CN112611545B - 一种用于光纤测量装置测量光纤宏弯衰减损耗的辅助装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于光纤测量装置测量光纤宏弯衰减损耗的辅助装置,包括固定底座、电机、光纤卷绕筒、弹性限位带、定位磁铁和由铁磁性材料制成的光纤夹具,所述固定底座上端设有孔,电机和光纤卷绕筒分别置于固定底座的内侧和上端,光纤卷绕筒通过固定底座上端的孔与电机的转轴连接,光纤卷绕筒上设有槽深不小于光纤直径的螺旋槽,弹性限位带一端设有铁磁性材料制成的吸附片,另一端固定在固定底座的上端,定位磁铁置于光纤卷绕筒上与弹性限位带长度及周向适配的位置。通过弹性限位带和在光纤卷绕筒上设置的螺旋槽,将光纤缠绕在螺旋槽中,同时用弹性限位带将光纤限制在螺旋槽中,使光纤在放松状态下仍能保持固定的弯曲长度和曲率。
Description
技术领域:
本发明涉及一种光纤衰减损耗检测的辅助装置,特别是一种用于光纤测量装置测量光纤宏弯衰减损耗的辅助装置。
背景技术:
现有的光纤宏弯衰减损耗检测装置通常是将光纤按预设的圈数缠绕在光纤卷绕筒上,但在进行衰减检测时,想要将光纤按照预设的曲率进行衰减检测,需要将检测的光纤两端固定扯紧,会造成光纤内部存在应力,影响检测结果,若将光纤放松会进行检测,会导致光纤在自身弹力的作用下向光纤卷绕筒外膨胀弹出,使光纤缠绕的曲率发生变化,同样会影响检测结果。且光纤缠绕在光纤卷绕筒上时,只能约束具体的缠绕圈数,而不能约束具体的缠绕形状,会导致每次卷绕的光纤长度和曲率都不一致,影响检测。
完成卷绕状态的检测后,需要将光纤取下进行非卷绕状态下的衰减检测,与卷绕状态的衰减进行比较判断,得出卷绕对光纤衰减损耗的影响。
发明内容:
为了解决上述问题,本发明提供一种用于光纤测量装置测量光纤宏弯衰减损耗的辅助装置,所述光纤测量装置设有激光射入端和激光检测端,辅助装置包括固定底座、电机、光纤卷绕筒、弹性限位带、定位磁铁和由铁磁性材料制成的光纤夹具,所述固定底座上端设有孔,电机和光纤卷绕筒分别置于固定底座的内侧和上端,光纤卷绕筒通过固定底座上端的孔与电机的转轴连接,光纤卷绕筒上设有槽深不小于光纤直径的螺旋槽,弹性限位带一端设有铁磁性材料制成的吸附片,另一端固定在固定底座的上端,定位磁铁置于光纤卷绕筒上与弹性限位带长度及周向适配的位置;测量光纤的一端夹于光纤夹具,并由光纤夹具通过磁性吸合固定在定位磁铁上,测量光纤通过电机带动光纤卷绕筒转动,使光纤卷绕在螺旋槽中,弹性限位带通过一端的铁磁性材料磁性吸合在定位磁铁上,使弹性限位带沿轴向贴覆在螺旋槽外侧,使测量光纤保持固定的且不受外力作用的卷绕状态,该固定卷绕状态的测量光纤两端通过光纤夹具连接于光纤测量装置的激光射入端和激光检测端,进行光纤宏弯衰减损耗的检测。
进一步的,所述光纤夹具包括第一夹持件、第二夹持件、第一手持部、第二手持部和压簧;所述第一夹持件上设有第一通孔,第二手持部穿过第一通孔连接在第二夹持件上;所述第二夹持件上设有第二通孔,第一手持部穿过第二通孔连接在第一夹持件上;所述压簧设置在第一手持部和第二夹持件之间并抵触第一手持部和第二夹持件,将第二夹持件推向第一夹持件,且通过挤压第一手持部和第二手持部可使第一夹持件和第二夹持件分离。
进一步的,所述第一夹持件和第二夹持件相对的一侧设有适配的夹齿。
进一步的,所述激光射入端和激光检测端分别设有与第一夹持件和第二夹持件适配的第一固定槽及与第一手持部适配的第二固定槽。
进一步的,所述弹性限位带设有若干个,通过铁磁性材料磁性分别吸合在定位磁铁上,使弹性限位带沿光纤卷绕筒周向贴覆在螺旋槽外侧。
进一步的,所述弹性限位带通过铁磁性材料均匀吸合在光纤卷绕筒周向。
进一步的,所述定位磁铁为环形磁铁,设置在光纤卷绕筒周向。
进一步的,所述光纤卷绕筒上还设有摇把。
本发明通过弹性限位带和在光纤卷绕筒上设置的螺旋槽,将光纤缠绕在螺旋槽中,同时用弹性限位带将光纤限制在螺旋槽中,使光纤在放松状态下仍能保持固定的弯曲长度和曲率,方便每次进行准确的衰减测量。
通过电机旋转带动光纤卷绕筒转动,配合螺旋槽,使光纤卷绕筒旋转和反向旋转进行卷绕和解下光纤的过程无需过多的人力参与,且卷绕和解下光纤过程受力均匀,每次对光纤产生的影响相同,方便进行衰减影响判断。
附图说明:
图1为本发明实施例一的辅助装置示意图;
图2为本发明实施例一的光纤夹具示意图;
图3为本发明实施例二的辅助装置示意图;
图4为本发明实施例二的激光射入端示意图;
图中:1、固定底座;2、电机;3、光纤卷绕筒;31、螺旋槽;32、摇把;4、弹性限位带;41、吸附片;5、定位磁铁;6、夹具;61、第一夹持件;62、第二夹持件;63、第一手持部;64、第二手持部;65、压簧;66、第一通孔;67、第二通孔;68、夹齿;7、光纤;8、激光射入端;81、第一固定槽;82、第二固定槽。
具体实施方式:
实施例一:
如图1所示,本实施例的辅助装置,配合光纤测量装置使用,光纤测量装置设有激光射入端8和激光检测端,通过激光进行光纤7的衰减检测。辅助装置包括固定底座1、电机2、光纤卷绕筒3、弹性限位带4、定位磁铁5和由铁磁性材料制成的光纤夹具6。
固定底座1上端设有孔,电机2和光纤卷绕筒3分别置于固定底座1的内侧和上端,光纤卷绕筒3通过固定底座1上端的孔与电机2的转轴连接,光纤卷绕筒3上设有槽深不小于光纤7直径的螺旋槽31,弹性限位带4一端设有铁磁性材料制成的吸附片41,另一端固定在固定底座1的上端,定位磁铁5置于光纤卷绕筒3上与弹性限位带4长度及周向适配的位置。
如图2所示,本实施例的光纤夹具6包括第一夹持件61、第二夹持件62、第一手持部63、第二手持部64和压簧65,也可以是其它形式的夹具,本实施例仅以光纤夹具6为例。第一夹持件61上设有第一通孔66,第二手持部64穿过第一通孔66连接在第二夹持件62上。第二夹持件62上设有第二通孔67,第一手持部63穿过第二通孔67连接在第一夹持件61上。压簧65设置在第一手持部63和第二夹持件62之间并抵触第一手持部63和第二夹持件62,将第二夹持件62推向第一夹持件61,且通过挤压第一手持部63和第二手持部64可使第一夹持件61和第二夹持件62分离,松开时在压簧65的作用下,第一夹持件61和第二夹持件62合拢,可将测试用的光纤7夹住。
还可在第一夹持件61和第二夹持件62相对的一侧设置适配的夹齿68,加强第一夹持件61和第二夹持件62合拢时的配合,同时可以强化对光纤7的夹持。
测量光纤7的一端夹于光纤夹具6,并由光纤夹具6通过磁性吸合固定在定位磁铁5上,测量光纤7通过电机2带动光纤卷绕筒3转动,使光纤7卷绕在螺旋槽31中,弹性限位带4通过一端的铁磁性材料制成的吸附片41磁性吸合在对应的定位磁铁5上,使弹性限位带4沿光纤卷绕筒3轴向贴覆在螺旋槽31外侧,使测量光纤7保持固定的且不受外力作用的卷绕状态,该固定卷绕状态的测量光纤7两端通过光纤夹具6连接于光纤测量装置的激光射入端8和激光检测端,进行光纤宏弯衰减损耗的检测。通过弹性限位带4和在光纤卷绕筒3上设置的螺旋槽31,将光纤7缠绕在螺旋槽31中,同时用弹性限位带4将光7纤限制在螺旋槽31中,使光纤7在放松状态下仍能保持固定的弯曲长度和曲率,方便每次进行准确的衰减测量。
完成卷绕状态的检测后,需要将光纤7取下进行非卷绕状态下的衰减检测,与卷绕状态的衰减进行比较判断,得出卷绕对光纤7衰减损耗的影响。通过电机2旋转带动光纤卷绕筒3转动,配合螺旋槽31,使光纤卷绕筒3旋转和反向旋转进行卷绕和解下光纤7的过程无需过多的人力参与,且卷绕和解下光纤7过程受力均匀,每次对光纤7产生的影响相同,方便进行衰减影响判断。
实施例二:
如图4所示,本实施例在实施例一的基础上,激光射入端8和激光检测端分别设有与第一夹持件61和第二夹持件62适配的第一固定槽81及与第一手持部63适配的第二固定槽82。通过设置第一固定槽81和第二固定槽82,使光纤夹具6连接在激光射入端8和激光检测端时定位准确,不必进行相应的位置调整。
如图3所示,弹性限位带4设有若干个,本实施例以四个弹性限位带4为例,通过铁磁性材料制成的吸附片41磁性分别吸合在定位磁铁5上,使弹性限位带4沿光纤卷绕筒周向均匀贴覆在螺旋槽外侧。
定位磁铁5可以是对应的四块磁铁,也可以是一整块的环形磁铁,设置布置在光纤卷绕筒3周向,方便直接吸附弹性限位带4。
光纤卷绕筒3上还设有摇把32,通过摇把32可在光纤卷绕筒3没有旋转到位的时候进行手动校准。
Claims (8)
1.一种用于光纤测量装置测量光纤宏弯衰减损耗的辅助装置,所述光纤测量装置设有激光射入端和激光检测端,其特征在于:包括固定底座、电机、光纤卷绕筒、弹性限位带、定位磁铁和由铁磁性材料制成的光纤夹具,所述固定底座上端设有孔,电机和光纤卷绕筒分别置于固定底座的内侧和上端,光纤卷绕筒通过固定底座上端的孔与电机的转轴连接,光纤卷绕筒上设有槽深不小于光纤直径的螺旋槽,弹性限位带一端设有铁磁性材料制成的吸附片,另一端固定在固定底座的上端,定位磁铁置于光纤卷绕筒上与弹性限位带长度及周向适配的位置;测量光纤的一端夹于光纤夹具,并由光纤夹具通过磁性吸合固定在定位磁铁上,测量光纤通过电机带动光纤卷绕筒转动,使光纤卷绕在螺旋槽中,弹性限位带通过一端的铁磁性材料磁性吸合在定位磁铁上,使弹性限位带沿轴向贴覆在螺旋槽外侧,使测量光纤保持固定的且不受外力作用的卷绕状态,该固定卷绕状态的测量光纤两端通过光纤夹具连接于光纤测量装置的激光射入端和激光检测端,进行光纤宏弯衰减损耗的检测。
2.根据权利要求1所述的用于光纤测量装置测量光纤宏弯衰减损耗的辅助装置,其特征在于:所述光纤夹具包括第一夹持件、第二夹持件、第一手持部、第二手持部和压簧;所述第一夹持件上设有第一通孔,第二手持部穿过第一通孔连接在第二夹持件上;所述第二夹持件上设有第二通孔,第一手持部穿过第二通孔连接在第一夹持件上;所述压簧设置在第一手持部和第二夹持件之间并抵触第一手持部和第二夹持件,将第二夹持件推向第一夹持件,且通过挤压第一手持部和第二手持部可使第一夹持件和第二夹持件分离。
3.根据权利要求2所述的用于光纤测量装置测量光纤宏弯衰减损耗的辅助装置,其特征在于:所述第一夹持件和第二夹持件相对的一侧设有适配的夹齿。
4.根据权利要求3所述的用于光纤测量装置测量光纤宏弯衰减损耗的辅助装置,其特征在于:所述激光射入端和激光检测端分别设有与第一夹持件和第二夹持件适配的第一固定槽及与第一手持部适配的第二固定槽。
5.根据权利要求1-4任一所述的用于光纤测量装置测量光纤宏弯衰减损耗的辅助装置,其特征在于:所述弹性限位带设有若干个,通过铁磁性材料磁性分别吸合在定位磁铁上,使弹性限位带沿光纤卷绕筒周向贴覆在螺旋槽外侧。
6.根据权利要求5所述的用于光纤测量装置测量光纤宏弯衰减损耗的辅助装置,其特征在于:所述弹性限位带通过铁磁性材料均匀吸合在光纤卷绕筒周向。
7.根据权利要求6所述的用于光纤测量装置测量光纤宏弯衰减损耗的辅助装置,其特征在于:所述定位磁铁为环形磁铁,设置在光纤卷绕筒周向。
8.根据权利要求7所述的用于光纤测量装置测量光纤宏弯衰减损耗的辅助装置,其特征在于:所述光纤卷绕筒上还设有摇把。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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CN (1) | CN112611545B (zh) |
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