CN112633752A - 电极帽使用率评估方法、系统、装置及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电极帽使用率评估方法、系统、装置及存储介质,该方法包括:获取电极帽的更换后的点焊次数、更换后的修磨次数、平均修磨次数、平均点焊次数及最大点焊次数;若更换后的点焊次数小于平均点焊次数,且更换后的修磨次数小于平均修磨次数,确定电极帽使用率低;若更换后的点焊次数大于平均点焊次数且更换后的修磨次数小于平均修磨次数,确定电极帽使用率不充分;若更换后的点焊次数大于最大点焊次数或更换后的修磨次数大于平均修磨次数,确定电极帽使用率高。本发明实施例对电极帽的使用情况进行了多维度的评估,从而对电极帽使用率的评估相对准确,从而降低生产成本。本发明实施例可广泛应用于工业控制领域。
Description
技术领域
本发明涉及工业控制领域,尤其涉及一种电极帽使用率评估方法、系统、装置及存储介质。
背景技术
在汽车制造厂的焊装车间,电极帽是生产汽车过程中必不可少的易耗品,也是易耗品消耗最大的备件之一,每台车有几千到上万个焊点都需要电极帽来完成,在产量大的生产车间,每年需要上百万的电极帽费用。在现有的生产车间,一般在统一停机期间对电极帽进行更换,并没有对电极帽的使用率进行评估,导致有较多的电极帽未达到使用寿命就被更换掉,因此存在极大的浪费情况。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例的目的是提供一种电极帽使用率评估方法、系统、装置及存储介质,能够对电极帽的使用率进行相对准确的评估,从而降低生产成本。
第一方面,本发明实施例提供了一种电极帽使用率评估方法,包括以下步骤:
获取电极帽的更换后的点焊次数、更换后的修磨次数、平均修磨次数、平均点焊次数及最大点焊次数;
当所述更换后的点焊次数小于所述平均点焊次数,且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率低;
当所述更换后的点焊次数大于所述平均点焊次数且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率不充分;
当所述更换后的点焊次数大于最大点焊次数或所述更换后的修磨次数大于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率高。
可选地,所述方法还包括:
根据所述最大点焊次数与所述更换后的点焊次数的差值确定所述电极帽的损失点焊次数。
可选地,所述方法还包括:
根据所述损失点焊次数与所述最大点焊次数的比值确定所述电极帽的浪费数量。
可选地,所述方法还包括:
获取所述电极帽的使用总数量;
根据所述浪费数量与所述使用总数量的比值确定所述电极帽的平均浪费数量。
可选地,所述方法还包括:
展示所述电极帽的评估结果,其中,所述评估结果至少包括所述电极帽的使用率。
第二方面,本发明实施例提供了一种电极帽使用率评估系统,包括:
获取模块,用于获取电极帽的更换后的点焊次数、更换后的修磨次数、平均修磨次数、平均点焊次数及最大点焊次数;
第一评估模块,用于当所述更换后的点焊次数小于所述平均点焊次数,且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率低;
第二评估模块,用于当所述更换后的点焊次数大于所述平均点焊次数且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率不充分;
第三评估模块,用于当所述更换后的点焊次数大于最大点焊次数或所述更换后的修磨次数大于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率高。
第三方面,本发明实施例提供了一种电极帽使用率评估装置,包括:
至少一个处理器;
至少一个存储器,用于存储至少一个程序;
当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行,使得所述至少一个处理器实现上述的电极帽使用率评估方法。
第四方面,本发明实施例提供了一种存储介质,其中存储有处理器可执行的程序,所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行上述的电极帽使用率评估方法。
第五方面,本发明实施例提供了一种电极帽使用率评估系统,包括采集器以及与所述采集器连接的服务器;其中,
所述采集器,用于采集电极帽的点焊次数及修磨次数;
所述服务器包括:
至少一个处理器;
至少一个存储器,用于存储至少一个程序;
当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行,使得所述至少一个处理器实现上述的电极帽使用率评估方法。
可选地,所述系统还包括客户端,所述客户端与所述服务器连接,所述客户端用于展示所述电极帽的评估结果。
实施本发明实施例包括以下有益效果:本发明实施例根据电极帽的更换后的点焊次数与平均点焊次数及最大点焊次数的大小,以及更换后的修磨次数与平均修磨次数的大小,对电极帽的使用率进行了评估;评估过程充分考虑了电极帽更换后的点焊次数与平均点焊次数及最大点焊次数的关系,以及更换后的修磨次数与平均修磨次数的关系,对电极帽的使用情况进行了多维度的评估,从而对电极帽使用率的评估相对准确,从而降低生产成本。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种电极帽使用率评估方法的步骤流程示意图;
图2是本发明实施例提供的一种电极帽使用率评估系统的结构框图;
图3是本发明实施例提供的一种电极帽使用率评估装置的结构框图;
图4是本发明实施例提供的一种电极帽使用率评估系统的另一种结构框图;
图5是本发明实施例提供的一种电极帽使用率评估系统的另一种结构框图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明做进一步的详细说明。对于以下实施例中的步骤编号,其仅为了便于阐述说明而设置,对步骤之间的顺序不做任何限定,实施例中的各步骤的执行顺序均可根据本领域技术人员的理解来进行适应性调整。
PLC:可编程逻辑控制器(Programmable Logic Controller)是种专门为在工业环境下应用而设计的数字运算操作电子系统。它采用一种可编程的存储器,在其内部存储执行逻辑运算、顺序控制、定时、计数和算术运算等操作的指令,通过数字式或模拟式的输入输出来控制各种类型的机械设备或生产过程。
电极帽:属于焊接电极的一种,用于电阻焊接设备的焊接,如固定式点焊机、悬挂式点焊机及机械手点焊机等,因为套于电极连杆上,故而称作电极帽。材质大多为铬锆铜,也有弥散铜。焊接一定的次数后,由于磨损而需要修磨或更换,属于焊接易耗品。
如图1所示,本发明实施例提供了一种电极帽使用率评估方法,其包括的步骤如下所示。
S1、获取电极帽的更换后的点焊次数、更换后的修磨次数、平均修磨次数、平均点焊次数及最大点焊次数;
S2、当所述更换后的点焊次数小于所述平均点焊次数,且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率低;
S3、当所述更换后的点焊次数大于所述平均点焊次数且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率不充分;
S4、当所述更换后的点焊次数大于最大点焊次数或所述更换后的修磨次数大于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率高。
本领域技术人员可以理解的是,一般采用点焊设备焊接,如焊接机器人,焊接机器人程序内部的变量区存储有电极帽的相关数据,如点焊信号、修磨信号及换帽信号等,通过采集器配置相关参数的存储区域及采集数量就可以采集这些电极帽的相关数据。
需要说明的是,电极帽的更换后的点焊次数及更换后的修磨次数可以直接通过采集器获得,平均点焊次数根据采集的同类型电极帽的更换前的点焊次数计算平均值得到,平均修磨次数根据采集的同类型电极帽的更换前的修磨次数计算平均值得到,最大点焊次数根据采集所有同类型电极帽的最大点焊次数确定。
需要说明的是,电极帽使用率评估方法的考虑因素除上述更换后的点焊次数、更换后的修磨次数、平均修磨次数、平均点焊次数及最大点焊次数以外,还可以考虑其它的因素,如最大修磨次数及修磨时间间隔等,本发明实施例不做具体限制。
实施本发明实施例包括以下有益效果:本发明实施例根据电极帽的更换后的点焊次数与平均点焊次数及最大点焊次数的大小,以及更换后的修磨次数与平均修磨次数的大小,对电极帽的使用率进行了评估;评估过程充分考虑了电极帽更换后的点焊次数与平均点焊次数及最大点焊次数的关系,以及更换后的修磨次数与平均修磨次数的关系,对电极帽的使用情况进行了多维度的评估,从而对电极帽使用率的评估相对准确,从而降低生产成本。
可选地,所述方法还包括:
根据所述最大点焊次数与所述更换后的点焊次数的差值确定所述电极帽的损失点焊次数。
具体计算公式如下:损失点焊次数=最大点焊次数-更换后的点焊次数。
需要说明的是,当计算电极帽的损失点焊次数时,更换后的点焊次数为电极帽更换前的点焊次数。当损失点焊次数越小,表明电极帽使用越充分;当损失点焊次数越大,表明电极帽使用不充分,浪费越严重。
在该实施方式中,通过最大点焊次数及更换后的点焊次数确定损失点焊次数,可以很详细地反应具体的损失点焊次数。
可选地,所述方法还包括:
根据所述损失点焊次数与所述最大点焊次数的比值确定所述电极帽的浪费数量。
具体计算公式如下:浪费数量=损失点焊次数/最大点焊次数。
在该实施方式中,通过最大点焊次数及损失点焊次数确定浪费数量,可以很详细地反应具体的浪费数量。
可选地,所述方法还包括:
获取所述电极帽的使用总数量;
根据所述浪费数量与所述使用总数量的比值确定所述电极帽的平均浪费数量。
具体计算公式如下:平均浪费数量=浪费数量/使用总数量。其中,使用总数量可以根据采集的换帽信号确定。
在该实施方式中,通过浪费数量及使用总数量确定平均浪费数量,可以很详细地反应具体的平均浪费数量。
可选地,所述方法还包括:
展示所述电极帽的评估结果,其中,所述评估结果至少包括所述电极帽的使用率。
具体地,评估结果还可以包括损失点焊次数、浪费数量及平均浪费数量中的一个或多个。另外,展示方法有多种:如同时展示不同机器人的电极帽使用率数据及损失点焊次数、浪费数量及平均浪费数量中的一个或多个;或者展示界面先展示电极帽使用率数据,当继续点击对应电阻焊接设备相关数据后,显示损失点焊次数、浪费数量及平均浪费数量中的一个或多个,这样既可以使展示界面简洁,也可以满足数据使用要求;或者展示界面根据电极帽的使用率分类展示,如以电极帽使用率低、电极帽使用率不充分及电极帽使用率高分类进行展示,这样可以方便电极帽管理人员重点关注电极帽使用率低的电阻焊接设备。
需要说明的是,评估结果的展示方式有多种,如最终结果的柱状图,或随时间变化的曲线图等。
如图2所示,本发明实施例还提供了一种电极帽使用率评估系统,包括:
获取模块,用于获取电极帽的更换后的点焊次数、更换后的修磨次数、平均修磨次数、平均点焊次数及最大点焊次数;
第一评估模块,用于当所述更换后的点焊次数小于所述平均点焊次数,且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率低;
第二评估模块,用于当所述更换后的点焊次数大于所述平均点焊次数且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率不充分;
第三评估模块,用于当所述更换后的点焊次数大于最大点焊次数或所述更换后的修磨次数大于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率高。
可见,上述方法实施例中的内容均适用于本系统实施例中,本系统实施例所具体实现的功能与上述方法实施例相同,并且达到的有益效果与上述方法实施例所达到的有益效果也相同。
如图3所示,本发明实施例提供了一种电极帽使用率评估装置,包括:
至少一个处理器;
至少一个存储器,用于存储至少一个程序;
当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行,使得所述至少一个处理器实现上述的电极帽使用率评估方法。
可见,上述方法实施例中的内容均适用于本装置实施例中,本装置实施例所具体实现的功能与上述方法实施例相同,并且达到的有益效果与上述方法实施例所达到的有益效果也相同。
此外,本申请实施例还公开了一种计算机程序产品或计算机程序,计算机程序产品或计算机程序存储在计算机可读存介质中。计算机设备的处理器可以从计算机可读存储介质读取该计算机程序,处理器执行该计算机程序,使得该计算机设备执行上述所示的方法。同样地,上述方法实施例中的内容均适用于本存储介质实施例中,本存储介质实施例所具体实现的功能与上述方法实施例相同,并且达到的有益效果与上述方法实施例所达到的有益效果也相同。
如图4所示,本发明实施例提供了一种电极帽使用率评估系统,包括采集器以及与所述采集器连接的服务器;其中,
所述采集器,用于采集电极帽的点焊次数及修磨次数;
所述服务器包括:
至少一个处理器;
至少一个存储器,用于存储至少一个程序;
当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行,使得所述至少一个处理器实现上述的电极帽使用率评估方法。
具体地,采集器连接多个PLC,这些PLC可以从点焊设备中获取其点焊数据;而对于所述服务器,其可为不同类型的电子设备,包含但不限于有台式电脑、手提电脑等终端。
可见,上述方法实施例中的内容均适用于本系统实施例中,本系统实施例所具体实现的功能与上述方法实施例相同,并且达到的有益效果与上述方法实施例所达到的有益效果也相同。
可选地,如图5所示,所述系统还包括客户端,所述客户端与所述服务器连接,所述客户端用于展示所述电极帽的评估结果。具体地,客户端可以是不同类型的电子设备,包含但不限于有台式电脑、手提电脑等终端。
以上是对本发明的较佳实施进行了具体说明,但本发明创造并不限于所述实施例,熟悉本领域的技术人员在不违背本发明精神的前提下还可做作出种种的等同变形或替换,这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。
Claims (10)
1.一种电极帽使用率评估方法,其特征在于,包括:
获取电极帽的更换后的点焊次数、更换后的修磨次数、平均修磨次数、平均点焊次数及最大点焊次数;
当所述更换后的点焊次数小于所述平均点焊次数,且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率低;
当所述更换后的点焊次数大于所述平均点焊次数且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率不充分;
当所述更换后的点焊次数大于最大点焊次数或所述更换后的修磨次数大于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率高。
2.根据权利要求1所述的电极帽使用率评估方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据所述最大点焊次数与所述更换后的点焊次数的差值确定所述电极帽的损失点焊次数。
3.根据权利要求2所述的电极帽使用率评估方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据所述损失点焊次数与所述最大点焊次数的比值确定所述电极帽的浪费数量。
4.根据权利要求3所述的电极帽使用率评估方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取所述电极帽的使用总数量;
根据所述浪费数量与所述使用总数量的比值确定所述电极帽的平均浪费数量。
5.根据权利要求1-4任一项所述的电极帽使用率评估方法,其特征在于,所述方法还包括:
展示所述电极帽的评估结果,其中,所述评估结果至少包括所述电极帽的使用率。
6.一种电极帽使用率评估系统,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取电极帽的更换后的点焊次数、更换后的修磨次数、平均修磨次数、平均点焊次数及最大点焊次数;
第一评估模块,用于当所述更换后的点焊次数小于所述平均点焊次数,且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率低;
第二评估模块,用于当所述更换后的点焊次数大于所述平均点焊次数且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率不充分;
第三评估模块,用于当所述更换后的点焊次数大于最大点焊次数或所述更换后的修磨次数大于所述平均修磨次数,确定所述电极帽使用率高。
7.一种电极帽使用率评估装置,其特征在于,包括:
至少一个处理器;
至少一个存储器,用于存储至少一个程序;
当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行,使得所述至少一个处理器实现如权利要求1-5任一项所述的电极帽使用率评估方法。
8.一种存储介质,其中存储有处理器可执行的程序,其特征在于,所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行如权利要求1-5任一项所述的电极帽使用率评估方法。
9.一种电极帽使用率评估系统,其特征在于,包括采集器以及与所述采集器连接的服务器;其中,
所述采集器,用于采集电极帽的点焊次数及修磨次数;
所述服务器包括:
至少一个处理器;
至少一个存储器,用于存储至少一个程序;
当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行,使得所述至少一个处理器实现如权利要求1-5任一项所述的电极帽使用率评估方法。
10.根据权利要求9所述的电极帽使用率评估系统,其特征在于,所述系统还包括客户端,所述客户端与所述服务器连接,所述客户端用于展示所述电极帽的评估结果。
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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