CN112820390A - 一种优先程度的设置方法、测试方法和样本分析系统 - Google Patents

一种优先程度的设置方法、测试方法和样本分析系统 Download PDF

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CN112820390A CN201911119548.7A CN201911119548A CN112820390A CN 112820390 A CN112820390 A CN 112820390A CN 201911119548 A CN201911119548 A CN 201911119548A CN 112820390 A CN112820390 A CN 112820390A
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王鑫润
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Abstract

一种优先程度的设置方法、测试方法和样本分析系统,获取待测试样本的基准时间;根据样本的基准时间确定有关样本的优先程度;根据有关样本的优先程度控制样本进行测试。本发明以样本的基准时间类型所对应的时间,即基准时间来确定优先程度,并基于优先程度来控制样本的测试,提供了灵活的测试策略。

Description

一种优先程度的设置方法、测试方法和样本分析系统
技术领域
本发明涉及一种优先程度的设置方法、测试方法和样本分析系统。
背景技术
病人在医院采血处采血后,样本会被送到检验科进行测试。临床检验科测试病人样本主要有两大指标,一是测试结果的准确性和可靠性,二是样本测试周转时间(Turn-Around Time,TAT),即样本测试出结果的时间。
为了满足病人样本的TAT时间,通常是针对不同样本类型设置不同的优先级,例如通常急诊样本要尽快出结果,因此其优先级最高,体检样本对出结果时间要求比较宽松,其优先级一般比较低,因此当各种类型的样本被放入到设备中进行检测时,设备会识别样本的类型,并按照优先级的高低先后对各样本进行测试。
虽然如此,但是很多情况下样本被调度的先后策略仍然不够灵活,这使得一些对于样本TAT时间的要求仍然难以得到满足。
发明内容
针对上述问题,本申请提供一种优先程度的设置方法、测试方法和样本分析系统。
根据第一方面,一种实施例中提供一种优先程度的设置方法,包括:
生成优先程度设置界面,所述优先程度设置界面包含样本的基准时间类型条目;
响应于用户对所述优先程度设置界面的操作,设置基准时间类型;样本的基准时间用于确定关于样本的优先程度,其中样本的基准时间为样本的基准时间类型所对应的时间。
一实施例中,所述关于样本的优先程度,包括样本的优先程度和/或样本调度单位的优先程度。
一实施例中,所述样本的优先程度包括样本的初次测试优先程度和/或样本的再次测试优先程度。
一实施例中,所述优先程度设置界面包括初次测试优先程度和/或再次测试优先程度的选项;
响应于用户选中初次测试优先程度的选项,启用样本的初次测试优先程度;
响应于用户选中再次测试优先程度的选项,启用样本的再次测试优先程度。
一实施例中,所述样本的基准时间通过确定样本调度单位的基准时间,来确定样本调度单位的优先程度;其中:
所述样本的基准时间通过以下方式一或方式二来确定样本调度单位的基准时间:
方式一,将样本调度单位上基准时间最早的样本的基准时间,作为样本调度单位的基准时间;
方式二,将样本调度单位上全部样本的平均基准时间,作为样本调度单位的基准时间。
一实施例中,所述优先程度设置界面包含最早基准时间为准和/或平均基准时间为准的选项;
响应于用户选中最早基准时间为准的选项,启用所述方式一来确定样本调度单位的基准时间;
响应于用户选中平均基准时间为准的选项,启用所述方式二来确定样本调度单位的基准时间。
一实施例中,所述样本调度单位的优先程度包括样本调度单位的初次测试优先程度和/或样本调度单位的再次测试优先程度。
一实施例中,所述优先程度设置界面包括初次测试优先程度和/或再次测试优先程度的选项;
响应于用户选中初次测试优先程度的选项,启用样本调度单位的初次测试优先程度;
响应于用户选中再次测试优先程度的选项,启用样本调度单位的再次测试优先程度。
一实施例中,所述基准时间类型包括采血时间、送检时间、科室接收时间、LIS录入时间、初次上机时间、初次工单获取时间和自定义时间类型中的任意一者、两者或两者以上。
一实施例中,所述设置方法还包括:响应于用户输入的自定义类型命令,在所述优先程度设置界面增加用户自定义的基准时间类型。
根据第二方面,一种实施例提供一种样本的测试方法,包括:
获取待测试样本的基准时间;
根据样本的基准时间确定有关样本的优先程度;
根据有关样本的优先程度控制样本进行测试。
一种实施例中,所述关于样本的优先程度,包括样本的优先程度和/或样本调度单位的优先程度。
一种实施例中,所述样本的优先程度包括样本的初次测试优先程度和/或样本的再次测试优先程度。
一种实施例中,所述样本的基准时间通过确定样本调度单位的基准时间,来确定样本调度单位的优先程度。
一种实施例中,所述样本的基准时间通过方式一或方式二确定样本调度单位的基准时间;
方式一,将样本调度单位上基准时间最早的样本的基准时间,作为样本调度单位的基准时间;或者,
方式二,将样本调度单位上全部样本的平均基准时间,作为样本调度单位的基准时间。
一种实施例中,所述样本调度单位的优先程度包括样本调度单位的初次测试优先程度和/或样本调度单位的再次测试优先程度。
一种实施例中,所述获取待测试样本的基准时间,包括:
确定基准时间类型;
获取待测试样本的基准时间类型所对应的时间,并作为待测试样本的基准时间。
一种实施例中,所述基准时间类型包括采血时间、送检时间、科室接收时间、LIS录入时间、初次上机时间和初次工单获取时间中的任意一者、两者或两者以上。
根据第三方面,一种实施例提供一种样本分析系统,包括:
测定部件,用于检测样本获得样本检测结果;
样本部件,用于承载待测试的样本,吸取样本后提供给所述测定部件;
试剂部件,用于承载试剂,吸取试剂后提供给所述测定部件;
存储器,用于存储程序;
处理器,用于通过执行所述存储器存储的程序以实现如本文中任一实施例所述的方法。
根据第四方面,一种实施例提供一种样本分析系统,包括:
多个级联的分析模块,所述分析模块用于对样本进行测试;
连接各分析模块的轨道,以及通过所述轨道将待测试的样本调度到相应分析模块的调度装置;
存储器,用于存储程序;
处理器,用于通过执行所述存储器存储的程序以实现如本文中任一实施例所述的方法。
根据第五方面,一各实施例提供一种样本分析系统,包括:
输入模块,用于接收用户放入的未测定的样本;
前处理模块,其中前处理模块包括离心模块、血清检测模块、去盖模块和分注模块中的一者或多者;所述离心模块用于对待离心的样本进行离心;所述血清检测模块用于检测样本的血清量是否足够和/或检测样本的血清质量是否合格;所述去盖模块用于将离心完成后的样本去盖;所述分注模块用于对样本进行分样;
一个或多个分析模块,用于对已离心和去盖的样本进行测试;
后处理模块,所述后处理模块包括加膜/加盖模块、冷藏存储模块和去膜/去盖模块中的一者或多者;所述加膜/加盖模块用于对样本加膜或加盖;所述冷藏存储模块用于存储样本;所述去膜/去盖模块用于对样本进行去膜或去盖;
连接各模块的轨道和用于将样本在各模块间通过轨道来调度的调度装置;
存储器,用于存储程序;
处理器,用于通过执行所述存储器存储的程序以实现如本文中任一实施例所述的方法。
根据第六方面,一种实施例提供一种计算机可读存储介质,包括程序,所述程序能够被处理器执行以实现如本文中任一实施例所述的方法。
依据上述实施例的优先程度的设置方法、测试方法、样本分析系统和计算机可读存储介质,其提出基准时间类型这个概念,以样本的基准时间类型所对应的时间,即基准时间来确定优先程度,并基于优先程度来控制样本的测试,提供了灵活的测试策略。
附图说明
图1为一种实施例的进样机构的结构示意图;
图2为一种实施例的样本分析系统的结构示意图;
图3为另一种实施例的样本分析系统的结构示意图;
图4为又一种实施例的样本分析系统的结构示意图;
图5为再一种实施例的样本分析系统的结构示意图;
图6为一种实施例的前处理模块的结构示意图;
图7为一种实施例的后处理模块的结构示意图;
图8为还一种实施例的样本分析系统的结构示意图;
图9为一种实施例的优先程度设置界面的示意图;
图10为另一种实施例的优先程度设置界面的示意图;
图11为又一种实施例的优先程度设置界面的示意图;
图12为再一种实施例的优先程度设置界面的示意图;
图13为还一种实施例的优先程度设置界面的示意图;
图14为又另一种实施例的优先程度设置界面的示意图;
图15为一种实施例的样本的测试方法的流程图;
图16为一种实施例的优先程度的设置方法的流程图。
具体实施方式
下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中,很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而,本领域技术人员可以毫不费力的认识到,其中部分特征在不同情况下是可以省略的,或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下,本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述,这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没,而对于本领域技术人员而言,详细描述这些相关操作并不是必要的,他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。
另外,说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式。同时,方法描述中的各步骤或者动作也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此,说明书和附图中的各种顺序只是为了清楚描述某一个实施例,并不意味着是必须的顺序,除非另有说明其中某个顺序是必须遵循的。
本文中为部件所编序号本身,例如“第一”、“第二”等,仅用于区分所描述的对象,不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”,如无特别说明,均包括直接和间接连接(联接)。
先对本发明的构思进行一个说明。
一般地,病人在医院采血处采血后,样本会经过送检测环节、科室接收环节和样本前处理环节(例如对样本进行离心处理等)等之后,再上机进行测试。在系统具有缓存区的情况下,一般样本在被吸样后会被调度到缓存区来等待测试结果,反之,则一般样本会被调度到用于供用户回收的区域例如回收区等。对于具有缓存区的系统,一般地,系统在样本测试结果出来后,会判断样本是否符合重测条件,如果符合,则将样本从缓存区重新调度到吸样的位置来进行相应项目的重测;而对于不具有缓存区的系统,一般地,系统或用户审核样本结果时,如果判断有样本需要重测,则用户会从回收的样本中找到相应样本,然后将样本放入到系统中去进行相应项目的重测;当然,样本重测后,一些例子中,可以继续根据样本的重测结果判断样本是否需要继续进行重测,一些例子中,也可以不再根据样本的重测结果判断样本是否需要继续重测,而是直接将样本调度到回收区等。样本第一次进入系统进行测试,本文中称为初次测试;当需要重测时,样本非第一次进入系统,例如二次、三次或多次等,本文中称为再次测试。不管是初次测试还是再次测试,都涉及到样本调度的顺序或者说测试顺序。目前解决样本测试顺序,一般都是通过采用样本类型(例如急诊样本和普通样本等)来设定各样本测试的优先程度;另外一些方案中,则是通过人为控制样本放入系统的顺序和位置,来让系统自然地优先测试那些位置靠前的样本,例如请参照图1,为一个进样机构的结构示意图,系统会按照通道1至通道n的顺序依次,通过运动小车将通道1至通道n中的样本架上的样本调度到扫描通道的吸样位进行扫描和吸样,因此用户将样本架放入到通道的位置决定了样本架上样本测试的优先顺序。
上述的调度和测试方法不够灵活,在一些情况下用户希望保证先采样或先送到科室的样本被先测试,即采样或科室接收的时间顺序与样本测试的时间顺序对应起来。而目前的样本分析系统是无法做到这一点的。例如病人在医院采血处采血后,样本会经过送检环节、科室接收环节和样本前处理等环节,之后再上机进行测试——当然,对于一些具备前处理功能的样本分析系统,科室可以在接收到样本后,就将样本上机,然后在样本分析系统上进行前处理和测试;可以看到,在样本的初次测试时,由于经过这么多环节,使得最终样本的测试顺序和诸如采血或送检等时间顺序已经关联不大,最终并不能保证采血或送检时间在先的样本被严格放入系统中靠前的位置。并且,样本测试完毕后,如上所述,当判断样本需要重测时,要么是系统自动将缓存区的重测样本调度过来重测测试——这时候由于重测样本之前在缓存区等待测试结果,因此会有许多其他样本排在它前面或后面;而如果是用户人工从回收的样本中找到重测样本,之后再将样本重新上机测试;由于经过这些环节,样本的再次测试过程中同样也不是采血或送检时间在先的样本具有优先测试的权利。
本发明提出基准时间类型这个概念,以样本的基准时间类型所对应的时间,即基准时间来确定样本在初次测试和/或再次测试中的优先程度。基准时间类型可以是采血时间、送检时间、科室接收时间、LIS录入时间、初次上机时间和初次工单获取时间等,这可以根据需求来设置,甚至可以提供给用户来选择其需要的基准时间类型。
在对本发明展开说明之前,先对样本分析系统进行一个说明。
一些实施例的样本分析系统可以包括一个或多个分析设备。当样本分析系统只包括一个分析设备时,实际上此时样本分析系统就是一个单机测试的系统,当样本分析系统包括多个级联的分析设备时,实际上些时样本分析系统就是流水线式的样本分析系统。
请参照图2,一实施例样本分析系统为单机测试的系统,可以包括样本部件11、试剂部件14和测定部件17,下面具体说明。
样本部件11用于承载待测试的样本,吸取样本后提供测定部件17。请参照图3,一些实施例子,样本部件11可以包括进样部件12和样本分注机构13。进样部件12用于承载样本。一些例子中进样部件12可以包括样本分配模块(SDM,Sample Delivery Module)及前端轨道;另一些例子中,进样部件12也可以是样本盘,样本盘包括多个可以放置诸如样本管的样本位,样本盘通过转动其盘式结构,可以将样本调度到相应位置,例如供样本分注机构13吸取样本的位置。样本分注机构13用于吸取样本并排放到待加样的反应杯中。例如样本分注机构13可以包括样本针,样本针通过二维或三维的驱动机构来在空间上进行二维或三维的运动,从而样本针可以移动去吸取进样部件12所承载的样本,以及移动到待加样的反应杯,并向反应杯排放样本。
试剂部件14用于承载试剂,吸取试剂后提供给测定部件17。一些实施例中,试剂部件14可以包括试剂承载部件15和试剂分注机构16。试剂承载部件15用于承载试剂。在一实施例中,试剂承载部件15可以为试剂盘,试剂盘呈圆盘状结构设置,具有多个用于承载试剂容器的位置,试剂承载部件15能够转动并带动其承载的试剂容器转动,用于将试剂容器转动到特定的位置,例如被试剂分注机构16吸取试剂的位置。试剂承载部件15的数量可以为一个或多个。试剂分注机构16用于吸取试剂并排放到待加试剂的反应杯中。在一实施例中,试剂分注机构16可以包括试剂针,试剂针通过二维或三维的驱动机构来在空间上进行二维或三维的运动,从而试剂针可以移动去吸取试剂承载部件15所承载的试剂,以及移动到待加试剂的反应杯,并向反应杯排放试剂。
测定部件17用于对样本进行测试以获取测试数据。一些实施例中,测定部件17可以包括反应部件18和光测部件19。反应部件18具有至少一个放置位,放置位用于放置反应杯并孵育反应杯中的反应液。例如,反应部件18可以为反应盘,其呈圆盘状结构设置,具有一个或多个用于放置反应杯的放置位,反应盘能够转动并带动其放置位中的反应杯转动,用于在反应盘内调度反应杯以及孵育反应杯中的反应液。光测部件19用于对孵育完成的反应液进行光测定,得到样本的反应数据。例如光测部件19对待测的反应液的发光强度进行检测,通过定标曲线,计算样本中待测成分的浓度等。在一实施例中,光测部件19分离设置于反应部件18的外面。
如上所述,一些实施例中样本分析系统包括多个级联的分析模块10,以形成流水线式的测试系统。请参照图4和图5,为了更好地以流水线化的形式测试样本,在包括多个级联的分析设备的样本分析系统的一些实施例中,其还可以包括输入模块20、前处理模块30、轨道40、调度装置50和后处理模块60中的一者或多者。需要说明的是,图4中显示的是三个分析设备,图5中显示的是两个分析设备,这只是用于示意,并不用于限定样本分析系统的分析设备的数量只能是两个或三个。
分析模块10用于对样本进行测试。分析模块10即为分析设备,一些具体的实施例中,其结构可以参见图2和图3,分析模块10可以包括样本部件11、试剂部件14和测定部件17等。当分析模块10脱离样本分析系统,即处于离线时,也就变成了一个个独立的分析设备。为了提高效率和测试通量,一般地,样本分析系统具有多个分析模块10,如生化分析设备、免疫分析设备、凝血分析设备等。这些分析模块10可以是同种型号的分析设备,也可以是不同型号的分析设备,这可以根据用户和科室的需求来配置。
输入模块20可以用于接收用户放入的待测样本。一些实施例中输入模块20还可以并获取待测样本的标识信息。用户可以将需要测试的样本放入输入模块20中,输入模块20例如可以通过扫描装置扫描待测样本上的条形码或者二维码等标签,以获取待测样本的标识信息。标识信息例如可以包括样本编号、样本类别、样本源信息等。
前处理模块30用于对输入模块20接收到的待测样本进行前处理。一般地,用户将样本放入到输入模块20后,输入模块20对样本进行扫描完,调度装置50则会接着将样本调度到前处理模块30中进行前处理,前处理完的样本再会接着从前处理模块30中调度到相应的分析模块10中进行测试。一实施例中,请参照图6,前处理模块30可以包括离心模块31、血清检测模块32、去盖模块33和分注模块34中的一者或多者。离心模块31用于对待离心的样本进行离心,离心模块31的数量可以有一个或多个。血清检测模块32用于检测样本的血清量是否足够和/或检测样本的血清质量是否合格,来确定离心后的样本是否可用于后续的测定。去盖模块33用于将离心完成后的样本去盖——可以理解地,本文中对样本加盖、加膜、去盖和去膜,指的是对装有样本的样本管进行加盖、加膜、去盖和去膜;一般地样本在离心后需要去盖,以供后续的分注模块34或分析设备进行分样或吸样。分注模块34用于将对样本进行分样,例如将一份样本分成多份样本,以分别送入不同的分析模块10中进行测定。前处理模块30通常的一个前处理流程为:离心模块31接收由输入模块20调度过来的样本,并对样本进行离心;血清检测模块32检测离心处理后的样本的血清,判断是否可用于后续的测定,如果血清量不够,或者质量不合格,则不能用于后续的测定;如果检测通过,则样本又被调度到去盖模块33,去盖模块33将样本的盖子去掉,若有分注模块34,则分注模块34对去掉盖子后的样本进行分样,然后将分样后的样本调度到相应的分析模块10中进行测定,如果没有分注模块34,则样本就从去盖模块33被调度到相应的分析模块10中进行测定。需要说明的是,前处理模块30不是必需的,一些实施例的样本分析系统可以不包括前处理模块30,例如图4就是一个例子,一些实施例的样本分析系统也可以包括前处理模块30,例如图5就是一个例子。
轨道40用于将各设备连接起来。例如轨道40将输入模块20和多个分析模块10连接起来,使得样本可以通过轨道40从输入模块20调度到各个分析模块10中进行测试。在一些包括前处理模块30和后处理模块60的例子中,轨道40则依次连接输入模块20、前处理模块30、各分析模块10和后处理模块60。
调度装置50用于通过轨道40调度样本,例如将样本从输入模块20中调度到分析模块10中,例如将样本从一台分析模块10调度到另一台分析模块10。
后处理模块60用于完成对样本的后处理。一实施例中,请参照图7,后处理模块60包括加膜/加盖模块61、冷藏存储模块62和去膜/去盖模块63中的一者或多者。加膜/加盖模块61用于对样本加膜或加盖;冷藏存储模块62用于存储样本;去膜/去盖模块63用于对样本进行去膜或去盖。后处理模块60通常的一个后处理流程为:样本其所有需要测定的项目都在相应分析模块10中被吸样后,接着会被调度到加膜/加盖模块61,加膜/加盖模块61对测定完成的样本进行加膜或加盖,然后再调度到冷藏存储模块62进行存储;若样本需要重测,则样本会被从冷藏存储模块62调度出来,并在去膜/去盖模块63中被去膜或去盖,然后被调度到相应的分析模块10进行测定。需要说明的是,后处理模块60不是必需的,一些实施例的样本分析系统可以不包括后处理模块60,例如图4就是一个例子,一些实施例的样本分析系统也可以包括后处理模块60,例如图5就是一个例子。
图8为本发明提供的包括前处理模块30和后处理模块60的样本分析系统的另一种结构示意图。如图8所示,各个设备或模块还可以设置有模块缓冲区,轨道40也可以具有轨道缓冲区,整个轨道可以为循环轨道。需要说明的是,图中显示的很多模块都是一个,但是本领域技术人员可以理解,这里并没有对数量进行限定,例如离心模块31可以有多个,去盖模块33也可以有多个等。
以上是本发明一些实施例的样本分析系统的一些结构上的说明。
不论是作为单机测试的样本分析系统,还是作为多个分析设备级联而成的样本分析系统,都还可以包括存储器70和处理器80,一些实施例中还可以包括显示器90。一些实施例中存储器70可以存储数据,例如存储样本测试过程中的测试数据,例如可以存储程序;一些实施例中,处理器80则可以通过执行存储器70中存储的程序来实现用户所设置的方法和步骤,一些实施例中,处理器80也可以调用存储的测试数据等。显示器90用于显示信息,例如显示相关的用户界面,用户在用户界面上可以查看信息以及进行交互等。需要说明的是,显示器90是可选的,即在一些实施例的样本分析系统中可以包括显示器90,在一些实施例的样本分析系统也可以不包括显示器90。
如上所述,本申请引入基准时间来确定有关样本的优先程度。因此一实施例中处理器80先获取待测试样本的基准时间,再根据样本的基准时间确定有关样本的优先程度;再根据有关样本的优先程度控制样本进行测试。一些实施例中有关样本的优先程度可以包括样本的优先程度和/或样本调度单位的优先程度。样本调度单位例如可以为样本架等。
下面分别对基准时间类型、基准时间和优先程度这些概念进行说明。
一些实施例中,基准时间类型包括采血时间、送检时间、科室接收时间、LIS录入时间、初次上机时间、初次工单获取时间和自定义时间类型的任意一者、两者或两者以上。采血时间指的是病人采血得到样本的时间。送检时间指的是病人的样本被送检的时间。科室接收时间指的是病人的样本被科室接收的时间。可以理解地,送检时间和科室接收时间的关系,类似日常生活中,我们快递发出时间和接收时间的关系。而LIS录入时间,指的是科室在接收到样本后,将样本相应信息录入到LIS系统的时间。初次上机时间指的是样本初次进入系统的时间,例如对于单机的样本分析系统来说,初次上机时间指的是样本被初次放入到仪器的时间,对于多个分析模块的样本分析系统来说,初次上机时间指的是样本被初次放入到接收模块20的时间;对于初次上机时间,一些实施例中,系统可以这样来记录:在顺序模式下,用户需要在相关界面上对样本进行测试申请,可以将样本测试申请的时间作为样本的初次上机时间,或者将样本测试申请的时间加上一个预设的时间值,来得到样本的初次上机时间;在条码模式下,可以将样本在初次测试时被扫描的时间作为样本的初次上机时间,或者将样本在初次测试时被扫描的时间减去一个预设的时间值,来得到样本的初次上机时间。初次工单获取时间可以是指样本在初次测试时被扫描的时间等。为了使得系统更加灵活,基准时间类型也可以由用户来自定义,例如用户也可以自定义病人挂号时间这一类型。
样本的基准时间则为样本的基准时间类型所对应的时间。因此一些实施例中,处理器80先确定基准时间类型,再获取待测试样本的基准时间类型所对应的时间,并作为待测试样本的基准时间。
以上是基准时间类型和基准时间的一些说明,下面对优先程度这一概念和术语进行说明。
本领域技术人员都可以理解什么是优先程度,本文中也可以再解释优先程度这一术语,优先程度是这样一种概念:当系统面对多个样本,需要依次将它们调度到相应位置——例如吸样位进行吸样时,有一个先后顺序;优先程度也是起这样作用的准则,即当系统中有多个待被吸样和测试的样本时,系统按照它们的优先程度来依次将它们调度到吸样位进行吸样,优先程度高的样本,会被先优先调度进行吸样和测试,进一步地,优先程度越高的样本,会被越先优先调度进行吸样和测试,例如在以样本为单位进行调度的系统中——典型地例如样本盘结构的进样系统,有优先程度从高到低的三个样本S1、S2和S3,则样本S1会被先调度进行吸样和测试,接着样本S2会被调度进行吸样和测试,再接着样本S3会被调度进行吸样和测试;而在以样本架等为单位进行调度的系统,则一般是将根据样本架的优先程度或者样本架上各样本的优先程度,来对这些样本架进行排序,例如有优先程度从高到低的三个样本架A1、A2和A3,则样本架A1会被先调度以使得其承载的样本进行吸样和测试,接着样本架A2会被调度以使得其承载的样本进行吸样和测试,再接着样本架A3会被调度以使得其承载的样本进行吸样和测试。另外,可以理解的地,用于包括前处理模块30和/或处理模块60的样本分析系统,在每一个环节本身调度和处理样本,以及在各环节之间调度转运样本时,都可以考虑优先程度,例如在离心模块31本身对样本进行离心时,可以按照优先程度来对待离心的样本依次进行离心,在盖模块33对样本进行去盖时,也可以按照优先程度来对待去盖的样本依次进行离心;再例如在从输入模块20调度到离心模块31时,可以根据优先程度来调度样本,在离心模块31调度到去盖模块33时,可以根据优先程度来调度样本,在从去盖模块33调度到各分析模块10时,可以根据优先程度来调度样本。
以上说明了优先程度的概念,本发明中,有关样本的优先程度可以包括样本的优先程度和/或样本调度单位的优先程度。一些实施例中,样本的优先程度可以包括样本的初次测试优先程度和/或样本的再次测试优先程度;类似地,本发明的样本调度单位的优先程度可以包括样本调度单位的初次测试优先程度和/或样本调度单位的再次测试优先程度。可以理解地,初次测试优先程度指的是样本在初次测试过程中的优先程度,再次测试优先程度指的是样本在再次测试过程中的优先程度。
样本的优先程度——包括样本的初次测试优先程度和/或样本的再次测试优先程度,可以由样本的基准时间来确定,样本的基准时间在前,则样本的优先程度高,样本的基准时间在后,则样本的优先程度低;即,对于任意两个样本S1和S2,若样本S1的基准时间在前,样本S2的基准时间在后,则样本S1的优先程度高于样本S2的优先程度。
样本调度单位的优先程度——包括样本调度单位的初次测试优先程度和/或样本调度单位的再次测试优先程度,可以由样本的基准时间来确定。具体地,样本的基准时间通过确定样本调度单位的基准时间,来确定样本调度单位的优先程度;即先由样本的基准时间来确定样本调度单位的基准时间,再借由样本调度单位的基准时间来确定样本调度单位的优先程度。类似地,样本调度单位的基准时间在前,则样本调度单位的优先程度高,样本调度单位的基准时间在后,则样本调度单位的优先程度低;即,对于任意两个样本调度单位A1和A2,若样本调度单位A1的基准时间在前,样本调度单位A2的基准时间在后,则样本调度单位A1的优先程度高于样本调度单位A2的优先程度。一些实施例中,样本的基准时间通过以下方式一或方式二来确定样本调度单位的基准时间:
方式一,将样本调度单位上基准时间最早的样本的基准时间,作为样本调度单位的基准时间;例如样本调度单位A1上有多个样本S1到S10,其中样本S4的基准时间最早,则将样本S4的基准时间作为该样本调度单位的基准时间。
方式二,将样本调度单位上全部样本的平均基准时间,作为样本调度单位的基准时间。例如样本调度单位A1上有多个样本S1到S10,则将这10个样本S1到S10的基准时间求取平均值,得到平均基准时间,将该平均基准时间作为样本调度单位的基准时间。
以上说明了基准时间类型、基准时间和优先程度的概念,可以看到,在确定基准时间类型后,处理器80就可以根据将基准时间类型对应的时间作为基准时间,并进一步确定有关样本的优先程度。一些实施例中,基准时间类型可以是厂家在样本分析系统出厂时就预设好的,一些实施例中,基准时间类型也可以由用户来设置、修改或者自定义。下面具体说明。
一些实施例中处理器80生成优先程度设置界面,优先程度设置界面包含样本的基准时间类型条目。响应于用户对所述优先程度设置界面的操作,处理器80设置基准时间类型。显示器90可以用来显示优先程度设置界面。
图9就是一个例子,在图9中的基准时间类型条目中可以预先罗列一些常用的基准时间类型,用户可以通过鼠标等输入设备将基准时间类型前面的复选框选中,来设置当前的基准时间类型。图9是采血时间被选中为作为样本分析系统的基准时间类型的例子。图10是另一个例子,用户可以通过鼠标等输入设备通过点击下拉菜单为基准时间类型条目选择基准时间类型。
当然,在一些实施例中,响应于用户输入的自定义类型命令,处理器80在优先程度设置界面增加用户自定义的基准时间类型。具体的实现方式有多种,例如针对图9中的例子,可以在优先程度设置界面设置增加按钮,用户通过点击该按钮,可以通过键盘等输入自定义的基准时间类型。当然,用户也可以在优先程度设置界面删除可供选择的基准时间类型。因此一些实施例中,响应于用户对优先程度设置界面的操作,处理器80增加删除或修改可供选择的基准时间类型。例如一些实施例中,优先程度设置界面还可以包含增加按钮和/或删除按钮。响应于用户对该增加按钮的点击,处理器80在所述优先程度设置界面增加可供选择的基准时间类型,例如图11就是一个例子,用户通过点击增加按钮后,界面增加了一个基准时间类型条目及其前面的复选框,基准时间类型条目中的内容可由用户编辑和设置,例如图中显示的是用户将增加的基准时间类型条目的内容编辑和设置为病人的挂号时间。类似地,响应于用户对删除按键的点击,处理器80将在所述优先程度设置界面中当前被选中的基准时间类型条目及其前面的复选框删除。
如上所述,一些实施例中,关于样本的优先程度可以包括样本的优先程度和/或样本调度单位的优先程度。而样本调度单位的优先程度可以由样本的基准时间通过上文中的方式一或方式二来确定。因此一些实施例中,优先程度设置界面可以包含最早基准时间为准和/或平均基准时间为准的选项。响应于用户选中最早基准时间为准的选项,处理器80启用所述方式一来确定样本调度单位的基准时间;响应于用户选中平均基准时间为准的选项,处理器80启用所述方式二来确定样本调度单位的基准时间。例如图12就是一个例子。图中显示的是启用方式一,即将样本调度单位上基准时间最早的样本的基准时间,作为样本调度单位的基准时间。
如上所述,一些实施例中,优先程度包括初次测试优先程度和再次测试优先程度。因此一些例子中还可以提供相关选项来供用户选择是否启用初次测试优先程度以及是否启用再次测试优先程度。
因此一些实施例中,优先程度设置界面包括初次测试优先程度和/或再次测试优先程度的选项——这里的初次测试优先程度的选项是针对样本的初次测试优先程度,这里的再次测试优先程度的选项是针对样本的再次测试优先程度,例如图13就是一个例子,图中位于基准时间类型条目右边的两个选项,即为该处所涉及的初次测试优先程度和/或再次测试优先程度的选项;响应于用户选中初次测试优先程度的选项,处理器80启用样本的初次测试优先程度;响应于用户选中再次测试优先程度的选项,处理器80启用样本的再次测试优先程度。例如用户可以通过鼠标等输入设备将选项前面的复选框选中,来选择是否启用样本的初次测试优先程度,以及是否启用样本的再次测试优先程度;图中显示的是启用样本的初次测试优先程度和启用样本的再次测试优先程度。
类似地,一些实施例中,优先程度设置界面也可以包括初次测试优先程度和/或再次测试优先程度的选项——这里的初次测试优先程度的选项是针对样本调度单位的初次测试优先程度,这里的再次测试优先程度的选项是针对样本调度单位的再次测试优先程度,例如图14就是一个例子,图中位于最早基准时间为准和平均基准时间为准的选项右边的两个选项,即为该处所涉及的初次测试优先程度和/或再次测试优先程度的选项;响应于用户选中初次测试优先程度的选项,处理器80启用样本调度单位的初次测试优先程度;响应于用户选中再次测试优先程度的选项,处理器80启用样本调度单位的再次测试优先程度。例如用户可以通过鼠标等输入设备将选项前面的复选框选中,来选择是否启用样本调度单位的初次测试优先程度,以及是否启用样本调度单位的再次测试优先程度;图中显示的是启用样本调度单位的初次测试优先程度和启用样本调度单位的再次测试优先程度。
在确定有关样本的优先程度后,处理器80根据有关样本的优先程度控制样本进行测试。例如以样本盘式进样结构为例,处理器80按照样本的优先程度由高到低,先后将各样本调度到吸样位进行吸样和测试,优先程度高的样本先被调度到吸样位进行吸样和测试,优先程度低的样本后被调度到吸样位进行吸样和测试。
需要说明的是,样本在调度和测试时,根据承载样本的样本管是否有识别码或者说条码,一般可以分为两种模式,一种是条码模式,一种是顺序模式——这是上文中也有所提及。本申请的样本分析系统可以是只采用条码模式场景,也可以只采用顺序模式场景,也可以包括这两种场景,通过用户自己选择哪种场景。当样本分析系统采取条码模式时,一般地,样本先被用户放入到样本分析系统中,在样本被放入到样本分析系统时,样本分析系统此时并不知晓各样本的基准时间,从而也无法确定样本的优先程度等信息,因此先是按照放入位置的前后,依次将各样本调度到扫描器可以扫描到条码的位置,从而获取样本的项目测试和基准时间等信息,并确定样本的优先程度的信息,从而根据样本的优先程度,再控制各样本进行测试。当样本分析系统采取顺序模式时,用户需要在测试前先在项目申请测试的软件界面上输入试管或者说样本的编号和样本所需要进行的测试项目等信息,启动测试后,样本分析系统再将样本编号与样本被分配的物理位置(即样本被放入在样本分析系统中的实际位置)相关联,例如一些实施例中,可以将第一个进样的样本架的第一个样本位置关联到样本的起始编号,后续的样本架上的样本位置被顺序地依次关联到样本的后续编号。这种关联方式也一般被称为顺序模式。例如一批样本编号为1#到30#,将这批样本连续地放入到样本分析仪后,第一个进样的样本架上第1个到第10个样本位置(假设样本架上具有10个样本位置)依次关联到1#到10#的样本编号,第二个进样的样本架上第1个到第10个样本位置依次关联到11#到20#的样本编号,第三个进样的样本架上第1个到第10个样本位置依次关联到21#到30#的样本编号;这样样本分析系统通过识别样本的物理位置,就可以得到各物理位置上的样本的编号、基准时间和测试项目集合等信息,从而确定样本的优先程度等,因此在样本被放入到样本分析系统时,样本分析系统通过识别他们的物理位置就可以确定样本的优先程度,并根据样本的优先程度控制各样本进行测试。
上就是本申请一些实施例的样本分析系统的说明,本申请一些实施例中还公开了一种样本的测试方法,下面具体说明。
请参照图15,一些实施例的测试方法包括步骤100到步骤300,下面具体说明。
步骤100:获取待测试样本的基准时间。
一些实施例中,步骤100可以这样来获取待测试样本的基准时间:先确定基准时间类型;再获取待测试样本的基准时间类型所对应的时间,并作为待测试样本的基准时间。
一些实施例中,基准时间类型包括采血时间、送检时间、科室接收时间、LIS录入时间、初次上机时间、初次工单获取时间和自定义时间类型中的任意一者、两者或两者以上。采血时间指的是病人采血得到样本的时间。送检时间指的是病人的样本被送检的时间。科室接收时间指的是病人的样本被科室接收的时间。可以理解地,送检时间和科室接收时间的关系,类似日常生活中,我们快递发出时间和接收时间的关系。而LIS录入时间,指的是科室在接收到样本后,将样本相应信息录入到LIS系统的时间。初次上机时间指的是样本初次进入系统的时间,例如对于单机的样本分析系统来说,初次上机时间指的是样本被初次放入到仪器的时间,对于多个分析模块的样本分析系统来说,初次上机时间指的是样本被初次放入到接收模块20的时间;对于初次上机时间,一些实施例中,系统可以这样来记录:在顺序模式下,用户需要在相关界面上对样本进行测试申请,可以将样本测试申请的时间作为样本的初次上机时间,或者将样本测试申请的时间加上一个预设的时间值,来得到样本的初次上机时间;在条码模式下,可以将样本在初次测试时被扫描的时间作为样本的初次上机时间,或者将样本在初次测试时被扫描的时间减去一个预设的时间值,来得到样本的初次上机时间。初次工单获取时间可以是指样本在初次测试时被扫描的时间等。为了使得系统更加灵活,基准时间类型也可以由用户来自定义,例如用户也可以自定义病人挂号时间这一类型。
一些实施例中,基准时间类型可以是厂家在样本分析系统出厂时就预设好的,一些实施例中,基准时间类型也可以由用户来设置、修改或者自定义。
步骤200:根据样本的基准时间确定有关样本的优先程度。
一些实施例中,有关样本的优先程度包括样本的优先程度和/或样本调度单位的优先程度。下面分别说明这两者。
样本的优先程度——一些实施例中可以包括样本的初次测试优先程度和/或样本的再次测试优先程度;样本的优先程度可以由样本的基准时间来确定,样本的基准时间在前,则样本的优先程度高,样本的基准时间在后,则样本的优先程度低;即,对于任意两个样本S1和S2,若样本S1的基准时间在前,样本S2的基准时间在后,则样本S1的优先程度高于样本S2的优先程度。
样本调度单位的优先程度——一些实施例事可以包括样本调度单位的初次测试优先程度和/或样本调度单位的再次测试优先程度;样本调度单位的优先程度可以由样本的基准时间来确定。具体地,样本的基准时间通过确定样本调度单位的基准时间,来确定样本调度单位的优先程度;即先由样本的基准时间来确定样本调度单位的基准时间,再借由样本调度单位的基准时间来确定样本调度单位的优先程度。类似地,样本调度单位的基准时间在前,则样本调度单位的优先程度高,样本调度单位的基准时间在后,则样本调度单位的优先程度低;即,对于任意两个样本调度单位A1和A2,若样本调度单位A1的基准时间在前,样本调度单位A2的基准时间在后,则样本调度单位A1的优先程度高于样本调度单位A2的优先程度。一些实施例中,样本的基准时间通过以下方式一或方式二来确定样本调度单位的基准时间:
方式一,将样本调度单位上基准时间最早的样本的基准时间,作为样本调度单位的基准时间;例如样本调度单位A1上有多个样本S1到S10,其中样本S4的基准时间最早,则将样本S4的基准时间作为该样本调度单位的基准时间。
方式二,将样本调度单位上全部样本的平均基准时间,作为样本调度单位的基准时间。例如样本调度单位A1上有多个样本S1到S10,则将这10个样本S1到S10的基准时间求取平均值,得到平均基准时间,将该平均基准时间作为样本调度单位的基准时间。
步骤300:根据有关样本的优先程度控制样本进行测试。
例如以样本盘式进样结构为例,处理器80按照样本的优先程度由高到低,先后将各样本调度到吸样位进行吸样和测试,优先程度高的样本先被调度到吸样位进行吸样和测试,优先程度低的样本后被调度到吸样位进行吸样和测试。
以上就是样本的测试方法的一些说明。如上所述,基准时间类型可以是厂家在样本分析系统出厂时就预设好的,基准时间类型也可以由用户来设置、修改或者自定义。因此本发明一些实施例中还提供一种优先程度的设置方法。请参照图16,一些实施例的设置方法包括步骤110到步骤120,下面具体说明。
步骤110:生成优先程度设置界面,所述优先程度设置界面包含样本的基准时间类型条目。
步骤120:响应于用户对所述优先程度设置界面的操作,设置基准时间类型;样本的基准时间用于确定关于样本的优先程度,其中样本的基准时间为样本的基准时间类型所对应的时间。
上文中图9和图10为优先程度设置界面,在图9中的基准时间类型条目中可以预先罗列一些常用的基准时间类型,用户可以通过鼠标等输入设备将基准时间类型前面的复选框选中,来设置当前的基准时间类型;在图10的例子中,用户可以通过鼠标等输入设备通过点击下拉菜单为基准时间类型条目选择基准时间类型。
当然,在一些实施例中,响应于用户输入的自定义类型命令,步骤120在优先程度设置界面增加用户自定义的基准时间类型。具体的实现方式有多种,例如针对上文图9中的例子,可以在优先程度设置界面设置增加按钮,用户通过点击该按钮,可以通过键盘等输入自定义的基准时间类型。当然,用户也可以在优先程度设置界面删除可供选择的基准时间类型。因此一些实施例中,响应于用户对优先程度设置界面的操作,步骤120增加删除或修改可供选择的基准时间类型。例如一些实施例中,优先程度设置界面还可以包含增加按钮和/或删除按钮。响应于用户对该增加按钮的点击,步骤120在所述优先程度设置界面增加可供选择的基准时间类型,例如上文中图11就是一个例子,用户通过点击增加按钮后,界面增加了一个基准时间类型条目及其前面的复选框,基准时间类型条目中的内容可由用户编辑和设置,例如图中显示的是用户将增加的基准时间类型条目的内容编辑和设置为病人的挂号时间。类似地,响应于用户对删除按键的点击,步骤120将在所述优先程度设置界面中当前被选中的基准时间类型条目及其前面的复选框删除。
如上所述,一些实施例中,关于样本的优先程度可以包括样本的优先程度和/或样本调度单位的优先程度。而样本调度单位的优先程度可以由样本的基准时间通过上文中的方式一或方式二来确定。因此一些实施例中,优先程度设置界面可以包含最早基准时间为准和/或平均基准时间为准的选项。响应于用户选中最早基准时间为准的选项,步骤120启用所述方式一来确定样本调度单位的基准时间;响应于用户选中平均基准时间为准的选项,步骤120启用所述方式二来确定样本调度单位的基准时间。例如上文中图12就是一个例子。图中显示的是启用方式一,即将样本调度单位上基准时间最早的样本的基准时间,作为样本调度单位的基准时间。
如上所述,一些实施例中,优先程度包括初次测试优先程度和再次测试优先程度。因此一些例子中还可以提供相关选项来供用户选择是否启用初次测试优先程度以及是否启用再次测试优先程度。
因此一些实施例中,优先程度设置界面包括初次测试优先程度和/或再次测试优先程度的选项——这里的初次测试优先程度的选项是针对样本的初次测试优先程度,这里的再次测试优先程度的选项是针对样本的再次测试优先程度,例如上文中图13就是一个例子,图中位于基准时间类型条目右边的两个选项,即为该处所涉及的初次测试优先程度和/或再次测试优先程度的选项;响应于用户选中初次测试优先程度的选项,步骤120启用样本的初次测试优先程度;响应于用户选中再次测试优先程度的选项,步骤120启用样本的再次测试优先程度。例如用户可以通过鼠标等输入设备将选项前面的复选框选中,来选择是否启用样本的初次测试优先程度,以及是否启用样本的再次测试优先程度;图中显示的是启用样本的初次测试优先程度和启用样本的再次测试优先程度。
类似地,一些实施例中,优先程度设置界面也可以包括初次测试优先程度和/或再次测试优先程度的选项——这里的初次测试优先程度的选项是针对样本调度单位的初次测试优先程度,这里的再次测试优先程度的选项是针对样本调度单位的再次测试优先程度,例如上文中图14就是一个例子,图中位于最早基准时间为准和平均基准时间为准的选项右边的两个选项,即为该处所涉及的初次测试优先程度和/或再次测试优先程度的选项;响应于用户选中初次测试优先程度的选项,步骤120启用样本调度单位的初次测试优先程度;响应于用户选中再次测试优先程度的选项,步骤120启用样本调度单位的再次测试优先程度。例如用户可以通过鼠标等输入设备将选项前面的复选框选中,来选择是否启用样本调度单位的初次测试优先程度,以及是否启用样本调度单位的再次测试优先程度;图中显示的是启用样本调度单位的初次测试优先程度和启用样本调度单位的再次测试优先程度。
本发明提出基准时间类型这个概念,以样本的基准时间类型所对应的时间,即基准时间来确定优先程度,用户可以基于自己科室的实际情况来选择适合自己的基准时间类型,进而保证样本的TAT时间。
本文参照了各种示范实施例进行说明。然而,本领域的技术人员将认识到,在不脱离本文范围的情况下,可以对示范性实施例做出改变和修正。例如,各种操作步骤以及用于执行操作步骤的组件,可以根据特定的应用或考虑与系统的操作相关联的任何数量的成本函数以不同的方式实现(例如一个或多个步骤可以被删除、修改或结合到其他步骤中)。
在上述实施例中,可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。另外,如本领域技术人员所理解的,本文的原理可以反映在计算机可读存储介质上的计算机程序产品中,该可读存储介质预装有计算机可读程序代码。任何有形的、非暂时性的计算机可读存储介质皆可被使用,包括磁存储设备(硬盘、软盘等)、光学存储设备(CD至ROM、DVD、Blu Ray盘等)、闪存和/或诸如此类。这些计算机程序指令可被加载到通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理设备上以形成机器,使得这些在计算机上或其他可编程数据处理装置上执行的指令可以生成实现指定的功能的装置。这些计算机程序指令也可以存储在计算机可读存储器中,该计算机可读存储器可以指示计算机或其他可编程数据处理设备以特定的方式运行,这样存储在计算机可读存储器中的指令就可以形成一件制造品,包括实现指定功能的实现装置。计算机程序指令也可以加载到计算机或其他可编程数据处理设备上,从而在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生一个计算机实现的进程,使得在计算机或其他可编程设备上执行的指令可以提供用于实现指定功能的步骤。
虽然在各种实施例中已经示出了本文的原理,但是许多特别适用于特定环境和操作要求的结构、布置、比例、元件、材料和部件的修改可以在不脱离本披露的原则和范围内使用。以上修改和其他改变或修正将被包含在本文的范围之内。
前述具体说明已参照各种实施例进行了描述。然而,本领域技术人员将认识到,可以在不脱离本披露的范围的情况下进行各种修正和改变。因此,对于本披露的考虑将是说明性的而非限制性的意义上的,并且所有这些修改都将被包含在其范围内。同样,有关于各种实施例的优点、其他优点和问题的解决方案已如上所述。然而,益处、优点、问题的解决方案以及任何能产生这些的要素,或使其变得更明确的解决方案都不应被解释为关键的、必需的或必要的。本文中所用的术语“包括”和其任何其他变体,皆属于非排他性包含,这样包括要素列表的过程、方法、文章或设备不仅包括这些要素,还包括未明确列出的或不属于该过程、方法、系统、文章或设备的其他要素。此外,本文中所使用的术语“耦合”和其任何其他变体都是指物理连接、电连接、磁连接、光连接、通信连接、功能连接和/或任何其他连接。
具有本领域技术的人将认识到,在不脱离本发明的基本原理的情况下,可以对上述实施例的细节进行许多改变。因此,本发明的范围应仅由权利要求确定。

Claims (22)

1.一种优先程度的设置方法,其特征在于,包括:
生成优先程度设置界面,所述优先程度设置界面包含样本的基准时间类型条目;
响应于用户对所述优先程度设置界面的操作,设置基准时间类型;样本的基准时间用于确定关于样本的优先程度,其中样本的基准时间为样本的基准时间类型所对应的时间。
2.如权利要求1所述的设置方法,其特征在于,所述关于样本的优先程度,包括样本的优先程度和/或样本调度单位的优先程度。
3.如权利要求2所述的设置方法,其特征在于,所述样本的优先程度包括样本的初次测试优先程度和/或样本的再次测试优先程度。
4.如权利要求3所述的设置方法,其特征在于,所述优先程度设置界面包括初次测试优先程度和/或再次测试优先程度的选项;
响应于用户选中初次测试优先程度的选项,启用样本的初次测试优先程度;
响应于用户选中再次测试优先程度的选项,启用样本的再次测试优先程度。
5.如权利要求2所述的设置方法,其特征在于,所述样本的基准时间通过确定样本调度单位的基准时间,来确定样本调度单位的优先程度;其中:
所述样本的基准时间通过以下方式一或方式二来确定样本调度单位的基准时间:
方式一,将样本调度单位上基准时间最早的样本的基准时间,作为样本调度单位的基准时间;
方式二,将样本调度单位上全部样本的平均基准时间,作为样本调度单位的基准时间。
6.如权利要求5所述的设置方法,其特征在于,所述优先程度设置界面包含最早基准时间为准和/或平均基准时间为准的选项;
响应于用户选中最早基准时间为准的选项,启用所述方式一来确定样本调度单位的基准时间;
响应于用户选中平均基准时间为准的选项,启用所述方式二来确定样本调度单位的基准时间。
7.如权利要求2所述的设置方法,其特征在于,所述样本调度单位的优先程度包括样本调度单位的初次测试优先程度和/或样本调度单位的再次测试优先程度。
8.如权利要求7所述的设置方法,其特征在于,所述优先程度设置界面包括初次测试优先程度和/或再次测试优先程度的选项;
响应于用户选中初次测试优先程度的选项,启用样本调度单位的初次测试优先程度;
响应于用户选中再次测试优先程度的选项,启用样本调度单位的再次测试优先程度。
9.如权利要求1至8中任一项所述的设置方法,其特征在于,所述基准时间类型包括采血时间、送检时间、科室接收时间、LIS录入时间、初次上机时间、初次工单获取时间和自定义时间类型中的任意一者、两者或两者以上。
10.如权利要求1至8中任一项所述的设置方法,其特征在于,还包括:响应于用户输入的自定义类型命令,在所述优先程度设置界面增加用户自定义的基准时间类型。
11.一种样本的测试方法,其特征在于,包括:
获取待测试样本的基准时间;
根据样本的基准时间确定有关样本的优先程度;
根据有关样本的优先程度控制样本进行测试。
12.如权利要求11所述的测试方法,其特征在于,所述关于样本的优先程度,包括样本的优先程度和/或样本调度单位的优先程度。
13.如权利要求12所述的设置方法,其特征在于,所述样本的优先程度包括样本的初次测试优先程度和/或样本的再次测试优先程度。
14.如权利要求12所述的设置方法,其特征在于,所述样本的基准时间通过确定样本调度单位的基准时间,来确定样本调度单位的优先程度。
15.如权利要求14所述的设置方法,其特征在于,所述样本的基准时间通过方式一或方式二确定样本调度单位的基准时间;
方式一,将样本调度单位上基准时间最早的样本的基准时间,作为样本调度单位的基准时间;或者,
方式二,将样本调度单位上全部样本的平均基准时间,作为样本调度单位的基准时间。
16.如权利要求12所述的测试方法,其特征在于,所述样本调度单位的优先程度包括样本调度单位的初次测试优先程度和/或样本调度单位的再次测试优先程度。
17.如权利要求11所述的测试方法,其特征在于,所述获取待测试样本的基准时间,包括:
确定基准时间类型;
获取待测试样本的基准时间类型所对应的时间,并作为待测试样本的基准时间。
18.如权利要求17所述的测试方法,其特征在于,所述基准时间类型包括采血时间、送检时间、科室接收时间、LIS录入时间、初次上机时间和初次工单获取时间中的任意一者、两者或两者以上。
19.一种样本分析系统,其特征在于,包括:
测定部件,用于检测样本获得样本检测结果;
样本部件,用于承载待测试的样本,吸取样本后提供给所述测定部件;
试剂部件,用于承载试剂,吸取试剂后提供给所述测定部件;
存储器,用于存储程序;
处理器,用于通过执行所述存储器存储的程序以实现如权利要求1至18中任一项所述的方法。
20.一种样本分析系统,其特征在于,包括:
多个级联的分析模块,所述分析模块用于对样本进行测试;
连接各分析模块的轨道,以及通过所述轨道将待测试的样本调度到相应分析模块的调度装置;
存储器,用于存储程序;
处理器,用于通过执行所述存储器存储的程序以实现如权利要求1至18中任一项所述的方法。
21.一种样本分析系统,其特征在于,包括:
输入模块,用于接收用户放入的未测定的样本;
前处理模块,其中前处理模块包括离心模块、血清检测模块、去盖模块和分注模块中的一者或多者;所述离心模块用于对待离心的样本进行离心;所述血清检测模块用于检测样本的血清量是否足够和/或检测样本的血清质量是否合格;所述去盖模块用于将离心完成后的样本去盖;所述分注模块用于对样本进行分样;
一个或多个分析模块,用于对已离心和去盖的样本进行测试;
后处理模块,所述后处理模块包括加膜/加盖模块、冷藏存储模块和去膜/去盖模块中的一者或多者;所述加膜/加盖模块用于对样本加膜或加盖;所述冷藏存储模块用于存储样本;所述去膜/去盖模块用于对样本进行去膜或去盖;
连接各模块的轨道和用于将样本在各模块间通过轨道来调度的调度装置;
存储器,用于存储程序;
处理器,用于通过执行所述存储器存储的程序以实现如权利要求1至18中任一项所述的方法。
22.一种计算机可读存储介质,其特征在于,包括程序,所述程序能够被处理器执行以实现如权利要求1至18中任一项所述的方法。
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