CN112731013A - 一种用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置 - Google Patents
一种用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置 Download PDFInfo
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Abstract
本发明提供一种用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置，用于给待测低压电器产品检测时提供电流，包括互连的交直流多磁路系统和控制设备；交直流多磁路系统设置于电波暗室外部的负载室内，其输入端与一外部380V交流电相连，输出端与电波暗室内的置物转台相连，用于为待测低压电器产品提供测试所需的多量程级交直流电流；控制设备设置于控制柜中并位于电波暗室及负载室的外部，其包括与交直流多磁路系统实现通信控制的信号控制系统以及与置物转台相连的漏电源，用于给待测低压电器产品提供测试所需的漏电流。实施本发明，能避免现有电流源所带来的高频噪声和电磁干扰问题，从而减少暗室底噪，满足测试要求。
Description
技术领域
本发明涉及低压电器检测技术领域，尤其涉及一种用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置。
背景技术
目前，低压电器产品都位于电波暗室内进行检测，其检测环境需要满足低于一定的电磁噪声，且低压电器产品(如智能断路器)在RS(辐射抗扰度)和RE(发射骚扰度)测试中需要交直流电源提供动力，标准要求在1～2倍额定电流下测试RS性能。因此，低压电器产品检测时，不仅需要考虑电波暗室内除电磁噪声之外的其它噪声引入，还需考虑交直流电源满足产品检测需求的额定电流大小、成本以及空间大小。
然而，现有为低压电器产品检测供电的交直流电源常设置于电波暗室内，因工作时极易在电波暗室内产生电磁干扰，同时对工作电源控制时，除电波暗室内电磁噪声之外，还存在控制信号的高频噪声，从而导致检测结果误差较大。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于，提供一种用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置，通过把电波暗室，负载室，控制柜三者互相隔离分开布置能避免现有电源以及控制系统所带来的高频噪声和电磁干扰问题，从而减少暗室底噪，满足测试要求。
为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置，用于给待测低压电器产品检测时提供电源，包括互连的交直流多磁路系统和控制设备；其中，
所述交直流多磁路系统设置于电波暗室外部的负载室内其中，所述交直流多磁路系统的输入端与外部380V三相交流电相连，输出端与所述电波暗室内放置待测低压电器产品的置物转台相连；所述交直流多磁路系统，用于为待测低压电器产品提供测试所需的多量程级交直流电流；
所述控制设备设置于控制柜中并位于所述电波暗室及所述负载室的外部，其包括漏电源和信号控制系统；其中，所述信号控制系统与所述交直流多磁路系统实现通信控制，用于输出相应的控制信号来控制所述交直流多磁路系统的输出电流，用以给待测低压电器产品提供测试所需各种量程的交直流电流；所述漏电源与所述置物转台相连，用于给待测低压电器产品提供测试所需的漏电流。
其中，还包括：信号滤波器；其中，所述信号滤波器位于所述电波暗室、所述负载室及所述控制柜三者的外部，并设置于所述控制设备与所述交直流多磁路系统实现通信控制连接的信号线上；
所述信号滤波器，用于将所述控制设备输出的控制信号所携带的高频噪声以及通过空间耦合进入信号线的噪声过滤掉。
其中，还包括：电源滤波器；其中，
所述电源滤波器位于所述电波暗室、所述负载室及所述控制柜三者的外部，并设置于所述控制设备中漏电源与所述电波暗室中置物转台相连的电流导线上；
所述电源滤波器，用于过滤由漏电源发生进入线路的干扰信号，用以防止干扰信号进入电波暗室中。
其中，还包括：电力低通滤波器；其中，
所述电力低通滤波器位于所述电波暗室、所述负载室及所述控制柜三者的外部，并设置于所述外部交流电压源与所述交直流多磁路系统中的交流多磁路系统及直流多磁路系统的输入端均相连的一次侧电缆上；
所述电力低通滤波器，用于过滤空间中耦合进入电缆内部的干扰信号以及进入所述负载室的干扰信号。
其中，所述电波暗室、所述负载室及所述控制柜三者之间均采用相同结构的屏蔽体来实现相邻间的电磁干扰屏蔽。
其中，还包括以太网交换机；其中，
所述以太网交换机设置于控制柜外部，并通过以太网线与控制柜相连，用以实现通过以太网信号对所述控制柜内相关设备进行控制。
其中，还包括：所述信号采集系统；其中，
所述信号采集系统位于所述负载室内，并设置于所述交直流多磁路系统的输出端与所述置物转台实现电连接的二次侧铜排上；
其中，所述信号采集系统包括与所述控制设备中的信号控制系统均相连的电压采集模块、电流采集模块和温度采集模块；其中，所述电压采集模块，用于实时采集二次侧铜排流过的电压，并传输给所述信号控制系统；所述电流采集模块，用于实时采集二次侧铜排流过的电流，并传输给所述信号控制系统；所述温度采集模块，用于实时采集二次侧铜排的温度，并传输给所述信号控制系统。
其中，所述电压采集模块包括电压互感器、积分器以及干电池；其中，所述电压互感器，用于实时采集二次侧铜排流过的电压；所述积分器，用于信号放大；所述干电池，用于为积分器提供电源；
所述电流采集模块包括罗氏线圈、积分器、干电池和滤波器；其中，所述罗氏线圈，用于实时采集二次侧铜排流过的电流并转换为幅值小的电流信号；所述滤波器，用于信号过滤；
其中，罗氏线圈采用电池供电，信号经过积分器后在通过滤波器到控制系统；实现了对大电流的测量同时，避免产生电磁干扰和引入电磁干扰。积分器主要工作在工频，电池供电，因此不会产生高频电磁骚扰。如果将积分器放在负载是外面，罗氏线圈将无法工作；
所述温度采集模块包括温度传感器，用于实时采集二次侧铜排流过的温度。
其中，所述交直流多磁路系统包括三相电压表、三相电流表、两个功率表、选相闭合接触器、三个交流接触器和三个多磁路变压器调节控制电路。
其中，所述多磁路变压器调节控制电路由四个互感磁体构成；其中，每一互感磁体均包括磁路切换环节、无级调压调压变压器DT和三个容量调压器。
实施本发明实施例，具有如下有益效果：
1、本发明将交直流多磁路系统设计在负载室中，通过铜排将动力电流输入到电波暗室的置物转台，实现了电波暗室大电流动力电源的供给和屏蔽性能的兼顾，同时将交直流多磁路系统和控制设备分离，实现了避免交直流多磁路系统噪声对电波暗室底噪的影响，实现了电波暗室对低压电器产品的测试要求，能避免现有电流源所带来的高频噪声和电磁干扰问题，从而减少暗室底噪，满足测试要求；
2、本发明将交直流多磁路系统和控制设备之间的控制线进行专门信号滤波器进行滤波处理，可以实现外部空间以及控制设备自身的电磁噪声通过控制线进入负载室，并将控制信号所携带的高频噪声过滤掉，同时控制设备中的漏电源经电源滤波器进入电波暗室的置物转台，可以实现漏电源发生进入线路和进入电波暗室的干扰，能更进一步避免高频噪声和电磁干扰。
3、控制系统与操作人员的控制信号，通过以太网，直接连接到大楼的交换机，电波暗室的控制室通过大楼的以太网控制多磁路系统输出；该方式可以成功避免控制系统到电波暗室的控制室之间信号线的铺设。电波暗室和屏蔽室、控制室每增加一条控制线，都会增加引入电磁噪声的风险。以太网进入控制室目前已有很成熟的滤波方式；
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，根据这些附图获得其他的附图仍属于本发明的范畴。
图1为本发明实施例提供的用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置中信号采集系统的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置中交直流多磁路系统的结构示意图；
图4为图3中单个多磁路变压器调节控制电路的结构示意图；
图5为本发明实施例提供的用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置的应用场景的流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述。
如图1所示，为本发明实施例中，提供的一种用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置，用于给待测低压电器产品检测时提供电流，其特征在于，包括交直流多磁路系统5、控制设备(未图示)、信号滤波器10、电源滤波器3和电力低通滤波器6；其中，
交直流多磁路系统设置于电波暗室1外部的负载室4内，其包括交直流多磁路系统5；其中，交直流多磁路系统5输入端与380V三相交流电7相连，输出端与电波暗室1内放置待测低压电器产品的置物转台2均相连；交直流多磁路系统5用于为待测低压电器产品提供测试所需的多量程级交直流电流；
控制设备设置于控制柜11中并位于电波暗室1及负载室2的外部，其包括漏电源(未图示)和信号控制系统(未图示)；其中，信号控制系统与交直流多磁路系统5实现通信控制，用于输出相应的控制信号来控制交直流多磁路系统的量程，用以给待测低压电器产品提供测试所需各种量程的交直流电流；漏电源与置物转台2相连，用于给待测低压电器产品提供测试所需的漏电流；应当说明的是，信号控制系统包括但不限于计算机，信号发生器，功率放大器，转盘控制器等；
信号滤波器10位于电波暗室1、负载室4及控制柜11三者的外部，并设置于控制设备与交直流多磁路系统5实现通信控制连接的信号线9上；该信号滤波器10，用于将控制设备输出的控制信号所携带的高频噪声过滤掉；在一个实例中，信号滤波器11的带宽应为0～100KHz,电流应为0～2A；
电源滤波器3位于电波暗室1、负载室4及控制柜11三者的外部，并设置于控制设备中漏电源与电波暗室1中置物转台2相连的电流导线12上；该电源滤波器3，用于过滤由漏电源发生进入线路的干扰信号，，用以防止干扰信号进入所述电波暗室1中；
电力低通滤波器6位于电波暗室1、负载室4及控制柜11三者的外部，并设置380V三相交流电7与交直流多磁路系统5的输入端相连的一次侧电缆上；该电力低通滤波器6，用于过滤空间中耦合进入电缆内部的干扰信号以及进入负载室4的干扰信号。
应当说明的是，将交直流多磁路系统设计在负载室4中，将动力电流输入到电波暗室1的置物转台2，实现了电波暗室1大电流动力电源的供给和屏蔽性能的兼顾，同时将交直流多磁路系统和控制设备分离，实现了交直流多磁路系统噪声对电波暗室底噪的影响，实现了电波暗室1对低压电器产品的测试要求，从而能避免现有电流源所带来的高频噪声和电磁干扰问题，从而降低检测结果误差。
更进一步的，将交直流多磁路系统和控制设备之间的控制线进行专门信号滤波器10进行滤波处理，可以实现外部空间以及控制设备自身的电磁噪声通过控制线进入负载室4，并将控制信号所携带的高频噪声过滤掉。同时，控制设备中的漏电源经电源滤波器3进入电波暗室1的置物转台2，可以实现漏电源发生进入线路和进入电波暗室的干扰，能更进一步避免高频噪声和电磁干扰。同时，外部380V三相交流电7经电力低通滤波器6进入负载室4的交直流多磁路系统中，可以实现过滤空间中耦合进入电缆内部的干扰信号以及进入负载室4的干扰信号。因此，信号滤波器10、电源滤波器3及电力低通滤波器7，能够使解决高频噪声和电磁干扰问题的能力得到进一步提高。
同时，控制系统与操作人员的控制信号，通过以太网直接连接到大楼的交换机14，电波暗室的控制室通过大楼的以太网控制多磁路系统输出；该方式可以成功避免控制系统到电波暗室1的控制柜11之间信号线的铺设。电波暗室1和负载室4、控制柜11每增加一条控制线，都会增加引入电磁噪声的风险。以太网进入控制室目前已有很成熟的滤波方式。
可以理解的是，电波暗室1、负载室4及控制柜12三者之间均采用相同结构的屏蔽体来实现相邻间的电磁干扰屏蔽，使解决高频噪声和电磁干扰问题的能力得到进一步提高。
在本发明实施例中，为了实现交直流多磁路系统5的量程的精确调节，需要对输出电流及其它信息进行实时检查。因此，如图2所示，该电波暗室交直流多磁路装置还包括：所述信号采集系统13；其中，
信号采集系统13位于负载室4内，并设置于交直流多磁路系统中的交直流多磁路系统5的输出端与置物转台2实现电连接的二次侧铜排8上；
其中，信号采集系统13包括与控制设备中的信号控制系统均相连的电压采集模块、电流采集模块和温度采集模块；其中，电压采集模块，用于实时采集二次侧铜排8流过的电压，并传输给信号控制系统；电流采集模块，用于实时采集二次侧铜排8流过的电流，并传输给信号控制系统；温度采集模块，用于实时采集二次侧铜排8流过的温度，并传输给所述信号控制系统。
在图3中，电压采集模块包括电压互感器19、积分器16以及干电池17；其中，电压互感器19，用于实时采集二次侧铜排8流过的电压；积分器16，用于信号放大；干电池17，用于为积分器16提供电源；
电流采集模块包括罗氏线圈15、积分器16、干电池17和滤波器18；其中，罗氏线圈15，用于实时采集二次侧铜排8流过的电流并转换为幅值小的电流信号；滤波器18，用于信号过滤；
罗氏线圈15采用电池供电，信号经过积分器16后在通过滤波器18到控制系统；实现了对大电流的测量同时，避免产生电磁干扰和引入电磁干扰。积分器16主要工作在工频，电池供电，因此会产生高频电磁骚扰。如果将积分器16放在负载室4外面，罗氏线圈15将无法工作；
温度采集模块包括温度传感器20，用于实时采集二次侧铜排8的温度。
在本发明实施例中，如图3和图4所示，交流多磁路系统5包括三相电压表21、三相电流表22、两个功率表23、选相闭合接触器24、三个交流接触器25和三个多磁路变压器调节控制电路26。
在图3中，VAB、VBC、VAC分别为三相电压表21，用于测量三相线电压；AA、AB、AC分别为A、B、C三相电流表22，用于测量相电流；W1、W2分别为功率表，用于测量多磁路系统输入功率；KS为选相闭合接触器23，用作选择输入电流的相数；01KM、02KM、03KM分别为三个交流接触器25，用于控制接入多磁路变压器调节控制电路26的电流相位；TM电路为多磁路变压器调节控制电路26由四个互感磁体构成；其中，每一互感磁体均包括磁路切换环节27、无级调压变压器DT28和三个容量调压器29。
在图4中，多磁路变压器调节控制电路26是由4个不等同互感磁体所构成。磁路切换环节27的作用是变换各磁路的投入与否；无级调压变压器DT28为连续可调磁路的一次绕组，由一个可变变压器构成，容量为1/6Ud输出端可在0～1.1×1/6Ud之间无级调节。选择10％的裕量是为了确保各磁路之间的转换具有相互覆盖性。1T，2T，3T为1/6，1/3容量调压器29，无级调压变压器DT28与1T、2T及3T容量调压器29通过共耦合状态分别向二次绕组W2输出0～1.1×Ud/6，0或Ud/6，0或Ud/3。通过在输入端有选择地控制各磁路的投入，便可使输出端电压以1∶2∶3∶4∶5∶6的级数递增，然后连续可调无级调压变压器DT28，在每一个级差范围内进行无级连续调压，从而获得全程分级连续可调的效果。
如图5所示，为本发明实施例中提供的一种用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置的应用场景的流程图。
该电波暗室交直流多磁路装置的具体工作原理为，电波暗室1内的置物转台2进行电磁兼容测试时用于旋转被测物品使之每个方向都能收到辐射干扰，与电波暗室1相连的为负载室4，中间部分为交直流多磁路系统5，用于变换电压以输出大电流，最大可达8KA。
负载室4与电波暗室1中的置物转台2通过二次侧铜排8相连，由于二次侧铜排8进入电波暗室1需要进行开孔，会对暗室本身屏效造成影响，因此，二次侧铜排8外侧的负载室4屏蔽体及结构应与电波暗室1相同。由外部380V三相交流电7为负载室4中的多磁路系统供电，通过电源低通滤波器7，经由一次侧电缆8接到多磁路系统上进行供电，电源低通滤波器7主要针对空间中耦合到一次侧电缆8上的干扰信号以及通过一次侧电缆8进入负载室的干扰信号。应当说明的是，由于二次侧铜排8通过的电流最大可达8KA，因此电力低通滤波器7安装在二次侧铜排8是不合适的，电力低通滤波器6应安装在一次侧。
控制柜11安装在负载室4右侧，控制柜11屏蔽体及结构也应与电波暗室1相同，且所有的控制设备包括但不限于漏电源、计算机，信号发生器，功率放大器，转盘控制器都放置于控制柜11中。控制柜11与负载室4通过信号线9经由信号滤波器10相连，使高频控制信号经过滤后对多磁路系统进行控制，且控制柜11中的漏电源发生AC 4mA～30A漏电流经电流导线12传导，并经电源滤波器3进入置物转台2为待测产品提供测试所需的漏电流，主要过滤空间中耦合进入电缆内部的干扰以及由电源发生进入线路的干扰。
实施本发明实施例，具有如下有益效果：
1、本发明将交直流多磁路系统设计在负载室中，通过铜排将动力电流输入到电波暗室的置物转台，实现了电波暗室大电流动力电源的供给和屏蔽性能的兼顾，同时将交直流多磁路系统和控制设备分离，实现了交直流多磁路系统噪声对电波暗室底噪的影响，实现了电波暗室对低压电器产品的测试要求，能避免现有电流源所带来的高频噪声和电磁干扰问题，从而降低检测结果误差；
2、本发明将交直流多磁路系统和控制设备之间的控制线进行专门信号滤波器进行滤波处理，可以实现外部空间以及控制设备自身的电磁噪声通过控制线进入负载室，并将控制信号所携带的高频噪声过滤掉，同时控制设备中的漏电源经电源滤波器进入电波暗室的置物转台，可以实现漏电源发生进入线路和进入电波暗室的干扰，能更进一步避免高频噪声和电磁干扰。
3、本发明将控制系统与操作人员的控制信号，通过以太网，直接连接到大楼的交换机，电波暗室的控制室通过大楼的以太网控制多磁路系统输出；该方式可以成功避免控制系统到电波暗室的控制室之间信号线的铺设。电波暗室和屏蔽室、控制室每增加一条控制线，都会增加引入电磁噪声的风险。以太网进入控制室目前已有很成熟的滤波方式；
4、罗氏线圈采用电池供电，信号经过积分器后在通过滤波器到控制系统；实现了对大电流的测量同时，避免产生电磁干扰和引入电磁干扰。积分器主要工作在工频，电池供电，因此会产生高频电磁骚扰。如果将积分器放在负载是外面，罗氏线圈将无法工作；本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，所述的存储介质，如ROM/RAM、磁盘、光盘等。
以上所揭露的仅为本发明一种较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。
Claims (10)
1.一种用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置，用于给待测低压电器产品检测时提供电流，其特征在于，包括互连的交直流多磁路系统和控制设备；其中，
所述交直流多磁路系统(5)设置于电波暗室(1)外部的负载室(4)内，其中，所述交直流多磁路系统(5)的输入端与一外部380V三相交流电(7)相连，输出端与所述电波暗室(1)内放置待测低压电器产品的置物转台(2)相连；所述交直流多磁路系统(5)，用于为待测低压电器产品提供测试所需的多量程级交直流电流；
所述控制设备设置于控制柜(11)中并位于所述电波暗室(1)及所述负载室(2)的外部，其包括漏电源和信号控制系统；其中，所述信号控制系统与所述交直流多磁路系统(5)实现通信控制，用于输出相应的控制信号来控制所述交直流多磁路系统(5)输出交直流电流的量程，用以给待测低压电器产品提供测试所需各种量程的交直流电流；所述漏电源与所述置物转台(2)相连，用于给待测低压电器产品提供测试所需的漏电流。
2.如权利要求1所述的用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置，其特征在于，还包括：信号滤波器(10)；其中，
所述信号滤波器(10)位于所述电波暗室(1)、所述负载室(4)及所述控制柜(11)三者的外部，并设置于所述控制设备与所述交直流多磁路系统(5)实现通信控制连接的信号线(9)上；
所述信号滤波器(10)，用于将所述控制设备输出的控制信号所携带的高频噪声以及通过空间耦合进入信号线的噪声过滤掉。
3.如权利要求2所述的用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置，其特征在于，还包括：电源滤波器(3)；其中，
所述电源滤波器(3)位于所述电波暗室(1)、所述负载室(4)及所述控制柜(11)三者的外部，并设置于所述控制设备中漏电源与所述电波暗室(1)中置物转台(2)相连的电流导线(12)上；
所述电源滤波器(3)，用于过滤由漏电源发生进入线路的干扰信号，用以防止干扰信号进入所述电波暗室(1)中。
4.如权利要求3所述的用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置，其特征在于，还包括：电力低通滤波器(6)；其中，
所述电力低通滤波器(6)位于所述电波暗室(1)、所述负载室(4)及所述控制柜(11)三者的外部，并设置于所述外部380三相交流电(7)上；
所述电力低通滤波器(6)，用于过滤空间中耦合进入电缆内部的干扰信号以及进入所述负载室(4)的干扰信号。
5.如权利要求4所述的用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置，其特征在于，所述电波暗室(1)、所述负载室(4)及所述控制柜(11)三者之间均采用相同结构的屏蔽体来实现相邻间的电磁干扰屏蔽。
6.如权利要求5所述的用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置，其特征在于，还包括以太网交换机(14)；其中，
所述以太网交换机(14)设置于控制柜(11)外部，并通过以太网线与控制柜(11)相连，用以实现通过以太网信号对所述控制柜(11)内相关设备进行控制。
7.如权利要求6所述的用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置，其特征在于，还包括：所述信号采集系统(13)；其中，
所述信号采集系统(13)位于所述负载室(4)内，并设置于所述交直流多磁路系统(5)与所述置物转台(2)实现电连接的二次侧铜排(8)上；
其中，所述信号采集系统(13)包括与所述控制设备中的信号控制系统均相连的电压采集模块、电流采集模块和温度采集模块；其中，所述电压采集模块，用于实时采集二次侧铜排(8)流过的电压，并传输给所述信号控制系统；所述电流采集模块，用于实时采集二次侧铜排(8)流过的电流，并传输给所述信号控制系统；所述温度采集模块，用于实时采集二次侧铜排(8)流过的温度，并传输给所述信号控制系统。
8.如权利要求7所述的用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置，其特征在于，所述电压采集模块包括电压互感器(19)、积分器(16)以及干电池(17)；其中，所述电压互感器(19)，用于实时采集二次侧铜排(8)流过的电压；所述积分器(16)，用于信号放大；所述干电池(17)，用于为积分器(16)提供电源；
所述电流采集模块包括罗氏线圈(15)、积分器(16)、干电池(17)和滤波器(18)；其中，所述罗氏线圈(15)，用于实时采集二次侧铜排(8)流过的电流并转换为幅值小的电流信号；所述滤波器(18)，用于过滤由积分器(16)产生的高频电磁骚扰；
所述温度采集模块包括温度传感器(20)，用于实时采集二次侧铜排(8)的温度。
9.如权利要求8所述的用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置，其特征在于，所述交直流多磁路系统(5)包括三相电压表(21)、三相电流表(22)、两个功率表(23)、选相闭合接触器(24)、三个交流接触器(25)和三个多磁路变压器调节控制电路(26)。
10.如权利要求9所述的用于低压电器产品检测的电波暗室交直流多磁路装置，其特征在于，所述多磁路变压器调节控制电路(26)由四个互感磁体构成；其中，每一互感磁体均包括磁路切换环节(27)、无级调压器DT(28)和三个小容量调压器(29)。
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