CN112858798A - 天线测试系统、天线支撑装置和天线测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种天线测试系统、天线支撑装置和天线测试方法，天线支撑装置包括第一支撑架、第二支撑架及对准器件。一方面，对位精准，对位精度可以控制在0.1°以内，在暗室中能满足2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的远场辐射方向图、增益及波束扫描等指标的测试；另一方面，还可以将第一支撑架与第二支撑件直接放入到暗室中，并可以根据实际测试间距需求来调整第一支撑架与第二支撑架在微波暗室中的放置位置，适应于2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的测试方法和测试要求，具有灵活摆放，缩短收发天线距离，减小路径损耗等优点，在对5G毫米波相控阵天线的测试过程中，无需增加功率放大器，使得装置结构简化，成本降低。

Description

天线测试系统、天线支撑装置和天线测试方法

技术领域

本发明涉及天线测试技术领域，特别是涉及一种天线测试系统、天线支撑装置和天线测试方法。

背景技术

随着通信天线技术的发展，逐步出现了2G天线技术、3G天线技术、4G天线技术及5G天线技术。为了测试天线的各种性能，一般是将待测天线样品与标准天线样品均放置在暗室中，具体例如将待测天线样品安装转动设于暗室中的转台上，将标准天线样品安装在固定设于暗室中的扫描架上，通过固定设置于暗室中的激光对准装置来实现标准天线样品与待测天线样品进行对位，并借助信号源、网络分析仪及频谱仪等测试仪表来实现。

其中，5G毫米波相控阵天线是目前新一代移动通信天线的研究热点，目前主要采用相控阵天线技术。然而，传统的天线测试系统能满足于2G、3G及4G天线测试方法和测试要求，但是并不能满足5G毫米波相控阵天线的指标性能所涉及的测试方法和测试要求。若为了能满足对2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的测试方法和测试要求，鉴于5G毫米波相控阵天线的工作频率高，路径损耗较大，因此传统的天线测试系统需要额外添加功率放大器对测试信号进行放大处理，这样使得天线测试系统的结构复杂化；此外，传统天线测试系统使用肉眼观察，配合激光笔进行对准的方式精度较低，导致波束扫描的测试精度不高。

发明内容

基于此，有必要克服现有技术的缺陷，提供一种天线测试系统、天线支撑装置和天线测试方法，它能满足对2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的测试方法和测试要求，同时结构相对简单，成本较低。

其技术方案如下：一种天线支撑装置，所述天线支撑装置包括：第一支撑架，所述第一支撑架包括第一旋转座、第一底板与第一支撑板，所述第一旋转座与所述第一底板相连并用于带动所述第一底板转动，所述第一支撑板位置可调地设置于所述第一底板上；第二支撑架，所述第二支撑架包括第二旋转座、第二底板与第二支撑板，所述第二旋转座与所述第二底板相连并用于带动所述第二底板转动，所述第二支撑板位置可调地设置于所述第二底板上，所述第一支撑板与所述第二支撑板的其中一个用于装设标准天线样品，所述第一支撑板与所述第二支撑板的另一个用于装设待测天线样品；及对准器件，所述对准器件用于装设于所述第一支撑板上，所述第二支撑板上设有第一对位标记，所述对准器件与所述第一对位标记进行对位以使所述第一支撑板与所述第二支撑板相互对位。

上述的天线支撑装置，由于将对准器件装设于第一支撑板上，并通过对准器件与第一对位标记进行对位来实现第一支撑板与第二支撑板相互对位，且第一支撑板与第二支撑板分别能在第一旋转座与第二旋转座的驱动下自由转动。如此，一方面，对位较为精准，对位精度可以控制在0.1°以内，在传统的微波暗室中，能满足2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的远场辐射方向图、增益及波束扫描等指标的测试；另一方面，还可以将第一支撑架与第二支撑件直接放入到传统的微波暗室中，并可以根据实际测试间距需求来调整第一支撑架与第二支撑架在微波暗室中的放置位置，使得能适应于2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的测试方法和测试要求，具有灵活摆放，缩短收发天线距离，减小路径损耗等优点，在对5G毫米波相控阵天线的测试过程中，无需增加功率放大器，使得装置结构简化，装置成本大大降低。

在其中一个实施例中，所述第一旋转座通过第一安装件与所述第一底板相连；所述第二旋转座通过第二安装件与所述第二底板相连。

在其中一个实施例中，所述第一支撑架还包括与所述第一支撑板相连的第一滑动板；所述第一支撑板通过所述第一滑动板装设于所述第一底板上；所述第一滑动板位置可调地设置于所述第一底板上；

所述第二支撑架还包括与所述第二支撑板相连的第二滑动板；所述第二支撑板通过所述第二滑动板装设于所述第二底板上；所述第二滑动板位置可调地设置于所述第二底板上。

在其中一个实施例中，所述第一底板上设有若干个第一安装孔，所述第一滑动板通过第三安装件穿过所述第一安装孔固定装设于第一底板上；所述第二底板上设有若干个第二安装孔，所述第二滑动板通过第四安装件穿过所述第二安装孔固定装设于第二底板上。

在其中一个实施例中，所述第一滑动板上设有贯穿所述第一滑动板相对的两个表面的第一滑槽，所述第一滑动板通过所述第三安装件穿过所述第一滑槽与所述第一安装孔固定装设于第一底板上；

所述第二滑动板上设有贯穿所述第二滑动板相对的两个表面的第二滑槽，所述第二滑动板通过所述第四安装件穿过所述第二滑槽与所述第二安装孔固定装设于第二底板上。

在其中一个实施例中，所述第一滑槽包括设置于所述第一滑动板上的一个以上第一横向槽与一个以上第一竖向槽，所述第一横向槽的延伸方向垂直于所述第一支撑板的板面，所述第一竖向槽的延伸方向平行于所述第一支撑板的板面；所述第二滑槽包括设置于所述第二滑动板上的一个以上第二横向槽与一个以上第二竖向槽，所述第二横向槽的延伸方向垂直于所述第二支撑板的板面，所述第二竖向槽的延伸方向平行于所述第二支撑板的板面。

在其中一个实施例中，所述对准器件为激光发射器或红外线发射器，所述第一对位标记为设于所述第二支撑板的板面上的对位线；所述第一支撑板上设有透光缝隙，所述对准器件的发射端发出的对准光线穿过所述透光缝隙入射到所述第一对位标记上。

在其中一个实施例中，所述透光缝隙为T形缝隙、十字形缝隙、米字形缝隙、S形缝隙、Z字形缝隙、口字形缝隙或圆形缝隙；所述第一对位标记为与所述透光缝隙的形状相适应的对位线。

在其中一个实施例中，所述对准器件为两个以上并间隔地设置于所述第一支撑板上；所述第一对位标记为两个以上，两个以上所述对准器件与两个以上所述第一对位标记一一对应设置。

在其中一个实施例中，所述第一支撑板上设有若干个第三安装孔，所述第三安装孔用于装设所述待测天线样品；所述第二支撑板上设有若干个第四安装孔，所述第四安装孔用于装设所述标准天线样品；所述第一支撑板上背离于所述对准器件的侧面上用于装设所述待测天线样品。

在其中一个实施例中，所述第一支撑板用于装设待测天线样品，所述第一底板上设有第二对位标记，所述第二对位标记用于对位所述待测天线样品的天线口面。

一种天线测试系统，所述天线测试系统包括所述的天线支撑装置，所述天线测试系统还包括暗室，所述第一支撑架与所述第二支撑架均放置于所述暗室并相互间隔设置。

上述的天线测试系统，由于将对准器件装设于第一支撑板上，并通过对准器件与第一对位标记进行对位来实现第一支撑板与第二支撑板相互对位，且第一支撑板与第二支撑板分别能在第一旋转座与第二旋转座的驱动下自由转动。如此，一方面，对位较为精准，对位精度可以控制在0.1°以内，在传统的微波暗室中，能满足2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的远场辐射方向图、增益及波束扫描等指标的测试；另一方面，还可以将第一支撑架与第二支撑件直接放入到传统的微波暗室中，并可以根据实际测试间距需求来调整第一支撑架与第二支撑架在微波暗室中的放置位置，使得能适应于2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的测试方法和测试要求，具有灵活摆放，缩短收发天线距离，减小路径损耗等优点，在对5G毫米波相控阵天线的测试过程中，无需增加功率放大器，使得装置结构简化，装置成本大大降低。

在其中一个实施例中，所述天线测试系统还包括放置于所述暗室的第一旋转驱动机构与第二旋转驱动机构；所述第一旋转驱动机构与所述第一旋转座相连，所述第二旋转驱动机构与所述第二旋转座相连。

一种天线测试方法，采用了所述的天线支撑装置，包括如下步骤：

将待测天线样品装设于第一支撑板上，标准天线样品装设第二支撑板上，以及将第一支撑架与第二支撑架放置于暗室中；

旋转第一支撑架和/或第二支撑架，带动待测天线样品与标准天线样品相对转动，使对准器件与第一对位标记相对位；

当待测天线样品与标准天线样品对准后，关闭对准器件并开展测试。

上述的天线测试方法，一方面，对位较为精准，对位精度可以控制在0.1°以内，在传统的微波暗室中，能满足2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的远场辐射方向图、增益及波束扫描等指标的测试；另一方面，还可以将第一支撑架与第二支撑件直接放入到传统的微波暗室中，并可以根据实际测试间距需求来调整第一支撑架与第二支撑架在微波暗室中的放置位置，使得能适应于2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的测试方法和测试要求，具有灵活摆放，缩短收发天线距离，减小路径损耗等优点，在对5G毫米波相控阵天线的测试过程中，无需增加功率放大器，使得装置结构简化，装置成本大大降低。

在其中一个实施例中，在旋转第一支撑架和/或第二支撑架步骤之前还包括步骤：在第一底板上设有第二对位标记，利用第一底板上的第二对位标记完成待测天线样品的天线口面的对齐动作。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一实施例的天线测试系统放置于暗室中进行测试的状态示意图；

图2为本发明一实施例的天线支撑装置的第一支撑板与第二支撑板进行对位时的状态示意图；

图3为本发明一实施例的第一支撑架的分解结构示意图；

图4为本发明一实施例的第一支撑架上装设有对准器件的其中一视角图；

图5为本发明一实施例的第一支撑架上装设有对准器件的另一视角图；

图6为本发明一实施例的第一支撑架上装设有对准器件的又一视角图；

图7为本发明一实施例的第二支撑架的分解结构示意图；

图8为本发明一实施例的第二支撑架的其中一视角图；

图9为本发明一实施例的第二支撑架的另一视角图；

图10为本发明一实施例的第二支撑架的又一视角图。

10、第一支撑架；11、第一旋转座；12、第一底板；121、第一安装孔；122、第二对位标记；13、第一支撑板；131、透光缝隙；132、第三安装孔；14、第一滑动板；141、第一滑槽；1411、第一横向槽；1412、第一竖向槽；20、第二支撑架；21、第二旋转座；22、第二底板；221、第二安装孔；23、第二支撑板；231、第一对位标记；232、第四安装孔；24、第二滑动板；241、第二滑槽；2411、第二横向槽；2412、第二竖向槽；30、对准器件；40、标准天线样品；50、待测天线样品；60、暗室；71、第三安装件；72、第四安装件；81、第一旋转驱动机构；82、第二旋转驱动机构。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

参阅图1与图2，图1示出了本发明一实施例的天线测试系统放置于暗室60中进行测试的状态示意图，图2示出了本发明一实施例的天线支撑装置的第一支撑板13与第二支撑板23进行对位时的状态示意图。本发明一实施例提供的一种天线支撑装置，天线支撑装置包括第一支撑架10、第二支撑架20及对准器件30。第一支撑架10包括第一旋转座11、第一底板12与第一支撑板13。第一旋转座11与第一底板12相连并用于带动第一底板12转动。第一支撑板13位置可调地设置于第一底板12上。第二支撑架20包括第二旋转座21、第二底板22与第二支撑板23。第二旋转座21与第二底板22相连并用于带动第二底板22转动。第二支撑板23位置可调地设置于第二底板22上，第一支撑板13与第二支撑板23的其中一个用于装设标准天线样品40，第一支撑板13与第二支撑板23的另一个用于装设待测天线样品50。对准器件30用于装设于第一支撑板13上，第二支撑板23上设有第一对位标记231。对准器件30与第一对位标记231进行对位以使第一支撑板13与第二支撑板23相互对位。

上述的天线支撑装置，由于将对准器件30装设于第一支撑板13上，并通过对准器件30与第一对位标记231进行对位来实现第一支撑板13与第二支撑板23相互对位，且第一支撑板13与第二支撑板23分别能在第一旋转座11与第二旋转座21的驱动下自由转动。如此，一方面，对位较为精准，对位精度可以控制在0.1°以内，在传统的微波暗室60中，能满足2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的远场辐射方向图、增益及波束扫描等指标的测试；另一方面，还可以将第一支撑架10与第二支撑件直接放入到传统的微波暗室60中，并可以根据实际测试间距需求来调整第一支撑架10与第二支撑架20在微波暗室60中的放置位置，使得能适应于2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的测试方法和测试要求，具有灵活摆放，缩短收发天线距离，减小路径损耗等优点，在对5G毫米波相控阵天线的测试过程中，无需增加功率放大器，使得装置结构简化，装置成本大大降低。

具体而言，标准天线样品40例如为标准喇叭天线，当然也可以是其它类型的标准天线，在此不进行限定，根据实际需求进行设置。

需要说明的是，进一步地，为了能保证第一支撑板13与第二支撑板23分别能在第一旋转座11与第二旋转座21的驱动下自转的效果，第一支撑板13的板面垂直于第一底板12的板面，第二支撑板23的板面垂直于第二底板22的板面。

可以理解的是，当第一支撑板13上装设待测天线样品50时，第二支撑板23上相应装设标准天线样品40；当第一支撑板13上装设标准天线样品40时，第二支撑板23上相应装设待测天线样品50。图1中示意出的为待测天线样品50装设于第一支撑板13上，标准天线样品40装设于第二支撑板23上。

请参阅图3与图7，图3示出了本发明一实施例的第一支撑架10的分解结构示意图，图7示出了本发明一实施例的第二支撑架20的分解结构示意图。在一个实施例中，第一旋转座11通过第一安装件(未标示)与第一底板12相连。第二旋转座21通过第二安装件(未标示)与第二底板22相连。第一安装件与第二安装件均例如可以是螺钉、销钉、铆钉、卡接件等等，在此不进行限定。其中，第一安装件的数量例如可以是一个、两个、三个、四个或其它数量，在此不进行限定；同样地，第二安装件的数量例如可以是一个、两个、三个、四个或其它数量，在此不进行限定。

需要说明的是，在侵权对比中，该“第一旋转座11”可以为“第一底板12的一部分”，即“第一旋转座11”与“第一底板12的其他部分”一体成型制造；也可以与“第一底板12的其他部分”可分离的一个独立的构件，即“第一旋转座11”可以独立制造，再与“第一底板12的其他部分”组合成一个整体。类似地，在侵权对比中，该“第二旋转座21”可以为“第二底板22的一部分”，即“第二旋转座21”与“第二底板22的其他部分”一体成型制造；也可以与“第二底板22的其他部分”可分离的一个独立的构件，即“第二旋转座21”可以独立制造，再与“第二底板22的其他部分”组合成一个整体。

请参阅图3至图6，图4示出了本发明一实施例的第一支撑架10上装设有对准器件30的其中一视角图，图5示出了本发明一实施例的第一支撑架10上装设有对准器件30的另一视角图，图6示出了本发明一实施例的第一支撑架10上装设有对准器件30的又一视角图。在一个实施例中，第一支撑架10还包括与第一支撑板13相连的第一滑动板14。第一支撑板13通过第一滑动板14装设于第一底板12上。第一滑动板14位置可调地设置于第一底板12上。如此，第一支撑板13通过第一滑动板14装设于第一底板12上，第一滑动板14贴合固定于第一底板12上，第一滑动板14能提高第一支撑板13在第一底板12上的安装稳固性，保证第一支撑板13能稳定地支撑待测天线样品50或标准天线样品40，此外，通过调整第一滑动板14在第一底板12上的安装位置来调整第一支撑板13的位置。

此外，请参阅图7至图10，图8示出了本发明一实施例的第二支撑架20的其中一视角图，图9示出了本发明一实施例的第二支撑架20的另一视角图，图10示出了本发明一实施例的第二支撑架20的又一视角图。第二支撑架20还包括与第二支撑板23相连的第二滑动板24。第二支撑板23通过第二滑动板24装设于第二底板22上。第二滑动板24位置可调地设置于第二底板22上。如此，第二支撑板23通过第二滑动板24装设于第二底板22上，第二滑动板24贴合固定于第二底板22上，第二滑动板24能提高第二支撑板23在第二底板22上的安装稳固性，保证第二支撑板23能稳定地支撑待测天线样品50或标准天线样品40，此外，通过调整第二滑动板24在第二底板22上的安装位置来调整第二支撑板23的位置。

请参阅图3至图6，在一个实施例中，第一底板12上设有若干个第一安装孔121，第一滑动板14通过第三安装件71穿过第一安装孔121固定装设于第一底板12上。如此，第一滑动板14可以通过第三安装件71装设于第一底板12上不同部位的第一安装孔121来相应调整第一滑动板14在第一底板12上的位置。

此外，请参阅图7至图10，第二底板22上设有若干个第二安装孔221，第二滑动板24通过第四安装件72穿过第二安装孔221固定装设于第二底板22上。同样地，第二滑动板24可以通过第四安装件72装设于第二底板22上不同部位的第二安装孔221来相应调整第二滑动板24在第二底板22上的位置。如此，便可以实现第一支撑板13与第二支撑板23的位置调整，以完成对环境反射特性等指标的测试动作。

具体而言，第三安装件71的数量例如可以是一个、两个、三个、四个或以上，具体数量可以根据实际情况进行调整，在此不进行限定。同样地，第四安装件72的数量例如可以是一个、两个、三个、四个或以上，具体数量可以根据实际情况进行调整，在此不进行限定。当第三安装件71的数量例如为四个时，第一底板12上的第一安装孔121的数量应不少于四个，例如可以是四个、六个、八个或以上，才能实现四个第三安装件71对应选择穿过其中四个第一安装孔121后将第一滑动板14固定在第一底板12上。同样可以理解的是，当第四安装件72的数量例如为四个时，第二底板22上的第二安装孔221的数量应不少于四个，例如可以是四个、六个、八个或以上，才能实现四个第四安装件72对应选择穿过其中四个第二安装孔221后将第二滑动板24固定在第二底板22上。

请参阅图3至图6，进一步地，第一滑动板14上设有贯穿第一滑动板14相对的两个表面的第一滑槽141。第一滑动板14通过第三安装件71穿过第一滑槽141与第一安装孔121固定装设于第一底板12上。如此，在调整第一滑动板14在第一底板12上的装设位置时，一方面可选择第一底板12上不同部位的第一安装孔121来相应调整，另一方面，由于第一滑动板14上设有第一滑槽141，通过调整第三安装件71在第一滑槽141的不同部位穿入并与第一底板12固定结合在一起，也是可以调整第一滑动板14在第一底板12上的装设位置，调整更为灵活，且结构相对简单，能使得第一支撑板13的位置调整符合于天线性能测试的需求。

请参阅图7至图10，进一步地，第二滑动板24上设有贯穿第二滑动板24相对的两个表面的第二滑槽241。第二滑动板24通过第四安装件72穿过第二滑槽241与第二安装孔221固定装设于第二底板22上。同样地，在调整第二滑动板24在第二底板22上的装设位置时，一方面可选择第二底板22上不同部位的第二安装孔221来相应调整，另一方面，由于第二滑动板24上设有第二滑槽241，通过调整第四安装件72在第二滑槽241的不同部位穿入并与第二底板22固定结合在一起，也是可以调整第二滑动板24在第二底板22上的装设位置，位置调整更为灵活，且结构相对简单，能使得第二支撑板23的位置调整符合于天线性能测试的需求。

请参阅图3、图6、图7与图10，在一个实施例中，第一滑槽141包括设置于第一滑动板14上的一个以上第一横向槽1411与一个以上第一竖向槽1412。第一横向槽1411的延伸方向垂直于第一支撑板13的板面，第一竖向槽1412的延伸方向平行于第一支撑板13的板面。第二滑槽241包括设置于第二滑动板24上的一个以上第二横向槽2411与一个以上第二竖向槽2412。第二横向槽2411的延伸方向垂直于第二支撑板23的板面，第二竖向槽2412的延伸方向平行于第二支撑板23的板面。如此，第一安装件既可以选择穿过第一横向槽1411将第一滑动板14固定在第一底板12上，当松开第一安装件时便可以在横向方向上调整第一滑动板14的位置，从而相应在横向方向上调整第一支撑板13的位置，又可以选择穿过第一竖向槽1412将第一滑动板14固定在第一底板12上，当松开第一安装件时便可以在平行于第一支撑板13板面的方向上调整第一滑动板14的位置，从而相应调整第一支撑板13的位置。位置调整更为灵活，且结构相对简单。第二滑动板24在第二底板22上的位置调整方式类似，在此不再赘述。

需要说明的是，上述的第三安装件71、第四安装件72均例如可以是螺钉、销钉、铆钉、卡接件等等，在此不进行限定。第一安装孔121例如为与第三安装件71相应的安装孔，第二安装孔221例如为与第四安装件72相应的安装孔。

此外，具体而言，第一滑动板14通过第五安装件固定地装设于第一支撑板13的底部，第五安装件例如可以是螺钉、销钉、铆钉、卡接件等等，当然第一滑动板14也可以例如焊接或粘接固定在第一支撑板13上，在此不进行限定。第五安装件的数量例如可以是一个、两个、三个、四个或其它数量，在此也不进行限定。类似地，第二滑动板24通过第六安装件固定装设于第二支撑板23的底部，第六安装件例如可以是螺钉、销钉、铆钉、卡接件等等，当然第二滑动板24也可以例如焊接或粘接固定在第二支撑板23上，在此不进行限定。第六安装件的数量例如可以是一个、两个、三个、四个或其它数量，在此不进行限定。

需要说明的是，在侵权对比中，该“第一滑动板14”可以为“第一支撑板13的一部分”，即“第一滑动板14”与“第一支撑板13的其他部分”一体成型制造；也可以与“第一支撑板13的其他部分”可分离的一个独立的构件，即“第一滑动板14”可以独立制造，再与“第一支撑板13的其他部分”组合成一个整体。类似地，在侵权对比中，该“第二滑动板24”可以为“第二支撑板23的一部分”，即“第二滑动板24”与“第二支撑板23的其他部分”一体成型制造；也可以与“第二支撑板23的其他部分”可分离的一个独立的构件，即“第二滑动板24”可以独立制造，再与“第二支撑板23的其他部分”组合成一个整体。

具体而言，第一横向槽1411具体例如为三个，三个第一横向槽1411依次间隔设置。第一竖向槽1412具体例如为两个，两个第一竖向槽1412相对间隔设置。进一步地，其中一个第一横向槽1411的两端分别与两个第一竖向槽1412相连形成H形槽。

类似地，第二横向槽2411具体例如为三个，三个第二横向槽2411依次间隔设置。第二竖向槽2412具体例如为两个，两个第二竖向槽2412相对间隔设置。进一步地，其中一个第二横向槽2411的两端分别与两个第二竖向槽2412相连形成H形槽。

在一个实施例中，对准器件30为激光发射器或红外线发射器，第一对位标记231为设于第二支撑板23的板面上的对位线。第一支撑板13上设有透光缝隙131，对准器件30的发射端发出的对准光线穿过透光缝隙131入射到第一对位标记231上。如此，当对准器件30发射出的对准光线与第一对位标记231重合时，表明第一支撑板13与第二支撑板23两者对位准确，便可以开展2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的远场辐射方向图、增益及波束扫描等指标的测试动作；当对准器件30发射出的对准光线与第一对位标记231有一定程度的偏离时，相应调整第一支撑架10或第二支撑架20的位置，直到实现对准器件30发射出的对准光线与第一对位标记231相互重合即可，便能实现第一支撑板13与第二支撑板23两者相互对位，对位操作简单易于实现。

请参阅图3与图4，在一个实施例中，透光缝隙131为T形缝隙、十字形缝隙、米字形缝隙、S形缝隙、Z字形缝隙、口字形缝隙或圆形缝隙；第一对位标记231为与透光缝隙131的形状相适应的对位线。

需要说明的是，第一对位标记231与透光缝隙131的形状相适应指的是，例如透光缝隙131为T形缝隙，第一对位标记231为T形对位线或者十字形对位线，如此对准器件30发射出的对准光线便能与第一对位标记231对位重合，从而能判断出第一支撑板13与第二支撑板23是否对位准确；再例如透光缝隙131为圆形缝隙，第一对位标记231相应为圆形对位线，如此对准器件30发射出的对准光线便能与第一对位标记231对位重合，并同样能判断出第一支撑板13与第二支撑板23是否对位准确。

可以理解的是，透光缝隙131不限于是T形缝隙、十字形缝隙、米字形缝隙、S形缝隙、Z字形缝隙、口字形缝隙或圆形缝隙，还可以是其它形状的缝隙，在此不进行限定。

在一个实施例中，对准器件30为两个以上并间隔地设置于第一支撑板13上。第一对位标记231为两个以上，两个以上对准器件30与两个以上第一对位标记231一一对应设置。如此，通过两个以上对准器件30的对准光线与两个以上第一对位标记231一一对应重合时，则表明第一支撑板13与第二支撑板23两者对位准确，对位效果较好。当然作为一个可选的方案，对准器件30也可以是一个，第一对位标记231为一个。

在一个实施例中，第一支撑板13上设有若干个第三安装孔132，第三安装孔132用于装设待测天线样品50。第二支撑板23上设有若干个第四安装孔232，第四安装孔232用于装设标准天线样品40。第一支撑板13上背离于对准器件30的侧面上用于装设待测天线样品50。如此，第一支撑板13与第二支撑板23能分别对应实现稳固地装设待测天线样品50与标准天线样品40，保证待测天线样品50与标准天线样品40的物理中心位置不变。

具体而言，待测天线样品50通过若干个第七安装件对应固定装设于第一支撑板13上的若干个第三安装孔132处，标准天线样品40通过若干个第八安装件对应固定装设于第二支撑板23上的若干个第四安装孔232处。

在一个实施例中，第一支撑板13用于装设待测天线样品50，第一底板12上设有第二对位标记122，第二对位标记122用于对位待测天线样品50的天线口面。如此，利用第一底板12上的第二对位标记122完成天线口面的对齐，然后旋转第一支撑架10带动标准天线样品40转动，以及旋转第二支撑架20带动待测天线样品50转动，使对准器件30与第一对位标记231相对位，当待测天线样品50与标准天线样品40对准后，便可以开展2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的远场辐射方向图、增益及波束扫描等指标的测试。

请参阅图1与图2，在一个实施例中，一种天线测试系统，天线测试系统包括上述任一实施例天线支撑装置，天线测试系统还包括暗室60，第一支撑架10与第二支撑架20均放置于暗室60并相互间隔设置。

上述的天线测试系统，由于将对准器件30装设于第一支撑板13上，并通过对准器件30与第一对位标记231进行对位来实现第一支撑板13与第二支撑板23相互对位，且第一支撑板13与第二支撑板23分别能在第一旋转座11与第二旋转座21的驱动下自由转动。如此，一方面，对位较为精准，对位精度可以控制在0.1°以内，在传统的微波暗室60中，能满足2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的远场辐射方向图、增益及波束扫描等指标的测试；另一方面，还可以将第一支撑架10与第二支撑件直接放入到传统的微波暗室60中，并可以根据实际测试间距需求来调整第一支撑架10与第二支撑架20在微波暗室60中的放置位置，使得能适应于2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的测试方法和测试要求，具有灵活摆放，缩短收发天线距离，减小路径损耗等优点，在对5G毫米波相控阵天线的测试过程中，无需增加功率放大器，使得装置结构简化，装置成本大大降低。

需要说明的是，暗室60可以是无光线进入的黑暗建筑房间，也可以是无光线进入的黑暗箱体等等，在此不进行限定。

请参阅图1与图2，进一步地，天线测试系统还包括放置于暗室60的第一旋转驱动机构81与第二旋转驱动机构82。第一旋转驱动机构81与第一旋转座11相连，第二旋转驱动机构82与第二旋转座21相连。如此，将第一支撑架10的第一旋转座11装设于第一旋转驱动机构81上，以及将第二支撑架20的第二旋转座21装设于第二旋转驱动机构82上，由第一旋转驱动机构81带动第一支撑架10绕第一旋转座11的轴心转动，第二旋转驱动机构82带动第二支撑架20绕第二旋转座21的轴心转动，自动化程度较高。具体而言，第一旋转驱动机构81与第二旋转驱动机构82均例如可以是电机驱动、齿轮驱动等等，在此不进行限定。

请参阅图1与图2，在一个实施例中，一种天线测试方法，采用了上述任一实施例天线支撑装置，包括如下步骤：

将待测天线样品50装设于第一支撑板13上，标准天线样品40装设第二支撑板23上，以及将第一支撑架10与第二支撑架20放置于暗室60中；

旋转第一支撑架10和/或第二支撑架20，带动待测天线样品50与标准天线样品40相对转动，使对准器件30与第一对位标记231相对位；

当待测天线样品50与标准天线样品40对准后，关闭对准器件30并开展测试。

上述的天线测试方法，一方面，对位较为精准，对位精度可以控制在0.1°以内，在传统的微波暗室60中，能满足2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的远场辐射方向图、增益及波束扫描等指标的测试；另一方面，还可以将第一支撑架10与第二支撑件直接放入到传统的微波暗室60中，并可以根据实际测试间距需求来调整第一支撑架10与第二支撑架20在微波暗室60中的放置位置，使得能适应于2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的测试方法和测试要求，具有灵活摆放，缩短收发天线距离，减小路径损耗等优点，在对5G毫米波相控阵天线的测试过程中，无需增加功率放大器，使得装置结构简化，装置成本大大降低。

进一步地，在旋转第一支撑架10和/或第二支撑架20步骤之前还包括步骤：在第一底板12上设有第二对位标记122，利用第一底板12上的第二对位标记122完成待测天线样品50的天线口面的对齐动作。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。需要说明的是，当元件为两个以上时，表示元件的数量至少为两个。

Claims (15)

1.一种天线支撑装置，其特征在于，所述天线支撑装置包括：

第一支撑架，所述第一支撑架包括第一旋转座、第一底板与第一支撑板，所述第一旋转座与所述第一底板相连并用于带动所述第一底板转动，所述第一支撑板位置可调地设置于所述第一底板上；

第二支撑架，所述第二支撑架包括第二旋转座、第二底板与第二支撑板，所述第二旋转座与所述第二底板相连并用于带动所述第二底板转动，所述第二支撑板位置可调地设置于所述第二底板上，所述第一支撑板与所述第二支撑板的其中一个用于装设标准天线样品，所述第一支撑板与所述第二支撑板的另一个用于装设待测天线样品；及

对准器件，所述对准器件用于装设于所述第一支撑板上，所述第二支撑板上设有第一对位标记，所述对准器件与所述第一对位标记进行对位以使所述第一支撑板与所述第二支撑板相互对位。

2.根据权利要求1所述的天线支撑装置，其特征在于，所述第一旋转座通过第一安装件与所述第一底板相连；所述第二旋转座通过第二安装件与所述第二底板相连。

3.根据权利要求1所述的天线支撑装置，其特征在于，所述第一支撑架还包括与所述第一支撑板相连的第一滑动板；所述第一支撑板通过所述第一滑动板装设于所述第一底板上；所述第一滑动板位置可调地设置于所述第一底板上；

所述第二支撑架还包括与所述第二支撑板相连的第二滑动板；所述第二支撑板通过所述第二滑动板装设于所述第二底板上；所述第二滑动板位置可调地设置于所述第二底板上。

4.根据权利要求3所述的天线支撑装置，其特征在于，所述第一底板上设有若干个第一安装孔，所述第一滑动板通过第三安装件穿过所述第一安装孔固定装设于第一底板上；所述第二底板上设有若干个第二安装孔，所述第二滑动板通过第四安装件穿过所述第二安装孔固定装设于第二底板上。

5.根据权利要求4所述的天线支撑装置，其特征在于，所述第一滑动板上设有贯穿所述第一滑动板相对的两个表面的第一滑槽，所述第一滑动板通过所述第三安装件穿过所述第一滑槽与所述第一安装孔固定装设于第一底板上；

所述第二滑动板上设有贯穿所述第二滑动板相对的两个表面的第二滑槽，所述第二滑动板通过所述第四安装件穿过所述第二滑槽与所述第二安装孔固定装设于第二底板上。

6.根据权利要求5所述的天线支撑装置，其特征在于，所述第一滑槽包括设置于所述第一滑动板上的一个以上第一横向槽与一个以上第一竖向槽，所述第一横向槽的延伸方向垂直于所述第一支撑板的板面，所述第一竖向槽的延伸方向平行于所述第一支撑板的板面；所述第二滑槽包括设置于所述第二滑动板上的一个以上第二横向槽与一个以上第二竖向槽，所述第二横向槽的延伸方向垂直于所述第二支撑板的板面，所述第二竖向槽的延伸方向平行于所述第二支撑板的板面。

7.根据权利要求1所述的天线支撑装置，其特征在于，所述对准器件为激光发射器或红外线发射器，所述第一对位标记为设于所述第二支撑板的板面上的对位线；所述第一支撑板上设有透光缝隙，所述对准器件的发射端发出的对准光线穿过所述透光缝隙入射到所述第一对位标记上。

8.根据权利要求7所述的天线支撑装置，其特征在于，所述透光缝隙为T形缝隙、十字形缝隙、米字形缝隙、S形缝隙、Z字形缝隙、口字形缝隙或圆形缝隙；所述第一对位标记为与所述透光缝隙的形状相适应的对位线。

9.根据权利要求7所述的天线支撑装置，其特征在于，所述对准器件为两个以上并间隔地设置于所述第一支撑板上；所述第一对位标记为两个以上，两个以上所述对准器件与两个以上所述第一对位标记一一对应设置。

10.根据权利要求1至9任意一项所述的天线支撑装置，其特征在于，所述第一支撑板上设有若干个第三安装孔，所述第三安装孔用于装设所述待测天线样品；所述第二支撑板上设有若干个第四安装孔，所述第四安装孔用于装设所述标准天线样品；所述第一支撑板上背离于所述对准器件的侧面上用于装设所述待测天线样品。

11.根据权利要求1至9任意一项所述的天线支撑装置，其特征在于，所述第一支撑板用于装设待测天线样品，所述第一底板上设有第二对位标记，所述第二对位标记用于对位所述待测天线样品的天线口面。

12.一种天线测试系统，其特征在于，所述天线测试系统包括如权利要求1至11任意一项所述的天线支撑装置，所述天线测试系统还包括暗室，所述第一支撑架与所述第二支撑架均放置于所述暗室并相互间隔设置。

13.根据权利要求12所述的天线测试系统，其特征在于，所述天线测试系统还包括放置于所述暗室的第一旋转驱动机构与第二旋转驱动机构；所述第一旋转驱动机构与所述第一旋转座相连，所述第二旋转驱动机构与所述第二旋转座相连。

14.一种天线测试方法，其特征在于，采用了如权利要求1至11任意一项所述的天线支撑装置，包括如下步骤：

将待测天线样品装设于第一支撑板上，标准天线样品装设第二支撑板上，以及将第一支撑架与第二支撑架放置于暗室中；

旋转第一支撑架和/或第二支撑架，带动待测天线样品与标准天线样品相对转动，使对准器件与第一对位标记相对位；

当待测天线样品与标准天线样品对准后，关闭对准器件并开展测试。

15.根据权利要求14所述的天线测试方法，其特征在于，在旋转第一支撑架和/或第二支撑架步骤之前还包括步骤：在第一底板上设有第二对位标记，利用第一底板上的第二对位标记完成待测天线样品的天线口面的对齐动作。

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