CN112595718A - 摄像系统、光学检测系统、摄像方法、设备及存储介质 - Google Patents

摄像系统、光学检测系统、摄像方法、设备及存储介质 Download PDF

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CN112595718A CN202011400821.6A CN202011400821A CN112595718A CN 112595718 A CN112595718 A CN 112595718A CN 202011400821 A CN202011400821 A CN 202011400821A CN 112595718 A CN112595718 A CN 112595718A
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Abstract

本发明提供了一种摄像系统、光学检测系统、摄像方法、设备及存储介质,所述系统包括:摄像机;载物台,用于承载待检测物;反射镜,可移动和/或旋转;其中,所述载物台设置于所述摄像机和所述反射镜之间,所述摄像机用于采集所述反射镜反射的光线以获取所述待检测物的待检测面的图像。本发明通过设置可移动和/或旋转的反射镜,摄像机可以通过反射镜获取待检测物的图像,并且在摄像机定焦的情形下,通过调整反射镜的位置,可以获取不同待检测面的清晰图像。

Description

摄像系统、光学检测系统、摄像方法、设备及存储介质
技术领域
本发明涉及用于光学检测的摄像技术领域,尤其涉及一种摄像系统、光学检测系统、摄像方法、设备及存储介质。
背景技术
随着消费者对于产品质量要求的提高,许多制造商使用机器视觉学习技术,对将出厂的产品进行表面瑕疵检测。其中,会影响瑕疵检测准确率的因素,除了算法外,如果产品影像无法清楚呈现缺陷特征,纵使算法如何演进,仍无法辨识。由此可见,对于用于光学检测的摄像而言,如何取得较佳之影像对于提升检测精准度具有举足轻重的影响力。
目前的用于光学检测的摄像系将待检测物放置于可旋转的载物台上,载物台带动待检测物旋转,使摄像机可以截取到待检测物各侧壁的影像,以进一步对表面进行瑕疵检测。然而,当摄像机与载物台的位置都固定,待检侧物受载物台带动旋转时,摄像机至待检侧物表面的距离会有所异动,导致在焦距不变的条件下,无法取的清晰影像,而会影响后续瑕疵检测的精准度。目前为解决前述问题的方法有:(1)移动载物台或摄像机,使待检测物与摄像机距离维持定值,然而这种方式的缺点为:光源未同时移动,致使影像的明暗度不均。(2)使用变焦摄像机,然而这种方式的缺点为:成本较高,同时对焦时间相对长导致拍摄时间长。
发明内容
针对现有技术中的问题,本发明的目的在于提供一种摄像系统、光学检测系统、摄像方法、设备及存储介质,通过设置可移动和/或旋转的反射镜,在摄像机定焦的情形下可以获取待检测物不同待检测面的清晰图像。
本发明实施例提供一种摄像系统,包括:
摄像机;
载物台,用于承载待检测物;
反射镜,可移动和/或旋转;
其中,所述载物台设置于所述摄像机和所述反射镜之间,所述摄像机用于采集所述反射镜反射的光线以获取所述待检测物的待检测面的图像。
在一些实施例中,所述摄像系统还包括:
位置计算模块,用于根据待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜的移动距离和/或旋转角度。
在一些实施例中,如果所述待检测面为平面,则所述位置计算模块根据待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜沿第一方向的移动距离,所述第一方向为所述摄像机的拍摄方向。
在一些实施例中,如果所述待检测面为平面,则所述位置计算模块采用如下公式计算所述反射镜沿第一方向的移动距离Δp:
Figure BDA0002816891010000021
其中,A为当前所述待检测物的旋转中心与所述待检测面在第一方向上的距离,B为初始状态下所述待检测物的旋转中心与所述待检测面在第一方向上的距离。
在一些实施例中,如果所述待检测面为弧面,则所述位置计算模块根据待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜沿第一方向的移动距离和相对于第二方向的旋转角度,所述第一方向为所述摄像机的拍摄方向,所述第二方向垂直于所述第一方向。
在一些实施例中,如果所述待检测面为弧面,则所述位置计算模块采用如下公式计算所述反射镜的沿第一方向的移动距离Δp和相对于第二方向的旋转角度θ:
Figure BDA0002816891010000022
Figure BDA0002816891010000023
其中,β为待检测面的切线面与第一方向的夹角,d1为初始状态下所述反射镜与所述待检测面在第一方向上的距离。
在一些实施例中,所述摄像系统还包括:
反射镜移动模块,用于根据所述位置计算模块的计算结果调整所述反射镜的位置和/或旋转角度。
在一些实施例中,所述摄像系统还包括:
待检测物分析模块,用于加载待检测物的模型数据库,分析待检测物的待检测面的特征;
载物台旋转模块,用于根据所述待检测物的待检测面的特征控制所述载物台旋转。
在一些实施例中,所述摄像系统还包括:光源模组,用于对待检测物照明。
本发明实施例还提供一种光学检测系统,包括所述的摄像系统,所述光学检测系统还包括:
瑕疵检测模块,用于根据所述摄像机的拍摄图像检测所述待检测物的待检测面的表面瑕疵。
本发明实施例还提供一种摄像方法,采用所述的摄像系统,所述方法包括如下步骤:
获取待检测物的待检测面的位置信息;
根据所述待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜的移动距离和/或旋转角度;
根据所述位置计算模块的计算结果调整所述反射镜的位置和/或旋转角度;
采集所述摄像机的拍摄图像。
在一些实施例中,所述获取待检测物的待检测面的位置信息之前,还包括如下步骤:
加载待检测物的模型数据库,分析待检测物的待检测面的特征;
根据所述待检测物的待检测面的特征控制所述载物台旋转。
在一些实施例中,根据所述待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜的移动距离和/或旋转角度,包括如下步骤:
判断所述待检测面是否为弧面;
如果所述待检测面为平面,则根据待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜沿第一方向的移动距离;
如果所述待检测面为弧面,则根据待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜的沿第一方向的移动距离和相对于第二方向的旋转角度,所述第一方向为所述摄像机的拍摄方向,所述第二方向垂直于所述第一方向。
本发明实施例还提供一种摄像设备,包括:
处理器;
存储器,其中存储有所述处理器的可执行指令;
其中,所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行所述的摄像方法的步骤。
本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质,用于存储程序,所述程序被处理器执行时实现所述的摄像方法的步骤。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
本发明的摄像系统、光学检测系统、摄像方法、设备及存储介质具有如下有益效果:
本发明通过设置可移动和/或旋转的反射镜,摄像机可以通过反射镜获取待检测物的图像,并且通过控制反射镜与待检测物/摄像机之间的距离,待检测物在反射镜中成像至摄像机之间的距离维持固定,从而在摄像机定焦的情形下,通过调整反射镜的位置,可以获取不同待检测面的清晰图像。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述,本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显。
图1是本发明一实施例的摄像系统的结构示意图;
图2是本发明一实施例的摄像系统增加控制功能模块的结构框图;
图3是本发明一实施例的待检测面为平面时的摄像示意图;
图4是本发明一实施例的待检测面为弧面时的摄像示意图;
图5是本发明一实施例的光学检测系统的结构示意图;
图6是本发明一实施例的摄像方法的流程图;
图7是本发明一实施例的光学检测方法的流程图;
图8是本发明一实施例的摄像设备的结构示意图;
图9是本发明一实施例的计算机可读存储介质的结构示意图。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而,示例实施方式能够以多种形式实施,且不应被理解为限于在此阐述的范例;相反,提供这些实施方式使得本公开将更加全面和完整,并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。
此外,附图仅为本公开的示意性图解,并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分,因而将省略对它们的重复描述。附图中所示的一些方框图是功能实体,不一定必须与物理或逻辑上独立的实体相对应。可以采用软件形式来实现这些功能实体,或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体,或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。
如图1所示,本发明实施例提供一种摄像系统,包括:摄像机M100;载物台M200,用于承载待检测物J100;以及反射镜M300,可移动和/或旋转。
其中,所述载物台M200设置于所述摄像机M100和所述反射镜M300之间,所述摄像机M100用于采集所述反射镜M300反射的光线以获取所述待检测物的图像。在该实施例中,所述载物台M200是可相对于所述摄像机M100旋转的,从而可以通过旋转载物台M200和对应调整反射镜M300使得摄像机M100拍摄不同的待检测面。在其他可替代的实施方式中,所述载物台M200也可以是不旋转的,而是通过调整反射镜M300实现拍摄不同的待检测面。
因此,本发明通过设置可移动和/或旋转的反射镜M300,摄像机M100可以通过反射镜M300获取待检测物的图像,并且通过控制反射镜M300与待检测物J100/摄像机M100之间的距离,待检测物J100在反射镜M300中成像至摄像机M100之间的距离维持固定,从而在摄像机M100定焦的情形下,通过调整反射镜M300的位置,可以获取不同待检测面的清晰图像。在该实施例中,所述反射镜M300为平面镜,方便在测量待检测物J100的不同待检测面时计算移动距离和旋转角度。但本发明不限于此。
所述摄像机M100可以采用定焦摄像机,即可以获取不同待检测面的清晰图像,从而可以在保证清晰度的基础上大大节省整个摄像系统乃至整个光学检测系统的成本。在其他可替代的实施方式中,所述摄像机M100也可以采用变焦摄像机,其在测量同一个待检测物的不同待检测面时,可以不用反复变焦,节省了拍摄和检测时间。
进一步地,如图1所示,所述摄像系统还可以包括光源模组M400,用于对待检测物J100照明。该光源模组M400可以采用同轴光源和碗光源,但本发明不限于此,采用其他类型的光源或者不采用光源均属于本发明的保护范围之内。图1中示出的是摄像系统的俯视视角的结构图,其中仅示意性地示出了摄像系统中各个组件的位置。在实际应用中,各个组件的位置不限于图1中示出的排布方式,只需要满足载物台M200位于摄像机M100和反射镜M300之间且摄像机M100可以拍摄到待检测物J100在反射镜M300中所成的像即可。在实际应用中,载物台M200和摄像机M100可以设置在不同的水平面,例如,载物台M200可以略低于摄像机M100的水平面,从而不会出现摄像机M100被光源模组M400遮挡的问题。所述光源模组M400中间也可以设置有穿孔,摄像机M100可以通过该穿孔拍摄到反射镜M300中所成的像。
如图2所示,为该实施例的摄像系统增加控制功能模块之后的结构示意图。所述摄像系统还包括:位置计算模块,用于根据待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜的移动距离和/或旋转角度。
如图3所示,为该实施例的摄像系统应用于拍摄待检测物的一个平面待检测面的示意图。如果所述待检测面为平面,则所述位置计算模块根据待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜沿第一方向的移动距离,所述第一方向为所述摄像机的拍摄方向,在图3中即为上下方向。该实施例中,载物台是可旋转的。载物台在初始状态时,待检测物处于J100A的状态,反射镜的镜面在P1位置,反射镜中成像在J200A的位置,此时的待检测面是图3中梯形的上底边对应的面。此时,摄像机M100的工作距离为WD=d1+d1+L+B,其中B为待检测物的旋转中心到待检测面沿第一方向的距离,d1为待检测面到镜面沿第一方向的距离,L为摄像机到待检测物的旋转中心沿第一方向的距离。
载物台旋转至待检测物处于J100B的状态后,同时移动反射镜至P2位置,反射镜中成像在J200B的位置,此时的待检测面是图3中梯形的一个腰对应的面。此时,摄像机M100的工作距离为WD=d2+d2+L+A,A为此时待检测物的旋转中心到待检测面沿第一方向的距离,d2为此时待检测面到镜面沿第一方向的距离。
由于摄像机未变焦,因此两种状态下工作距离WD不变,则满足如下公式:
Figure BDA0002816891010000071
d1-d2=Δp
Figure BDA0002816891010000072
所述位置计算模块可以采用如下公式计算所述反射镜沿第一方向的移动距离Δp:
Figure BDA0002816891010000073
其中,A为当前所述待检测物的旋转中心与所述待检测面在第一方向上的距离,B为初始状态下所述待检测物的旋转中心与所述待检测面在第一方向上的距离。
进一步地,目前产品多会导圆角形成弧面,单单仅检测产品四周已经无法满足需求。需要进一步可以检测弧面。因此,该实施例中可以通过进一步控制反射镜旋转来实现检测待检测物的弧面。
如图4所示,为该实施例的待检测面为弧面时的摄像示意图。如果所述待检测面为弧面,则所述位置计算模块根据待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜的沿第一方向的移动距离和相对于第二方向的旋转角度,所述第一方向为所述摄像机的拍摄方向,所述第二方向垂直于所述第一方向。在图4中,所述第一方向即为左右方向,所述第二方向即为上下方向。
如图4所示,α为入射线与第一方向的夹角,待检测面的切线面与第一方向的夹角为β,β可由待检测物本身的特征得到。入射线与切线垂直,因此,α=90°-β。初始状态下,待检测物处于J100A的状态,反射镜的镜面在P1位置,反射镜中成像在J200A的位置,此时,摄像机M100的工作距离为WD=d1+d1+L+B。在测量待检测物的弧面时,旋转反射镜的镜面到P2位置,然后平移反射镜的镜面到P3位置,此时,反射镜的镜面到待检测的弧面的距离是d3,反射镜中成像在J200B,此时,摄像机M100的工作距离为:
Figure BDA0002816891010000081
根据平行原理∠DAC=α,根据法线原理,∠1=∠2=α/2。根据平行原理∠3=∠2,∠4=∠3=α/2,∠5=90°-α/2。根据平行与相似三角形原理,θ=α/2。因此,
Figure BDA0002816891010000082
根据平行原理,Δp=d1-dd,dd=AD*cos(90°-β),并且
Figure BDA0002816891010000083
Figure BDA0002816891010000084
由此,
Figure BDA0002816891010000085
因此,
Figure BDA0002816891010000086
因此,如图4所示,如果所述待检测面为弧面,则所述位置计算模块采用如下公式计算所述反射镜的沿第一方向的移动距离Δp和相对于第二方向的旋转角度θ:
Figure BDA0002816891010000087
Figure BDA0002816891010000091
其中,β为待检测面的切线面与第一方向的夹角,d1为初始状态下所述反射镜与所述待检测面在第一方向上的距离。
如图2所示,在该实施例中,所述摄像系统还包括:
反射镜移动模块,用于根据所述位置计算模块的计算结果调整所述反射镜的位置和/或旋转角度,从而可以实现所述反射镜的自动位置调整。
所述反射镜移动模块可以包括驱动电机,驱动所述反射镜根据所述位置计算模块的计算结果平移和/或旋转。具体地,在所述反射镜需要平移和旋转两种动作时,可以分别采用一个平移驱动电机和一个旋转驱动电机来驱动反射镜调整至需要的位置。
进一步地,所述摄像系统还包括:
待检测物分析模块,用于加载待检测物的模型数据库,分析待检测物的待检测面的特征;所述待检测物的模型数据库可以包括所述待检测物的形状数据,例如包括的待检测面的数量、各个待检测面相对于旋转中心的距离、各个待检测面之间的夹角等,在所述待检测物有弧面时,所述模型数据库海报框待检测物的弧面特征和弧面角度,可以用于后续位置计算模块计算反射镜的平移距离和/或旋转角度;
载物台旋转模块,用于根据所述待检测物的待检测面的特征控制所述载物台旋转,具体地,需要根据待检测面与初始拍摄面之间的角度以及与摄像机的相对位置计算所述载物台旋转的角度,然后控制所述载物台旋转。所述载物台旋转模块可以采用驱动电机实现。
如图5所示,本发明实施例还提供一种光学检测系统,包括所述的摄像系统,所述光学检测系统还包括:
瑕疵检测模块,用于根据所述摄像机的拍摄图像检测所述待检测物的待检测面的表面瑕疵。
由于本发明通过设置可移动和/或旋转的反射镜,摄像机可以通过反射镜获取待检测物的图像,并且通过控制反射镜与待检测物/摄像机之间的距离,待检测物在反射镜中成像至摄像机之间的距离维持固定,从而在摄像机定焦的情形下,通过调整反射镜的位置,可以获取不同待检测面的清晰图像。在摄像机获取到待检测面的清晰图像后,所述瑕疵检测模块可以对所述清晰图像进行分析,实现表面凹坑、划痕等瑕疵检测。所述瑕疵检测模块的检测方法可以采用现有技术中的瑕疵检测方法,例如基于机器视觉学习模型来进行检测。由于本发明中的瑕疵检测模块所基于的检测图像更为清晰,因此,可以实现更准确的检测。并且,所述光学检测系统不仅可以应用于平面的检测,还可以用于弧面的检测,应用范围更广泛。
如图6所示,本发明实施例还提供一种摄像方法,采用所述的摄像系统,所述方法包括如下步骤:
S100:获取待检测物的待检测面的位置信息,此位置信息可以是根据待检测物的模型数据库中待检测物的形状数据得到的;
S200:根据所述待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜的移动距离和/或旋转角度;
S300:根据所述位置计算模块的计算结果调整所述反射镜的位置和/或旋转角度;
S400:采集所述摄像机的拍摄图像。
因此,本发明通过设置可移动和/或旋转的反射镜,摄像机可以通过反射镜获取待检测物的图像,并且通过步骤S200和S300控制反射镜移动或旋转,调整反射镜与待检测物/摄像机之间的距离,待检测物在反射镜中成像至摄像机之间的距离维持固定,从而在摄像机定焦的情形下,通过调整反射镜的位置,可以获取不同待检测面的清晰图像。
在该实施例中,所述步骤S100:获取待检测物的待检测面的位置信息之前,还包括如下步骤:
加载待检测物的模型数据库,分析待检测物的待检测面的特征;所述待检测物的模型数据库可以包括所述待检测物的形状数据,例如包括的待检测面的数量、各个待检测面相对于旋转中心的距离、各个待检测面之间的夹角等,在所述待检测物有弧面时,所述模型数据库海报框待检测物的弧面特征和弧面角度,可以用于分析出待检测面与相机的距离,以及后续步骤S200计算反射镜的平移距离和/或旋转角度;
根据所述待检测物的待检测面的特征控制所述载物台旋转,转动待检测物至待检测面。
在该实施例中,所述步骤S200:根据所述待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜的移动距离和/或旋转角度,包括如下步骤:
判断所述待检测面是否为弧面;
如果所述待检测面为平面,则根据待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜沿第一方向的移动距离;
如果所述待检测面为弧面,则根据待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜的沿第一方向的移动距离和相对于第二方向的旋转角度,所述第一方向为所述摄像机的拍摄方向,所述第二方向垂直于所述第一方向。
本发明实施例还提供一种光学检测方法,包括所述摄像方法,在所述步骤S400:采集所述摄像机的拍摄图像之后,还包括根据所述摄像机的拍摄图像检测所述待检测物的待检测面的表面瑕疵。如图7所示,为本发明实施例提供的一种光学检测方法的流程图。所述光学检测方法包括如下步骤:
加载待检测物的模型数据库的内容,待检测物分析模块分析出待检测物的待检测面与摄像机的距离、待检测物的弧面特征及弧面角度、待检测物的待检测面信息;
旋转载物台,转动待检测物至待检测面;
选择待检测面中的待检测区域;
判断待检测区域是否为弧面;
如果待检测区域是平面,则位置计算模块根据当前待检测面的位置计算反射镜的移动量,反射镜移动模块根据移动量平移反射镜;
如果待检测区域是弧面,则位置计算模块根据当前待检测面的位置计算反射镜的运动量和旋转角度,反射镜移动模块根据移动量平移反射镜并且旋转反射镜;
摄像机对待检测区域进行拍摄;
判断待检测面是否已经拍摄完成;
如果是,则判断待检测物是否已经拍摄完成;
瑕疵检测模块根据所述摄像机的拍摄图像检测所述待检测物的待检测面的表面瑕疵。
因此,本发明通过设置可移动和/或旋转的反射镜,摄像机可以通过反射镜获取待检测物的图像,并且通过控制反射镜移动或旋转,调整反射镜与待检测物/摄像机之间的距离,待检测物在反射镜中成像至摄像机之间的距离维持固定,从而在摄像机定焦的情形下,通过调整反射镜的位置,可以获取不同待检测面的清晰图像。瑕疵检测模块对待检测物的瑕疵进行检测时,基于更清晰的图像,可以实现更准确的瑕疵检测。并且,所述光学检测方法不仅可以应用于平面的检测,还可以用于弧面的检测,应用范围更广泛。
本发明实施例还提供一种摄像设备,包括处理器;存储器,其中存储有所述处理器的可执行指令;其中,所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行所述的摄像方法的步骤。
所属技术领域的技术人员能够理解,本发明的各个方面可以实现为系统、方法或程序产品。因此,本发明的各个方面可以具体实现为以下形式,即:完全的硬件实施方式、完全的软件实施方式(包括固件、微代码等),或硬件和软件方面结合的实施方式,这里可以统称为“电路”、“模块”或“平台”。
下面参照图8来描述根据本发明的这种实施方式的电子设备600。图8显示的电子设备600仅仅是一个示例,不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图8所示,电子设备600以通用计算设备的形式表现。电子设备600的组件可以包括但不限于:至少一个处理单元610、至少一个存储单元620、连接不同系统组件(包括存储单元620和处理单元610)的总线630、显示单元640等。
其中,所述存储单元存储有程序代码,所述程序代码可以被所述处理单元610执行,使得所述处理单元610执行本说明书上述摄像方法部分中描述的根据本发明各种示例性实施方式的步骤。例如,所述处理单元610可以执行如图6中所示的步骤。
所述存储单元620可以包括易失性存储单元形式的可读介质,例如随机存取存储单元(RAM)6201和/或高速缓存存储单元6202,还可以进一步包括只读存储单元(ROM)6203。
所述存储单元620还可以包括具有一组(至少一个)程序模块6205的程序/实用工具6204,这样的程序模块6205包括但不限于:操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据,这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。
总线630可以为表示几类总线结构中的一种或多种,包括存储单元总线或者存储单元控制器、外围总线、图形加速端口、处理单元或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。
电子设备600也可以与一个或多个外部设备700(例如键盘、指向设备、蓝牙设备等)通信,还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备600交互的设备通信,和/或与使得该电子设备600能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口650进行。并且,电子设备600还可以通过网络适配器660与一个或者多个网络(例如局域网(LAN),广域网(WAN)和/或公共网络,例如因特网)通信。网络适配器660可以通过总线630与电子设备600的其它模块通信。应当明白,尽管图中未示出,可以结合电子设备600使用其它硬件和/或软件模块,包括但不限于:微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。
本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质,用于存储程序,所述程序被处理器执行时实现所述的摄像方法的步骤。在一些可能的实施方式中,本发明的各个方面还可以实现为一种程序产品的形式,其包括程序代码,当所述程序产品在终端设备上执行时,所述程序代码用于使所述终端设备执行本说明书上述摄像方法部分中描述的根据本发明各种示例性实施方式的步骤。
参考图9所示,描述了根据本发明的实施方式的用于实现上述方法的程序产品800,其可以采用便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)并包括程序代码,并可以在终端设备,例如个人电脑上执行。然而,本发明的程序产品不限于此,在本文件中,可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。
所述程序产品可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。
所述计算机可读存储介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读存储介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质,该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。可读存储介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于无线、有线、光缆、RF等等,或者上述的任意合适的组合。
可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明操作的程序代码,所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、C++等,还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中,远程计算设备可以通过任意种类的网络,包括局域网(LAN)或广域网(WAN),连接到用户计算设备,或者,可以连接到外部计算设备(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
综上所述,通过采用本发明的摄像系统、光学检测系统、摄像方法、设备及存储介质,通过设置可移动和/或旋转的反射镜,摄像机可以通过反射镜获取待检测物的图像,并且通过控制反射镜与待检测物/摄像机之间的距离,待检测物在反射镜中成像至摄像机之间的距离维持固定,从而在摄像机定焦的情形下,通过调整反射镜的位置,可以获取不同待检测面的清晰图像。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明,不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干简单推演或替换,都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims (15)

1.一种摄像系统,其特征在于,用于光学检测,所述系统包括:
摄像机;
载物台,用于承载待检测物;
反射镜,可移动和/或旋转;
其中,所述载物台设置于所述摄像机和所述反射镜之间,所述摄像机用于采集所述反射镜反射的光线以获取所述待检测物的待检测面的图像。
2.根据权利要求1所述的摄像系统,其特征在于,还包括:
位置计算模块,用于根据待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜的移动距离和/或旋转角度。
3.根据权利要求2所述的摄像系统,其特征在于,如果所述待检测面为平面,则所述位置计算模块根据待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜沿第一方向的移动距离,所述第一方向为所述摄像机的拍摄方向。
4.根据权利要求3所述的摄像系统,其特征在于,如果所述待检测面为平面,则所述位置计算模块采用如下公式计算所述反射镜沿第一方向的移动距离Δp:
Figure FDA0002816890000000011
其中,A为当前所述待检测物的旋转中心与所述待检测面在第一方向上的距离,B为初始状态下所述待检测物的旋转中心与所述待检测面在第一方向上的距离。
5.根据权利要求2所述的摄像系统,其特征在于,如果所述待检测面为弧面,则所述位置计算模块根据待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜沿第一方向的移动距离和相对于第二方向的旋转角度,所述第一方向为所述摄像机的拍摄方向,所述第二方向垂直于所述第一方向。
6.根据权利要求5所述的摄像系统,其特征在于,如果所述待检测面为弧面,则所述位置计算模块采用如下公式计算所述反射镜的沿第一方向的移动距离Δp和相对于第二方向的旋转角度θ:
Figure FDA0002816890000000021
Figure FDA0002816890000000022
其中,β为待检测面的切线面与第一方向的夹角,d1为初始状态下所述反射镜与所述待检测面在第一方向上的距离。
7.根据权利要求2所述的摄像系统,其特征在于,还包括:
反射镜移动模块,用于根据所述位置计算模块的计算结果调整所述反射镜的位置和/或旋转角度。
8.根据权利要求1所述的摄像系统,其特征在于,还包括:
待检测物分析模块,用于加载待检测物的模型数据库,分析待检测物的待检测面的特征;
载物台旋转模块,用于根据所述待检测物的待检测面的特征控制所述载物台旋转。
9.根据权利要求1所述的摄像系统,其特征在于,还包括:
光源模组,用于对待检测物照明。
10.一种光学检测系统,其特征在于,包括权利要求1至9中任一项所述的摄像系统,所述光学检测系统还包括:
瑕疵检测模块,用于根据所述摄像机的拍摄图像检测所述待检测物的待检测面的表面瑕疵。
11.一种摄像方法,其特征在于,采用权利要求1至9中任一项所述的摄像系统,所述方法包括如下步骤:
获取待检测物的待检测面的位置信息;
根据所述待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜的移动距离和/或旋转角度;
根据所述位置计算模块的计算结果调整所述反射镜的位置和/或旋转角度;
采集所述摄像机的拍摄图像。
12.根据权利要求11所述的摄像方法,其特征在于,所述获取待检测物的待检测面的位置信息之前,还包括如下步骤:
加载待检测物的模型数据库,分析待检测物的待检测面的特征;
根据所述待检测物的待检测面的特征控制所述载物台旋转。
13.根据权利要求11所述的摄像方法,其特征在于,根据所述待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜的移动距离和/或旋转角度,包括如下步骤:
判断所述待检测面是否为弧面;
如果所述待检测面为平面,则根据待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜沿第一方向的移动距离;
如果所述待检测面为弧面,则根据待检测物的待检测面的位置计算所述反射镜的沿第一方向的移动距离和相对于第二方向的旋转角度,所述第一方向为所述摄像机的拍摄方向,所述第二方向垂直于所述第一方向。
14.一种摄像设备,其特征在于,包括:
处理器;
存储器,其中存储有所述处理器的可执行指令;
其中,所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行权利要求11至13中任一项所述的摄像方法的步骤。
15.一种计算机可读存储介质,用于存储程序,其特征在于,所述程序被处理器执行时实现权利要求11至13中任一项所述的摄像方法的步骤。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115791804B (zh) * 2022-12-20 2023-06-13 中国航发贵州黎阳航空动力有限公司 压气机叶片条纹缺陷检测方法

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55106425A (en) * 1979-02-09 1980-08-15 Ricoh Co Ltd Single-lens reflex camera
US4283130A (en) * 1980-02-08 1981-08-11 Lawson John R Sequencing camera
JPS62161109A (ja) * 1986-01-10 1987-07-17 Canon Inc 焦点検出装置
JPH08201038A (ja) * 1995-01-27 1996-08-09 Nec Corp 物体形状測定方法及び物体形状測定装置
JP2003106827A (ja) * 2001-09-27 2003-04-09 Kyocera Mita Corp 外観検査装置
CN1550864A (zh) * 2003-02-12 2004-12-01 ������������ʽ���� 摄像装置和透镜装置
JP2007082005A (ja) * 2005-09-15 2007-03-29 Ricoh Co Ltd 画像読み取り装置、画像読み取り方法
JP2008232815A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Olympus Corp レンズ系の偏心測定装置
JP2010107249A (ja) * 2008-10-28 2010-05-13 Saki Corp:Kk 被検査体の検査装置
CN103673880A (zh) * 2013-12-06 2014-03-26 上海新跃仪表厂 基于复合反射镜的微小孔内壁视觉检测系统及其检测方法
CN106442327A (zh) * 2016-12-08 2017-02-22 苏州德创测控科技有限公司 一种用于物体侧面图像信息检测的光学系统
CN108918528A (zh) * 2018-06-01 2018-11-30 深圳回收宝科技有限公司 一种终端检测方法、装置及存储介质
US20200285034A1 (en) * 2019-03-08 2020-09-10 Toshiba Memory Corporation Image acquisition apparatus and image acquisition method

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103837545B (zh) * 2014-03-14 2016-05-25 华中科技大学 一种镜片成像装置及方法
JP2017227532A (ja) * 2016-06-22 2017-12-28 株式会社ディスコ 蛍光検出装置

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55106425A (en) * 1979-02-09 1980-08-15 Ricoh Co Ltd Single-lens reflex camera
US4283130A (en) * 1980-02-08 1981-08-11 Lawson John R Sequencing camera
JPS62161109A (ja) * 1986-01-10 1987-07-17 Canon Inc 焦点検出装置
JPH08201038A (ja) * 1995-01-27 1996-08-09 Nec Corp 物体形状測定方法及び物体形状測定装置
JP2003106827A (ja) * 2001-09-27 2003-04-09 Kyocera Mita Corp 外観検査装置
CN1550864A (zh) * 2003-02-12 2004-12-01 ������������ʽ���� 摄像装置和透镜装置
JP2007082005A (ja) * 2005-09-15 2007-03-29 Ricoh Co Ltd 画像読み取り装置、画像読み取り方法
JP2008232815A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Olympus Corp レンズ系の偏心測定装置
JP2010107249A (ja) * 2008-10-28 2010-05-13 Saki Corp:Kk 被検査体の検査装置
CN103673880A (zh) * 2013-12-06 2014-03-26 上海新跃仪表厂 基于复合反射镜的微小孔内壁视觉检测系统及其检测方法
CN106442327A (zh) * 2016-12-08 2017-02-22 苏州德创测控科技有限公司 一种用于物体侧面图像信息检测的光学系统
CN108918528A (zh) * 2018-06-01 2018-11-30 深圳回收宝科技有限公司 一种终端检测方法、装置及存储介质
US20200285034A1 (en) * 2019-03-08 2020-09-10 Toshiba Memory Corporation Image acquisition apparatus and image acquisition method

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