并根据拟合结果确定与所述流动方程对应的综合系数值包括：

将多个所述试验压力下的泄漏率、所述哈根-泊肃叶层流流动方程以及所述绝热孔流流动方程进行拟合；

在拟合结果收敛的情况下，从所述拟合结果中获取所述哈根-泊肃叶层流流动方程中的第一综合系数值和所述绝热孔流流动方程中的第二综合系数值；

在拟合结果不收敛的情况下，将多个所述试验压力下的泄漏率、所述尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程以及所述绝热孔流流动方程进行拟合，从所述拟合结果中获取所述绝热孔流流动方程中的第二综合系数值和所述尼古拉兹/布拉休斯湍流流动方程中的第三综合系数值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法包括：

根据所述第一综合系数值、所述第二综合系数值以及所述密封装置在所述设计压力下的最大允许泄漏率计算得到所述密封装置在所述试验压力下的最大允许泄漏率。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法包括：

根据所述第二综合系数值、所述第三综合系数值以及所述密封装置在所述设计压力下的最大允许泄漏率计算得到所述密封装置在所述试验压力下的最大允许泄漏率。

6.根据权利要1所述的方法，其特征在于，所述根据所述试验压力下的最大允许泄漏率检测所述密封装置是否合格包括：

在第二预设时间段后为所述密封装置输入测试压力的气体；所述测试压力为所述不同试验压力中的一个；

在将所述测试压力的气体输入至所述密封装置预设时间段后采集对应的多组数据；

根据所述多组数据计算得到所述密封装置在所述测试压力下的泄漏率；

将所述测试压力下的泄漏率与所述试验压力下的最大允许泄漏率进行比对；

在所述测试压力下的泄漏率小于所述试验压力下的最大允许泄漏率的情况下，检测所述密封装置合格。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述数据包括：温度数据、压力数据以及湿度数据。

8.一种密封装置检测装置，其特征在于，所述装置包括：

输入模块，用于为所述密封装置输入不同试验压力的气体；所述试验压力大于标准大气压且小于设计压力；

采集模块，用于在将所述试验压力的气体输入至所述密封装置预设时间段后按照预设的时间间隔采集对应的多组数据，所述数据为设置在所述密封装置内的传感器采集的数据；

处理模块，用于根据所述多组数据计算得到所述密封装置在所述试验压力下的泄漏率；

处理模块，还用于根据多个所述试验压力下的泄漏率、流动方程以及所述密封装置在所述设计压力下的最大允许泄漏率计算得到所述密封装置在所述试验压力下的最大允许泄漏率；

处理模块，还用于根据所述试验压力下的最大允许泄漏率检测所述密封装置是否合格。

9.一种密封装置检测设备，所述设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。