CN112762976B - 一种对bmc传感器综合测试的自动化方法及装置 - Google Patents

一种对bmc传感器综合测试的自动化方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN112762976B
CN112762976B CN202011465196.3A CN202011465196A CN112762976B CN 112762976 B CN112762976 B CN 112762976B CN 202011465196 A CN202011465196 A CN 202011465196A CN 112762976 B CN112762976 B CN 112762976B
Authority
CN
China
Prior art keywords
sensor
list
sensors
development
research
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202011465196.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112762976A (zh
Inventor
车升娜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd filed Critical Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd
Priority to CN202011465196.3A priority Critical patent/CN112762976B/zh
Publication of CN112762976A publication Critical patent/CN112762976A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112762976B publication Critical patent/CN112762976B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D18/00Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

本发明提供一种对BMC传感器综合测试的自动化方法及装置,所述方法包括如下步骤:S1.获取传感器的研发spec规格标准文档;S2.通过IPMI工具获取系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表;S3.自动将系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表中各传感器实际信息与研发spec规格标准文档对应传感器信息进行比对,判断各传感器是否符合阈值要求以及是否有超出阈值的趋势。本发明提供的对BMC传感器综合测试的自动化方法及装置,实现高效、节时、省力的传感器测试的自动化,节约了传统测试中手动测试浪费的时间和人力资源,大大提高了测试效率。

Description

一种对BMC传感器综合测试的自动化方法及装置
技术领域
本发明属于传感器自动化测试技术领域,具体涉及一种对BMC传感器综合测试的自动化方法及装置。
背景技术
spec,按特定标准设计并制造的文档。
SDR,Sensor Data Record的简称,传感器数据配置文件,SDR配置文件存储在SDRRepository中,SDR Repository位于BMC固件芯片的一个存储芯片。
传感器作为服务器、交换机以及智能网卡的机身状况的监测设备,其本身功能的准确性是尤为重要的,由于每个机型使用到的传感器名字、个数以及用到的阈值不一,均需要抽出大量的时间去测试。现有的测试安全依靠人力,需要人为查询出传感器信息后,再手动与研发给出的spec文档做比对。不论是人为查询出的传感器信息还是研发的spec文档都存在大量数据,在服务器机型多、项目紧、测试人员紧缺的状况下,手动测试任务相当繁重。
此为现有技术的不足,因此,针对现有技术中的上述缺陷,提供一种对BMC传感器综合测试的自动化方法及装置,是非常有必要的。
发明内容
针对现有技术的上述现有传感器测试,比对存在大量数据,手动测试任务相当繁重的缺陷,本发明提供一种对BMC传感器综合测试的自动化方法及装置,以解决上述技术问题。
第一方面,本发明提供一种对BMC传感器综合测试的自动化方法,包括如下步骤:
S1.获取传感器的研发spec规格标准文档;
S2.通过IPMI工具获取系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表;
S3.自动将系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表中各传感器实际信息与研发spec规格标准文档对应传感器信息进行比对,判断各传感器是否符合阈值要求以及是否有超出阈值的趋势。
进一步地,步骤S1具体步骤如下:
S11.获取传感器的研发spec规格标准文档,所述传感器的研发spec规格标准文档包括传感器序号、传感器名称、传感器名称长度、传感器类型、传感器实体标识码、传感器实体实例、传感器告警阈值上下限以及传感器严重阈值上下限;
S12.获取传感器的研发spec规格标准文档中每个传感器告警阈值上下限,计算出该传感器对应告警阈值中间值;
S13.在传感器的研发spec规格标准文档中增设每个传感器告警阈值的中间值。
进一步地,步骤S11中,传感器的研发spec规格标准文档中还包括传感器所在元器件电压。
进一步地,步骤S2具体步骤如下:
S21.通过IPMI工具获取系统传感器列表,所述系统传感器列表包括传感器名称、传感器实际读值、传感器测量单位、传感器状态、传感器不可恢复高低阈、传感器严重高低阈及传感器警告高低阈;
S22.通过IPMI工具获取SDR配置文件传感器列表,所述SDR配置文件传感器列表包括传感器名称、传感器序号、传感器类型、传感器状态、传感器实体编号、传感器实体实例以及传感器实际读值;
S23.根据传感器序号,并通过IPMI工具获取传感器类型及传感器事件。
进一步地,步骤S3具体步骤如下:
S31.自动将传感器的研发spec规格标准文档中各传感器名称与系统传感器列表中传感器名称对应,判断系统传感器列表中传感器不可恢复高低阈、传感器严重高低阈及传感器警告高低阈是否符合传感器的研发spec规格标准文档中对应的传感器告警阈值上下限及传感器严重阈值上下限要求;
S32.自动判断系统传感器列表中各传感器实际读值是否大于传感器警告低阈,以及小于传感器警告高阈;
S33.自动判断系统传感器列表中各传感器实际读值与对应传感器告警阈值的中间值的偏差是否低于设定比例;
S34.自动将传感器的研发spec规格标准文档中各传感器名称与SDR配置文件传感器列表中传感器名称对应,判断两者中传感器序号、传感器类型、传感器事件、传感器实体编号以及传感器实体实例是否。
第二方面,本发明提供一种对BMC传感器综合测试的自动化装置,包括:
研发spec文档获取模块,用于获取传感器的研发spec规格标准文档;
传感器列表获取模块,用于通过IPMI工具获取系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表;
传感器测试模块,用于自动将系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表中各传感器实际信息与研发spec规格标准文档对应传感器信息进行比对,判断各传感器是否符合阈值要求以及是否有超出阈值的趋势。
进一步地,研发spec文档获取模块包括:
标准文档获取单元,用于获取传感器的研发spec规格标准文档,所述传感器的研发spec规格标准文档包括传感器序号、传感器名称、传感器名称长度、传感器类型、传感器实体标识码、传感器实体实例、传感器告警阈值上下限以及传感器严重阈值上下限;
阈值中间值计算单元,用于获取传感器的研发spec规格标准文档中每个传感器告警阈值上下限,计算出该传感器对应告警阈值中间值;
阈值中间值添加单元,用于在传感器的研发spec规格标准文档中增设每个传感器告警阈值的中间值。
进一步地,标准文档获取单元中,传感器的研发spec规格标准文档中还包括传感器所在元器件电压。
进一步地,传感器列表获取模块包括:
系统传感器列表获取单元,用于通过IPMI工具获取系统传感器列表,所述系统传感器列表包括传感器名称、传感器实际读值、传感器测量单位、传感器状态、传感器不可恢复高低阈、传感器严重高低阈及传感器警告高低阈;
SDR传感器列表获取单元,用于通过IPMI工具获取SDR配置文件传感器列表,所述SDR配置文件传感器列表包括传感器名称、传感器序号、传感器类型、传感器状态、传感器实体编号、传感器实体实例以及传感器实际读值;
传感器事件获取单元,用于根据传感器序号,并通过IPMI工具获取传感器类型及传感器事件。
进一步地,传感器测试模块包括:
传感器阈值测试单元,用于自动将传感器的研发spec规格标准文档中各传感器名称与系统传感器列表中传感器名称对应,判断系统传感器列表中传感器不可恢复高低阈、传感器严重高低阈及传感器警告高低阈是否符合传感器的研发spec规格标准文档中对应的传感器告警阈值上下限及传感器严重阈值上下限要求;
传感器读值超限测试单元,用于自动判断系统传感器列表中各传感器实际读值是否大于传感器警告低阈,以及小于传感器警告高阈;
传感器读值超限趋势测试单元,自动判断系统传感器列表中各传感器实际读值与对应传感器告警阈值的中间值的偏差是否低于设定比例;
传感器一致性测试单元,用于自动将传感器的研发spec规格标准文档中各传感器名称与SDR配置文件传感器列表中传感器名称对应,判断两者中传感器序号、传感器类型、传感器事件、传感器实体编号以及传感器实体实例是否。
本发明的有益效果在于,
本发明提供的对BMC传感器综合测试的自动化方法及装置,实现高效、节时、省力的传感器测试的自动化,节约了传统测试中手动测试浪费的时间和人力资源,大大提高了测试效率。
此外,本发明设计原理可靠,结构简单,具有非常广泛的应用前景。
由此可见,本发明与现有技术相比,具有突出的实质性特点和显著的进步,其实施的有益效果也是显而易见的。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明的方法流程示意图一;
图2是本发明的方法流程示意图二;
图3是本发明的系统示意图;
图中,1-研发spec文档获取模块;1.1-标准文档获取单元;1.2-阈值中间值计算单元;1.3-阈值中间值添加单元;2-传感器列表获取模块;2.1-系统传感器列表获取单元;2.2-SDR传感器列表获取单元;2.3-传感器事件获取单元;3-传感器测试模块;3.1-传感器阈值测试单元;3.2-传感器读值超限测试单元;3.3-传感器读值超限趋势测试单元;3.4-传感器一致性测试单元。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。
实施例1:
如图1所示,本发明提供一种对BMC传感器综合测试的自动化方法,包括如下步骤:
S1.获取传感器的研发spec规格标准文档;
S2.通过IPMI工具获取系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表;
S3.自动将系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表中各传感器实际信息与研发spec规格标准文档对应传感器信息进行比对,判断各传感器是否符合阈值要求以及是否有超出阈值的趋势。自动化测试比对以python脚本为基础,使用python脚本中的pytest工具实现。
实施例2:
如图2所示,本发明提供一种对BMC传感器综合测试的自动化方法,包括如下步骤:
S1.获取传感器的研发spec规格标准文档;具体步骤如下:
S11.获取传感器的研发spec规格标准文档,所述传感器的研发spec规格标准文档包括传感器序号、传感器名称、传感器名称长度、传感器类型、传感器实体标识码、传感器实体实例、传感器告警阈值上下限、传感器严重阈值上下限以及传感器所在元器件电压;通过python脚本中excel表格读取工具xlrd包进行传感器的研发spec规格标准文档读取;
S12.获取传感器的研发spec规格标准文档中每个传感器告警阈值上下限,计算出该传感器对应告警阈值中间值;
S13.在传感器的研发spec规格标准文档中增设每个传感器告警阈值的中间值;
S2.通过IPMI工具获取系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表;具体步骤如下:
S21.通过IPMI工具获取系统传感器列表,所述系统传感器列表包括传感器名称、传感器实际读值、传感器测量单位、传感器状态、传感器不可恢复高低阈、传感器严重高低阈及传感器警告高低阈;具体通过ipmitool sensorlist代码实现系统传感器列表读取;
S22.通过IPMI工具获取SDR配置文件传感器列表,所述SDR配置文件传感器列表包括传感器名称、传感器序号、传感器类型、传感器状态、传感器实体编号、传感器实体实例以及传感器实际读值;具体通过ipmitool sdrelist代码实现SDR配置文件传感器列表读取;
S23.根据传感器序号,并通过IPMI工具获取传感器类型及传感器事件;具体通过如下代码实现:ipmitool raw 0x04 0x2f<sensor num>;
S3.自动将系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表中各传感器实际信息与研发spec规格标准文档对应传感器信息进行比对,判断各传感器是否符合阈值要求以及是否有超出阈值的趋势;具体步骤如下:
S31.自动将传感器的研发spec规格标准文档中各传感器名称与系统传感器列表中传感器名称对应,判断系统传感器列表中传感器不可恢复高低阈、传感器严重高低阈及传感器警告高低阈是否符合传感器的研发spec规格标准文档中对应的传感器告警阈值上下限及传感器严重阈值上下限要求;根据各传感器阈值的比较,从而在传感器阈值修改后,实现告警测试;至于有些交换机中IPMI指令不支持修改传感器阈值的情况下,也可以避免测试过程中IPMI版本对阈值造成的影响。
S32.自动判断系统传感器列表中各传感器实际读值是否大于传感器警告低阈,以及小于传感器警告高阈;
S33.自动判断系统传感器列表中各传感器实际读值与对应传感器告警阈值的中间值的偏差是否低于设定比例;例如,设定比例可设为30%,则需要验证传感器实际读值与对应传感器告警阈值的中间值偏差是否小于30%;偏差=(传感器告警阈值的中间值-传感器实际读值)/传感器告警阈值的中间值*100%;此百分比的测试可以提前获取到传感器实际读值是否有超过告警阈值阈值的趋向;
S34.自动将传感器的研发spec规格标准文档中各传感器名称与SDR配置文件传感器列表中传感器名称对应,判断两者中传感器序号、传感器类型、传感器事件、传感器实体编号以及传感器实体实例是否。
在上述实例中,测试结果记录日志,保证了测试结果的可靠性。
实施例3:
如图3所示,本发明提供一种对BMC传感器综合测试的自动化装置,包括:
研发spec文档获取模块1,用于获取传感器的研发spec规格标准文档;研发spec文档获取模块1包括:
标准文档获取单元1.1,用于获取传感器的研发spec规格标准文档,所述传感器的研发spec规格标准文档包括传感器序号、传感器名称、传感器名称长度、传感器类型、传感器实体标识码、传感器实体实例、传感器告警阈值上下限、传感器严重阈值上下限以及传感器所在元器件电压;
阈值中间值计算单元1.2,用于获取传感器的研发spec规格标准文档中每个传感器告警阈值上下限,计算出该传感器对应告警阈值中间值;
阈值中间值添加单元1.3,用于在传感器的研发spec规格标准文档中增设每个传感器告警阈值的中间值;
传感器列表获取模块2,用于通过IPMI工具获取系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表;传感器列表获取模块2包括:
系统传感器列表获取单元2.1,用于通过IPMI工具获取系统传感器列表,所述系统传感器列表包括传感器名称、传感器实际读值、传感器测量单位、传感器状态、传感器不可恢复高低阈、传感器严重高低阈及传感器警告高低阈;
SDR传感器列表获取单元2.2,用于通过IPMI工具获取SDR配置文件传感器列表,所述SDR配置文件传感器列表包括传感器名称、传感器序号、传感器类型、传感器状态、传感器实体编号、传感器实体实例以及传感器实际读值;
传感器事件获取单元2.3,用于根据传感器序号,并通过IPMI工具获取传感器类型及传感器事件;
传感器测试模块3,用于自动将系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表中各传感器实际信息与研发spec规格标准文档对应传感器信息进行比对,判断各传感器是否符合阈值要求以及是否有超出阈值的趋势;传感器测试模块3包括:
传感器阈值测试单元3.1,用于自动将传感器的研发spec规格标准文档中各传感器名称与系统传感器列表中传感器名称对应,判断系统传感器列表中传感器不可恢复高低阈、传感器严重高低阈及传感器警告高低阈是否符合传感器的研发spec规格标准文档中对应的传感器告警阈值上下限及传感器严重阈值上下限要求;
传感器读值超限测试单元3.2,用于自动判断系统传感器列表中各传感器实际读值是否大于传感器警告低阈,以及小于传感器警告高阈;
传感器读值超限趋势测试单元3.3,自动判断系统传感器列表中各传感器实际读值与对应传感器告警阈值的中间值的偏差是否低于设定比例;
传感器一致性测试单元3.4,用于自动将传感器的研发spec规格标准文档中各传感器名称与SDR配置文件传感器列表中传感器名称对应,判断两者中传感器序号、传感器类型、传感器事件、传感器实体编号以及传感器实体实例是否。
尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述,但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下,本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换,而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种对BMC传感器综合测试的自动化方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1.获取传感器的研发spec规格标准文档;
S2.通过IPMI工具获取系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表;
S3.自动将系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表中各传感器实际信息与研发spec规格标准文档对应传感器信息进行比对,判断各传感器是否符合阈值要求以及是否有超出阈值的趋势。
2.如权利要求1所述的对BMC传感器综合测试的自动化方法,其特征在于,步骤S1具体步骤如下:
S11.获取传感器的研发spec规格标准文档,所述传感器的研发spec规格标准文档包括传感器序号、传感器名称、传感器名称长度、传感器类型、传感器实体标识码、传感器实体实例、传感器告警阈值上下限以及传感器严重阈值上下限;
S12.获取传感器的研发spec规格标准文档中每个传感器告警阈值上下限,计算出该传感器对应告警阈值中间值;
S13.在传感器的研发spec规格标准文档中增设每个传感器告警阈值的中间值。
3.如权利要求2所述的对BMC传感器综合测试的自动化方法,其特征在于,步骤S11中,传感器的研发spec规格标准文档中还包括传感器所在元器件电压。
4.如权利要求1所述的对BMC传感器综合测试的自动化方法,其特征在于,步骤S2具体步骤如下:
S21.通过IPMI工具获取系统传感器列表,所述系统传感器列表包括传感器名称、传感器实际读值、传感器测量单位、传感器状态、传感器不可恢复高低阈、传感器严重高低阈及传感器警告高低阈;
S22.通过IPMI工具获取SDR配置文件传感器列表,所述SDR配置文件传感器列表包括传感器名称、传感器序号、传感器类型、传感器状态、传感器实体编号、传感器实体实例以及传感器实际读值;
S23.根据传感器序号,并通过IPMI工具获取传感器类型及传感器事件。
5.如权利要求1所述的对BMC传感器综合测试的自动化方法,其特征在于,步骤S3具体步骤如下:
S31.自动将传感器的研发spec规格标准文档中各传感器名称与系统传感器列表中传感器名称对应,判断系统传感器列表中传感器不可恢复高低阈、传感器严重高低阈及传感器警告高低阈是否符合传感器的研发spec规格标准文档中对应的传感器告警阈值上下限及传感器严重阈值上下限要求;
S32.自动判断系统传感器列表中各传感器实际读值是否大于传感器警告低阈,以及小于传感器警告高阈;
S33.自动判断系统传感器列表中各传感器实际读值与对应传感器告警阈值的中间值的偏差是否低于设定比例;
S34.自动将传感器的研发spec规格标准文档中各传感器名称与SDR配置文件传感器列表中传感器名称对应,判断两者中传感器序号、传感器类型、传感器事件、传感器实体编号以及传感器实体实例是否。
6.一种对BMC传感器综合测试的自动化装置,其特征在于,包括:
研发spec文档获取模块(1),用于获取传感器的研发spec规格标准文档;
传感器列表获取模块(2),用于通过IPMI工具获取系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表;
传感器测试模块(3),用于自动将系统传感器列表及SDR配置文件传感器列表中各传感器实际信息与研发spec规格标准文档对应传感器信息进行比对,判断各传感器是否符合阈值要求以及是否有超出阈值的趋势。
7.如权利要求6所述的对BMC传感器综合测试的自动化装置,其特征在于,研发spec文档获取模块(1)包括:
标准文档获取单元(1.1),用于获取传感器的研发spec规格标准文档,所述传感器的研发spec规格标准文档包括传感器序号、传感器名称、传感器名称长度、传感器类型、传感器实体标识码、传感器实体实例、传感器告警阈值上下限以及传感器严重阈值上下限;
阈值中间值计算单元(1.2),用于获取传感器的研发spec规格标准文档中每个传感器告警阈值上下限,计算出该传感器对应告警阈值中间值;
阈值中间值添加单元(1.3),用于在传感器的研发spec规格标准文档中增设每个传感器告警阈值的中间值。
8.如权利要求7所述的对BMC传感器综合测试的自动化装置,其特征在于,标准文档获取单元(1.1)中,传感器的研发spec规格标准文档中还包括传感器所在元器件电压。
9.如权利要求6所述的对BMC传感器综合测试的自动化装置,其特征在于,传感器列表获取模块(2)包括:
系统传感器列表获取单元(2.1),用于通过IPMI工具获取系统传感器列表,所述系统传感器列表包括传感器名称、传感器实际读值、传感器测量单位、传感器状态、传感器不可恢复高低阈、传感器严重高低阈及传感器警告高低阈;
SDR传感器列表获取单元(2.2),用于通过IPMI工具获取SDR配置文件传感器列表,所述SDR配置文件传感器列表包括传感器名称、传感器序号、传感器类型、传感器状态、传感器实体编号、传感器实体实例以及传感器实际读值;
传感器事件获取单元(2.3),用于根据传感器序号,并通过IPMI工具获取传感器类型及传感器事件。
10.如权利要求6所述的对BMC传感器综合测试的自动化装置,其特征在于,传感器测试模块(3)包括:
传感器阈值测试单元(3.1),用于自动将传感器的研发spec规格标准文档中各传感器名称与系统传感器列表中传感器名称对应,判断系统传感器列表中传感器不可恢复高低阈、传感器严重高低阈及传感器警告高低阈是否符合传感器的研发spec规格标准文档中对应的传感器告警阈值上下限及传感器严重阈值上下限要求;
传感器读值超限测试单元(3.2),用于自动判断系统传感器列表中各传感器实际读值是否大于传感器警告低阈,以及小于传感器警告高阈;
传感器读值超限趋势测试单元(3.3),自动判断系统传感器列表中各传感器实际读值与对应传感器告警阈值的中间值的偏差是否低于设定比例;
传感器一致性测试单元(3.4),用于自动将传感器的研发spec规格标准文档中各传感器名称与SDR配置文件传感器列表中传感器名称对应,判断两者中传感器序号、传感器类型、传感器事件、传感器实体编号以及传感器实体实例是否。
CN202011465196.3A 2020-12-14 2020-12-14 一种对bmc传感器综合测试的自动化方法及装置 Active CN112762976B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011465196.3A CN112762976B (zh) 2020-12-14 2020-12-14 一种对bmc传感器综合测试的自动化方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011465196.3A CN112762976B (zh) 2020-12-14 2020-12-14 一种对bmc传感器综合测试的自动化方法及装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112762976A CN112762976A (zh) 2021-05-07
CN112762976B true CN112762976B (zh) 2022-05-13

Family

ID=75693814

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011465196.3A Active CN112762976B (zh) 2020-12-14 2020-12-14 一种对bmc传感器综合测试的自动化方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112762976B (zh)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102411526A (zh) * 2011-12-31 2012-04-11 曙光信息产业股份有限公司 一种用于刀片服务器主板的测试方法
CN111106979A (zh) * 2019-11-15 2020-05-05 苏州浪潮智能科技有限公司 一种交换机阈值告警测试的方法和设备
CN111124809A (zh) * 2019-11-30 2020-05-08 苏州浪潮智能科技有限公司 一种服务器传感器系统的测试方法及装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103389124A (zh) * 2012-05-10 2013-11-13 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 传感器测试的方法及系统

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102411526A (zh) * 2011-12-31 2012-04-11 曙光信息产业股份有限公司 一种用于刀片服务器主板的测试方法
CN111106979A (zh) * 2019-11-15 2020-05-05 苏州浪潮智能科技有限公司 一种交换机阈值告警测试的方法和设备
CN111124809A (zh) * 2019-11-30 2020-05-08 苏州浪潮智能科技有限公司 一种服务器传感器系统的测试方法及装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN112762976A (zh) 2021-05-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108181546B (zh) 配电网故障的定位方法、定位装置及终端设备
CN107589391B (zh) 一种检测电能计量装置整体误差的方法、装置和系统
CN111427928A (zh) 一种数据质量检测方法及装置
CN117571742B (zh) 基于人工智能实现芯片质检的方法及装置
CN113391256A (zh) 一种现场作业终端的电能表计量故障分析方法及系统
CN114691521A (zh) 一种基于人工智能的软件测试平台
CN113806343B (zh) 一种车联网数据质量的评估方法和系统
CN112729884B (zh) 基于大数据的设备故障诊断方法及装置
CN116954624B (zh) 基于软件开发包的编译方法、软件开发系统及服务器
CN112762976B (zh) 一种对bmc传感器综合测试的自动化方法及装置
CN111124809B (zh) 一种服务器传感器系统的测试方法及装置
CN112486841A (zh) 埋点采集数据校验的方法及装置
CN108267709B (zh) 电能故障检查和分类的方法及装置
CN115766793A (zh) 一种基于数据中心机房基础环境监测报警装置
CN114740419A (zh) 基于“三维图”分析台区电表误差的方法、装置、设备和介质
CN112834752B (zh) 适用于大批量人群的血糖标准化测量系统、方法、终端及介质
CN111338872B (zh) 一种pcie设备参数的自动化测试方法及系统
CN111861282A (zh) 一种环评结果评估方法、装置和计算机可读存储介质
CN116754919B (zh) 外场寿命评估方法、装置、电子设备及存储介质
CN111737096B (zh) 一种tpc-h前测试系统整体定级的检测方法及装置
CN111813776B (zh) 车辆测试数据的记录方法、车辆诊断设备及存储介质
CN118503735A (zh) 基于dbscan算法的智能电能表批次故障识别方法
CN116340098A (zh) 一种服务器检测方法、装置、设备及介质
CN118244084A (zh) 一种电路板误测判定方法、装置、电子设备及存储介质
CN117648252A (zh) 软件应用的功能测试方法、装置、电子设备及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant