CN112649685B - 安全栅测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种安全栅测试方法及装置，其中装置包括：计算机、过程校验仪、控制板和夹具机构，过程校验仪的信号输出端与控制板的信号输入端连接，过程校验仪的信号入输端与控制板的信号输出端连接；控制板中设置有至少一个测试通道和至少一个负载通道；夹具机构包括第一探针组和第二探针组；控制板的信号输入端通过测试通道与第一探针组连接，控制板的信号输出端通过负载通道与第二探针组连接。本申请可以提供多个测试通道和多个负载通道，本申请通过计算机实现对待测试安全栅的测试过程的控制。本申请可以将测试信号发送到待测试安全栅，还可以采集其结果信号并发送至计算机中。本申请可实现对安全栅的自动控制，方便快捷，效率较高且更安全。

Description

安全栅测试方法及装置

技术领域

本申请涉及安全栅测试领域，尤其涉及一种安全栅测试方法及装置。

背景技术

安全栅又称安全保持器。本安回路的安全接口，它能在安全区(本质安全)和危险区(非本质安全)之间双向传递电信号，并可限制因故障引起的危险区向安全区的能量转递。一般安全栅有齐纳式和隔离式。

安全栅在各种领域的应用不断增加，其能在安全区和危险区之间双向传递电信号，为了保证安全栅的传递的电信号符合精度、耐压安全性有保障，需要对安全栅进行详细的测试。

现有技术中，依据产品的特点，采用手工测试的方法选用不同类型电信号输出对安全栅的反馈信号进行测量、记录、数据处理等。但手工搭建的平台不仅参数存在很大的影响，而且测试效率低，对操作人员存在安全隐患。

发明内容

鉴于上述问题，本申请提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的安全栅测试方法及装置，方案如下：

一种安全栅测试装置，包括：计算机、过程校验仪、控制板和夹具机构，

所述计算机与所述过程校验仪通信连接，所述计算机与所述控制板通信连接；

所述过程校验仪的信号输出端与所述控制板的信号输入端连接，所述过程校验仪的信号入输端与所述控制板的信号输出端连接；

所述控制板中设置有至少一个测试通道和至少一个负载通道；

所述夹具机构包括第一探针组和第二探针组，所述第一探针组为用于向待测试安全栅输入测试信号的探针，所述第二探针组为用于获得所述待测试安全栅输出的测试结果信号的探针；

所述控制板的信号输入端通过所述测试通道与所述第一探针组连接，所述控制板的信号输出端通过所述负载通道与所述第二探针组连接。

可选的，各所述负载通道的负载不同。

可选的，所述夹具机构还包括：第一探针驱动机构和第二探针驱动机构，所述第一探针驱动机构用于驱动所述第一探针组与所述待测试安全栅的危险区连接端连接，所述第二探针驱动机构用于驱动所述第二探针组与所述待测试安全栅的安全区连接端连接。

可选的，所述夹具机构还包括：用于对所述待测试安全栅进行限位的限位机构。

可选的，所述限位机构包括：固定部件和移动部件，所述移动部件可在预设范围内移动，以卡紧所述待测试安全栅或松开所述待测试安全栅。

可选的，所述控制板包括有负载通道选择电路，所述负载通道选择电路中包括多个光耦继电器和多个电阻，所述控制板的信号输出端通过所述负载通道选择电路与所述第二探针组连接，所述多个光耦继电器的工作状态使得所述控制板的信号输出端通过与所述工作状态对应的负载通道与所述第二探针组连接。

可选的，所述控制板包括有非反转透明锁存器及其周边电路，所述非反转透明锁存器包括：两个总控制端、八个通道控制端和八个通道输出端，所述两个总控制端用于同时控制所述八个通道输出端的工作状态，每个所述通道控制端分别与一个所述通道输出端对应，每个所述通道控制端用于控制对应的一个所述通道输出端，各所述通道输出端与所述第一探针组连接，每一个所述通道输出端为一个测试通道。

可选的，所述控制板还包括：控制器，所述控制器与所述通道控制端、所述总控制端及所述计算机通信连接。

一种安全栅测试方法，应用于本申请提供的任一种安全栅测试装置，所述方法包括：

所述计算机根据所述待测试安全栅的参数向所述过程校验仪发送目标测试信号生成指令；

所述过程校验仪根据所述目标测试信号生成指令，生成与所述待测试安全栅的参数匹配的目标测试信号，并将所述目标测试信号发送至所述控制板的信号输入端；

所述控制板通过与所述待测试安全栅的参数匹配的测试通道将所述目标测试信号发送至所述第一探针组，并通过所述第一探针组将所述目标测试信号发送至所述待测试安全栅；

所述控制板获得所述第二探针组从所述待测试安全栅采集的测试结果信号，所述控制板通过与所述待测试安全栅的参数匹配的负载通道将所述测试结果信号发送至所述过程校验仪；

所述过程校验仪将所述测试结果信号发送至所述计算机。

可选的，所述计算机根据所述测试结果信号、所述目标测试信号和所述待测试安全栅的参数，生成所述待测试安全栅的测试结果报告。

借由上述技术方案，本申请提供的安全栅测试方法及装置，可以提供多个测试通道和多个负载通道，本申请可以通过计算机实现对待测试安全栅的测试过程的控制，如：控制所采用的测试通道以及负载通道，再如：计算机控制过程校验仪产生测试信号。本申请不仅可以将测试信号发送到待测试安全栅，还可以采集其结果信号并发送至计算机中。可见，本申请可以实现对安全栅的自动控制，方便快捷，效率较高且更安全。

上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本申请的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

图1示出了本申请实施例提供的一种安全栅测试装置的结构示意图；

图2示出了本申请实施例提供的一种某种型号的待测试安全栅的示意图；

图3示出了本申请实施例提供的安全栅测试装置与安全栅连接示意图；

图4示出了本申请实施例提供的一种固定部件的结构示意图；

图5示出了本申请实施例提供的非反转透明锁存器及其周边电路的结构示意图；

图6示出了本申请实施例提供的负载通道选择电路的结构示意图；

图7示出了本申请实施例提供的一种安全栅测试方法的流程示意图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。

如图1所示，本申请实施例提供的一种安全栅测试装置，可以包括：计算机001、过程校验仪002、控制板003和夹具机构007，

计算机001与过程校验仪002通信连接，计算机001与控制板003通信连接；

过程校验仪002的信号输出端与控制板003的信号输入端连接，过程校验仪002的信号入输端与控制板003的信号输出端连接；

控制板003中设置有至少一个测试通道004和至少一个负载通道008；

夹具机构007包括第一探针组005和第二探针组006，第一探针组005为用于向待测试安全栅输入测试信号的探针，第二探针组006为用于获得待测试安全栅输出的测试结果信号的探针；

控制板003的信号输入端通过测试通道004与第一探针组005连接，控制板003的信号输出端通过负载通道008与第二探针组006连接。

可选的，计算机001可以根据待测试安全栅的参数向过程校验仪002发送目标测试信号生成指令。计算机001可以指示过程校验仪002生成与待测试安全栅的参数匹配的目标测试信号。

过程校验仪002可以根据目标测试信号生成指令，生成与待测试安全栅的参数匹配的目标测试信号，并将目标测试信号发送至控制板003的信号输入端。

进一步，控制板003可以通过与待测试安全栅的参数匹配的测试通道004将目标测试信号发送至第一探针组005，并通过第一探针组005将目标测试信号发送至待测试安全栅。可选的，控制板003可以根据计算机001的指令选择测试通道004，通过选择的测试通道004将目标测试信号发送至第一探针组005。

可选的，控制板003可以获得第二探针组006从待测试安全栅采集的测试结果信号，控制板003通过与待测试安全栅的参数匹配的负载通道008将测试结果信号发送至过程校验仪002。可选的，控制板003可以根据计算机001的指令选择负载通道008，通过选择的负载通道008将测试结果信号发送至过程校验仪002。

可选的，过程校验仪002可以将测试结果信号发送至计算机001。

可选的，计算机001可以根据测试结果信号、目标测试信号和待测试安全栅的参数，生成待测试安全栅的测试结果报告。

可选的，各负载通道008的负载不同。

可选的，某种型号的待测试安全栅可以为图2所示，待测试安全栅011可以包括有输入端014和输出端015。可选的，输入端014可以与第一探针组005连接，输出端015可以与第二探针组006连接。

图3为本申请实施例中的第一探针组005、第二探针组006与图2所示待测试安全栅的连接示意图。

可选的，夹具机构007还包括：第一探针驱动机构和第二探针驱动机构，第一探针驱动机构用于驱动第一探针组005与待测试安全栅的危险区连接端连接，第二探针驱动机构用于驱动第二探针组006与待测试安全栅的安全区连接端连接。第一探针驱动机构和第二探针驱动机构还可以驱动探针组与待测试安全栅断开连接。

上述驱动机构可以驱动探针与待测试安全栅紧密接触，以进行信号的传输。

其中，第一探针驱动机构和第二探针驱动机构可以为气缸。

可选的，夹具机构007还包括：用于对待测试安全栅进行限位的限位机构。可选的，如图3所示，上述限位机构可以包括：固定部件010和移动部件009，移动部件009可在预设范围内移动，以卡紧待测试安全栅011或松开待测试安全栅011。

可选的，移动部件009也可以由驱动机构带动，以进行移动。

可选的，如图4所示，固定部件010具有第一凹陷012，第一凹陷012设置在待测试安全栅011的指示灯013处，以使指示灯013不被固定部件010遮挡。通过第一凹陷012，技术人员可以方便的观察指示灯013从而了解待测试安全栅011的工作状态。

可选的，如图5所示，控制板003包括有非反转透明锁存器U504及其周边电路，非反转透明锁存器U504包括：两个总控制端、八个通道控制端和八个通道输出端，两个总控制端用于同时控制八个通道输出端的工作状态，每个通道控制端分别与一个通道输出端对应，每个通道控制端用于控制对应的一个通道输出端，各通道输出端与第一探针组005连接，每一个通道输出端为一个测试通道004。图5中的两个总控制端为：端口LE和OE，图5中八个通道控制端分别为端口D0至D7，图5中八个通道输出端分别为：Q0至Q7。可选的，上述周边电路可以包括图5所示的两个电阻和一个电容，该周边电路为本领域技术人员公知的连接方式，不再赘述。该周边电路用于连接非反转透明锁存器U504的端口VCC和端口GND。

可选的，非反转透明锁存器U504的器件型号可以为74HC573A。

可选的，控制板003还可以包括：控制器，控制器与通道控制端、总控制端及计算机001通信连接。控制器可以接收计算机001的通道控制指令，并根据通道控制指令控制通道控制端、总控制端的电平，以控制各测试通道004的工作状态。

可选的，控制板003包括有负载通道选择电路，负载通道选择电路中包括多个光耦继电器和多个电阻，控制板003的信号输出端通过负载通道选择电路与第二探针组006连接，多个光耦继电器的工作状态使得控制板003的信号输出端通过与工作状态对应的负载通道008与第二探针组006连接。

可选的，本申请中的负载通道选择电路可以有多种，控制板003中可以包括多个负载通道选择电路。下面示例性提供其中一种负载通道选择电路的示意图。如图6所示，负载通道选择电路可以包括：第一光耦继电器UA39、第二光耦继电器UA40、第一电阻R431、第二电阻R433、第三电阻R434、第四电阻R435、第五电阻R603和第六电阻R826，上述光电继电器及电阻的连接如图6所示。可以理解的是，在第二光耦继电器UA40的引脚2和第二光耦继电器UA40的引脚4均为低电平时，四个发光二极管均通电，使得对应的开关闭合。当第一光耦继电器UA39的引脚8接收到目标测试信号时，目标测试信号从第一光耦继电器UA39的引脚7导出。由于第二光耦继电器UA40的引脚5和第二光耦继电器UA40的引脚6导通，因此第四电阻R435被短路。目标测试信号从第一光耦继电器UA39的引脚7导出到第二光耦继电器UA40的引脚5，经第二光耦继电器UA40的引脚6导出，然后依次经第三电阻R434、第二电阻R433、第一电阻R431流入第一光耦继电器UA39的引脚6，最后从第一光耦继电器UA39的引脚5流出。上述目标测试信号流过通道的即为一个负载通道，上述目标测试信号流过的负载通道的负载为第三电阻R434、第二电阻R433、第一电阻R431的电阻之和。

如图6所示，在第二光耦继电器UA40的引脚2为低电平，且第二光耦继电器UA40的引脚4均为高电平时，上方的三个发光二极管均通电，使得对应的开关闭合。最下方的发光二极管不通电，其对应的开关断开。当第一光耦继电器UA39的引脚8接收到目标测试信号时，目标测试信号从第一光耦继电器UA39的引脚7导出。由于第二光耦继电器UA40的引脚5和第二光耦继电器UA40的引脚6未导通，因此第四电阻R435未被短路。目标测试信号从第一光耦继电器UA39的引脚7导出，然后依次经第四电阻R435、第三电阻R434、第二电阻R433、第一电阻R431流入第一光耦继电器UA39的引脚6，最后从第一光耦继电器UA39的引脚5流出。上述目标测试信号流过通道的即为另一个负载通道，上述目标测试信号流过的负载通道的负载为第四电阻R435、第三电阻R434、第二电阻R433、第一电阻R431的电阻之和。

当然，在实际应用中，可以有多个类似图6所示的负载通道选择电路以提供更多的负载通道。可选的，各负载通道选择电路中的电路组成可以不完全相同，例如：包括的电阻的个数及电阻的电阻值不同。

本申请实施例提供的安全栅测试装置，可以提供多个测试通道和多个负载通道，本申请可以通过计算机实现对待测试安全栅的测试过程的控制，如：控制所采用的测试通道以及负载通道，再如：计算机控制过程校验仪产生测试信号。本申请不仅可以将测试信号发送到待测试安全栅，还可以采集其结果信号并发送至计算机中。可见，本申请可以实现对安全栅的自动控制，方便快捷，效率较高且更安全。

本申请实施例还提供了一种安全栅测试方法，应用于本申请提供的任一种安全栅测试装置，如图7所示，该方法包括：

S100、计算机001根据待测试安全栅的参数向过程校验仪002发送目标测试信号生成指令。

可选的，计算机001可以根据待测试安全栅的参数确定与待测试安全栅的参数匹配的测试通道004和/或负载通道008，然后向控制板003发送通道控制指令，以使控制板选择上述匹配的测试通道004和/或负载通道008。

S200、过程校验仪002根据目标测试信号生成指令，生成与待测试安全栅的参数匹配的目标测试信号，并将目标测试信号发送至控制板003的信号输入端。

S300、控制板003通过与待测试安全栅的参数匹配的测试通道004将目标测试信号发送至第一探针组005，并通过第一探针组005将目标测试信号发送至待测试安全栅。

可选的，控制板003可以根据计算机001的通道控制指令对测试通道004和/或负载通道008进行选择。

S400、控制板003获得第二探针组006从待测试安全栅采集的测试结果信号，控制板003通过与待测试安全栅的参数匹配的负载通道008将测试结果信号发送至过程校验仪002；

S500、过程校验仪002将测试结果信号发送至计算机001。

可选的，图7所示方法还可以包括：计算机001根据测试结果信号、目标测试信号和待测试安全栅的参数，生成待测试安全栅的测试结果报告。

本申请提供的一种安全栅测试方法，可以根据待测试安全栅的参数生成匹配的测试信号并选择匹配的测试通道004和/或负载通道008，可以有效提高测试的匹配度。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

在一个典型的配置中，设备包括一个或多个处理器(CPU)、存储器和总线。设备还可以包括输入/输出接口、网络接口等。

存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)，存储器包括至少一个存储芯片。存储器是计算机可读介质的示例。

计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

本领域技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

以上仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (7)

1.一种安全栅测试装置，其特征在于，包括：计算机(001)、过程校验仪(002)、控制板(003)和夹具机构(007)，

所述计算机(001)与所述过程校验仪(002)通信连接，所述计算机(001)与所述控制板(003)通信连接；

所述过程校验仪(002)的信号输出端与所述控制板(003)的信号输入端连接，所述过程校验仪(002)的信号入输端与所述控制板(003)的信号输出端连接；

所述控制板(003)中设置有至少一个测试通道(004)和至少一个负载通道(008)；

所述夹具机构(007)包括第一探针组(005)和第二探针组(006)，所述第一探针组(005)为用于向待测试安全栅输入测试信号的探针，所述第二探针组(006)为用于获得所述待测试安全栅输出的测试结果信号的探针；

所述控制板(003)的信号输入端通过所述测试通道(004)与所述第一探针组(005)连接，所述控制板(003)的信号输出端通过所述负载通道(008)与所述第二探针组(006)连接；

所述控制板(003)包括有负载通道选择电路，所述负载通道选择电路中包括多个光耦继电器和多个电阻，所述控制板(003)的信号输出端通过所述负载通道选择电路与所述第二探针组(006)连接，所述多个光耦继电器的工作状态使得所述控制板(003)的信号输出端通过与所述工作状态对应的负载通道(008)与所述第二探针组(006)连接；

所述控制板(003)包括有非反转透明锁存器及其周边电路，所述非反转透明锁存器包括：两个总控制端、八个通道控制端和八个通道输出端，所述两个总控制端用于同时控制所述八个通道输出端的工作状态，每个所述通道控制端分别与一个所述通道输出端对应，每个所述通道控制端用于控制对应的一个所述通道输出端，各所述通道输出端与所述第一探针组(005)连接，每一个所述通道输出端为一个测试通道(004)；

所述控制板(003)还包括：控制器，所述控制器与所述通道控制端、所述总控制端及所述计算机(001)通信连接。

2.根据权利要求1所述的安全栅测试装置，其特征在于，各所述负载通道(008)的负载不同。

3.根据权利要求1所述的安全栅测试装置，其特征在于，所述夹具机构(007)还包括：第一探针驱动机构和第二探针驱动机构，所述第一探针驱动机构用于驱动所述第一探针组(005)与所述待测试安全栅的危险区连接端连接，所述第二探针驱动机构用于驱动所述第二探针组(006)与所述待测试安全栅的安全区连接端连接。

4.根据权利要求1所述的安全栅测试装置，其特征在于，所述夹具机构(007)还包括：用于对所述待测试安全栅进行限位的限位机构。

5.根据权利要求4所述的安全栅测试装置，其特征在于，所述限位机构包括：固定部件和移动部件，所述移动部件可在预设范围内移动，以卡紧所述待测试安全栅或松开所述待测试安全栅。

6.一种安全栅测试方法，其特征在于，应用于权利要求1至5中任一项所述的安全栅测试装置，所述方法包括：

所述计算机(001)根据所述待测试安全栅的参数向所述过程校验仪(002)发送目标测试信号生成指令；

所述过程校验仪(002)根据所述目标测试信号生成指令，生成与所述待测试安全栅的参数匹配的目标测试信号，并将所述目标测试信号发送至所述控制板(003)的信号输入端；

所述控制板(003)通过与所述待测试安全栅的参数匹配的测试通道(004)将所述目标测试信号发送至所述第一探针组(005)，并通过所述第一探针组(005)将所述目标测试信号发送至所述待测试安全栅；

所述控制板(003)获得所述第二探针组(006)从所述待测试安全栅采集的测试结果信号，所述控制板(003)通过与所述待测试安全栅的参数匹配的负载通道(008)将所述测试结果信号发送至所述过程校验仪(002)；

所述过程校验仪(002)将所述测试结果信号发送至所述计算机(001)。

7.根据权利要求6所述的安全栅测试方法，其特征在于，所述计算机(001)根据所述测试结果信号、所述目标测试信号和所述待测试安全栅的参数，生成所述待测试安全栅的测试结果报告。