CN112859762A - 控制逻辑校验方法、装置、计算机设备和存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种控制逻辑校验方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：按照控制逻辑运行工艺设备，采集针对于工艺设备的设备运行时序信号；基于设备运行时序信号，生成与设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图；获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图；将运行时序甘特图与设计时序甘特图进行比对，确定控制逻辑的校验结果。本申请通过比对运行时序甘特图与设计时序甘特图，从而实现对控制逻辑的校验，不需要通过数学模型进行控制逻辑校验，甘特图可直观显示内部设备的运行情况，从而提高控制逻辑校验方法的准确性。

Description

控制逻辑校验方法、装置、计算机设备和存储介质

技术领域

本申请涉及工业校验技术领域，特别是涉及一种控制逻辑校验方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

随着工业制造的发展，工业设备的种类不断增多，在一次生产过程中，需要多种设备按照一定顺序进行动作以完成上述生产过程，而控制设备动作顺序的往往是通过可编程逻辑控制器实现，因此，控制器内部逻辑的准确性直接影响了生产过程的可靠性以及安全性。

目前，对控制器内部逻辑的校验往往是通过虚拟仿真软件进行调试，通过在虚拟调试过程中导入数学模型以及控制逻辑进行校验，然而，通过数学模型进行的控制逻辑校验难以确认内部设备运行情况，目前的控制逻辑校验方法准确性较低。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种控制逻辑校验方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种控制逻辑校验方法，所述方法包括：

按照控制逻辑运行工艺设备，采集针对于所述工艺设备的设备运行时序信号；

基于所述设备运行时序信号，生成与所述设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图；

获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图；

将所述运行时序甘特图与所述设计时序甘特图进行比对，确定所述控制逻辑的校验结果。

在其中一个实施例中，所述工艺设备的数量为多个；所述基于所述设备运行时序信号，生成与所述设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图，包括：基于所述设备运行时序信号，确定各工艺设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳；利用所述运行开始时间戳以及所述运行结束时间戳确定所述各工艺设备的运行时长；按照预设的工艺设备的运行顺序，以及所述各工艺设备的运行时长，生成所述运行时序甘特图。

在其中一个实施例中，所述按照预设的工艺设备的运行顺序，以及所述各工艺设备的运行时长，生成所述运行时序甘特图，包括：按照所述运行顺序，确定所述运行顺序为首运行顺序的首运行工艺设备；确定所述首运行工艺设备的运行开始时间戳，作为首运行开始时间戳；将所述各工艺设备的运行开始时间戳与所述首运行开始时间戳的差值作为各工艺设备的运行开始时间；基于所述各工艺设备的运行时长以及所述各工艺设备的运行开始时间确定所述各工艺设备的运行结束时间；根据按照所述运行顺序设置的第一轴坐标、按照所述运行开始时间以及运行结束时间设置的第二轴坐标，生成所述运行时序甘特图。

在其中一个实施例中，所述将所述运行时序甘特图与所述设计时序甘特图进行比对，确定所述控制逻辑的校验结果，包括：确定第一工艺设备和第二工艺设备在所述设计时序甘特图之中的第一运行顺序，以及所述第一工艺设备和所述第二工艺设备在所述运行时序甘特图之中的第二运行顺序；若所述第一运行顺序与所述第二运行顺序不匹配，则确定所述校验结果为校验不通过。

在其中一个实施例中，所述确定第一工艺设备和第二工艺设备在所述设计时序甘特图之中的第一运行顺序，以及所述第一工艺设备和所述第二工艺设备在所述运行时序甘特图之中的第二运行顺序，包括：根据所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备的第一轴坐标确定所述第一运行顺序，以及根据所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备在所述运行时序甘特图中的运行开始时间确定所述第二运行顺序；和/或根据所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备在所述设计时序甘特图中的运行开始时间确定所述第一运行顺序，以及根据所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备在所述运行时序甘特图中的运行开始时间确定所述第二运行顺序。

在其中一个实施例中，所述确定所述校验结果为校验不通过之后，还包括：基于所述运行时序甘特图的第一轴坐标，确定目标工艺设备；所述目标工艺设备包括所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备；获取运行所述目标工艺设备的控制逻辑，得到目标控制逻辑；对所述目标控制逻辑的正确性进行校验，若所述正确性的校验结果为所述目标控制逻辑不正确，则修正所述目标控制逻辑；和/或若所述正确性的校验结果为所述目标控制逻辑正确，则修正所述设计时序甘特图。

在其中一个实施例中，所述采集针对于所述工艺设备的设备运行时序信号，包括：采集各工艺设备的设备运行时序信号，将所述各工艺设备的设备运行时序信号存入多个数据块中；其中，各数据块中存储有各工艺设备的设备运行时序信号；所述基于所述设备运行时序信号，确定各工艺设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳，包括：从所述各数据块中确定所述各工艺设备的运行开始信号以及运行结束信号；根据所述运行开始信号以及所述运行结束信号确定所述运行开始时间戳以及所述运行结束时间戳。

一种控制逻辑校验装置，所述装置包括：

运行信号采集模块，用于按照控制逻辑运行工艺设备，采集针对于所述工艺设备的设备运行时序信号；

运行甘特图生成模块，用于基于所述设备运行时序信号，生成与所述设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图；

设计甘特图获取模块，用于获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图；

控制逻辑校验模块，用于将所述运行时序甘特图与所述设计时序甘特图进行比对，确定所述控制逻辑的校验结果。

一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。

上述控制逻辑校验方法、装置、计算机设备和存储介质，按照控制逻辑运行工艺设备，采集针对于工艺设备的设备运行时序信号；基于设备运行时序信号，生成与设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图；获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图；将运行时序甘特图与设计时序甘特图进行比对，确定控制逻辑的校验结果。本申请通过比对运行时序甘特图与设计时序甘特图，从而实现对控制逻辑的校验，不需要通过数学模型进行控制逻辑校验，甘特图可直观显示内部设备的运行情况，从而提高控制逻辑校验方法的准确性。

附图说明

图1为一个实施例中控制逻辑校验方法的流程示意图；

图2为一个实施例中生成与设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图的流程示意图；

图3为一个实施例中按照预设的工艺设备的运行顺序，以及各工艺设备的运行时长，生成运行时序甘特图的流程示意图；

图4为另一个实施例中控制逻辑校验方法的流程示意图；

图5为一个应用实例中虚拟调试中的可编程逻辑控制器的控制逻辑校验方法的流程示意图；

图6为一个应用实例中数据块的结构示意图；

图7为一个应用实例中上位机采集可编程逻辑控制器数据的流程示意图；

图8为一个应用实例中根据甘特图分析设备动作时序准确性的界面示意图；

图9为一个应用实例中完成动作时序校验的流程示意图；

图10为一个实施例中控制逻辑校验装置的结构框图；

图11为一个实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

在一个实施例中，如图1所示，提供了一种控制逻辑校验方法，本实施例以该方法应用于终端进行举例说明，可以理解的是，该方法也可以应用于服务器，还可以应用于包括终端和服务器的系统，并通过终端和服务器的交互实现。本实施例中，该方法包括以下步骤：

步骤S101，终端按照控制逻辑运行工艺设备，采集针对于所述工艺设备的设备运行时序信号。

其中，控制逻辑可以是虚拟调试过程中用于运行工艺设备的控制逻辑，该控制逻辑可以是用户进行设定，封装于虚拟调试装置的模块之中，设备运行时序信号则指的是工艺设备运行过程中实际产生的时序信号，具体来说，终端可以按照设定的控制逻辑运行工艺设备，并采集该工艺设备在运行过程中产生的时序信号，从而得到设备运行时序信号。

步骤S102，终端基于设备运行时序信号，生成与设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图。

其中，运行时序甘特图指的是根据设备运行时序信号产生的甘特图，用于描述该设备的运行时间顺序，甘特图是一种以图示通过活动列表和时间刻度表示出特定项目的顺序与持续时间进展关系的线条图，可以用于描述设备运行的时间顺序，具体来说，终端可以根据得到的设备运行时序信号，确定出该设备的运行时间顺序，进而生成与设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图。

步骤S103，终端获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图；

步骤S104，终端将运行时序甘特图与设计时序甘特图进行比对，确定控制逻辑的校验结果。

设备设计时序信号则指的是在设计阶段设计出来的理论时序信号，设计时序甘特图则指的是与设计时序信号匹配的甘特图，该设计时序甘特图可以是预先根据设备设计时序信号生成，并存储于终端中。具体地，终端可以首先得到预先设计好的设计时序甘特图，并将步骤S102中得到的运行时序甘特图与设计时序甘特图进行比对，从而确定出该控制逻辑的校验结果。

上述控制逻辑校验方法中，终端按照控制逻辑运行工艺设备，采集针对于工艺设备的设备运行时序信号；基于设备运行时序信号，生成与设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图；获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图；将运行时序甘特图与设计时序甘特图进行比对，确定控制逻辑的校验结果。本申请通过比对运行时序甘特图与设计时序甘特图，从而实现对控制逻辑的校验，不需要通过数学模型进行控制逻辑校验，甘特图可直观显示内部设备的运行情况，从而提高控制逻辑校验方法的准确性。

在一个实施例中，工艺设备的数量为多个，如图2所示，步骤S102包括：

步骤S201，终端基于设备运行时序信号，确定各工艺设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳。

其中，运行开始时间戳指的是设备在开始运行的时候的时间戳，运行结束时间戳则指的是设备在结束运行的时候的时间戳，分别用于表示设备的开始运行时间以及结束运行时间。例如，终端可以根据采集得到的设备运行时序信号，分别确定该设备运行开始信号以及运行结束信号，并根据得到的设备运行开始信号以及运行结束信号分别确定对应的时间戳，作为运行开始时间戳以及运行结束时间戳。

步骤S202，终端利用运行开始时间戳以及运行结束时间戳确定各工艺设备的运行时长。

运行时长则指的是每个设备的运行时长，该运行时长可以根据每个设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳得到。例如设备A的运行开始时间戳为00.00.01秒，而运行结束时间戳为00.00.02秒，那么设备A的运行时长则为0.01秒，而如果设备B的开始时间戳为00.00.02秒，而运行结束时间戳为00.00.05秒，那么其对应的运行时长则为0.03秒，终端可以根据每个设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳确定每个工艺设备的运行时长。

步骤S203，终端按照预设的工艺设备的运行顺序，以及各工艺设备的运行时长，生成运行时序甘特图。

其中，运行顺序指的是各工艺设备预先设定的运行顺序，在设计过程中，用户已经预先设定好了各个设备的运行先后顺序，并进行存储，该运行顺序一般来说与设备设计时序信号相匹配，终端可以基于预设的工艺设备的运行顺序，以及步骤S202中得到的每个工艺设备的运行时长，生成运行时序甘特图。

进一步地，如图3所示，步骤S203进一步可以包括：

步骤S301，终端按照运行顺序，确定运行顺序为首运行顺序的首运行工艺设备；

步骤S302，终端确定首运行工艺设备的运行开始时间戳，作为首运行开始时间戳。

其中，首运行工艺设备指的是运行顺序为第一个运行的工艺设备，首运行开始时间戳则指的是第一个运行的工业设备对应的运行开始时间戳，即第一个运行的工艺设备的运行开始时间点。终端可以首先按照设定的运行顺序，先从多个工业设备中确定出第一个运行的工艺设备，并找出该工艺设备的运行开始时间戳，作为首运行开始时间戳。

步骤S303，终端将各工艺设备的运行开始时间戳与首运行开始时间戳的差值作为各工艺设备的运行开始时间。

之后，终端得到首运行开始时间戳后，可以分别计算每个工艺设备的运行开始时间戳与首运行开始时间戳之间的差值，作为每一个工艺设备的运行开始时间，一般来说首运行开始时间戳对应的运行开始时间可以设置为0，那么每个工艺设备的运行开始时间则可以根据其运行开始时间戳与首运行开始时间戳之间的差值作为每个工艺设备的运行开始时间。

步骤S304，终端基于各工艺设备的运行时长以及各工艺设备的运行开始时间确定各工艺设备的运行结束时间；

步骤S305，终端根据按照运行顺序设置的第一轴坐标、按照运行开始时间以及运行结束时间设置的第二轴坐标，生成运行时序甘特图。

之后，终端可以根据得到的每个工艺设备运行开始时间，以及每个工艺设备运行时长，确定每个工艺设备的运行结束时间，并按照运行顺序设置甘特图的第一轴坐标，例如纵坐标，分别表示各个工艺设备，纵坐标的顺序则可以表示每个工艺设备的运行顺序，以及按照每个工艺设备的运行开始时间以及运行结束时间设置第二轴坐标，例如可以是横坐标，以区间形式显示每个工艺设备的运行时长，从而生成运行时序甘特图。

上述实施例中，终端可以利用设备运行时序信号得到每个工艺设备的运行时长，并根据预设的运行顺序，以及运行时长，分别作为待生成的运行时序甘特图的第一轴坐标以及第二轴坐标，进而生成运行时序甘特图，可直观得表示出每个工艺设备的运行情况，进而进一步提高控制逻辑校验方法准确性。

进一步地，在一个实施例中，步骤S104可以进一步包括：终端确定第一工艺设备和第二工艺设备在设计时序甘特图之中的第一运行顺序，以及第一工艺设备和所第二工艺设备在运行时序甘特图之中的第二运行顺序；若第一运行顺序与第二运行顺序不匹配，则确定校验结果为校验不通过。

其中，第一工艺设备以及第二工艺设备分别代表不同的两个工艺设备，第一运行顺序则指的是第一工艺设备以及第二工艺设备在设计时序甘特图之中运行顺序，即理论运行顺序，而第二运行顺序则指的是第一工艺设备以及第二工艺设备在运行时序甘特图中的运行顺序，即实际运行顺序，如果第一运行顺序与第二运行顺序不匹配，终端则可以确定该控制逻辑的校验结果为校验不通过。

例如，第一运行顺序可能是第一工艺设备A在第二工艺设备B之前运行，而第二运行顺序则可能是第一工艺设备A在第二工艺设备B之后运行，也就是说，理论上来说第一工艺设备A应该在第二工艺设备B之前运行，而实际确是第一工艺设备A应该在第二工艺设备B之后运行，那么这种情况终端即可确定该控制逻辑的校验结果为校验不通过。又或者是第一运行顺序中第一工艺设备A与第二工艺设备B同时运行，而第二运行顺序则是第一工艺设备A在第二工艺设备B之后运行，那么这种情形也可以认为第一运行顺序与第二运行顺序不匹配。

进一步地，终端确定第一工艺设备和第二工艺设备在设计时序甘特图之中的第一运行顺序，以及第一工艺设备和所第二工艺设备在运行时序甘特图之中的第二运行顺序，可以进一步包括：终端根据第一工艺设备以及第二工艺设备的第一轴坐标确定第一运行顺序，以及根据第一工艺设备以及第二工艺设备在运行时序甘特图中的运行开始时间确定第二运行顺序；和/或，终端根据第一工艺设备以及第二工艺设备在设计时序甘特图中的运行开始时间确定第一运行顺序，以及根据第一工艺设备以及第二工艺设备在运行时序甘特图中的运行开始时间确定第二运行顺序。

第一运行顺序的确定可以是根据设定的第一轴坐标确定，由于第一轴坐标的顺序是按照设定的运行顺序进行排序，例如可以是纵坐标中由上至下的顺序，并分别代表设备设定的先后运行顺序，那么就可以基于第一轴坐标确定第一工艺设备和第二工艺设备之间的第一运行顺序。而第二轴坐标，可以是横坐标则是用于反映各设备的运行时间，因此可根据第一工艺设备以及第二工艺设备在运行时序甘特图中的横坐标关系，即运行开始时间的关系，确定第一工艺设备以及第二工艺设备的运行先后顺序。

例如，某甘特图中第一工艺设备A的纵坐标在第二工艺设备B上方，那么如果设定的纵坐标中由上至下的顺序，代表的是设备设定的先后运行顺序，那么即可表明第一运行顺序为第一工艺设备在第二工艺设备B之前运行，而如果第一工艺设备A对应的横坐标为5，且第二工艺设备B对应的横坐标为4，那么则表示第二运行顺序为第一工艺设备在第二工艺设备B之后运行，此时即为第一运行顺序与第二运行顺序不匹配。

另外，终端也可以根据第一工艺设备以及第二工艺设备在设计时序甘特图中的运行开始时间确定第一运行顺序，和第二运行顺序的确定方法类似，第一运行顺序也可以是直接根据设计时序甘特图中的运行开始时间直接确定得到。

进一步地，终端确定校验结果为校验不通过之后，还包括：终端基于运行时序甘特图的第一轴坐标，确定目标工艺设备；目标工艺设备包括第一工艺设备以及第二工艺设备；获取运行目标工艺设备的控制逻辑，得到目标控制逻辑；对目标控制逻辑的正确性进行校验，若正确性的校验结果为目标控制逻辑不正确，则修正目标控制逻辑；若正确性的校验结果为目标控制逻辑正确，则修正设计时序甘特图。

其中，目标工艺设备指的是第一运行顺序以及第二运行顺序不匹配的第一工艺设备以及第二工艺设备，目标控制逻辑则是用于控制目标工艺设备的控制逻辑。具体来说，终端可以从运行时序甘特图的第一轴坐标，确定目标工艺设备，由于第一轴坐标用于表示各工艺设备之间的运行顺序，因此每一个第一轴坐标都可以携带有用于标识不同工艺设备的设备标识，终端可以根据目标工艺设备的设备标识找到该目标工艺设备，并确定用于控制该目标工艺设备的控制逻辑，即目标控制逻辑，并对该目标控制逻辑的正确性进行校验。假如校验结果为目标控制逻辑不正确，则说明是控制逻辑出错，因此需要对该目标控制逻辑进行相应修正，而如果校验结果为目标控制逻辑正确，那么导致控制逻辑校验不通过的原因则可能是预先设计的设计时序甘特图有错误，因此则需要对设计时序甘特图进行修正。

上述实施例中，终端可以通过比对第一工艺设备和第二工艺设备的第一运行顺序与第二运行顺序是否匹配来确定控制逻辑的校验结果，可以避免复杂的逻辑校验，从而提高了控制逻辑校验的效率，另外，若得到的控制逻辑的校验结果为校验不通过，还可根据运行时序甘特图快速找到问题设备，并根据问题设备的控制逻辑的正确性校验结果判断是需要修正控制逻辑还是修正运行时序甘特图，能快速发现并解决问题，从而缩短调试周期。

在一个实施例中，步骤S101进一步可以包括：终端采集各工艺设备的设备运行时序信号，将所述各工艺设备的设备运行时序信号存入多个数据块中；其中，各数据块中存储有各工艺设备的设备运行时序信号；步骤S201可以进一步包括：终端从各数据块中确定各工艺设备的运行开始信号以及运行结束信号；根据运行开始信号以及运行结束信号确定运行开始时间戳以及运行结束时间戳。

其中，不同的数据块用于存储不同的工艺设备的设备运行时序信号，数据块的数量可以是多个，分别对应于多个工艺设备，在终端采集各工艺设备的设备运行时序信号的过程中，可以分别将不同的工艺设备对应的时序信号分别写入不同的数据块之中，当终端需要确定不同工艺设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳时，可以直接从不同的数据块中提取每个工艺设备的设备运行信号，从而得到每个工艺设备的运行开始信号以及运行结束信号，进而确定出每个工艺设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳。

上述实施例中，通过不同数据块实现对不同的工艺设备的运行时序信号进行存储，在需要确定每个工艺设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳时，可以直接根据不同数据块中存储的运行信号得到，从而可提高各工艺设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳的获取效率。

在一个实施例中，如图4所示，提供了一种控制逻辑校验方法，本实施例以该方法应用于终端进行举例说明。本实施例中，该方法包括以下步骤：

步骤S401，终端采集各工艺设备的设备运行时序信号，将各工艺设备的设备运行时序信号存入多个数据块中；其中，各数据块中存储有各工艺设备的设备运行时序信号；工艺设备的数量为多个；

步骤S402，终端从各数据块中确定各工艺设备的运行开始信号以及运行结束信号；根据运行开始信号以及运行结束信号确定运行开始时间戳以及运行结束时间戳；

步骤S403，终端利用运行开始时间戳以及运行结束时间戳确定各工艺设备的运行时长；

步骤S404，终端按照运行顺序，确定运行顺序为首运行顺序的首运行工艺设备；确定首运行工艺设备的运行开始时间戳，作为首运行开始时间戳；

步骤S405，终端将各工艺设备的运行开始时间戳与首运行开始时间戳的差值作为各工艺设备的运行开始时间；基于各工艺设备的运行时长以及各工艺设备的运行开始时间确定各工艺设备的运行结束时间；

步骤S406，终端根据按照运行顺序设置的第一轴坐标、按照运行开始时间以及运行结束时间设置的第二轴坐标，生成运行时序甘特图；

步骤S407，终端获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图；

步骤S408，终端确定第一工艺设备和第二工艺设备在设计时序甘特图之中的第一运行顺序，以及第一工艺设备和第二工艺设备在运行时序甘特图之中的第二运行顺序；

步骤S409，若第一运行顺序与第二运行顺序不匹配，则终端确定校验结果为校验不通过；

步骤S410，终端基于运行时序甘特图的第一轴坐标，确定目标工艺设备；目标工艺设备包括第一工艺设备以及所述第二工艺设备；获取运行目标工艺设备的控制逻辑，得到目标控制逻辑；对目标控制逻辑的正确性进行校验；

步骤S411，若正确性的校验结果为目标控制逻辑不正确，则终端修正目标控制逻辑；若正确性的校验结果为目标控制逻辑正确，则终端修正设计时序甘特图。

上述实施例中，终端通过比对运行时序甘特图与设计时序甘特图，从而实现对控制逻辑的校验，不需要通过数学模型进行控制逻辑校验，甘特图可直观显示内部设备的运行情况，从而提高控制逻辑校验方法的准确性。并且，终端生成运行时序甘特图，可直观得表示出每个工艺设备的运行情况，进而进一步提高控制逻辑校验方法准确性。同时，终端可以避免复杂的逻辑校验，从而提高控制逻辑校验的效率，还可根据运行时序甘特图快速找到问题设备，能快速发现并解决问题，从而缩短调试周期。以及终端可以直接根据不同数据块中存储的运行信号得到，从而可提高各工艺设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳的获取效率。

在一个应用实例中，还提供了一种虚拟调试中的可编程逻辑控制器的控制逻辑校验方法，该方法通过采用动作时序甘特图结合虚拟调试技术进行可编程逻辑控制器控制逻辑验证，能够在到现场设备联动调试之前进行可编程逻辑控制器逻辑验证，确保可编程逻辑控制器程序逻辑正确，该方法避免数模制作，通过虚拟调试软件纯逻辑方式结合动作时序甘特图进行逻辑验证，以及通过动作时序分析，能够直观地对内部复杂结构的动作时序进行验证，更加直观。具体来说，如图5所示，该方法可以主要包括如下步骤：

1、在系统中启动虚拟调试软件，完成相关配置。

2、可编程逻辑控制器程序编译，下载至虚拟调试软件，并运行程序。

3、上位机通过工业协议与可编程逻辑控制器进行通讯，进行数据采集(具体采集可编程逻辑控制器控制下的设备实际动作的开始、结束信号)，动作开始、结束的时间戳数据(UNIX时间戳格式)以及计算好的时长数据传输至上位机(数据解析系统)。

具体地，如图6和图7所示，上位机根据可编程逻辑控制器内的graph或步进程序，自动对每个工艺动作的开始\结束信号进行采集，根据可编程逻辑控制器的graph或步进程序进行踩点可以大幅度提升采集效率，同时能够更加标准，与前期方案中的设计时序一致，能够直观对比实际时序与生产工艺设计时序。

4、上位机服务器解析数据，上位机将动作按照动作配置的顺序排列纵坐标顺序，按照动作开始时间戳-首动作开始时间戳计算相对横坐标位置，形成动作时序甘特图，其中得到的动作时序甘特图按照工艺设计的顺序，工艺1-工艺2-工艺3……工艺n的顺序由上至下排列，并且工艺1的实际与设计排列在一起。

5、参考设计动作时序，对比设计时序，分析设备动作时序准确性。比如上图，按照工艺设计，整个工艺应该是后面的动作紧接着前面的动作发生，一般来说CYCLE甘特图为斜向下的顺序进行。若出现有下面的动作在上面动作的左侧，说明下面的动作在设计上晚于上面的动作开始，但实际发生却先与上面的动作。即可判定为不符合设计动作。

具体来说，分析可通过系统自动分析工位工艺节拍甘特图获得工艺与工艺之间的关系，然后以此作为基准，校对实际采集的控制信号逻辑是否与基准形状相符。如图8所示，对于同一工艺设备而言，上方横条为规划值，下方横条为实际值，其中方框附近的4个设备的设计动作应该为同时发生，而实际上4个设备中后两个设备的动作发生在前两个设备之后，因此可判定为不符合设计动作。

6、统计不符合动作清单，完成动作时序校验。

若发现不符合动作清单，应检查可编程逻辑控制器内控制逻辑的正确性，或修正当前工艺时序表。根据图9，若某动作的实际时序与设计时序不符，则需要负责工程到编程逻辑控制器内部检查GRAPH内该步工艺的开始与结束控制逻辑是否与设计相符。

上述应用实例中，实现了通过数据化的形式观察设备动作时序，能够运行工艺人员或调试人员更加清晰直观，轻松观察全产线设备运行时序，避免复杂、难监控位置的逻辑校验。无需创建设备或产线数模，减少建模时间。实现快速验证。还可降低对设备硬件性能要求，运行数模对电脑硬件性能要求高，导致成本上升。由于跑纯逻辑对机器性能不高，可降低硬件设备成本。同时在现场调试前进行离线验证，较现场调试后的联动验证能够更早发现并解决问题，缩短现场调试周期。

应该理解的是，虽然流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

在一个实施例中，如图10所示，提供了一种控制逻辑校验装置，包括：运行信号采集模块1001、运行甘特图生成模块1002、设计甘特图获取模块1003和控制逻辑校验模块1004，其中：

运行信号采集模块1001，用于按照控制逻辑运行工艺设备，采集针对于工艺设备的设备运行时序信号；

运行甘特图生成模块1002，用于基于设备运行时序信号，生成与设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图；

设计甘特图获取模块1003，用于获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图；

控制逻辑校验模块1004，用于将运行时序甘特图与设计时序甘特图进行比对，确定控制逻辑的校验结果。

在一个实施例中，工艺设备的数量为多个；运行甘特图生成模块1002，进一步用于基于设备运行时序信号，确定各工艺设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳；利用运行开始时间戳以及运行结束时间戳确定各工艺设备的运行时长；按照预设的工艺设备的运行顺序，以及各工艺设备的运行时长，生成运行时序甘特图。

在一个实施例中，运行甘特图生成模块1002，进一步用于按照运行顺序，确定运行顺序为首运行顺序的首运行工艺设备；确定首运行工艺设备的运行开始时间戳，作为首运行开始时间戳；将各工艺设备的运行开始时间戳与首运行开始时间戳的差值作为各工艺设备的运行开始时间；基于各工艺设备的运行时长以及各工艺设备的运行开始时间确定各工艺设备的运行结束时间；根据按照运行顺序设置的第一轴坐标、按照运行开始时间以及运行结束时间设置的第二轴坐标，生成运行时序甘特图。

在一个实施例中，控制逻辑校验模块1004，进一步用于确定第一工艺设备和第二工艺设备在设计时序甘特图之中的第一运行顺序，以及第一工艺设备和第二工艺设备在运行时序甘特图之中的第二运行顺序；若第一运行顺序与第二运行顺序不匹配，则确定校验结果为校验不通过。

在一个实施例中，控制逻辑校验模块1004，进一步用于根据第一工艺设备以及第二工艺设备的第一轴坐标确定第一运行顺序，以及根据第一工艺设备以及第二工艺设备在运行时序甘特图中的运行开始时间确定第二运行顺序；以及用于根据第一工艺设备以及第二工艺设备在设计时序甘特图中的运行开始时间确定第一运行顺序，以及根据第一工艺设备以及第二工艺设备在运行时序甘特图中的运行开始时间确定第二运行顺序。

在一个实施例中，控制逻辑校验装置，还包括：控制逻辑修正模块，用于基于运行时序甘特图的第一轴坐标，确定目标工艺设备；目标工艺设备包括第一工艺设备以及第二工艺设备；获取运行目标工艺设备的控制逻辑，得到目标控制逻辑；对目标控制逻辑的正确性进行校验，若正确性的校验结果为目标控制逻辑不正确，则修正目标控制逻辑；以及用于若正确性的校验结果为目标控制逻辑正确，则修正设计时序甘特图。

在一个实施例中，运行信号采集模块1001，进一步用于采集各工艺设备的设备运行时序信号，将各工艺设备的设备运行时序信号存入多个数据块中；其中，各数据块中存储有各工艺设备的设备运行时序信号；运行甘特图生成模块1002，进一步用于从各数据块中确定各工艺设备的运行开始信号以及运行结束信号；根据运行开始信号以及运行结束信号确定运行开始时间戳以及运行结束时间戳。

关于控制逻辑校验装置的具体限定可以参见上文中对于控制逻辑校验方法的限定，在此不再赘述。上述控制逻辑校验装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图11所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、通信接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无线方式可通过WIFI、运营商网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种控制逻辑校验方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。

本领域技术人员可以理解，图11中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述各方法实施例中的步骤。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述各方法实施例中的步骤。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种控制逻辑校验方法，其特征在于，所述方法包括：

按照控制逻辑运行工艺设备，采集针对于所述工艺设备的设备运行时序信号；

基于所述设备运行时序信号，生成与所述设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图；

获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图；

将所述运行时序甘特图与所述设计时序甘特图进行比对，确定所述控制逻辑的校验结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述工艺设备的数量为多个；所述基于所述设备运行时序信号，生成与所述设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图，包括：

基于所述设备运行时序信号，确定各工艺设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳；

利用所述运行开始时间戳以及所述运行结束时间戳确定所述各工艺设备的运行时长；

按照预设的工艺设备的运行顺序，以及所述各工艺设备的运行时长，生成所述运行时序甘特图。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述按照预设的工艺设备的运行顺序，以及所述各工艺设备的运行时长，生成所述运行时序甘特图，包括：

按照所述运行顺序，确定所述运行顺序为首运行顺序的首运行工艺设备；

确定所述首运行工艺设备的运行开始时间戳，作为首运行开始时间戳；

将所述各工艺设备的运行开始时间戳与所述首运行开始时间戳的差值作为各工艺设备的运行开始时间；

基于所述各工艺设备的运行时长以及所述各工艺设备的运行开始时间确定所述各工艺设备的运行结束时间；

根据按照所述运行顺序设置的第一轴坐标、按照所述运行开始时间以及运行结束时间设置的第二轴坐标，生成所述运行时序甘特图。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述运行时序甘特图与所述设计时序甘特图进行比对，确定所述控制逻辑的校验结果，包括：

确定第一工艺设备和第二工艺设备在所述设计时序甘特图之中的第一运行顺序，以及所述第一工艺设备和所述第二工艺设备在所述运行时序甘特图之中的第二运行顺序；

若所述第一运行顺序与所述第二运行顺序不匹配，则确定所述校验结果为校验不通过。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，

所述确定第一工艺设备和第二工艺设备在所述设计时序甘特图之中的第一运行顺序，以及所述第一工艺设备和所述第二工艺设备在所述运行时序甘特图之中的第二运行顺序，包括：

根据所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备的第一轴坐标确定所述第一运行顺序，以及根据所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备在所述运行时序甘特图中的运行开始时间确定所述第二运行顺序；

和/或

根据所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备在所述设计时序甘特图中的运行开始时间确定所述第一运行顺序，以及根据所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备在所述运行时序甘特图中的运行开始时间确定所述第二运行顺序。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述确定所述校验结果为校验不通过之后，还包括：

基于所述运行时序甘特图的第一轴坐标，确定目标工艺设备；所述目标工艺设备包括所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备；

获取运行所述目标工艺设备的控制逻辑，得到目标控制逻辑；

对所述目标控制逻辑的正确性进行校验，若所述正确性的校验结果为所述目标控制逻辑不正确，则修正所述目标控制逻辑；

和/或

若所述正确性的校验结果为所述目标控制逻辑正确，则修正所述设计时序甘特图。

7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述采集针对于所述工艺设备的设备运行时序信号，包括：

采集各工艺设备的设备运行时序信号，将所述各工艺设备的设备运行时序信号存入多个数据块中；其中，各数据块中存储有各工艺设备的设备运行时序信号；

所述基于所述设备运行时序信号，确定各工艺设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳，包括：

从所述各数据块中确定所述各工艺设备的运行开始信号以及运行结束信号；

根据所述运行开始信号以及所述运行结束信号确定所述运行开始时间戳以及所述运行结束时间戳。

8.一种控制逻辑校验装置，其特征在于，所述装置包括：

运行信号采集模块，用于按照控制逻辑运行工艺设备，采集针对于所述工艺设备的设备运行时序信号；

运行甘特图生成模块，用于基于所述设备运行时序信号，生成与所述设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图；

设计甘特图获取模块，用于获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图；

控制逻辑校验模块，用于将所述运行时序甘特图与所述设计时序甘特图进行比对，确定所述控制逻辑的校验结果。

9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。

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