CN112731110B - 一种多频点微波器件自动化测试方法及测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种多频点微波器件自动化测试方法及测试系统，属于无线电计量技术领域，解决了微波器件测试效率低下、无法满足自动化测试需求的问题。方法步骤为：配置待测微波器件在每一待测频点下的电平控制指令和测试子项；测试子项包括配置指令、数据获取指令和技术指标；在每一待测频点下执行测试过程，若在每一待测频点下的测试均通过，则微波器件测试通过；每一待测频点下执行的测试过程包括：微波器件基于电平控制指令及参考微波信号生成变频微波信号；频谱分析仪基于测试子项中的配置指令及数据获取指令，从变频微波信号中获取相应测试子项下的测试数据；判断测试数据是否满足相应技术指标，若均满足，则在当前待测频点下的测试通过。

Description

一种多频点微波器件自动化测试方法及测试系统

技术领域

本发明涉及无线电计量技术领域，尤其涉及一种多频点微波器件自动化测试方法及测试系统。

背景技术

在射频微波技术的研制和生产过程中，需要焊接大量锁相源、点频源、混频器、放大器等微波器件。随着射频微波技术的发展，微波器件正逐渐向多频点方向发展。

在微波器件测试过程中，需要根据待测频点配置待测微波器件多个管脚的高低电平，而该过程通常需要人工手动切换输入至对应管脚的电压，同时需要人工记录每一待测频点下的待测微波器件管脚的高低电平配置情况、频谱分析仪的配置要求、数据采集要求及技术指标，并对比采集到的数据与相应的技术指标，以此获得待测微波器件的测试结果。考虑到同一待测微波器件需要完成多个待测频点的测试工作，以上过程会明显增加工作量及工作难度；同时，当更换待测微波器件时，需要重新执行以上人工操作过程，导致测试过程费时费力；此外，人工操作容易造成失误，例如管脚电压过载或误操作短接等，可能会对器件造成不可逆转的损坏。

综上，现有的多频点微波器件测试过程效率低下，无法满足多频点微波器件自动化测试需求。

发明内容

鉴于上述的分析，本发明实施例旨在提供一种多频点微波器件自动化测试方法及测试系统，用以解决现有多频点微波器件测试过程效率低下、无法满足多频点微波器件自动化测试需求的问题。

一方面，提供了一种多频点微波器件自动化测试方法，包括如下步骤：

配置待测微波器件在每一待测频点下的电平控制指令、一个或多个测试子项；所述测试子项包括配置指令、数据获取指令和技术指标；

对所述待测微波器件在每一待测频点下执行测试过程；若所述待测微波器件在每一待测频点下的测试均通过，则所述待测微波器件测试通过；其中，

每一待测频点下执行的测试过程包括：

所述待测微波器件基于所述电平控制指令及接收的参考微波信号，生成当前待测频点对应的变频微波信号；

频谱分析仪基于每一测试子项中的配置指令及数据获取指令，从所述变频微波信号中获取相应测试子项下的测试数据；

判断每一测试子项下的测试数据是否满足相应测试子项下的技术指标，若均满足，则所述待测微波器件在当前待测频点下的测试通过。

在上述方案的基础上，本发明还做出了如下改进：

进一步，所述测试子项包括输出功率测试子项、杂散抑制测试子项、谐波抑制测试子项及相位噪声测试子项中的一项或多项。

进一步，所述频谱分析仪通过执行以下操作获取所述输出功率测试子项下的测试数据：

根据所述配置指令复位所述频谱分析仪、并将所述频谱分析仪的扫频宽度设置为第一扫频宽度；

根据所述数据获取指令，获取所述变频微波信号对应的频域信号在所述第一扫频宽度下的频域信号峰值和输出频率。

进一步，所述频谱分析仪通过执行以下操作获取所述杂散抑制测试子项下的测试数据：

根据所述配置指令将所述频谱分析仪的扫频宽度设置为第二扫频宽度；

根据所述数据获取指令，获取所述变频微波信号下的杂散信号，在所述第二扫频宽度对应的带宽范围内搜索所述杂散信号的最大峰值，并获取所述最大峰值的左侧峰值及右侧峰值；将所述左侧峰值和右侧峰值中的较大值作为杂散抑制值。

进一步，所述频谱分析仪通过执行以下操作获取所述谐波抑制测试子项下的测试数据：

根据配置指令设置所述频谱分析仪的中心频率为谐波抑制测试频率；所述谐波抑制测试频率为所述输出频率的2倍；

根据所述数据获取指令，获取所述谐波抑制测试频率下的频域信号峰值。

进一步，所述频谱分析仪通过执行以下操作获取所述相位噪声测试子项下的测试数据：

根据所述配置指令切换频谱分析仪至相位噪声测试模式、并自动搜索载波；

根据所述数据获取指令读取自动搜索到的载波中频率偏差1KHz处的相位噪声值。

进一步，所述待测微波器件基于所述电平控制指令及参考微波信号，生成当前待测频点对应的变频微波信号，包括：

根据所述电平控制指令生成所述待测微波器件中每一频率控制管脚对应的高低电平信号；

基于所述每一频率控制管脚的对应的高低电平信号，调节每一频率控制管脚的控制电压；

调节每一频率控制管脚的控制电压后，所述待测微波器件将所述参考微波信号变频至当前待测频点对应的变频微波信号。

另一方面，本发明实施例还提供了一种多频点微波器件自动化测试系统，包括：

测试配置模块，用于配置待测微波器件在每一待测频点下的电平控制指令、一个或多个测试子项；所述测试子项包括配置指令、数据获取指令和技术指标；

微波信号源，用于向所述待测微波器件输入参考微波信号；

信号调理模块，用于根据所述电平控制指令生成所述待测微波器件中每一频率控制管脚对应的高低电平信号；并基于所述每一频率控制管脚对应的高低电平信号，调节每一频率控制管脚的控制电压；以供在调节完每一频率控制管脚的控制电压后，所述待测微波器件将所述参考微波信号变频至当前待测频点对应的变频微波信号；

频谱分析仪，基于每一待测频点下每一测试子项中的配置指令及数据获取指令，从所述变频微波信号中获取相应测试子项下的测试数据；

测试数据分析模块，用于判断每一测试子项下的测试数据是否满足相应测试子项下的技术指标，若均满足，则所述待测微波器件在当前待测频点下的测试通过；若所述待测微波器件在每一待测频点下的测试均通过，则所述待测微波器件测试通过。

在上述方案的基础上，本发明还做出了如下改进：

进一步，所述信号调理模块包括信号转换器、单刀双掷继电器及反向驱动器；

所述信号转换器的输入端口接收所述电平控制指令、输出端口与所述反向驱动器的输入端口相连；所述反向驱动器的输出端口与所述继电器的线圈的一端相连，所述线圈的另一端连接电源；所述继电器的动触点连接所述待测微波器件的频率控制管脚；所述继电器的常闭触点连接参考接地信号、所述继电器的常开触点连接高电平信号。

进一步，所述信号转换器输出端口的个数、所述反向驱动器输入及输出端口的个数、所述单刀双掷继电器的个数均与所述待测微波器件中频率控制管脚的个数相匹配。

与现有技术相比，本发明至少可实现如下有益效果之一：

本发明提供的一种多频点微波器件自动化测试方法及测试系统，

第一，通过将待测微波器件的每一待测频点下每一测试子项的测试过程自动化，极大提高工作效率，大幅降低人工劳动，并且保证降低系统误差；

第二，通过将各测试子项的测试过程模块化，避免了在测试过程中更换待测频点、测试子项时需查阅测试项目的相关资料才可进行测试，减少了工作量和工作难度；

第三，在本发明提供的多频点微波器件自动化测试系统设置了信号调理模块，利用高低电平指令就可对待测微波器件的各频率控制管脚进行电压切换，避免了通过人工对管脚进行切换而导致过载、短接等失误造成的器件不可逆转的损坏，同时降低人工切换造成的系统误差，使得测试结果更加准确。

本发明中，上述各技术方案之间还可以相互组合，以实现更多的优选组合方案。本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分优点可从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过说明书以及附图中所特别指出的内容中来实现和获得。

附图说明

附图仅用于示出具体实施例的目的，而并不认为是对本发明的限制，在整个附图中，相同的参考符号表示相同的部件。

图1为本发明实施例1提供的多频点微波器件自动化测试方法流程图；

图2为本发明实施例1提供的每一待测频点下执行的测试流程图；

图3为本发明实施例2提供的多频点微波器件自动化测试系统结构示意图；

图4为本发明实施例2提供的输入接线端子J1～J4和输出接线端子J7～J10接线关系示意图；

图5为本发明实施例2提供的反向驱动器U1～U2接线关系示意图；

图6为本发明实施例2提供的继电器K1～K8接线关系示意图；

图7为本发明实施例2提供的继电器K9～K16接线关系示意图；

图8为本发明实施例2提供的扩展器件J5～J6、J11～J12、继电器K17～K20的接线关系示意图；

图9为本发明实施例2提供的扩展器件U3接线关系示意图。

具体实施方式

下面结合附图来具体描述本发明的优选实施例，其中，附图构成本申请一部分，并与本发明的实施例一起用于阐释本发明的原理，并非用于限定本发明的范围。

实施例1

本发明的一个具体实施例，公开了一种多频点微波器件自动化测试方法，流程图如图1所示，包括如下步骤：

步骤S1：配置待测微波器件在每一待测频点下的电平控制指令、一个或多个测试子项；所述测试子项包括配置指令、数据获取指令和技术指标；

优选地，所述测试子项包括输出功率测试子项、杂散抑制测试子项、谐波抑制测试子项及相位噪声测试子项中的一项或多项。其中，

在所述输出功率测试子项中，配置指令包括复位指令和第一扫频宽度配置指令；数据获取指令为频域信号峰值获取指令和输出频率获取指令；技术指标为正常输出功率范围；

在所述杂散抑制测试子项中，配置指令为第二扫频宽度配置指令；数据获取指令为杂散抑制值获取指令；技术指标为正常杂散抑制值范围；

在所述谐波抑制测试子项中，配置指令为谐波抑制测试频率配置指令；数据获取指令为谐波抑制值获取指令；技术指标为正常谐波抑制值范围；

在所述相位噪声测试子项中，配置指令包括切换至相位噪声测试模式指令和自动搜寻载波指令；数据获取指令为相位噪声值获取指令；技术指标为正常相位噪声值范围；

需要说明的是，为便于管理测试过程，可将各测试子项中包含的信息进行封装。同时，基于待测微波器件的技术文件说明确定待测微波器件所有的待测频点，以及每一待测频点下的电平控制指令、测试子项中的配置指令、数据获取指令和技术指标。此外，还可以配置待测微波器件的以下信息：报告编号、样品编号、器件类型、器件厂家、器件型号、环境条件、使用仪器。其中，报告编号与样品编号是为了测试报告中对测试情况有详细的说明和分类。

优选地，考虑到测试过程中需要控制待测微波器件多个频率控制管脚的电压，因此，本实施例中的电平控制指令为控制待测微波器件多个频率控制管脚所需电压对应的高低电平形成的二进制码格式的指令。

步骤S2：对所述待测微波器件在每一待测频点下执行测试过程；若所述待测微波器件在每一待测频点下的测试均通过，则所述待测微波器件测试通过；其中，每一待测频点下执行的测试过程如图2所示，包括：

步骤S21：所述待测微波器件基于所述电平控制指令及接收的参考微波信号，生成当前待测频点对应的变频微波信号；具体地，

步骤S211：根据所述电平控制指令生成所述待测微波器件中每一频率控制管脚对应的高低电平信号；

步骤S212：基于所述每一频率控制管脚的对应的高低电平信号，调节每一频率控制管脚的控制电压；

步骤S213：在调节每一频率控制管脚的控制电压后，所述待测微波器件将所述参考微波信号变频至当前待测频点对应的变频微波信号。

步骤S22：频谱分析仪基于每一测试子项中的配置指令及数据获取指令，从所述变频微波信号中获取相应测试子项下的测试数据；

步骤S23：判断每一测试子项下的测试数据是否满足相应测试子项下的技术指标，若均满足，则所述待测微波器件在当前待测频点下的测试通过。

优选地，频谱分析仪根据不同测试子项获得测试数据、以及判断测试数据是否满足相应技术指标的过程介绍如下：

(1)输出功率测试子项

根据所述复位指令复位所述频谱分析仪，根据所述第一扫频宽度配置指令设置所述频谱分析仪的扫频宽度为第一扫频宽度；

根据所述频域信号峰值获取指令，在复位后进行两次峰值搜索和峰值锁定，并将峰值频率移至所述频谱分析仪界面中心，获取所述变频微波信号对应的频域信号在所述第一扫频宽度下的频域信号峰值；

并根据输出频率获取指令，获取所述第一扫频宽度下的频域信号峰值对应的输出频率，后续谐波抑制测试子项中用到的谐波抑制测试频率为所述输出频率的2倍。

将所述频域信号峰值与线缆损耗补偿之和作为输出功率值；

判断输出功率值是否在正常输出功率范围内，若在，则所述待测微波器件在当前待测频点下输出功率测试子项的测试通过。

(2)杂散抑制测试子项

根据所述第二扫频宽度配置指令设置所述频谱分析仪的扫频宽度为第二扫频宽度；

根据所述杂散抑制值获取指令，进行两次峰值搜索和峰值锁定，并将峰值频率移至所述频谱分析仪界面中心；对RBW设置进行调节将所述频谱分析仪显示的底噪下降，以此获取杂散信号；在所述第二扫频宽度对应的带宽范围内搜索所述杂散信号的最大峰值，并获取所述最大峰值的左侧峰值及右侧峰值；将所述左侧峰值和右侧峰值中的较大值作为杂散抑制值。

判断杂散抑制值是否在正常杂散抑制值范围内，若在，则所述待测微波器件在当前待测频点下杂散抑制测试子项的测试通过。

(3)谐波抑制测试子项

根据谐波抑制测试频率配置指令设置所述频谱分析仪的中心频率为谐波抑制测试频率；所述谐波抑制测试频率为所述输出频率的2倍；

根据所述谐波抑制值获取指令，获取所述谐波抑制测试频率下的频域信号峰值；所述谐波抑制测试频率下的频域信号峰值即为谐波抑制值。

判断谐波抑制值是否在正常谐波抑制值范围内，若在，则所述待测微波器件在当前待测频点下谐波抑制测试子项的测试通过。

(4)相位噪声测试子项

根据所述切换至相位噪声测试模式指令将频谱分析仪切换至相位噪声测试模式；根据自动搜寻载波指令自动搜索载波；

根据所述相位噪声值获取指令读取自动搜索到的载波频率偏差1KHz处的相位噪声值。

判断相位噪声值是否在正常相位噪声值范围内，若在，则所述待测微波器件在当前待测频点下相位噪声测试子项的测试通过。

优选地，当在所述步骤S23中，当存在所述测试子项下的测试数据不满足相应测试子项下的技术指标时，标记相应测试子项下的测试数据。

优选地，在待测微波器件的测试过程中，当执行完当前待测频点的测试任务后，即可切换至下一待测频点；同时，每一待测频点下的测试过程中，当执行完一个测试子项的测试过程后，可自动切换至下一测试子项。此外，在测试过程中，为保证测试进度，测试软件源程序中已为每一测试子项预留对应的测试时间，并在预留的测试时间内，完成当前测试子项的测试工作。

可以利用GPIB连接卡控制向频谱分析仪发送配置指令和数据获取指令、并获取频谱分析仪输出的测试数据，还控制不同测试子项之间的切换过程、不同待测频点之间的切换过程。

步骤S3：若所述待测微波器件在每一待测频点下的测试均通过，则所述待测微波器件测试通过。

步骤S4：基于测试结果，生成测试报告；示例性地，测试报告可以以word形式展示，其可以包含以下内容：报告编号、测试环境、器件名称、器件厂家、器件信号及测试结果表格。其中，测试结果表格的表头可以包括编号、待测频率、输出功率、杂散抑制、谐波抑制和相位噪声。

与现有技术相比，本发明提供的一种多频点微波器件自动化测试方法，通过将待测微波器件的每一待测频点下每一测试子项的测试过程自动化，极大提高工作效率，大幅降低人工劳动，并且保证降低系统误差；此外，通过将各测试子项的测试过程模块化，避免了在测试过程中更换待测频点、测试子项时需查阅测试项目的相关资料才可进行测试，减少了工作量和工作难度。

实施例2

本发明的实施例2，提供了一种多频点微波器件自动化测试系统，结构示意图如图3所示，包括：所述测试配置模块，用于配置待测微波器件在每一待测频点下的电平控制指令、一个或多个测试子项；所述测试子项包括配置指令、数据获取指令和技术指标；所述微波信号源，用于向所述待测微波器件输入参考微波信号；所述信号调理模块，用于根据所述电平控制指令生成所述待测微波器件中每一频率控制管脚对应的高低电平信号；并基于所述每一频率控制管脚的对应的高低电平信号，调节每一频率控制管脚的控制电压；以便在调节完每一频率控制管脚的控制电压后，所述待测微波器件将所述参考微波信号变频至当前待测频点对应的变频微波信号。

优选地，所述信号调理模块包括：信号转换器、单刀双掷继电器及反向驱动器；其中，所述信号转换器的输入端口接收所述电平控制指令、输出端口与所述反向驱动器的输入端口相连，所述反向驱动器的输出端口与所述继电器的线圈的一端相连，所述线圈的另一端接电源；所述继电器的动触点连接所述待测微波器件的频率控制管脚；所述继电器的常闭触点连接参考接地信号(即低电平)、所述继电器的常开触点连接高电平信号。通过设置信号调理模块，利用高低电平指令就可对待测微波器件的各频率控制管脚进行电压切换，避免了通过人工对管脚进行切换而导致过载、短接等失误造成的器件不可逆转的损坏，同时降低人工切换造成的系统误差，使得测试结果更加准确。

优选地，所述信号转换器输出端口的个数、所述反向驱动器输入及输出端口的个数、所述单刀双掷继电器的个数均与所述待测微波器件中频率控制管脚的个数相匹配。

所述频谱分析仪，基于每一待测频点下每一测试子项中的配置指令及数据获取指令，从所述变频微波信号中获取相应测试子项下的测试数据；

所述测试数据分析模块，用于判断每一测试子项下的测试数据是否满足相应测试子项下的技术指标，若均满足，则所述待测微波器件在当前待测频点下的测试通过；若所述待测微波器件在每一待测频点下的测试均通过，则所述待测微波器件测试通过。

实际工作过程中，信号转换器将接收到的电平控制指令转换为每一频率控制管脚对应的高低电平信号；当其为高电平信号时，经反向驱动器反向得到低电平，此时，继电器的线圈得电，常闭触点断开、常开触点闭合，继电器的动触点输出高电平至待测微波器件对应的频率控制管脚；而当其为低电平信号时，经反向驱动器反向得到高电平，此时，继电器不动作，常开触点和常闭触点的状态不变，继电器的动触点输出低电平至待测微波器件对应的频率控制管脚。从而实现电平控制指令对每一频率控制管脚的控制电压的调节。

优选地，为便于电路布局，信号调理模块中还包括输入接线端子和输出接线端子；所述输入接线端子用于实现信号转换器与反向驱动器之间的连接、所述输出接线端子用于实现继电器与待测微波器件之间的连接。

示例性地，信号转换器的型号为USB5841，单刀双掷继电器的型号为RY5W-K，反向驱动器的型号为ULN2803(包括8路输入和8路输出)，输入接线端子和输出接线端子的型号均为DINKLE0138-5(包括4个接线端)。此时，若待测测微波器件包括16个频率控制管脚，至少选用一个信号转换器、16个继电器(K1～K16)、2个反向驱动器(U1、U2)、4个输入接线端子(J1～J4)及4个输出接线端子(J7～J10)；接线端子J13用于为继电器与反向驱动器提供供电电压；也可为便于扩展硬件工作，增加配用的上述器件。

输入接线端子和输出接线端子的接线示意图如图4所示，其中，QIO1～QIO16分别表示16个高低电平信号输入引脚，一个高低电平信号输入引脚与信号转换器的一个输出端口唯一对应连接；IO1～IO16分别表示16个高低电平输出引脚，一个高低电平输出引脚与待测微波器件的频率控制管脚对应连接；反向驱动器U1、U2的接线示意图如图5所示，继电器K1～K8的接线示意图如图6所示，继电器K9～K16的接线示意图如图7所示；其中，反向驱动器的16个输入端口与输入接线端子的16个高低电平信号输入引脚QIO1～QIO16分别对应连接，用于将对应的高低电平传输给相应的继电器；反向驱动器的16个输出端口DIO1～DIO16与16个继电器K1～K16线圈的一端分别对应连接；继电器K1～K16的常闭触点统一连接参考接地信号TTL-、常开触点统一连接高电平信号TTL+，16个继电器K1～K16的动触点于输出接线端子的高低电平输出引脚IO1～IO16分别对应连接。

测试过程中，通过USB端口5V供电保证高电压输出，通过直流电源参考低电平保证低电压输出，反向驱动器U1、U2按照待测频点对应的高低电平控制信号，即待测微波器件在待测频点下频率控制管脚对应的二进制码(最高位～最低位)，确定相应继电器引脚(IOn～IO1)的输出电压。默认状态下，引脚IOn～IO1均通过继电器内部的单刀双掷开关短接至低电压输入，当高低电平控制信号写入后，反向驱动器U1～U3按照对应输出引脚的高低电平驱动相应继电器的单刀双掷开关分别短接至高、低电平，以此按照待测频点对应的频率控制管脚向待测微波器件输入控制电压，实现待测微波器件对应待测频点的变频微波信号的输出。

此外，为便于功能扩展，还设置了接线端子J5、J6、J11和J12；继电器K17、K18、K19、K20；反向驱动器U3；如图8和图9所示；其中，接线端子J6为自定义TTL电压输入引脚；J11和J12暂时保留，用于硬件功能的拓展；K17、K18与自定义TTL电压输入连接，保障非5V控制电压模块的测试需求，K19、K20保留，用于硬件功能的拓展；U3用于实现扩展过程中接线端子J5与继电器K17、K18之间的信号反向。

综上所述，本发明中系统实施例的具体实施过程参见上述方法实施例即可，本实施例在此不再赘述。

由于本系统实施例与上述方法实施例原理相同，所以本系统也具有上述方法实施例相应的技术效果。

本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于计算机可读存储介质中。其中，所述计算机可读存储介质为磁盘、光盘、只读存储记忆体或随机存储记忆体等。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种多频点微波器件自动化测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

配置待测微波器件在每一待测频点下的电平控制指令、一个或多个测试子项；所述测试子项包括配置指令、数据获取指令和技术指标；所述电平控制指令为控制待测微波器件多个频率控制管脚所需电压对应的高低电平形成的二进制码格式的指令；

对所述待测微波器件在每一待测频点下执行测试过程；若所述待测微波器件在每一待测频点下的测试均通过，则所述待测微波器件测试通过；其中，

每一待测频点下执行的测试过程包括：

所述待测微波器件基于所述电平控制指令及接收的参考微波信号，生成当前待测频点对应的变频微波信号；

频谱分析仪基于每一测试子项中的配置指令及数据获取指令，从所述变频微波信号中获取相应测试子项下的测试数据；

判断每一测试子项下的测试数据是否满足相应测试子项下的技术指标，若均满足，则所述待测微波器件在当前待测频点下的测试通过；

所述测试子项包括输出功率测试子项、杂散抑制测试子项、谐波抑制测试子项及相位噪声测试子项中的一项或多项；

所述频谱分析仪通过执行以下操作获取所述输出功率测试子项下的测试数据：

根据所述配置指令复位所述频谱分析仪、并将所述频谱分析仪的扫频宽度设置为第一扫频宽度；

根据所述数据获取指令，获取所述变频微波信号对应的频域信号在所述第一扫频宽度下的频域信号峰值和输出频率。

2.根据权利要求1所述的多频点微波器件自动化测试方法，其特征在于，所述频谱分析仪通过执行以下操作获取所述杂散抑制测试子项下的测试数据：

根据所述配置指令将所述频谱分析仪的扫频宽度设置为第二扫频宽度；

根据所述数据获取指令，获取所述变频微波信号下的杂散信号，在所述第二扫频宽度对应的带宽范围内搜索所述杂散信号的最大峰值，并获取所述最大峰值的左侧峰值及右侧峰值；将所述左侧峰值和右侧峰值中的较大值作为杂散抑制值。

3.根据权利要求1所述的多频点微波器件自动化测试方法，其特征在于，所述频谱分析仪通过执行以下操作获取所述谐波抑制测试子项下的测试数据：

根据配置指令设置所述频谱分析仪的中心频率为谐波抑制测试频率；所述谐波抑制测试频率为所述输出频率的2倍；

根据所述数据获取指令，获取所述谐波抑制测试频率下的频域信号峰值。

4.根据权利要求1所述的多频点微波器件自动化测试方法，其特征在于，所述频谱分析仪通过执行以下操作获取所述相位噪声测试子项下的测试数据：

根据所述配置指令切换频谱分析仪至相位噪声测试模式、并自动搜索载波；

根据所述数据获取指令读取自动搜索到的载波频率偏差1KHz处的相位噪声值。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的多频点微波器件自动化测试方法，其特征在于，所述待测微波器件基于所述电平控制指令及参考微波信号，生成当前待测频点对应的变频微波信号，包括：

根据所述电平控制指令生成所述待测微波器件中每一频率控制管脚对应的高低电平信号；

基于所述每一频率控制管脚的对应的高低电平信号，调节每一频率控制管脚的控制电压；

调节每一频率控制管脚的控制电压后，所述待测微波器件将所述参考微波信号变频至当前待测频点对应的变频微波信号。

6.一种多频点微波器件自动化测试系统，其特征在于，包括：

测试配置模块，用于配置待测微波器件在每一待测频点下的电平控制指令、一个或多个测试子项；所述测试子项包括配置指令、数据获取指令和技术指标；所述电平控制指令为控制待测微波器件多个频率控制管脚所需电压对应的高低电平形成的二进制码格式的指令；

微波信号源，用于向所述待测微波器件输入参考微波信号；

信号调理模块，用于根据所述电平控制指令生成所述待测微波器件中每一频率控制管脚对应的高低电平信号；并基于所述每一频率控制管脚对应的高低电平信号，调节每一频率控制管脚的控制电压；以供在调节完每一频率控制管脚的控制电压后，所述待测微波器件将所述参考微波信号变频至当前待测频点对应的变频微波信号；

频谱分析仪，基于每一待测频点下每一测试子项中的配置指令及数据获取指令，从所述变频微波信号中获取相应测试子项下的测试数据；所述测试子项包括输出功率测试子项、杂散抑制测试子项、谐波抑制测试子项及相位噪声测试子项中的一项或多项；所述频谱分析仪通过执行以下操作获取所述输出功率测试子项下的测试数据：根据所述配置指令复位所述频谱分析仪、并将所述频谱分析仪的扫频宽度设置为第一扫频宽度；根据所述数据获取指令，获取所述变频微波信号对应的频域信号在所述第一扫频宽度下的频域信号峰值和输出频率；

测试数据分析模块，用于判断每一测试子项下的测试数据是否满足相应测试子项下的技术指标，若均满足，则所述待测微波器件在当前待测频点下的测试通过；若所述待测微波器件在每一待测频点下的测试均通过，则所述待测微波器件测试通过。

7.根据权利要求6所述的多频点微波器件自动化测试系统，其特征在于，所述信号调理模块包括信号转换器、单刀双掷继电器及反向驱动器；

所述信号转换器的输入端口接收所述电平控制指令、输出端口与所述反向驱动器的输入端口相连；所述反向驱动器的输出端口与所述继电器的线圈的一端相连，所述线圈的另一端连接电源；所述继电器的动触点连接所述待测微波器件的频率控制管脚；所述继电器的常闭触点连接参考接地信号、所述继电器的常开触点连接高电平信号。

8.根据权利要求7所述的多频点微波器件自动化测试系统，其特征在于，所述信号转换器输出端口的个数、所述反向驱动器输入及输出端口的个数、所述单刀双掷继电器的个数均与所述待测微波器件中频率控制管脚的个数相匹配。