CN112599060A - Vt测试电路、系统、方法、显示面板及显示装置 - Google Patents

Vt测试电路、系统、方法、显示面板及显示装置 Download PDF

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Abstract

本发明实施例提供一种用于显示面板的VT测试电路、系统、方法、显示面板及显示装置,该VT测试电路接收指纹识别单元的输出信号,并在该输出信号的控制下产生检测信号,然后将该检测信号传输至VT测试电路板,VT测试电路还被配置为电连接至测试电路板,以使至少一个测试节点输出的检测信号输出至测试电路板,从而使测试电路板根据接收的检测信号来判断多个所述指纹识别单元是否正常。本发明实施例通过检测指纹识别单元的输出信号来判断指纹识别单元是否正常,从而在VT测试阶段对指纹识别单元对进行检测。

Description

VT测试电路、系统、方法、显示面板及显示装置
技术领域
本发明涉及显示设备技术领域,尤其涉及一种用于显示面板的VT测试电路、系统、方法、显示面板及显示装置。
背景技术
指纹对于每一个人而言是与生俱来的,随着科技的发展,市场上出现了多种带有指纹识别功能的显示装置,如手机、平板电脑以及智能可穿戴设备等。用户在操作带有指纹识别功能的显示装置前,只需要用手指触摸显示装置就可以进行权限验证,简化了权限验证过程,并且,随着指纹识别功能应用场景的逐渐增加,指纹识别区域逐渐由部分区域演变为全屏识别。
现有的基于光学式指纹识别技术的显示装置中,光感指纹传感器基于半导体器件形成,利用半导体器件受到光照会产生漏电流的特性实现指纹检测,具体地,指纹识别光源产生的光线在手指与显示装置触控的表面发生反射后,反射光线照射到指纹识别传感器,光感指纹传感器来检测由于指纹谷峰波动带来的光线强度,从而生成指纹谱。目前这种主动式指纹识别单元由于工作时需要外供电源电压以及相应的控制信号,而在显示面板的VT(visual test)测试阶段由于还没有将相应的指纹识别芯片安装在显示面板上,无法为指纹识别单元提供电源电压以及相应的控制信号,因此在显示面板的VT(visual test)测试阶段无法对指纹识别单元(FPR unit)进行基本测试,例如判断指纹识别单元是否损坏。
因此,亟需一种新的VT测试电路、系统、方法、显示面板及显示装置。
发明内容
本发明实施例提供一种用于显示面板的VT测试电路、系统、方法、显示面板及显示装置,通过检测指纹识别单元的输出信号来判断指纹识别单元是否正常,从而在VT测试阶段实现对指纹识别单的检测。
第一方面,本发明实施例提供了一种用于显示面板的VT测试电路,该显示面板包括多个指纹识别单元,至少一条沿第一方向延伸的指纹扫描线和至少一条沿第二方向延伸的指纹信号线,指纹识别单元至少包括第一控制端和输出端,每个指纹识别单元的第一控制端与对应的指纹扫描线连接,每个指纹识别单元的输出端与对应的指纹信号线连接,指纹识别单元在第一控制端受到来自指纹扫描线的第一控制信号作用时,在输出端产生输出信号,VT测试电路包括:
测试信号输入端,测试信号输入端用于接收测试信号;
至少一个控制信号输入端,控制信号输入端与指纹信号线一一对应,每个控制信号输入端与一条对应的指纹信号线电连接以接收指纹信号线输出的信号;
至少一个测试节点,至少一个测试节点用于输出检测信号,以通过比较检测信号和测试信号来确定多个指纹识别单元是否正常;
至少一个开关器件,至少一个开关器件设置在测试信号输入端和至少一个测试节点之间,开关器件与控制信号输入端一一对应,每个开关器件在控制信号输入端输入的信号的控制下导通或断开;
VT测试电路还被配置为电连接至测试电路板,以使至少一个测试节点输出的检测信号输出至测试电路板,从而使测试电路板根据接收的检测信号来判断多个指纹识别单元是否正常。
第二方面,本发明实施例还提供了一种显示面板,其包括:
TFT基板,在TFT基板上设置有多个指纹识别单元、至少一条沿第一方向延伸的指纹扫描线和至少一条沿第二方向延伸的指纹信号线,指纹识别单元至少包括第一控制端和输出端,每个指纹识别单元的第一控制端与对应的指纹扫描线连接,每个指纹识别单元的输出端与对应的指纹信号线连接,指纹识别单元在第一控制端受到来自指纹扫描线的第一控制信号作用时,在输出端产生输出信号。
根据本发明一方面的VT测试电路。
第三方面,本发明实施例还提供了一种显示面板的VT测试方法,用于测试根据本发明第二方面的显示面板,该VT测试方法包括:依次向指纹扫描线施加第一控制信号,并接收测试电路输出的检测信号,从而根据所述检测信号判断多个所述指纹识别单元是否正常。
第四方面,本发明实施例还提供了一种显示装置,包括根据本发明第二方面所述的显示面板。
第五方面,本发明实施例还提供了一种用于显示面板的VT测试系统,其包括:根据本发明一方面的VT测试电路以及测试电路板,VT测试电路电连接至测试电路板,以使至少一个所述测试节点输出的检测信号输出至测试电路板,从而使测试电路板根据接收的检测信号来判断多个指纹识别单元是否正常。
在本发明中,通过测试电路接收指纹识别单元的输出信号,并在该输出信号的控制下产生检测信号,然后将该检测信号传输至VT测试电路板,从而使测试电路板根据接收的检测信号来判断多个所述指纹识别单元是否正常。即,通过本发明实施例的VT测试电路在VT测试阶段实现了对指纹识别单元的检测。
附图说明
通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述,本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显,其中,相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征。
图1是本发明实施例提供的一种用于显示面板的VT测试电路的结构示意图;
图2是本发明实施例提供的一种用于显示面板的VT测试电路的另一结构示意图;
图3是本发明实施例提供的一种用于显示面板的VT测试电路的另一结构示意图;
图4是本发明实施例提供的一种用于显示面板的VT测试电路的另一结构示意图;
图5是本发明实施例提供的指纹识别单元的结构示意图;
图6是本发明实施例提供的一种用于显示面板的VT测试系统的结构示意图;
图7是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图。
具体实施方式
下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例。在下面的详细描述中,提出了许多具体细节,以便提供对本发明的全面理解。但是,对于本领域技术人员来说很明显的是,本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明的更好的理解。在附图和下面的描述中,至少部分的公知结构和技术没有被示出,以便避免对本发明造成不必要的模糊;并且,为了清晰,可能夸大了部分结构的尺寸。此外,下文中所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有说明,“多个”的含义是两个以上;术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
下述描述中出现的方位词均为图中示出的方向,并不是对本发明的实施例的具体结构进行限定。在本发明的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是直接相连,也可以间接相连。对于本领域的普通技术人员而言,可视具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
为了更好地理解本发明,下面结合图1至图7本发明实施例的用于显示面板的VT测试电路、系统、方法、显示面板及显示装置进行详细描述。
图1是本发明实施例提供的一种用于显示面板的VT测试电路的结构示意图。
请参照图1,VT测试电路200用于对显示面板100上的指纹识别单元10进行测试,VT测试电路200接收指纹识别10单元的输出信号产生检测信号,然后将检测信号传输至测试电路板300,测试电路板300根据检测信号来判断指纹识别单元10是否正常,从而完成指纹识别单元的VT测试。
示例性地,在本实施例中,显示面板100包括多个沿第一方向X布置的指纹识别单元10(图1中示意性示出4个),一条沿第一方向X布置的指纹扫描线14,以及多条沿第二方向Y布置的指纹信号线15(图1中示意性示出4个)。指纹识别单元10包括至少一个控制端11和输出端13。指纹识别单元10的第一控制端11与指纹扫描线14连接。指纹识别单元10的输出端13与对应的指纹信号线15连接。指纹识别单元10在第一控制端11接收到指纹信号线14的第一控制信号作用时,在输出端13产生输出信号,并传输至对应的指纹信号线15上。
示例性地,在本实施例中,VT测试电路200包括测试信号输入端20、多个开关器件21、多个控制信号输入端22和测试节点23。
测试信号输入端20用于接收测试信号。示例性地,例如测试信号可以为电源信号,例如VDD信号。
开关器件21设置在测试信号输入端20和测试节点23之间。示例性地,在本实施例中,多个开关器件21依次串联连接。并且由于开关器件21串联连接,如果一个开关器件21关断,那么测试信号输入端20和测试节点23之间将断路,测试信号无法传输至测试节点23。示例性地,在本实施例中,开关器件21可以为TFT晶体管,其包括第一极(例如漏极)、第二极(例如源极)和栅极。第一极、第二极分别与相邻开关器件的第一极和第二极连接。栅极用于与控制信号输入端22连接,用于接收控制信号输入端22输入的信号,以控制开关器件21导通或关断。
控制信号输入端22与显示面板100中对应的指纹信号线15连接,从而接收指纹信号线15传输的指纹识别单元10的输出信号。在本实施例中,控制信号输入端22与所述指纹信号线15一一对应。即,控制信号输入端22与指纹信号线15的数量一样,且每个控制信号输入端22与一条对应的指纹信号线15电连接以接收指纹信号线15输出的信号。此外,在本实施例中,控制信号输入端22与开关器件21也是一一对应。即控制信号输入端22与开关器件21的数量一样,且每个控制信号输入端22与一条对应的开关器件21电连接以向开关器件21输入的控制信号。
测试节点23用于输出检测信号,从而通过比较检测信号和测试信号来确定显示面板100的多个指纹识别单元10是否正常。
在本实施例中,VT测试电路200被配置为电连接至测试电路板300,以使测试节点23输出的检测信号输出至测试电路板300,从而使测试电路板300根据接收的检测信号来判断多个指纹识别单元10是否正常。
示例性地,在本实施例中,VT测试电路200还包括测试线24,测试线24与测试节点23对应,测试线24一端与对应的测试节点23连接,另一端被配置为电连接至测试电路板300。
此外,由于指纹识别单元10工作时需要施加第一控制信号,因此,测试电路板300还可以被配置为与指纹扫描线14连接,以能向每条指纹扫描线14连接施加第一控制信号,即提供指纹扫描信号。应当理解,虽然在本实施例中,通过测试电路板300向指纹识别单元10施加第一控制信号,但是在其他实施例中,也可以通过其他方式向指纹识别单元10施加第一控制信号,比如,通过一个外部设备施加第一控制信号,即提供指纹扫描信号,因此,不限于通过测试电路板300施加第一控制信号。
本实施例的VT测试电路200的测试原理为:首先,通过指纹扫描线14向指纹信号识别单元10施加第一控制信号,在第一控制信号作用下,如果指纹识别单元10正常,那么指纹识别单元10就可以产生输出信号,然后该输出信号通过对应的指纹信号线传输至对应的开关器件21,使对应的开关器件21导通,因而如果指纹识别单元10都可以正常工作,那么开关器件21均导通,测试信号便可以传输至测试节点23。反之,如果有指纹识别单元10异常,没有输出信号,那么对应的开关器件21便断开,因此测试信号将无法传输至测试节点23。因此,测试电路板300通过将从测试节点23接收的信号与测试信号进行比较,就可以判断是否有指纹识别单元10异常。
图2是本发明实施例提供的一种用于显示面板的VT测试电路的另一结构示意图。
请参考图2,图2所示的VT测试电路201与图1所示的VT测试电路200的区别在于,图2所示VT测试电路201包括多个测试节点(图2示意性示出4个)。通过设置多个测试节点23,可以对显示面板101上的每个指纹识别单元10进行检测,以确认其是否正常。而图1所示VT测试电路200,由于仅设置了一个测试节点,所以只能判断是否存在异常的指纹识别单元,而无法确定哪个指纹识别单元异常。
本实施例的VT测试电路201的测试原理为:首先,通过指纹扫描线14向指纹信号识别单元10施加第一控制信号,在第一控制信号作用下,如果指纹识别单元10正常,那么指纹识别单元10就可以产生输出信号,然后该输出信号通过对应的指纹信号线15传输至对应的开关器件21,使对应的开关器件21导通,然后测试信号就可以传输至对应的测试节点23。即,根据在测试节点23是否检测到测试信号就可以判断对应的指纹识别单元是否正常。以图2所示为例,如果测试电路板301在第一个测试节点(从图2中左侧开始依次为第一个测试节点、第二个测试节点等)检测到测试信号,则图2中第一指纹识别单元(从图2中左侧开始依次为第一个指纹识别单元、第二个指纹识别单元等)正常,反之则异常。类似地,测试电路板301便可检测每个指纹指纹识别单元10是否正常。
图3是本发明实施例提供的一种用于显示面板的VT测试电路的另一结构示意图。
请参考图3,显示面板102包括多个沿第二方向Y排列的指纹识别单元10,每个指纹识别单元10的控制端11与对应的指纹扫描线14电连接,每个指纹识别单元10的输出端连接至相同的指纹信号线15。VT测试电路202包括测试信号输入端20、一个开关器件21,以及一个控制信号输入端22和一个测试节点23。
本实施例的VT测试电路202的测试原理为:首先,通过指纹扫描线14向对应的指纹信号识别单元10施加第一控制信号,在第一控制信号作用下,如果指纹识别单元10正常,那么指纹识别单元10就可以产生输出信号,然后该输出信号通过指纹信号线15传输至开关器件21,使开关器件21导通,使测试信号传输至测试节点23,因此,如果测试电路板302在测试节点23能检测到测试信号则表示该指纹识别单元10正常,反之则表示该指纹识别单元10异常。类似地,依次通过向各指纹扫描线14施加第一控制信号,测试电路板302便可以检测每个指纹识别单元10是否正常。
图4是本发明实施例提供的一种用于显示面板的VT测试电路的另一结构示意图。
请参考图4,显示面板103包括阵列布置的多个指纹识别单元10(在图4中示意性示出4×4阵列),多条沿第一方向X延伸的指纹扫描线14和多条沿第二方向Y延伸的指纹信号线15。指纹识别单元10的控制端11与对应的指纹扫描线连接。指纹识别单元10的输出端13与对应的指纹信号线15连接。VT测试电路203的结构与图2所示VT测试电路202的结构相同,在此不再赘述。
本实施例的VT测试电路203的测试原理为:首先,通过指纹扫描线14向对应的指纹信号识别单元10施加第一控制信号,在第一控制信号作用下,如果指纹识别单元10正常,那么指纹识别单元10就可以产生输出信号,然后该输出信号通过对应的指纹信号线15传输至对应的开关器件21,使对应的开关器件21导通,然后测试信号就可以传输至对应的测试节点23。即,根据在测试节点23是否检测到测试信号就可以判断对应的指纹识别单元是否正常。以图4所示为例,如果测试电路板303在第一个测试节点(从图4中左侧开始依次为第一个测试节点、第二个测试节点等)检测到测试信号,则图4中当前施加第一控制信号的指纹扫描线的第一指纹识别单元(从图4中左侧开始依次为每个指纹扫描线对应的第一个指纹识别单元、第二个指纹识别单元等)正常,反之则异常。类似地,测试电路板303便可检测每个指纹指纹识别单元10是否正常。
图5是本发明实施例提供的指纹识别单元的结构示意图。
请参考图5,指纹识别单元10包括光电二极管D1、存储电容C1、第一开关器件T1、第二开关器件T2和第三开关器件T3。第一开关器件T1的第一端与工作电源端VDD连接,第二端与光电二极管D1的第一极连接,控制端与复位信号RST连接。光电二极管D1的第一极与第一开关器件T1的第二端电连接,光电二极管D1的第二极连接偏置电压Vbias。存储电容C1的第一端与光电二极管D1的第一极电连接,存储电容C1的第二端与光电二极管D1的第二极电连接。第二开关器件T2的第一端与工作电源端VDD连接,第二端与第三开关器件T3的第一端连接,控制端与光电二极管D1的第一极连接。第三开关器件T3的第一端与第二开关器件T2的第二端连接,第二端与指纹信号线15连接,控制端与指纹扫描线14连接。
此外,指纹信号线15的输出端Vout和接地端Vss之间还设置第4开关器件T4,第四开关器件T4的第一极与指纹信号线15的输出端Vout连接,第二极与接地端Vss连接,控制端与控制信号COL连接
示例性地,在本实施例中,第一开关器件T1、第二开关器件T2、第三开关器件T3和第四开关器件T4可以为TFT晶体管,包括第一极、第二极和栅极。第一开关器件T1、第二开关器件T2、第三开关器件T3和第四开关器件T4可以为N型TFT晶体管或P型TFT晶体管。
本实施例的指纹识别单元10在进行指纹识别时的工作过程包括复位阶段、曝光阶段和电信号输出阶段。
在复位阶段,第一开关器件T1响应复位信号RST导通,对指纹识别单元10进行复位。
在曝光阶段,手指接触屏幕,光源照射到手指指纹的谷线和脊线上时发生反射,由于谷线和脊线的反射角度及反射回去的光照强度不同,将光投射至光电二极管D1上,引起光电二极管D1的阻值发生变化,产生电荷,形成光感电流。
在电信号输出阶段,光感电流流经第二开关器件T2后第二开关器件T2产生电压信号,第三开关器件T3响应指纹扫描线14发送的第一控制信号而导通,将电压信号经指纹信号线15的输出端Vout输出。
第四开关器件T4用于对指纹信号线15进行复位,即当完成指纹扫描后,通过控制信号打开第四开关器件T4来将指纹信号线15上的信号复位。相应地,在指纹扫描阶段,通过控制信号关断第四开关器件T4,使指纹信号线15输出端Vout与接地端Vss之间断路。
需要说明的是,由以上描述可知,在指纹识别单元10工作时,需要施加三个控制信号,在本文中将复位信号称为第二控制信号,第四开关器件T4上的控制信号COL称为第三控制信号。并且,与第一控制信号一样,在VT测试阶段,第二控制信号和第三控制信号也可以通过测试电路板或其他方式施加在指纹识别单元上,以使指纹识别单元10产生输出信号。与控制信号对应,第三开关器件T3的控制端称为指纹识别单元的第一控制端,第一开关器件T1的控制端称为指纹识别单元的第二控制端,第四开关器件T4的控制端称为指纹识别单元的第三控制端。
示例性地,在本发明一些实施例中,第一开关器件T1、第二开关器件T2、第三开关器件T3和第四开关器件T4可以为N型TFT晶体管,因而在VT测试时,第一控制信号、第二控制信号、第三控制信号分别为高电平信号、高电平信号和低电平信号。在本发明另一些实施例中,第一开关器件T1、第二开关器件T2、第三开关器件T3和第四开关器件T4可以为P型TFT晶体管,因而在VT测试时,第一控制信、第二控制信号、第三控制信号分别为低电平信号、低平信号和高电平信号。
还需要说明的是,图5中示例性的示出了显示面板中指纹识别单元的一种等效电路图,在本发明其他实施例中指纹识别单元还可以为其他电路结构,本发明在此不再一一赘述。
图6是本发明实施例提供的一种用于显示面板的VT测试系统的结构示意图。
请参考图6,用于显示面板的VT测试系统600包括VT测试电路601和测试电路板602。
VT测试电路601与本发明实施例前述描述的测试电路一样,在此不再赘述。
测试电路板602与VT测试电路601电连接,VT测试电路601的至少一个测试节点输出的检测信号输出至测试电路板602,从而使测试电路板602根据接收的检测信号来判断多个指纹识别单元是否正常。
测试电路板602可以为各种合适的电路板,其可以包括印刷电路以及安装在印刷电路板上的控制器,测试节点的信号通过相应的线路传输至控制器,通过控制器进行判断。
图7是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图。
请参考图7,本发明实施例提供的显示面板700包括TFT基板701,以及设置在TFT基板701上的指纹识别电路702和VT测试电路703。
指纹识别电路701包括多个指纹识别单元10、至少一条沿第一方向延伸的指纹扫描线14和至少一条沿第二方向延伸的指纹信号线15,指纹识别单元10至少包括第一控制端和输出端,指纹识别单元10的第一控制端与对应的指纹扫描线14连接,每个指纹识别单元10的输出端与对应的指纹信号线15连接,指纹识别单元10在第一控制端受到来自指纹扫描线14的第一控制信号作用时,在输出端产生输出信号。
示例性地,在本发明实施例中,指纹识别电路702包括阵列布置的多个指纹识别单元10(图7示意性示出4×4阵列),多条沿第一方向X延伸的指纹扫描线14和多条沿第二方向Y延伸的指纹信号线15。指纹识别单元10的第一控制端与对应的指纹扫描线14电连接。指纹识别单元10的输出端与对应的指纹信号线15电连接。在本发明实施例中,每条指纹扫描线14与多个指纹识别单元10的信号线电连接。每条指纹信号线15与多个指纹识别单元10的信号线连接。
应当理解,指纹识别电路701不限于图7所示结构,也可以采用图1至图3中的结构,或其他结构。示例性地,例如,指纹信号线15与指纹识别单元10可以一一对应,即每个指纹识别单元10的输出端与一个对应的指纹信号线15连接,每个指纹信号线15与一个对应的指纹识别单元10的输出端连接。
指纹识别单元10的结构可以采用图5所示的结构或其他合适的结构。
VT测试电路703采用本发明实施例提供的VT测试电路,例如VT测试电路200至203,在此不再赘述。
示例性地,在本发明实施例中,VT测试电路703设置在TFT基板701的下边缘区域。然而,在其他实施例中,VT测试电路703也可以设置在TFT基板701的上边缘区域。
应当理解,TFT基板701包括阵列区和测试区,阵列区中设置有指纹识别电路702和像素电路(未示出)。测试区设置有本发明实施例的VT测试电路703。
还应当理解,指纹识别电路702可以覆盖阵列区的局部区域或全部区域,即显示面板701的指纹识别区域可以为局部区域或全屏区域。
本发明实施例还提供一种用于显示面板的VT测试方法,该方法应用于本发明实施例的显示面板。该方法包括下述步骤:依次向指纹扫描线施加第一控制信号,并接收测试电路输出的检测信号,从而根据所述检测信号判断多个所述指纹识别单元是否正常。
本发明实施例还提供一种显示装置,其包括根据本发明实施例的显示面板。
根据本发明实施例的用于显示面板的VT测试电路、系统、方法、显示面板及显示装置,通过测试电路接收指纹识别单元的输出信号,并在该输出信号的控制下产生检测信号,然后将该检测信号传输至VT测试电路板,从而使测试电路板根据接收的检测信号来判断多个所述指纹识别单元是否正常。即,通过本发明实施例的VT测试电路在VT测试阶段实现了对指纹识别单元的检测。
虽然已经参考优选实施例对本申请进行了描述,但在不脱离本申请的范围的情况下,可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是,只要不存在结构冲突,各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本申请并不局限于文中公开的特定实施例,而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。

Claims (19)

1.一种用于显示面板的VT测试电路,所述显示面板包括多个指纹识别单元,至少一条沿第一方向延伸的指纹扫描线和至少一条沿第二方向延伸的指纹信号线,所述指纹识别单元至少包括第一控制端和输出端,每个所述指纹识别单元的第一控制端与对应的指纹扫描线连接,每个所述指纹识别单元的输出端与对应的指纹扫描线连接,所述指纹识别单元在所述第一控制端受到来自所述指纹扫描线的第一控制信号作用时,在所述输出端产生输出信号,其特征在于,所述VT测试电路包括:
测试信号输入端,所述测试信号输入端用于接收测试信号;
至少一个控制信号输入端,所述控制信号输入端与所述指纹信号线一一对应,每个所述控制信号输入端与一条对应的所述指纹信号线电连接以接收所述指纹信号线输出的信号;
至少一个测试节点,至少一个所述测试节点用于输出检测信号,以通过比较所述检测信号和所述测试信号来确定多个所述指纹识别单元是否正常;
至少一个开关器件,至少一个所述开关器件设置在所述测试信号输入端和至少一个所述测试节点之间,所述开关器件与所述控制信号输入端一一对应,每个所述开关器件在所述控制信号输入端输入的信号的控制下导通或断开;
所述VT测试电路还被配置为电连接至测试电路板,以使至少一个所述测试节点输出的检测信号输出至所述测试电路板,从而使所述测试电路板根据接收的所述检测信号来判断多个所述指纹识别单元是否正常。
2.根据权利要求1所述的VT测试电路,其特征在于,所述测试节点的数量为一个,所述开关元件的数量为一个。
3.根据权利要求1所述的VT测试电路,其特征在于,所述开关元件的数量为两个以上,两个以上的所述开关元件彼此串联连接。
4.根据权利要求3所述的VT测试电路,其特征在于,所述测试节点的数量为一个,两个以上的所述开关元件彼此串联连接之后与再与所述测试信号输入端和所述测试节点连接。
5.根据权利要求3所述的VT测试电路,其特征在于,所述测试节点的数量为两个以上,所述测试节点和所述开关元件一一对应,每个所述测试节点与对应的所述开关元件的输出端连接。
6.根据权利要求5所述的VT测试电路,其特征在于,还包括:
测试线,所述测试线与所述测试节点一一对应,每个所述测试线一端与对应的所述测试节点连接,另一端被配置为电连接至所述测试电路板。
7.根据权利要求1-6中的任一项所述的VT测试电路,其特征在于,所述测试电路板还被配置为与所述指纹扫描线连接,以能向每条所述指纹扫描线连接元施加所述第一控制信号。
8.一种显示面板,其特征在于,包括:
TFT基板,在所述TFT基板上设置有多个指纹识别单元、至少一条沿第一方向延伸的指纹扫描线和至少一条沿第二方向延伸的指纹信号线,所述指纹识别单元至少包括第一控制端和输出端,每个所述指纹识别单元的第一控制端与对应的指纹扫描线连接,每个所述指纹识别单元的输出端与对应的指纹信号线连接,所述指纹识别单元在所述第一控制端受到来自所述指纹扫描线的第一控制信号作用时,在所述输出端产生输出信号;以及
权利1-7中的任一项所述的VT测试电路。
9.根据权利要求8所述的显示面板,其特征在于,每条所述指纹信号线与多个所述指纹识别单元的信号线连接。
10.根据权利要求8所述的显示面板,其特征在于,所述指纹信号线与所述指纹识别单元一一对应。
11.根据权利要求8所述的显示面板,其特征在于,每个所述指纹识别单元还包括第二控制端,每条所述指纹信号线还通过信号线开关器件接地,所述测试电路板被配置为向所述指纹识别单元的第二控制端和所述信号线开关器件的控制端分别施加第二控制信号和第三控制信号,以使每个所述指纹信号线输出信号。
12.根据权利要求11所述的显示面板,其特征在于,所述第一控制信号、第二控制信号、第三控制信号分别为高电平信号、高电平信号和低电平信号,或者
所述第一控制信、第二控制信号、第三控制信号分别为低电平信号、低平信号和高电平信号。
13.根据权利要求8所述的显示面板,其特征在于,所述开关器件包括N型TFT晶体管或P型TFT晶体管。
14.根据权利要求8所述的显示面板,其特征在于,所述VT测试电路设置在所述TFT基板的上边缘区域或下边缘区域。
15.根据权利要求8所述的显示面板,其特征在于,所述TFT基板包括阵列区和测试区,所述测试电路设置在所述测试区中,多个所述指纹识别单元设置在所述阵列区。
16.根据权利要求11所述的显示面板,其特征在于,所述指纹识别单元包括:光电二极管、存储电容、第一开关器件、第二开关器件和第三开关器件;
所述第一开关器件的第一端与工作电源端连接,第二端与所述光电二极管的第一极连接,控制端连接与所述第二控制信号连接;
所述光电二极管的第一极与所述第一开关器件的第二端电连接,所述光电二极管的第二极连接偏置电压;
所述存储电容的第一端与所述光电二极管的第一极电连接,所述存储电容的第二端与所述光电二极管的第二极电连接;
所述第二开关器件的第一端与工作电源端连接,第二端与所述第三开关器件的第一端连接,控制端与所述光电二极管的第一极连接;
所述第三开关器件的第一端与所述第二开关器件的第二端连接,第二端与所述指纹信号线连接,控制端与所述指纹扫描线连接。
17.一种显示面板的VT测试方法,用于测试权利要求8-16中的任一项所述的显示面板,其特征在于,该VT测试方法包括:
依次向指纹扫描线施加第一控制信号,并接收测试电路输出的检测信号,从而根据所述检测信号判断多个所述指纹识别单元是否正常。
18.一种显示装置,包括权利要求8-16任一项所述的显示面板。
19.一种用于显示面板的VT测试系统,其特征在于,包括:权利要求1-7中的任一项所述的VT测试电路以及测试电路板,所述VT测试电路电连接至所述测试电路板,以使至少一个所述测试节点输出的检测信号输出至所述测试电路板,从而使所述测试电路板根据接收的所述检测信号来判断多个所述指纹识别单元是否正常。
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