CN112834322A - 试件变形的测量方法、终端、装置、试验系统和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种试件变形的测量方法、终端、装置、试验系统和存储介质，其中，一种试件变形的测量方法，应用于由夹具夹持的试件的拉伸试验中，所述试件变形的测量方法包括：采集试件的图像信息集；识别所述图像信息集，获得所述试件相对于所述夹具的滑动量和所述试件的轴向位移；基于所述滑动量和所述轴向位移，获得所述试件的变形量。本发明技术方案旨在解决现有技术中夹具与试件发生相对滑动而造成试验误差的技术问题。
Description
技术领域
本发明涉及拉伸试验设备技术领域，特别涉及一种试件变形的试件变形的测量方法、终端、装置、试验系统和存储介质。
背景技术
拉伸试验是测定试件力学性能参数最普遍、最直接的方法。这些力学性能参数是试件在拉伸试验过程中的力～变形(应力σ～应变ε)测定。
在拉伸试验过程中，试件承受轴向拉伸载荷；夹具常常无法夹紧试件而使得夹具与试件发生相对滑动而造成试验误差。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种试件变形的测量系统、方法、终端和计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中夹具与试件发生相对滑动而造成试验误差的技术问题。
为实现上述目的，本发明提出的一种试件变形的测量方法，应用于由夹具夹持的试件的拉伸试验中，所述试件变形的测量方法包括：
采集试件的图像信息集；
识别所述图像信息集，获得所述试件相对于所述夹具的滑动量和所述试件的轴向位移；
基于所述滑动量和所述轴向位移，获得所述试件的变形量。
可选地，所述试件包括试验段和位于所述试验段两端的夹持段；所述夹持段设置有第一兴趣标记，所述试验段设置有第二兴趣标记；其中，所述夹具夹持所述夹持段；所述采集试件的图像信息集的步骤包括：在所述试件受轴向拉伸载荷之前，采集所述第一兴趣标记的第一图像信息；采集所述第二兴趣标记的第二图像信息。
可选地，所述采集试件的图像信息集的步骤包括：在所述试件开始受轴向拉伸载荷至所述试验段拉断的过程中，至少按照第一预设帧率采集所述第二兴趣标记的若干第三图像信息。
可选地，所述至少按照第一预设帧率采集所述第二兴趣标记的若干第三图像信息的步骤包括：基于所述第三图像信息和所述第一图像信息获得所述轴向位移相对于时间的变化率；若所述变化率未触发预设条件，则仍按照所述第一预设帧率采集所述第二兴趣标记的若干第三图像信息，直至所述变化率触发所述预设条件；在所述变化率触发所述预设条件的情况下，按照第二预设帧率采集所述第二兴趣标记的若干第三图像信息；其中，所述第二预设帧率大于所述第一预设帧率。
可选地，所述采集试件的图像信息集的步骤包括：至少在所述试验段拉断后采集一次所述第一兴趣标记的第四图像信息。
可选地，所述识别所述图像信息集，获得所述试件相对于所述夹具的滑动量和所述试件的轴向位移的步骤包括：基于所述第三图像信息与所述第二图像信息获得所述轴向位移；基于所述第四图像信息与所述第一图像信息获得所述滑移量。
可选地，第二方面，本发明提出一种试件变形的测量装置，所述测量装置包括：
图像采集模块：采集试件的图像信息集；
图像识别模块：识别所述图像信息，获得所述试件相对于所述夹具的滑动量和所述试件的轴向位移；
数据处理模块：基于所述滑动量和所述轴向位移，获得所述试件的变形量。
可选地，第三方面，本发明提出一种终端设备，所述终端设备包括存储器、处理器和存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的试件变形的测量程序，所述试件变形的测量程序被所述处理器执行时实现如前所述的试件变形的测量方法的步骤。
可选地，第四方面，本发明提出一种试件变形的试验系统，所述测量装置包括前述的试件变形的测量装置和/或前述的终端设备。
可选地，第五方面，本发明提出一种存储介质，所述存储介质上存储有试件变形的测量程序，所述试件变形的测量程序被处理器执行时实现如前所述的试件变形的测量方法。
本发明的技术方案为采集试件的图像信息集；识别所述图像信息集，获得所述试件相对于所述夹具的滑动量和所述试件的轴向位移；基于所述滑动量和所述轴向位移，获得所述试件的变形量。现有技术中，由于试件的滑动是肉眼难见的，无法消除，因而在获得变形量时是以试件的变形量为轴向位移的方式，导致试验数据不准确；而本发明的技术方案能够在获得所述轴向位移的同时，也能够获得试件相对于夹具的滑移量，因此本发明的技术方案能够获得更为准确的变形量，使得实验数据更为可靠。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明试件变形的测量方法的实施例的流程示意图；
图2为本发明试件变形的测量装置的模块示意图；
图3为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的终端设备结构示意图；
图4为本发明试件变形的测量工装结构示意图。
附图标号说明：
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
参照图3，图3为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的终端设备结构示意图。
终端设备可以是移动电话、智能电话、笔记本电脑、数字广播接收器、个人数字助理(PDA)、平板电脑(PAD)等用户设备(User Equipment，UE)、手持设备、车载设备、可穿戴设备、计算设备或连接到无线调制解调器的其它处理设备、移动台(Mobile station，MS)、投影设备、智能电视等。终端设备可能被称为用户终端、便携式终端、台式终端等。
通常，该终端设备包括：至少一个处理器601、至少一个存储器602以及存储在存储器602上并可在处理器上运行的试件变形的测量程序，试件变形的测量程序配置为实现如前的试件变形的测量方法的步骤。
处理器601可以包括一个或多个处理核心，比如4核心处理器、8核心处理器等。处理器601可以采用DSP(Digital Signal Processing，数字信号处理)、 FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)、 PLA(Programmable Logic Array，可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器601也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称CPU(CentralProcessingUnit，中央处理器)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器601可以在集成有GPU(Graphics Processing Unit，图像处理器)，GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。处理器601还可以包括AI(Artificial Intelligence，人工智能)处理器，该AI处理器用于处理有关试件变形的测量方法操作，使得试件变形的测量方法模型可以自主训练学习，提高效率和准确度。
存储器602可以包括一个或多个计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以是非暂态的。存储器602还可包括高速随机存取存储器，以及非易失性存储器，比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。在一些实施例中，存储器602中的非暂态的计算机可读存储介质用于存储至少一个指令，该至少一个指令用于被处理器601所执行以实现本申请中方法实施例提供的试件变形的测量方法。
而处理器601可以用于调用存储器604中存储的试件变形的测量程序，并至少能够执行以下操作：
采集试件500的图像信息集；
识别所述图像信息集，获得所述试件500相对于所述夹具400的滑动量和所述试件500的轴向位移；
基于所述滑动量和所述轴向位移，获得所述试件500的变形量。
在一些实施例中，终端还可选包括有：通信接口603和至少一个外围设备。处理器601、存储器602和通信接口603之间可以通过总线或信号线相连。各个外围设备可以通过总线、信号线或电路板与通信接口603相连。具体地，外围设备包括：显示屏604和电源605中的至少一种。
通信接口603可被用于将I/O(Input/Output，输入/输出)相关的至少一个外围设备连接到处理器601和存储器602。在一些实施例中，处理器601、存储器 602和通信接口603被集成在同一芯片或电路板上；在一些其他实施例中，处理器601、存储器602和通信接口603中的任意一个或两个可以在单独的芯片或电路板上实现，本实施例对此不加以限定。通信接口可以为USB3.0。
显示屏604用于显示UI(User Interface，用户界面)。该UI可以包括图形、文本、图标、视频及其它们的任意组合。当显示屏604是触摸显示屏时，显示屏604还包括采集在显示屏604的表面或表面上方的触摸信号的能力。该触摸信号可以作为控制信号输入至处理器601进行处理。此时，显示屏604还可以用于提供虚拟按钮和/或虚拟键盘，也称软按钮和/或软键盘。在一些实施例中，显示屏604可以为一个，电子设备的前面板；在另一些实施例中，显示屏604 可以为至少两个，分别设置在电子设备的不同表面或呈折叠设计；在再一些实施例中，显示屏604可以是柔性显示屏，设置在电子设备的弯曲表面上或折叠面上。甚至，显示屏604还可以设置成非矩形的不规则图形，也即异形屏。显示屏604可以采用LCD(LiquidCrystal Display，液晶显示屏)、OLED(Organic Light-Emitting Diode,有机发光二极管)等材质制备。
电源605用于为电子设备中的各个组件进行供电。电源605可以是交流电、直流电、一次性电池或可充电电池。当电源605包括可充电电池时，该可充电电池可以支持有线充电或无线充电。该可充电电池还可以用于支持快充技术。本领域技术人员可以理解，图3中示出的结构并不构成对试件变形的测量设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
此外，本发明实施例提供了一种存储介质，计算机可读存储介质上存储有试件变形的测量程序，试件变形的测量程序被处理器执行时实现上述任一项试件变形的测量方法的步骤。因此，这里将不再进行赘述。另外，对采用相同方法的有益效果描述，也不再进行赘述。对于本申请所涉及的计算机可读存储介质实施例中未披露的技术细节，请参照本申请方法实施例的描述。确定为示例，程序指令可被部署为在一个计算设备上执行，或者在位于一个地点的多个计算设备上执行，又或者，在分布在多个地点且通过通信网络互连的多个计算设备上执行。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，上述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，上述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(RandomAccessMemory，RAM)等。
基于上述硬件结构，提出本发明试件变形的测量方法的实施例。参照图1 所示，图1为本发明试件变形的测量方法的第一实施例的流程示意图；本发明提出的一种试件变形的测量方法，应用于由夹具400夹持的试件500的拉伸试验中，至少包括如下步骤：
S100：采集试件500的图像信息集；
需要说明的是，图像信息集是由若干个图像信息组成的。图像信息包括图片信息、视频信息中的至少一个。这些若干个图像信息的采集时间范围为：夹具400将试件500夹持到试件500被轴向拉伸载荷拉断。可以理解的是，这些图像信息集是由若干个具有时间先后的图像信息组成的。
需要说明的是，试件500是在试验工作台上进行拉神试验。图像信息的采集是通过与试验工作台具有一定距离的图像采集装置采集，该一定距离一般设置为图像采集装置的焦距附近或者焦距。不限于此，图像采集装置包括2 台工业相机以及用于照明的光源。可以理解的是，图像信息集是由通过2台工业相机持续对试件500拉伸的过程拍摄而采集到的试件500从开始拉伸到断裂的全过程的图像信息组成。
S200：识别所述图像信息集，获得所述试件500相对于所述夹具400的滑动量和所述试件500的轴向位移；
需要说明的是，识别所述图像信息集获得所述试件500的轴向位移的一般流程为：以第二兴趣标记为中心设置感兴趣区域裁剪图像；对裁剪后的图像进行二值化处理以识别第二兴趣标记；获得第二兴趣标记的质心坐标；根据质心坐标绘制每一帧质心坐标的曲线，从而得到试件500的轴向位移。
需要说明的是，识别所述图像信息集获得所述试件500相对于夹具400 的一般流程为：以第一兴趣标记为中心设置感兴趣区域裁剪图像；对裁剪后的图像进行二值化处理以识别第一兴趣标记；获得第一兴趣标记的质心坐标；获得第一帧的图像中第一兴趣标记与夹具400之间的第一距离；获得最后一帧的图像中第一兴趣标记与夹具400之间的第一距离；计算第一距离和第二距离的差值，获得试件500相对于夹具400的滑动量。
S300：基于所述滑动量和所述轴向位移，获得所述试件500的变形量。
需要说明的是，现有技术中，轴向位移的计算不会考虑试件500相对试件的滑动，因而在现有技术中，相当于试件500被夹具完全固定；然而试件上，由于试件500受轴向拉伸载荷F，在试件500被拉伸的过程中，试件500 会与夹具400发生轴向滑动，因而试件500的滑移与轴向位移为同一方向的矢量，因而试件500的变形量的是轴向位移与滑动量的差值。
本发明的技术方案为采集试件500的图像信息集；识别所述图像信息集，获得所述试件500相对于所述夹具400的滑动量和所述试件500的轴向位移；基于所述滑动量和所述轴向位移，获得所述试件500的变形量。现有技术中，由于试件的滑动是肉眼难见的，无法消除，因而在获得变形量时是以试件的变形量为轴向位移，导致试验数据不准确；而本发明的技术方案能够在获得所述轴向位移的同时，也能够获得试件相对于夹具的滑移量，因此本发明的技术方案能够获得更为准确的变形量，使得实验数据更为可靠。
此外，试件(在高校一般为低碳钢；在研发企业可以为自制的样件)从开始拉伸到断裂的过程中，其中弹性阶段和屈服阶段仅持续很短的时间(一般为数十秒)，试验人员(在高校一般为学生和指导老师；在研发企业可以为试验工程师)无法通过这种试验台完整的观察到试件断裂的过程。而本发明中，通过图像采集的方式还可以通过图像观察到试件各个时间段的变形情况，使得试验人员可通过图像更完整的理解试件断裂过程。
此外，本发明获得的轴向位移(随时间的变化)还可以与电子万能试验机获得的变形曲线进行对比。由于本发明获得的变形量更接近试件真实的变形量，因而可以用于计算电子万能试验机的误差，从而有助于对电子万能试验机的标定和校准。
可选地，参照图4所示，所述试件500包括试验段500b和位于所述试验段500b两端的夹持段500a；所述夹持段500a设置有第一兴趣标记500a-1，所述试验段500b设置有第二兴趣标记500b-1；其中，所述夹具400夹持所述夹持段500a。试验段500b的直径小于夹持段500a的直径。在拉伸实验中，试件500的变形位于试验段500b的中部，且断裂位置也无语该区域；因而参照图4所示，第二兴趣标记500b-1一般设置于试验段500b的中部，以获得更为准确的轴向位移；而夹持段500a为不变形的部段，因而，第一兴趣标记500a-1可以标记在夹持段500a的各个部段，一般设置于夹持段500a的中部段，便于图像的采集以及便于获取第一兴趣标记与夹具之间的距离。第一兴趣标记500a-1和第二兴趣标记500b-1可以为点状标记、条纹状标记或者异形标记，一般设置为条纹状标记。
所述采集试件500的图像信息集的步骤包括：在所述试件500受轴向拉伸载荷之前，采集所述第一兴趣标记500a-1的第一图像信息；采集所述第二兴趣标记500b-1的第二图像信息。第一图像信息即为第一兴趣标记500a-1在 to时刻的图像信息；第二图像信息即为第二兴趣标记500b-1在to时刻的图像信息。第一图像信息和第二图像信息主要是用于分别获取第一兴趣标记500a-1 的初始坐标和第二兴趣标记500b-1的原始坐标。
可选地，所述采集试件500的图像信息集的步骤包括：在所述试件500 开始受轴向拉伸载荷至所述试验段500b拉断的过程中，至少按照第一预设帧率采集所述第二兴趣标记500b-1的若干第三图像信息。
需要说明的是，第二兴趣标记500b-1的第三图像为试件500在受轴向拉伸载荷F的过程中采集到的。至少按照第一预设帧率采集所述第二兴趣标记 500b-1的若干第三图像信息可以理解为：在所述试件500开始受轴向拉伸载荷至所述试验段500b拉断的过程中，还可以采集第一兴趣标记500a-1的第四图像信息，用于分析滑移量随时间的变化。如无特殊说明，第一兴趣标记500a-1 的第四图像信息的采集帧率小于第一预设帧率，即：第一兴趣标记500a-1的第四图像信息采集的间隔时间长于第二兴趣标记500b-1的采集的间隔时间。
需要说明的是，若干第三图像信息的采集是具有时间先后顺序的，并且在识别过程中，需要按照时间帧对第三图像信息进行识别，以获得轴向位移随时间的变化量。
试件拉伸开始到被拉断的过程中，试件的变形阶段包括弹性阶段、屈服阶段和强化阶段和断裂。在弹性阶段，轴向位移相对于时间的变化率一般为恒定值(在该恒定值附近波动；)然而，当试件进入屈服阶段，轴向位移相对于时间的变化率非线性变化。而且，试件进入屈服阶段仅有短暂的时间。为此，为了能够客观且更准确的展现试件在屈服阶段后的变形情况。可选地，所述至少按照第一预设帧率采集所述第二兴趣标记500b-1的若干第三图像信息的步骤包括：基于所述第三图像信息和所述第一图像信息获得所述轴向位移相对于时间的变化率；若所述变化率未触发预设条件，则仍按照所述第一预设帧率采集所述第二兴趣标记500b-1的若干第三图像信息，直至所述变化率触发所述预设条件；在所述变化率触发所述预设条件的情况下，按照第二预设帧率采集所述第二兴趣标记500b-1的若干第三图像信息；其中，所述第二预设帧率大于所述第一预设帧率。
需要说明的是，预设条件为轴向位移相对于时间的变化率是否恒定。比如，在轴向位移相对于时间的变化率在一个值附近波动，则未触发该预设条件；又比如，在轴向位移相对于时间的变化率为非线性抖动或者不规律抖动，则触发该预设条件。
需要说明的是，在试件拉伸试验的过程中，第三图像信息是按照一定的帧率采集的，因此能够实时判断所述轴向位移相对于时间的变化率是否触发预设条件。如果轴向位移相对于时间的变化率没有触发预设条件，则按照所述第一预设帧率采集所述第二兴趣标记500b-1的若干第三图像信息，直至轴向位移相对于时间的变化率触发预设条件；轴向位移相对于时间的变化率没触发预设条件时，按照第二预设帧率采集所述第二兴趣标记500b-1的若干第三图像信息。从而，本发明为了能够更为客观地展示屈服阶段、强化阶段的变形，在试件进入屈服变形后，将按照第二预设帧率采集所述第二兴趣标记 500b-1的若干第三图像信息，第二预设帧率大于第一预设帧率，使得采集所述第二兴趣标记500b-1的第三图像信息更为频繁，时间间隔更短，获得的数据更准确，描绘的屈服阶段、强化阶段的变形更真实，也能够更充分地展示屈服阶段和强化阶段的图像。
可选地，所述采集试件500的图像信息集的步骤包括：至少在所述试验段500b拉断后采集一次所述第一兴趣标记500a-1的第四图像信息。由于滑动量的计算主要用于修正轴向位移，以获得更真实的变形量。因此，第四图像信息的采集可以在试件500受轴向拉伸载荷F的过程中不必采集，而在拉断后采集。这种方式主要是为了降低数据处理的量以及将更多的内存分配至第三图像信息的存储和识别。
可选地，所述识别所述图像信息集，获得所述试件500相对于所述夹具 400的滑动量和所述试件500的轴向位移的步骤包括：基于所述第三图像信息与所述第二图像信息获得所述轴向位移；基于所述第四图像信息与所述第一图像信息获得所述滑移量。
需要说明的是，基于所述第三图像信息与所述第二图像信息获得所述轴向位移的一般流程为：对每一帧的第三图像信息以第二兴趣标记为中心设置感兴趣区域裁剪图像；对裁剪后的图像进行二值化处理以识别第二兴趣标记；获得该帧的第二兴趣标记的质心坐标；以第二图像信息种的质心坐标为0点，然后将每一帧的质心坐标按照试件先后顺序绘制质心坐标的曲线，从而得到试件500的轴向位移。
需要说明的是：获得第一帧的图像中(第一图像信息)的第一兴趣标记与夹具400之间的第一距离；获得最后一帧的图像中(第四图像信息)第一兴趣标记与夹具400之间的第一距离；计算第一距离和第二距离的差值，获得试件500相对于夹具400的滑动量。
需要说明的是，由于夹持段具有两个，因而在计算滑动量时，为了更为真实的反应变形量，对两个夹持段都进行第一兴趣标记的标注，而用于计算得试件500相对于夹具400的滑动量。
本发明还提出一种试件变形的测量装置，参照图2所示，所述测量装置包括：
图像采集模块100：采集试件500的图像信息集；
图像识别模块200：识别所述图像信息，获得所述试件500相对于所述夹具400的滑动量和所述试件500的轴向位移；
数据处理模块300：基于所述滑动量和所述轴向位移，获得所述试件500 的变形量。
本发明还提出一种试件500变形的试验系统，所述试验系统包括前述的试件变形的测量装置和/或前述的终端设备。所述试验系统还可以包括电子万能试验机和拉伸试验机。
以上所述仅为本发明的可选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种试件变形的测量方法，应用于由夹具夹持的试件的拉伸试验中，其特征在于，所述试件变形的测量方法包括：
采集试件的图像信息集；
识别所述图像信息集，获得所述试件相对于所述夹具的滑动量和所述试件的轴向位移；
基于所述滑动量和所述轴向位移，获得所述试件的变形量。
2.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述试件包括试验段和位于所述试验段两端的夹持段；所述夹持段设置有第一兴趣标记，所述试验段设置有第二兴趣标记；其中，所述夹具夹持所述夹持段；
所述采集试件的图像信息集的步骤包括：
在所述试件受轴向拉伸载荷之前，采集所述第一兴趣标记的第一图像信息；采集所述第二兴趣标记的第二图像信息。
3.如权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述采集试件的图像信息集的步骤包括：
在所述试件开始受轴向拉伸载荷至所述试验段拉断的过程中，至少按照第一预设帧率采集所述第二兴趣标记的若干第三图像信息。
4.如权利要求3所述的测量方法，其特征在于，所述至少按照第一预设帧率采集所述第二兴趣标记的若干第三图像信息的步骤包括：
基于所述第三图像信息和所述第一图像信息获得所述轴向位移相对于时间的变化率；
若所述变化率未触发预设条件，则仍按照所述第一预设帧率采集所述第二兴趣标记的若干第三图像信息，直至所述变化率触发所述预设条件；
在所述变化率触发所述预设条件的情况下，按照第二预设帧率采集所述第二兴趣标记的若干第三图像信息；
其中，所述第二预设帧率大于所述第一预设帧率。
5.如权利要求3或4所述的测量方法，其特征在于，所述采集试件的图像信息集的步骤包括：
至少在所述试验段拉断后采集一次所述第一兴趣标记的第四图像信息。
6.如权利要求5所述的测量方法，其特征在于，所述识别所述图像信息集，获得所述试件相对于所述夹具的滑动量和所述试件的轴向位移的步骤包括：
基于所述第三图像信息与所述第二图像信息获得所述轴向位移；
基于所述第四图像信息与所述第一图像信息获得所述滑移量。
7.一种试件变形的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括：
图像采集模块：采集试件的图像信息集；
图像识别模块：识别所述图像信息，获得所述试件相对于所述夹具的滑动量和所述试件的轴向位移；
数据处理模块：基于所述滑动量和所述轴向位移，获得所述试件的变形量。
8.一种终端设备，其特征在于，所述终端设备包括存储器、处理器和存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的试件变形的测量程序，所述试件变形的测量程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的试件变形的测量方法的步骤。
9.一种试件变形的试验系统，其特征在于，所述测量装置包括权利要求7所述的试件变形的测量装置和/或权利要求8所述的终端设备。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有试件变形的测量程序，所述试件变形的测量程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的试件变形的测量方法。
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