CN112683817A - 光谱分析装置 - Google Patents

光谱分析装置 Download PDF

Info

Publication number
CN112683817A
CN112683817A CN202011405910.XA CN202011405910A CN112683817A CN 112683817 A CN112683817 A CN 112683817A CN 202011405910 A CN202011405910 A CN 202011405910A CN 112683817 A CN112683817 A CN 112683817A
Authority
CN
China
Prior art keywords
light
lens
transmission grating
spectrum
pixels
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202011405910.XA
Other languages
English (en)
Inventor
蔡孟燦
王泰昂
李承育
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chang Gung University CGU
Original Assignee
Chang Gung University CGU
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chang Gung University CGU filed Critical Chang Gung University CGU
Publication of CN112683817A publication Critical patent/CN112683817A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/0272—Handheld
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0208—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/021—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using plane or convex mirrors, parallel phase plates, or particular reflectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
    • G01J3/1804—Plane gratings
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

本发明提供一种光谱分析装置，其系包括第一透镜、透射光栅、透镜组以及感测元件，该光谱分析装置接收入射光线，该第一透镜接收该入射光线并收敛成第一光线，该透射光栅将该第一光线分光成多数个第二光线，该透镜组接收该些个第二光线，该感测元件包含本体及多数个像素，该些个个像素分别对应接收该些个第二光线，以此装置分析入射之该入射光线之光谱。

Description

光谱分析装置
技术领域
本发明是关于一种光谱分析装置，尤其系指一种利用光学结构将光线依波长分成多数个分光线，并对应感光元件之装置结构。
背景技术
随着医疗技术的进步，光谱检测技术越来越先进，且对于市场上需求也陆续有新的光谱分析仪器陆续研发出来，广泛应用于水质分析、土壤分析、环境分析以及农产品、食品、化妆品分析等，聚焦光谱技术，关注其对相关领域起到的推展作用。
光谱是复色光经过色散系统分光后，被色散开的单色光按波长大小而依次排列的图案，全称为光学频谱，根据物质的光谱来鉴别物质及确定它的化学组成和相对含量的方法即是光谱分析，其具有灵敏、迅速的优点，现代光谱分析仪器有原子发射光谱仪、原子吸收光谱仪(使用原子吸收分光光度法)、红外线光谱仪等。
使用光谱仪、分光光度计与相关电子设备，量测不同发射光源之光谱谱线，并采用仪器所提供之固定光源，量测不同物质之吸收光谱、穿透光谱与反射光谱，因为不同元素的光谱会有不同的位置波长的谱线，或者会缺少某些谱线，但含有相同元素的物质的谱线却总是会在同一个位置具有相同波长的谱线，光谱分析装置即是利用此原理来分析物质的元素组成。
因此产业界设计一种便携式光谱仪，其具有可现场快速检测，无需将样品送至实验室以大型器材检测，可提高检测效率，尤其在面对复杂度高、昂贵且不易搬运的样品时，可现场进行检测的装置更显得额外重要，在便携式或手持式光谱仪发展的同时，光学仪器厂商也开始思考实验室的仪器也应朝向可携带式装置的方向。
然而，现有的可携带式光谱仪仍无法广泛应用，因为现有的可携带式光谱仪之结构复杂，其仍须由该领域的专业人士操作，使用时需经过严谨的训练，且对产生的光谱得进行解读与了解，数据若需进一步确认，再送至实验室分析，以获得更可靠之数据，其过程旷日废时，与使用非携带式光谱仪器所需的时程相差不多，尤其是检测结果须用于药物的制造(例如样本成份扫描)或为后续医疗提供信息时(例如光学同调断层扫描OCT)，因此，产业界需要一种更轻便、更快速撷取、且稳定度更好，更易于人员操作之光谱分析装置。
背景技术部分的内容仅仅是发明人所知晓的技术，并不当然代表本领域的现有技术。
发明内容
有鉴于上述现有技术之问题，本发明提供一种光谱分析装置，其系多数个光学元件组成，该光谱分析装置接收样本之光线后，该光线穿过第一透镜后，再穿过透射光栅，透射光栅将该光线分成多数个分光线，透镜组接收该些个分光线，并将该些个分光线分别对应入射至感测元件之多数个像素，以此装置分析样本入射、穿透、反射、吸收之光线的光谱，并提供更轻便之分析装置。
本发明之一目的在于提供一种光谱分析装置，其系包括第一透镜、透射光栅、透镜组以及感测元件，利用该些个光学元件将欲检测之样本的反射、穿透、吸收光分成多数个光线，且将该些个光线分别对应射至该感测元件之多数个像素，以此装置结构分析入射之样本的反射、穿透、吸收光之光谱，以了解样本之组成成分。
为达到上述所指称之各目的与功效，本发明提供一种光谱分析装置，其包括：第一透镜、透射光栅、反射镜、透镜组以及感测元件，该第一透镜接收入射光线，并收敛成第一光线，该透射光栅对应该第一透镜接收该第一光线并依波长分光成多数个第二光线，该透镜组对应该透射光栅接收该些个第二光线，该透镜组由物侧至像侧依序包含一第二透镜及一第三透镜，该第二透镜收敛该些个第二光线，该第三透镜收敛经过该第二透镜的该些个第二光线，该感测元件包含一基板及多数个像素，该些个像素设置于该基板上，该些个像素分别对应接收该些个第二光线；利用此结构提供量测入射光的频谱分布(如波长分布)之结构。
本发明之一实施例中，其中该透射光栅具有第一角度，该第一角度系于40°至60°之间。
本发明之一实施例中，其中该第二透镜具有正屈折力，其像侧面为凸面。
本发明之一实施例中，其中该第三透镜具有正屈折力，其物侧为凸面。
本发明之一实施例中，其中该感测元件具有第二角度，该第二角度系于0°至10°之间。
本发明之一实施例中，其中该感测元件电性连接有电子装置并传输有感测讯号。
本发明之一实施例中，其中该透射光栅系穿透式光栅。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1为本发明之实施例之结构示意图；
图2为本发明之实施例之另一结构示意图；
图3为本发明之实施例之元件电性连接示意图；
图4为本发明之实施例之传输示意图；
其中，1--光谱分析装置，10--第一透镜，20--透射光栅，22--第一角度，30--反射镜，32--反射角度，40--透镜组，42--第二透镜，44--第三透镜，50--感测元件，502--感测讯号，51--基板，52--像素，54--第二角度，60--电子装置，L--入射光线，L1--第一光线，L2--第二光线，L21--第一分光线，L22--第二分光线，L23--第三分光线，S--样本。
具体实施方式
为使贵审查委员对本发明之特征及所达成之功效有更进一步之了解与认识，谨佐以实施例及配合说明，说明如下：
本发明提供一种光谱分析装置，其系多数个光学元件组成，其包括第一透镜、透射光栅、透镜组以及感测元件，该感测元件面向该透镜组之一侧设置多数个像素，该光谱分析装置接收一入射光线，该第一透镜将该入射光线收敛成一第一光线，该第一光线再穿过该透射光栅，该透射光栅将该第一光线分成多数个第二光线，该透镜组接收该些个第二光线，该些个像素分别对应接收该些个第二光线，以此装置分析入射光线之光谱。
请参阅第1图，其为本发明之实施例之结构示意图，如图所示，本实施例系一种光谱分析装置1，其包含一第一透镜10、一透射光栅20、一透镜组40以及一感光元件50，其中，该光谱分析装置1系接收一入射光线L并将其分光之装置。
再次参阅第1图，如图所示，于本实施例中，光线之路径系由物侧至像侧，以一实施例作举例，该透射光栅20对应设置于该第一透镜10之一侧，该透镜组40对应设置于该透射光栅20远离该第一透镜10之一侧，其中该透镜组40由物侧至像侧依序包含一第二透镜42及一第三透镜44，该感测元件50对应设置于该透镜组40之一侧，即该第二透镜42像侧面之一侧，该感测元件50包含一基板51及多数个像素52，该基板51面向该透镜组40之一侧设置该些个像素52，该些个像素52平均分布于该感测元件50之该基板51上；于本实施例中，该透射光栅20系使用穿透式光栅(Transmission grating)，该感测元件50系感光耦合元件(Charge-coupled device,CCD)。
接续上述，如第1图所示，于本实施例中，该入射光线L射至该光谱分析装置1，该入射光线L系欲检测之一样本S之反射、穿透、吸收光，该第一透镜10接收该入射光线L并收敛成一第一光线L1，该第一透镜10将该入射光线L形成平行光并调控该入射光线L之光点形状及尺寸，例如将该入射光线L形成圆形光点并水平射出成该第一光线L1，该第一光线L1再穿过该透射光栅20形成多数个第二光线L2，该透射光栅20将该第一光线L1以不同波长以不同角度分散成多个分光光线(例如分成600nm、750nm及900nm的光线)，即系该些个第二光线L2；于本实施例中，该些个第二光线L2以一第一分光线L21、一第二分光线L22及一第三分光线L23举例；该透镜组40接收该些个第二光线L2之该第一分光线L21、该第二分光线L22及该第三分光线L23，该第一分光线L21、该第二分光线L22及该第三分光线L23依序穿过该第二透镜42及该第三透镜44，该感光元件50之该些个像素52分别对应接收该些个第二光线L2，即该第一分光线L21、该第二分光线L22及该第三分光线L23依其波长分别对应射至该些个像素52上，例如该第一分光线L21射至该感光元件50左半部该些个像素52，该第二分光线L22射至该感光元件50中间之该些个像素52，该第三分光线L23射至该感光元件50右半部之该些个像素52，于此完成该光谱分析装置1内部之光线路径。
请参阅第2图，其为本发明之实施例之另一结构示意图，如图所示，于本实施例中，以另一实施例作举例，其系基于上述实施例，更设置一反射镜30，该透射光栅20对应设置于该第一透镜10之一侧，该反射镜30对应设置于该透射光栅20之一上方，该透镜组40对应设置于该反射镜30面向该第一透镜10之一侧；于本实施例中，该反射镜30可将该透射光栅20所分出之该些个第二光线L2反射至该透镜组40，改变光线路径，以节省空间，例如上述举例之该些个第二光线L2，该反射镜30再接收该些个第二光线L2之该第一分光线L21、该第二分光线L22及该第三分光线L23并反射该些个第二光线L2。
接续上述，如图所示，于本实施例中，该透射光栅20具有一第一角度22，该第一角度22系于40°至60°之间，以将接收之光线分光至该反射镜30，该反射镜30具有一反射角度32，以将接收之光线反射至该透镜组40，该反射角度32系于40°至60°之间，本实施例中，可利用该些角度调整入射之该第一光线L1及该些个第二光线L2之路径与角度，该感测元件50具有一第二角度54，该第二角度54系于0°至10°之间，利用该第二角度54之变化对应该透镜组40之距离，以对应接收该透镜组40所射出之该些个第二光线L2。
接续上述，于本实施例中，该透镜组40之该第二透镜42及该第三透镜44相互邻接设置，该第二透镜42具有正屈折力，其像侧面为凸面，该第三透镜44具有正屈折力，其物侧面为凸面，于一实施例中，该第二透镜42具之物侧面为凹面，该第三透镜44之像侧面为凹面，其中，该些个第二光线L2穿过该第二透镜42后，再由该第三透镜44对应射至该感测元件50之该些个像素52，以该透镜组40改变该反射镜30反射后之该些个第二光线L2之光形(如改变其光形成矩形)，以对应该感测元件50之该些个像素52之总体面积，使该些个像素52依波长接收该些个第二光线L2，以分析该第一光线L1之光谱。
请参阅第3图及第4图，第3图为本发明之实施例之元件电性连接示意图，第4图为本发明之实施例之传输示意图，如图所示，本实施例中，对欲检测之该样本S照射光线，其经样品反射、穿透、吸收后之光线，即该入射光线L，再由该光谱分析装置1接收，该光谱分析装置1之内部光线路径如上述实施例，故不再赘述，该感测元件50电性连接一电子装置60并传输一感测讯号502，该电子装置60系如计算机此等处理装置，该感测元件50之该些个像素52接收到该些个第二光线L2后，传送该感测讯号502，以分析该样本S之光谱。
本实施例系一种光谱分析装置，其系该第一透镜10、该透射光栅20、该反射镜30、该透镜组40以及该感测元件50对应设置，该光谱分析装置1由该第一透镜10接收该入射光线L并收敛成该第一光线L1，再由该透射光栅20将该第一光线L1分成该些个第二光线L2，再由该透镜组40将该些个第二光线L2分别对应射至该感测元件50之该些个像素52上，以此装置分析入射之该入射光线L之光谱；于一实施例中，更包含该反射镜30接收并反射该些个第二光线L2，以改变光线之路径。
综上所述，本发明提供一种光谱分析装置，其系多数个光学元件组成，该光谱分析装置接收样本之光线后，由透射光栅将该光线分成多数个分光线，再以透镜组接收该些个分光线，并将该些个分光线分别对应射至感测元件之多数个像素上，以此装置将入射光线依不同波长分离成多数个分光线，再将该些个分光线对应射至感测元件之像素，以分析该入射之光线的光谱，并提供更轻便之分析装置，解决习知装置于使用时需经过严谨的训练，且数据若需进一步确认，须再送至实验室分析，增加时间与人力成本之问题，本发明更以反射镜接收并反射该些个分光线，改变光线路径节省空间。
惟以上所述者，仅为本发明一实施例而已，并非用来限定本发明实施之范围，故举凡依本发明申请专利范围所述之形状、构造、特征及精神所为之均等变化与修饰，均应包括于本发明之申请专利范围内。
最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种光谱分析装置，其特征在于，包含：
第一透镜，其接收入射光线，并收敛成第一光线；
透射光栅，其对应所述第一透镜接收的所述第一光线，并依波长分光成多数个第二光线；
透镜组，其对应所述透射光栅接收的所述多数个第二光线，所述透镜组由物侧至像侧依序包含第二透镜及第三透镜，所述第二透镜收敛所述多数个第二光线，所述第三透镜收敛经过第二透镜的所述多数个第二光线；以及
感测元件，其包含基板及多数个像素，所述多数个像素设置于该基板上，所述多数个像素分别对应接收所述多数个第二光线。
2.如权利要求1所述的光谱分析装置，其特征在于，所述透射光栅具有第一角度，该第一角度系于40°至60°之间。
3.如权利要求1所述的光谱分析装置，其特征在于，所述第二透镜具有正屈折力，其像侧面为凸面。
4.如权利要求1所述之光谱分析装置，其特征在于，所述第三透镜具有正屈折力，其物侧面为凸面。
5.如权利要求1所述之光谱分析装置，其特征在于，所述感测元件具有第二角度，该第二角度系于0°至10°之间。
6.如请求项1所述之光谱分析装置，其特征在于，所述感测元件电性连接有电子装置并传输有感测讯号。
7.如请求项1所述之光谱分析装置，其特征在于，所述透射光栅系穿透式光栅。
CN202011405910.XA 2020-06-23 2020-12-04 光谱分析装置 Pending CN112683817A (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW109121253 2020-06-23
TW109121253A TWI765286B (zh) 2020-06-23 2020-06-23 光譜分析裝置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN112683817A true CN112683817A (zh) 2021-04-20

Family

ID=75446015

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011405910.XA Pending CN112683817A (zh) 2020-06-23 2020-12-04 光谱分析装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11262237B2 (zh)
CN (1) CN112683817A (zh)
TW (1) TWI765286B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20230221139A1 (en) * 2022-01-12 2023-07-13 Woven Alpha, Inc. Roadmap generation system and method of using

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08292098A (ja) * 1995-04-24 1996-11-05 Advantest Corp 光スペクトラムアナライザ
US5717487A (en) * 1996-09-17 1998-02-10 Trw Inc. Compact fast imaging spectrometer
WO2004025285A1 (en) * 2002-08-09 2004-03-25 Universite De Liege Comparison of a rutherford back scattering signal with a particle induce x-ray emission signal
US20050162649A1 (en) * 2004-01-23 2005-07-28 P&P Optica Inc. Multi-channel spectrum analyzer
CN1719231A (zh) * 2004-07-09 2006-01-11 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 光栅光谱仪
CN201569493U (zh) * 2009-05-31 2010-09-01 合肥皖仪科技有限公司 光谱分析仪
CN104007097A (zh) * 2014-04-23 2014-08-27 厦门大学 与蓝牙智能终端设备无线互联的拉曼光谱仪
CN104280348A (zh) * 2014-10-24 2015-01-14 合肥卓越分析仪器有限责任公司 一种应用于光电直读光谱分析仪的光学系统
CN105758841A (zh) * 2016-04-08 2016-07-13 苏州启翔仪器科技有限公司 一种激光诱导击穿光谱分析仪
CN105758842A (zh) * 2016-04-08 2016-07-13 苏州启翔仪器科技有限公司 一种激光诱导击穿光谱分析仪的滤波系统
TWI546523B (zh) * 2015-09-04 2016-08-21 財團法人國家實驗研究院 多波段光譜分離裝置
CN105987753A (zh) * 2015-02-11 2016-10-05 河北伊诺光学科技有限公司 一种基于云计算的光谱专家系统及其使用方法
CN108693111A (zh) * 2017-04-06 2018-10-23 谱钜科技股份有限公司 光谱仪

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5442439A (en) * 1993-04-21 1995-08-15 Kaiser Optical Systems, Inc. Spectrograph with multiplexing of different wavelength regions onto a single opto-electric detector array
US8264680B2 (en) * 1999-05-28 2012-09-11 Yokogawa Electric Corporation Biochip reader and electrophoresis system
US6603561B2 (en) * 2001-02-20 2003-08-05 Thomas D. Ditto Chromatic diffraction range finder
US7085492B2 (en) * 2001-08-27 2006-08-01 Ibsen Photonics A/S Wavelength division multiplexed device
CA2496287A1 (en) * 2002-08-20 2004-03-04 Cyvera Corporation Diffraction grating-based optical identification element
AU2003264540A1 (en) * 2002-09-20 2004-04-08 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Spectrometer using diffraction lattice
US7180590B2 (en) * 2003-07-09 2007-02-20 Ibsen Photonics A/S Transmission spectrometer with improved spectral and temperature characteristics
US7636158B1 (en) * 2004-09-24 2009-12-22 Romuald Pawluczyk Optimal coupling of high performance line imaging spectrometer to imaging system
US7548313B2 (en) * 2006-08-02 2009-06-16 Quang-Viet Nguyen Compact and rugged imaging Raman spectrograph
US8040608B2 (en) * 2007-08-31 2011-10-18 The General Hospital Corporation System and method for self-interference fluorescence microscopy, and computer-accessible medium associated therewith
JP4711009B2 (ja) * 2008-10-16 2011-06-29 ソニー株式会社 光学的測定装置
CN201615875U (zh) * 2009-09-01 2010-10-27 深圳市蓝韵实业有限公司 一种光栅分光光度装置
CN101672767A (zh) * 2009-09-01 2010-03-17 深圳市蓝韵实业有限公司 一种光栅分光光度装置
CN201697865U (zh) * 2010-06-11 2011-01-05 江西科技师范学院 一种生化分析仪用分光光度计的光学系统

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08292098A (ja) * 1995-04-24 1996-11-05 Advantest Corp 光スペクトラムアナライザ
US5717487A (en) * 1996-09-17 1998-02-10 Trw Inc. Compact fast imaging spectrometer
WO2004025285A1 (en) * 2002-08-09 2004-03-25 Universite De Liege Comparison of a rutherford back scattering signal with a particle induce x-ray emission signal
US20050162649A1 (en) * 2004-01-23 2005-07-28 P&P Optica Inc. Multi-channel spectrum analyzer
CN1719231A (zh) * 2004-07-09 2006-01-11 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 光栅光谱仪
CN201569493U (zh) * 2009-05-31 2010-09-01 合肥皖仪科技有限公司 光谱分析仪
CN104007097A (zh) * 2014-04-23 2014-08-27 厦门大学 与蓝牙智能终端设备无线互联的拉曼光谱仪
CN104280348A (zh) * 2014-10-24 2015-01-14 合肥卓越分析仪器有限责任公司 一种应用于光电直读光谱分析仪的光学系统
CN105987753A (zh) * 2015-02-11 2016-10-05 河北伊诺光学科技有限公司 一种基于云计算的光谱专家系统及其使用方法
TWI546523B (zh) * 2015-09-04 2016-08-21 財團法人國家實驗研究院 多波段光譜分離裝置
CN105758841A (zh) * 2016-04-08 2016-07-13 苏州启翔仪器科技有限公司 一种激光诱导击穿光谱分析仪
CN105758842A (zh) * 2016-04-08 2016-07-13 苏州启翔仪器科技有限公司 一种激光诱导击穿光谱分析仪的滤波系统
CN108693111A (zh) * 2017-04-06 2018-10-23 谱钜科技股份有限公司 光谱仪

Also Published As

Publication number Publication date
TW202200984A (zh) 2022-01-01
TWI765286B (zh) 2022-05-21
US20210396578A1 (en) 2021-12-23
US11262237B2 (en) 2022-03-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6605074B2 (ja) 携帯型分光器
Hossain et al. Optical fiber smartphone spectrometer
US7599055B2 (en) Swept wavelength imaging optical interrogation system and method for using same
US7495762B2 (en) High-density channels detecting device
US8237929B2 (en) Signal processing for optical computing system
US9182282B2 (en) Multi-analyte optical computing system
US10393579B2 (en) Miniature spectrometer and a spectroscopic method
US9733063B2 (en) Method and device for determining optical properties by simultaneous measurement of intensities at thin layers using light of several wavelengths
CN104458696A (zh) 基于数字微镜元件的微型固化拉曼光谱仪
CN112683817A (zh) 光谱分析装置
KR101987402B1 (ko) 편광픽셀어레이를 이용한 박막과 후막의 두께 및 삼차원 표면 형상 측정 광학 장치
Ning et al. Optimized spatially modulated polarimetry with an efficient calibration method and hybrid gradient descent reconstruction
CN203828901U (zh) 用于频域oct系统的光谱仪
CN115003981A (zh) 组合ocd与光反射的方法及系统
CN103845039A (zh) 用于频域oct系统的光谱仪
Luo et al. 4D dual-mode staring hyperspectral-depth imager for simultaneous spectral sensing and surface shape measurement
KR101764704B1 (ko) 독소 측정장치
KR102015811B1 (ko) 분광 타원계를 이용한 표면 검사장치
CN100483110C (zh) 并行列扫描光谱型表面等离子体共振成像方法及装置
CN113390507B (zh) 光谱信息获取方法及光谱探测装置
Somarapalli et al. Realization of low-cost multichannel surface plasmon resonance based optical transducer
US20210293723A1 (en) Optical inspection device
WO2021179226A1 (zh) 光谱信息获取方法及光谱探测装置
Sumriddetchkajorn et al. Home-made n-channel fiber-optic spectrometer from a web camera
CN204203088U (zh) 多个点光源的扩散检测系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination