CN111123153B - 显示面板及其vt测试方法、显示装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种显示面板及其VT测试方法、显示装置,涉及显示技术领域,显示面板包括多个指纹识别单元、多个第一晶体管、多条指纹扫描线、多条指纹信号线和测试电路;第一晶体管的栅极与一条指纹扫描线电连接,第一晶体管的第一极和与其对应的指纹识别单元电连接,第一晶体管的第二极与一条指纹信号线连接;测试电路包括至少一个选通模块和一个检测节点,选通模块包括控制端、多个信号输入端和一个信号输出端,信号输出端与检测节点电连接,控制端用于将至少一个信号输入端获取的信号通过信号输出端输出至检测节点。本发明有效提高显示面板的检测效率,提高显示面板的检测准确率。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,更具体地,涉及一种显示面板及其VT测试方法、显示装置。
背景技术
指纹对于每一个人而言是与生俱来的,随着科技的发展,市场上出现了多种带有指纹识别功能的显示装置,如手机、平板电脑以及智能可穿戴设备等。用户在操作带有指纹识别功能的显示装置前,只需要用手指触摸显示装置就可以进行权限验证,简化了权限验证过程,并且,随着指纹识别功能应用场景的逐渐增加,指纹识别区域逐渐由部分区域演变为全屏识别。
现有的基于光学式指纹识别技术的显示装置中,光感指纹传感器基于半导体器件形成,利用半导体器件受到光照会产生漏流的特性实现指纹检测,具体地,指纹识别光源产生的光线在手指与显示装置触控的表面发生反射后,反射光线照射到指纹识别传感器,光感指纹传感器来检测由于指纹谷峰波动带来的光线强度,从而生成指纹谱。目前,基于光学式指纹识别技术的显示装置中,只能通过镜检识别光感指纹传感器是否损坏,检测效率低、且检测准确率低。
发明内容
有鉴于此,本发明提供了一种显示面板及其VT测试方法、显示装置,有效提高显示面板的检测效率,提高显示面板的检测准确率。
第一方面,本发明提供一种显示面板,包括呈阵列排布的多个指纹识别单元、多个第一晶体管、多条沿第一方向延伸的指纹扫描线、多条沿第二方向延伸的指纹信号线和测试电路,指纹扫描线和指纹信号线交叉绝缘限定出多个指纹识别单元所在区域,其中,第一方向和第二方向相交;指纹识别单元和第一晶体管一一对应,第一晶体管的栅极与一条指纹扫描线电连接,第一晶体管的第一极和与其对应的指纹识别单元电连接,第一晶体管的第二极与一条指纹信号线连接;测试电路包括至少一个选通模块和一个检测节点,选通模块包括控制端、多个信号输入端和一个信号输出端,信号输入端与指纹信号线一一对应且电连接,信号输出端与检测节点电连接,控制端用于将至少一个信号输入端获取的信号通过信号输出端输出至检测节点。
第二方面,本发明提供一种显示面板的VT测试方法,用于测试本发明提供的显示面板;VT测试方法包括:对至少部分指纹扫描线施加驱动信号,使得与其电连接的第一晶体管处于打开状态;选通模块控制检测节点与至少部分指纹信号线导通,测量检测节点上的电信号值。
第三方面,本发明提供一种显示装置,包括本发明提供的显示面板。
与现有技术相比,本发明提供的显示面板及其VT测试方法、显示装置,至少实现了如下的有益效果:
本发明提供的显示面板包括呈阵列排布的多个指纹识别单元、多个第一晶体管、多条沿第一方向延伸的指纹扫描线和多条沿第二方向延伸的指纹信号线,指纹扫描线和指纹信号线交叉绝缘限定出多个指纹识别单元所在区域。指纹识别单元和第一晶体管一一对应,第一晶体管的栅极与一条指纹扫描线电连接,第一晶体管的第一极和与其对应的指纹识别单元电连接,第一晶体管的第二极与一条指纹信号线连接,对指纹扫描线施加驱动信号,使得与其电连接的第一晶体管处于打开状态,即通过指纹扫描线控制与其电连接的第一晶体管的第一极与第二极电连接,从而指纹识别单元中的电压信号可通过与其电连接的指纹信号线输出。测试电路包括至少一个选通模块和一个检测节点,选通模块的信号输入端与指纹信号线一一对应且电连接,选通模块的信号输出端与检测节点电连接,选通模块的控制端用于将至少一个信号输入端获取的信号通过信号输出端输出至检测节点。通过选通模块的控制端控制至少一个信号输入端获取的信号通过信号输出端输出至检测节点,测量检测节点上的电信号值,即相当于通过检测节点可测试多个并联的指纹识别单元中的电信号,将检测节点上的电信号值与理论值范围进行对比,当检测节点上的电信号值不在理论值范围内即可判断出显示面板中存在损坏的指纹识别单元,从而通过对检测节点进行一次测量即可实现对多个指纹识别单元进行测试,无需通过对显示面板中的指纹识别单元一一进行镜检,有效提高显示面板的测试效率,同时有效提高显示面板的检测准确率。
当然,实施本发明的任一产品不必特定需要同时达到以上所述的所有技术效果。
通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述,本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。
附图说明
被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例,并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。
图1是本发明提供的一种显示面板的平面结构示意图;
图2是本发明提供的另一种显示面板的平面结构示意图;
图3是本发明提供的又一种显示面板的平面结构示意图;
图4是本发明提供的又一种显示面板的平面结构示意图;
图5是本发明提供的一种指纹识别单元的等效电路图;
图6是本发明提供的又一种显示面板的平面结构示意图;
图7是图1所述的显示面板的一种测试状态图;
图8是图1所述的显示面板的另一种测试状态图;
图9是图1所述的显示面板的一种亮度与电信号值的关系示意图;
图10是本发明提供的一种显示装置的平面结构示意图。
具体实施方式
现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到:除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。
以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。
对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。
在这里示出和讨论的所有例子中,任何具体值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。因此,示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
图1是本发明提供的一种显示面板的平面结构示意图,参考图1,本实施例提供一种显示面板,包括呈阵列排布的多个指纹识别单元10、多个第一晶体管T1、多条沿第一方向X延伸的指纹扫描线G、多条沿第二方向Y延伸的指纹信号线S和测试电路20,指纹扫描线G和指纹信号线S交叉绝缘限定出多个指纹识别单元10所在区域,其中,第一方向X和第二方向Y相交;
指纹识别单元10和第一晶体管T1一一对应,第一晶体管T1的栅极与一条指纹扫描线G电连接,第一晶体管T1的第一极和与其对应的指纹识别单元10电连接,第一晶体管T1的第二极与一条指纹信号线S连接;
测试电路20包括至少一个选通模块21和一个检测节点22,选通模块21包括控制端、多个信号输入端和一个信号输出端,信号输入端与指纹信号线S一一对应且电连接,信号输出端与检测节点22电连接,控制端用于将至少一个信号输入端获取的信号通过信号输出端输出至检测节点22。
具体的,继续参考图1,本实施例提供的显示面板包括呈阵列排布的多个指纹识别单元10、多个第一晶体管T1、多条沿第一方向X延伸的指纹扫描线G和多条沿第二方向Y延伸的指纹信号线S,指纹扫描线G和指纹信号线S交叉绝缘限定出多个指纹识别单元10所在区域,第一方向X和第二方向Y相交,在优选实施例中,第一方向X和第二方向Y垂直,在一些变化例中,第一方向X和第二方向Y也可以不垂直。指纹识别单元10和第一晶体管T1一一对应,第一晶体管T1的栅极与一条指纹扫描线G电连接,第一晶体管T1的第一极和与其对应的指纹识别单元10电连接,第一晶体管T1的第二极与一条指纹信号线S连接,通过指纹扫描线G控制与其电连接的第一晶体管T1的第一极与第二极电连接,从而指纹识别单元10中的电压信号可通过与其电连接的指纹信号线S输出。
测试电路20包括至少一个选通模块21和一个检测节点22,选通模块21的信号输入端与指纹信号线S一一对应且电连接,选通模块21的信号输出端与检测节点22电连接,选通模块21的控制端用于将至少一个信号输入端获取的信号通过信号输出端输出至检测节点22。通过选通模块21的控制端控制至少一个信号输入端获取的信号通过信号输出端输出至检测节点22,测量检测节点22上的电信号值,即相当于通过检测节点22可测试多个并联的指纹识别单元10中的电信号,将检测节点22上的电信号值与理论值范围进行对比,当检测节点22上的电信号值不在理论值范围内即可判断出显示面板中存在损坏的指纹识别单元10,从而通过对检测节点22进行一次测量即可实现对多个指纹识别单元10进行测试,无需通过对显示面板中的指纹识别单元10一一进行镜检,有效提高显示面板的测试效率,同时有效提高显示面板的检测准确率。
图2是本发明提供的另一种显示面板的平面结构示意图,参考图2,可选的,其中,选通模块21包括多个第二晶体管T2,第二晶体管T2与指纹信号线S一一对应设置,第二晶体管T2的栅极均与控制端211电连接,第二晶体管T2的第一极和与其对应的指纹信号线S电连接,第二晶体管T2的第二极均与检测节点22电连接。
具体的,继续参考图2,选通模块21包括多个第二晶体管T2,第二晶体管T2的栅极均与控制端211电连接,第二晶体管T2的第一极和与其对应的指纹信号线S电连接,第二晶体管T2的第二极均与检测节点22电连接,通过控制端211控制所有的第二晶体管T2打开,检测节点22与全部指纹信号线S导通,通过测量检测节点22上的电信号值,即相当于通过检测节点22可测试显示面板中所有的指纹识别单元10处于并联状态时的电信号,将检测节点22上的电信号值与理论值范围进行对比,当检测节点22上的电信号值不在理论值范围内即可判断出显示面板中存在损坏的指纹识别单元10,从而通过对检测节点22进行一次测量即可实现对显示面板中所有的指纹识别单元10进行测试,进一步提高显示面板的测试效率。
图3是本发明提供的又一种显示面板的平面结构示意图,参考图3,可选的,其中,选通模块21包括至少第一控制端212和第二控制端213,至少部分第二晶体管T2的栅极与第一控制端212电连接,其余部分第二晶体管T2的栅极与第二控制端213电连接。
具体的,继续参考图3,至少第一控制端212和第二控制端213,至少部分第二晶体管T2的栅极与第一控制端212电连接,其余部分第二晶体管T2的栅极与第二控制端213电连接,通过第一控制端212控制与其电连接的第二晶体管T2打开,从而通过对检测节点22进行一次测量可实现对显示面板中一部分指纹识别单元10进行测试,当该部分指纹识别单元10中存在损坏的指纹识别单元10时,无需再对剩余部分的指纹识别单元10进行测试;当该部分指纹识别单元10不存在损坏时,再通过第二控制端213控制与其电连接的第三晶体管T3打开,从而通过对检测节点22进行一次测量可实现对显示面板中剩余部分指纹识别单元10进行测试,有效减小显示面板的测试功耗。
需要说明的是,图3中示例性的示出了选通模块21中在第一方向X上相邻的第二晶体管T2中一个与第一控制端212电连接,另一个与第二控制端213电连接,在本发明其他实施例中,分别和第一控制端212、第二控制端213电连接的第二晶体管T2的排布方式可根据实际生产需要进行设置,本发明在此不再进行赘述。
可以理解的是,本实施例中示例性的示出了选通模块包括第一控制端和第二控制端,至少部分第二晶体管的栅极与第一控制端电连接,其余部分第二晶体管的栅极与第二控制端电连接,在本发明其他实施例中,选通模块还可以包括其他控制端,通过将第二晶体管分组与不同的控制端电连接,可检测出具体哪一组的指纹识别单元故障率过高,可以有针对性的进行后续生产工艺的改进。
图4是本发明提供的又一种显示面板的平面结构示意图,参考图4,可选的,其中,选通模块21包括i个第三晶体管T3和n-i个第四晶体管T4,其中n为指纹信号线S的总数,i为整数,且0<i≤n-1;第三晶体管T3的栅极和第四晶体管T4的栅极均与控制端211电连接,第三晶体管T3的第一极和i条指纹信号线S一一对应且电连接,第四晶体管T4的第一极和与未同第三晶体管T3电连接的指纹信号线S一一对应且电连接,第三晶体管T3的第二极和第四晶体管T4的第二极均与检测节点22电连接,第三晶体管T3与第四晶体管T4的类型相反。
具体的,继续参考图4,选通模块21包括选通模块21包括i个第三晶体管T3和n-i个第四晶体管T4,第三晶体管T3的第一极和i条指纹信号线S一一对应且电连接,第四晶体管T4的第一极和与未同第三晶体管T3电连接的指纹信号线S一一对应且电连接,第四晶体管T4的栅极、第五晶体管T5的栅极均控制端211电连接,第三晶体管T3与第四晶体管T4的类型相反。示例性的,第三晶体管T3为NMOS晶体管,第四晶体管T4为PMOS晶体管,当控制端211通高电压信号时,与其电连接的第三晶体管T3打开,从而通过对检测节点22进行一次测量可实现对显示面板中一部分指纹识别单元10进行测试,当该部分指纹识别单元10中存在损坏的指纹识别单元10时,无需再对剩余部分的指纹识别单元10进行测试;当该部分指纹识别单元10不存在损坏时,控制端211通低电压信号,与其电连接的第四晶体管T4打开,从而通过对检测节点22进行一次测量可实现对显示面板中剩余部分指纹识别单元10进行测试,有效减小显示面板的测试功耗。
需要说明的是,图4中示例性的示出了选通模块21中第三晶体管T3为NMOS晶体管,第四晶体管T4为PMOS晶体管,在本发明其他实施例中,第三晶体管和第四晶体管的类型可根据实际生产需要进行设置,本发明对此不进行限制。
继续参考图1,可选的,其中,沿第一方向X排布的第一晶体管T1与同一条指纹扫描线G电连接,沿第二方向Y排布的第一晶体管T1与同一条指纹信号线S电连接。
具体的,通过指纹扫描线G控制与其电连接、沿第一方向X排布的第一晶体管T1均打开,沿第一方向X排布的第一晶体管T1与不同条指纹信号线S电连接,从而指纹识别单元10中的电压信号分别通过与其电连接的指纹信号线S输出,沿第一方向X排布的第一晶体管T1与同一条指纹扫描线G电连接,沿第二方向Y排布的第一晶体管T1与同一条指纹信号线S电连接,有效减少显示面板中指纹扫描线G和指纹信号线S的数量,减小显示面板的排线难度,且不影响显示面板中指纹识别单元10中的电压信号的输出。
图5是本发明提供的一种指纹识别单元的等效电路图,参考图5,可选的,其中,指纹识别单元10包括光电二极管11、第五晶体管T5、第六晶体管T6和存储电容C1;
光电二极管11的第一极与第六晶体管T6的栅极电连接,光电二极管11的第二极连接偏置电压Vbias;
第五晶体管T5的栅极连接第一控制信号端Rst,第五晶体管T5的第一极连接第一电压信号端VDD,第五晶体管T5的第二极与第六晶体管T6的栅极电连接;
第六晶体管T6的第一极连接第一电压信号端VDD,第六晶体管T6的第二极与第一晶体管T1的第一极电连接;
存储电容C1的第一端与光电二极管11的第一极电连接,存储电容1的第二端与光电二极管11的第二极电连接。
具体的,在进行指纹识别时,指纹识别电路包括复位阶段、曝光阶段和电信号输出阶段。
在在复位阶段,第五晶体管T5响应第一控制信号端Rst发送的控制信号而导通,对指纹识别单元10进行复位;
在曝光阶段,手指接触屏幕,光源照射到手指指纹的谷线和脊线上时发生反射,由于谷线和脊线的反射角度及反射回去的光照强度不同,将光投射至光电二极管11上,引起光电二极管11的阻值发生变化,产生电荷,形成光感电流;
在电信号输出阶段,光感电流流经第六晶体管T6后第六晶体管T6产生电压信号,第一晶体管T1响应指纹扫描线G发送的控制信号而导通,将电压信号经指纹信号线S输出。
需要说明的是,图5中示例性的示出了显示面板中指纹识别单元的一种等效电路图,在本发明其他实施例中指纹识别单元还可以为其他电路结构,本发明在此不再一一赘述。
基于同一发明构想,本实施例提供一种显示面板的VT测试方法,显示面板的结构可参考图1,包括呈阵列排布的多个指纹识别单元10、多个第一晶体管T1、多条沿第一方向X延伸的指纹扫描线G、多条沿第二方向Y延伸的指纹信号线S和测试电路20,指纹扫描线G和指纹信号线S交叉绝缘限定出多个指纹识别单元10所在区域,其中,第一方向X和第二方向Y相交;
指纹识别单元10和第一晶体管T1一一对应,第一晶体管T1的栅极与一条指纹扫描线G电连接,第一晶体管T1的第一极和与其对应的指纹识别单元10电连接,第一晶体管T1的第二极与一条指纹信号线S连接;
测试电路20包括至少一个选通模块21和一个检测节点22,选通模块21包括控制端、多个信号输入端和一个信号输出端,信号输入端与指纹信号线S一一对应且电连接,信号输出端与检测节点22电连接,控制端用于将至少一个信号输入端获取的信号通过信号输出端输出至检测节点22。
VT测试方法包括:
对至少部分指纹扫描线施加驱动信号,使得与其电连接的第一晶体管处于打开状态;
选通模块控制检测节点与至少部分指纹信号线导通,测量检测节点上的电信号值。
具体的,继续参考图1,显示面板包括呈阵列排布的多个指纹识别单元10、多个第一晶体管T1、多条沿第一方向X延伸的指纹扫描线G和多条沿第二方向Y延伸的指纹信号线S,指纹扫描线G和指纹信号线S交叉绝缘限定出多个指纹识别单元10所在区域。指纹识别单元10和第一晶体管T1一一对应,第一晶体管T1的栅极与一条指纹扫描线G电连接,第一晶体管T1的第一极和与其对应的指纹识别单元10电连接,第一晶体管T1的第二极与一条指纹信号线S连接,对指纹扫描线G施加驱动信号,使得与其电连接的第一晶体管T1处于打开状态,即通过指纹扫描线G控制与其电连接的第一晶体管T1的第一极与第二极电连接,从而指纹识别单元10中的电压信号可通过与其电连接的指纹信号线S输出。
测试电路20包括至少一个选通模块21和一个检测节点22,选通模块21的信号输入端与指纹信号线S一一对应且电连接,选通模块21的信号输出端与检测节点22电连接,选通模块21的控制端用于将至少一个信号输入端获取的信号通过信号输出端输出至检测节点22。选通模块21控制检测节点22与至少部分指纹信号线S导通,测量检测节点22上的电信号值,即通过选通模块21的控制端控制至少一个信号输入端获取的信号通过信号输出端输出至检测节点22,测量检测节点22上的电信号值,相当于通过检测节点22可测试多个并联的指纹识别单元10中的电信号,将检测节点22上的电信号值与理论值范围进行对比,当检测节点22上的电信号值不在理论值范围内即可判断出显示面板中存在损坏的指纹识别单元10,从而通过对检测节点22进行一次测量即可实现对多个指纹识别单元10进行测试,无需通过对显示面板中的指纹识别单元10一一进行镜检,有效提高显示面板的测试效率,同时有效提高显示面板的检测准确率。
继续参考图2,可选的,其中,选通模块21包括多个第二晶体管T2,第二晶体管T2与指纹信号线S一一对应设置,第二晶体管T2的栅极均与控制端211电连接,第二晶体管T2的第一极和与其对应的指纹信号线S电连接,第二晶体管T2的第二极均与检测节点22电连接;
控制端211控制第二晶体管T2均处于打开状态,测量检测节点22上的电信号值。
具体的,选通模块21包括多个第二晶体管T2,第二晶体管T2的栅极均与控制端211电连接,第二晶体管T2的第一极和与其对应的指纹信号线S电连接,第二晶体管T2的第二极均与检测节点22电连接,通过控制端211控制所有的第二晶体管T2打开,检测节点22与全部指纹信号线S导通,通过测量检测节点22上的电信号值,即相当于通过检测节点22可测试显示面板中所有的指纹识别单元10处于并联状态时的电信号,将检测节点22上的电信号值与理论值范围进行对比,当检测节点22上的电信号值不在理论值范围内即可判断出显示面板中存在损坏的指纹识别单元10,从而通过对检测节点22进行一次测量即可实现对显示面板中所有的指纹识别单元10进行测试,进一步提高显示面板的测试效率。
继续参考图2,可选的,其中,测试电路20VT测试前,在检测节点22上外接第一电阻;
对指纹扫描线G同时施加驱动信号,使得第一晶体管T1均处于打开状态;
控制端211控制第二晶体管T2均处于打开状态,测量检测节点22上流经第一电阻后的电流信号值。
具体的,测试电路20VT测试前,在检测节点22上外接第一电阻,对指纹扫描线G同时施加驱动信号,使得第一晶体管T1均处于打开状态,控制端211控制第二晶体管T2均处于打开状态,此时,显示面板中所有的指纹识别单元10处于并联状态,测量检测节点22上流经第一电阻后的电流信号值,将该电流信号值与理论值范围进行对比,当该电流信号值不在理论值范围内即可判断出显示面板中存在损坏的指纹识别单元10,从而通过对检测节点22进行一次测量即可实现对显示面板中所有的指纹识别单元10进行测试,进一步提高显示面板的测试效率。
实例性的,以光照亮度为10000nit、显示面板中的指纹识别单元10的数量为4万个、第一电阻为10KΩ为例进行说明,4万个指纹识别单元10的理论电流为4A,单个指纹识别单元10的理论电流为0.1mA,当指纹识别单元10中光电二极管断路时,该指纹识别单元10的输出电流为0mA,当显示面板中10%的指纹识别单元10出现光电二极管断路时,检测节点22上的电流信号值降低至3.6A;当指纹识别单元10中光电二极管短路时,该指纹识别单元10的输出电流为0.2mA,当显示面板中10%的指纹识别单元10出现光电二极管短路时,检测节点22上的电流信号值增加至4.4A。通过对检测节点22进行一次测量即可实现对显示面板中所有的指纹识别单元10进行测试,判断出显示面板中是否存在损坏的指纹识别单元10。
图6是本发明提供的又一种显示面板的平面结构示意图,参考图6,可选的,其中,显示面板还包括栅极驱动电路30,指纹扫描线G与栅极驱动电路30电连接;
沿第一方向X排布的第一晶体管T1与同一条指纹扫描线G电连接,沿第二方向Y排布的第一晶体管T1与同一条指纹信号线S电连接;
测试电路20VT测试前,在检测节点22上外接第二电阻;
栅极驱动电路30对指纹扫描线G逐行施加驱动信号,使得第一晶体管T1逐行打开;
控制端211控制第二晶体管T2均处于打开状态;
分别测量各行第一晶体管T1处于打开状态、且其他行第一晶体管T1处于截止状态时,检测节点22上流经第二电阻后的电流信号值。
具体的,显示面板还包括栅极驱动电路30,指纹扫描线G与栅极驱动电路30电连接,沿第一方向X排布的第一晶体管T1与同一条指纹扫描线G电连接,栅极驱动电路30对指纹扫描线G逐行施加驱动信号,使得第一晶体管T1逐行打开,控制端211控制第二晶体管T2均处于打开状态,可实现分别测量各行第一晶体管T1处于打开状态、且其他行第一晶体管T1处于截止状态时,检测节点22上流经第二电阻后的电流信号值,可更精准的对显示面板中是否存在损坏的指纹识别单元10进行判断。
实例性的,以光照亮度为10000nit、第二电阻为100Ω为例进行说明,单个指纹识别单元10的理论电流为10mA,当每行指纹识别单元10中有一个指纹识别单元10的光电二极管断路或短路时,检测节点22上的电流信号值与理论值相差10mA,可更精准的对显示面板中是否存在损坏的指纹识别单元10进行判断。
继续参考图2,可选的,其中,对指纹扫描线G同时施加驱动信号,使得第一晶体管T1均处于打开状态;
控制端211控制第二晶体管T2均处于打开状态,测量检测节点22上的电压信号值。
具体的,对指纹扫描线G同时施加驱动信号,使得第一晶体管T1均处于打开状态,控制端211控制第二晶体管T2均处于打开状态,此时,显示面板中所有的指纹识别单元10处于并联状态,测量检测节点22上的电压信号值,当显示面板中存在损坏的指纹识别单元10时,测量检测节点22上的电压信号值会被损坏的指纹识别单元10拉高或拉低,将该电压信号值与理论值范围进行对比,当该电压信号值不在理论值范围内即可判断出显示面板中存在损坏的指纹识别单元10,从而通过对检测节点22进行一次测量即可实现对显示面板中所有的指纹识别单元10进行测试,进一步提高显示面板的测试效率。
继续参考图6,可选的,其中,显示面板还包括栅极驱动电路30,指纹扫描线G与栅极驱动电路30电连接;
沿第一方向X排布的第一晶体管T1与同一条指纹扫描线G电连接,沿第二方向Y排布的第一晶体管T1与同一条指纹信号线S电连接;
栅极驱动电路30对指纹扫描线G逐行施加驱动信号,使得第一晶体管T1逐行打开;
控制端211控制第二晶体管T2均处于打开状态;
分别测量各行第一晶体管T1处于打开状态、且其他行第一晶体管T2处于截止状态时,检测节点22上的电压信号值。
具体的,显示面板还包括栅极驱动电路30,指纹扫描线G与栅极驱动电路30电连接,沿第一方向X排布的第一晶体管T1与同一条指纹扫描线G电连接,栅极驱动电路30对指纹扫描线G逐行施加驱动信号,使得第一晶体管T1逐行打开,控制端211控制第二晶体管T2均处于打开状态,可实现分别测量各行第一晶体管T1处于打开状态、且其他行第一晶体管T1处于截止状态时,检测节点22上的电压信号值,可更精准的对显示面板中是否存在损坏的指纹识别单元10进行判断。
图7是图1所述的显示面板的一种测试状态图,参考图1和图7,可选的,VT测试方法还包括:
测试电路20VT测试前,在显示面板100的一侧设置背光模组200,显示面板100位于背光模组200的出光面,在显示面板100远离背光模组200的一侧设置反光装置300,反光装置300位于指纹识别单元10的光感应面;
开启背光模组200,背光模组200发出的光线经由反光装置300反射至指纹识别单元10,测量检测节点22上的电信号值。
具体的,继续参考图1和图7,测试电路20VT测试前,在显示面板100的两侧分别设置背光模组200和反光装置300,显示面板100位于背光模组200的出光面,反光装置300位于指纹识别单元10的光感应面,开启背光模组200,背光模组200发出的光线经由反光装置300反射至指纹识别单元10,指纹识别单元10经过一段时间的曝光后,电压信号经指纹信号线S输出,测量检测节点22上的电信号值,即可判断出显示面板中是否存在损坏的指纹识别单元10。
图8是图1所述的显示面板的另一种测试状态图,参考图1和图8,可选的,VT测试方法还包括:
测试电路20VT测试前,在显示面板100的一侧设置背光模组200,显示面板100位于背光模组200的出光面,且背光模组200位于指纹识别单元10的光感应面,在显示面板100远离背光模组200的一侧设置遮光装置400;
开启背光模组200,背光模组200发出的光线传输至指纹识别单元10,测量检测节点22上的电信号值。
具体的,继续参考图1和图8,测试电路20VT测试前,在显示面板100的一侧设置背光模组200,显示面板100位于背光模组200的出光面,且背光模组200位于指纹识别单元10的光感应面,开启背光模组200,背光模组200发出的光线直接传输至指纹识别单元10,指纹识别单元10经过一段时间的曝光后,电压信号经指纹信号线S输出,测量检测节点22上的电信号值,即可判断出显示面板中是否存在损坏的指纹识别单元10。且在显示面板100远离背光模组200的一侧设置遮光装置400,有效避免外部光线对指纹识别单元10的干扰,提高测试结果的准确性。
继续参考图1和图8,可选的,VT测试方法还包括:
调节背光模组200的出光亮度,测量在不同亮度时,检测节点22上的电信号值,根据各亮度和与其对应的电信号值,拟合出检测曲线。
参考图9,图9是图1所述的显示面板的一种亮度与电信号值的关系示意图,调节背光模组200的出光亮度,测量在不同亮度时,检测节点22上的电信号值,根据各亮度和与其对应的电信号值,拟合出检测曲线3,其中,曲线1是根据各亮度和与其对应的理论电信号值的上限拟合出的,曲线2是根据各亮度和与其对应的理论电信号值的下限拟合出的,将检测曲线3与曲线1、曲线2进行对比,可监控各亮度下检测节点22上的电信号值是否超出理论值范围,进一步提高显示面板的检测准确率。
本实施例提供一种显示装置,包括如上所述的显示面板。
请参考图10,图10是本发明提供的一种显示装置的平面结构示意图。图10提供的显示装置1000包括显示面板100,其中,显示面板为本发明上述任一实施例提供的显示面板100。图10实施例仅以手机为例,对显示装置1000进行说明,可以理解的是,本发明实施例提供的显示装置,可以是电脑、电视、车载显示装置等其他具有显示功能的显示装置,本发明对此不作具体限制。本发明实施例提供的显示装置,具有本发明实施例提供的显示面板的有益效果,具体可以参考上述各实施例对于显示面板的具体说明,本实施例在此不再赘述。
通过上述实施例可知,本发明提供的显示面板及其VT测试方法、显示装置,至少实现了如下的有益效果:
本发明提供的显示面板包括呈阵列排布的多个指纹识别单元、多个第一晶体管、多条沿第一方向延伸的指纹扫描线和多条沿第二方向延伸的指纹信号线,指纹扫描线和指纹信号线交叉绝缘限定出多个指纹识别单元所在区域。指纹识别单元和第一晶体管一一对应,第一晶体管的栅极与一条指纹扫描线电连接,第一晶体管的第一极和与其对应的指纹识别单元电连接,第一晶体管的第二极与一条指纹信号线连接,对指纹扫描线施加驱动信号,使得与其电连接的第一晶体管处于打开状态,即通过指纹扫描线控制与其电连接的第一晶体管的第一极与第二极电连接,从而指纹识别单元中的电压信号可通过与其电连接的指纹信号线输出。测试电路包括至少一个选通模块和一个检测节点,选通模块的信号输入端与指纹信号线一一对应且电连接,选通模块的信号输出端与检测节点电连接,选通模块的控制端用于将至少一个信号输入端获取的信号通过信号输出端输出至检测节点。通过选通模块的控制端控制至少一个信号输入端获取的信号通过信号输出端输出至检测节点,测量检测节点上的电信号值,即相当于通过检测节点可测试多个并联的指纹识别单元中的电信号,将检测节点上的电信号值与理论值范围进行对比,当检测节点上的电信号值不在理论值范围内即可判断出显示面板中存在损坏的指纹识别单元,从而通过对检测节点进行一次测量即可实现对多个指纹识别单元进行测试,无需通过对显示面板中的指纹识别单元一一进行镜检,有效提高显示面板的测试效率,同时有效提高显示面板的检测准确率。
虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明,但是本领域的技术人员应该理解,以上例子仅是为了进行说明,而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解,可在不脱离本发明的范围和精神的情况下,对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。
Claims (13)
1.一种显示面板,其特征在于,包括呈阵列排布的多个指纹识别单元、多个第一晶体管、多条沿第一方向延伸的指纹扫描线、多条沿第二方向延伸的指纹信号线和测试电路,所述指纹扫描线和所述指纹信号线交叉绝缘限定出多个所述指纹识别单元所在区域,其中,所述第一方向和所述第二方向相交;
所述指纹识别单元和所述第一晶体管一一对应,所述第一晶体管的栅极与一条所述指纹扫描线电连接,所述第一晶体管的第一极和与其对应的所述指纹识别单元电连接,所述第一晶体管的第二极与一条所述指纹信号线连接;
所述测试电路包括至少一个选通模块和一个检测节点,所述选通模块包括多个第二晶体管、至少第一控制端和第二控制端,所述第二晶体管与所述指纹信号线一一对应设置,至少部分所述第二晶体管的栅极与所述第一控制端电连接,其余部分所述第二晶体管的栅极与所述第二控制端电连接,所述第二晶体管的第一极和与其对应的所述指纹信号线电连接,所述第二晶体管的第二极均与所述检测节点电连接;
所述至少第一控制端和所述第二控制端分别用于将至少一个所述第二晶体管的第一极获取的信号通过所述第二晶体管的第二极输出至所述检测节点。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,
沿所述第一方向排布的所述第一晶体管与同一条所述指纹扫描线电连接,沿所述第二方向排布的所述第一晶体管与同一条所述指纹信号线电连接。
3.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,
所述指纹识别单元包括光电二极管、第五晶体管、第六晶体管和存储电容;
所述光电二极管的第一极与所述第六晶体管的栅极电连接,所述光电二极管的第二极连接偏置电压;
所述第五晶体管的栅极连接第一控制信号端,所述第五晶体管的第一极连接第一电压信号端,所述第五晶体管的第二极与所述第六晶体管的栅极电连接;
所述第六晶体管的第一极连接所述第一电压信号端,所述第六晶体管的第二极与所述第一晶体管的第一极电连接;
所述存储电容的第一端与所述光电二极管的第一极电连接,所述存储电容的第二端与所述光电二极管的第二极电连接。
4.一种显示面板的VT测试方法,其特征在于,用于测试权利要求1-3任一项所述的显示面板;
所述VT测试方法包括:
对至少部分所述指纹扫描线施加驱动信号,使得与其电连接的所述第一晶体管处于打开状态;
所述选通模块控制所述检测节点与至少部分所述指纹信号线导通,测量所述检测节点上的电信号值。
5.根据权利要求4所述的显示面板的VT测试方法,其特征在于,
所述选通模块包括多个第二晶体管,所述第二晶体管与所述指纹信号线一一对应设置,所述第二晶体管的栅极均与所述控制端电连接,所述第二晶体管的第一极和与其对应的所述指纹信号线电连接,所述第二晶体管的第二极均与所述检测节点电连接;
所述控制端控制所述第二晶体管均处于打开状态,测量所述检测节点上的电信号值。
6.根据权利要求5所述的显示面板的VT测试方法,其特征在于,
所述测试电路VT测试前,在所述检测节点上外接第一电阻;
对所述指纹扫描线同时施加驱动信号,使得所述第一晶体管均处于打开状态;
所述控制端控制所述第二晶体管均处于打开状态,测量所述检测节点上流经所述第一电阻后的电流信号值。
7.根据权利要求5所述的显示面板的VT测试方法,其特征在于,
所述显示面板还包括栅极驱动电路,所述指纹扫描线与所述栅极驱动电路电连接;
沿所述第一方向排布的所述第一晶体管与同一条所述指纹扫描线电连接,沿所述第二方向排布的所述第一晶体管与同一条所述指纹信号线电连接;
所述测试电路VT测试前,在所述检测节点上外接第二电阻;
所述栅极驱动电路对所述指纹扫描线逐行施加驱动信号,使得所述第一晶体管逐行打开;
所述控制端控制所述第二晶体管均处于打开状态;
分别测量各行所述第一晶体管处于打开状态、且其他行所述第一晶体管处于截止状态时,所述检测节点上流经所述第二电阻后的电流信号值。
8.根据权利要求5所述的显示面板的VT测试方法,其特征在于,
对所述指纹扫描线同时施加驱动信号,使得所述第一晶体管均处于打开状态;
所述控制端控制所述第二晶体管均处于打开状态,测量所述检测节点上的电压信号值。
9.根据权利要求5所述的显示面板的VT测试方法,其特征在于,
所述显示面板还包括栅极驱动电路,所述指纹扫描线与所述栅极驱动电路电连接;
沿所述第一方向排布的所述第一晶体管与同一条所述指纹扫描线电连接,沿所述第二方向排布的所述第一晶体管与同一条所述指纹信号线电连接;
所述栅极驱动电路对所述指纹扫描线逐行施加驱动信号,使得所述第一晶体管逐行打开;
所述控制端控制所述第二晶体管均处于打开状态;
分别测量各行所述第一晶体管处于打开状态、且其他行所述第一晶体管处于截止状态时,所述检测节点上的电压信号值。
10.根据权利要求5所述的显示面板的VT测试方法,其特征在于,还包括:
所述测试电路VT测试前,在所述显示面板的一侧设置背光模组,所述显示面板位于所述背光模组的出光面,在所述显示面板远离所述背光模组的一侧设置反光装置,所述反光装置位于所述指纹识别单元的光感应面;
开启所述背光模组,所述背光模组发出的光线经由所述反光装置反射至所述指纹识别单元,测量所述检测节点上的电信号值。
11.根据权利要求5所述的显示面板的VT测试方法,其特征在于,还包括:
所述测试电路VT测试前,在所述显示面板的一侧设置背光模组,所述显示面板位于所述背光模组的出光面,且所述背光模组位于所述指纹识别单元的光感应面,在所述显示面板远离所述背光模组的一侧设置遮光装置;
开启所述背光模组,所述背光模组发出的光线传输至所述指纹识别单元,测量所述检测节点上的电信号值。
12.根据权利要求10或11所述的显示面板的VT测试方法,其特征在于,还包括:
调节所述背光模组的出光亮度,测量在不同亮度时,所述检测节点上的电信号值,根据各所述亮度和与其对应的所述电信号值,拟合出检测曲线。
13.一种显示装置,其特征在于,包括权利要求1-3任一项所述的显示面板。
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