CN112577403A - 一种电容标定效果的评估方法及系统 - Google Patents

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Abstract

本申请实施例属于激光切割控制技术领域,涉及一种电容标定效果的评估方法及系统。本申请提供的技术方案包括如下步骤:对标定点进行采样,获取标定点距离和频率的采样数据;对采样数据进行处理,获取采样稳定度的评估值;构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值;根据所述采样稳定度的评估值和曲线平滑度的评估值输出标定效果。根据采样稳定度的评估值和曲线平滑度的评估值输出标定效果,为操作人员提供电容标定过程所输出的标定效果的反馈,能够直观地展示标定效果,可根据最终输出的标定效果确定是否需要重新标定或者检查接线以及机床电磁干扰情况,便于做后续的决定与操作。

Description

一种电容标定效果的评估方法及系统
技术领域
本申请涉及激光切割控制技术领域,更具体的说,特别涉及一种电容标定效果的评估方法及系统。
背景技术
在激光切割数控机床中,通常会用到电容传感器,用于检测切割喷嘴到板材工件的距离,使用电容传感器中重要的一步是对其进行电容标定,即记录一系列距离对应的电容值,传统的电容标定结束后只给出标定是否完成的信号,然而在标定过程中可能存在干扰,如板材有移动、接地不良、机床电磁干扰大等问题,导致电容标定存在异常,此时若开启Z轴的随动控制,则容易造成异常运动。
发明内容
本发明的目的在于提供一种电容标定效果的评估方法及系统,根据采样稳定度的评估值和曲线平滑度的评估值输出标定效果,为操作人员提供电容标定过程所输出的标定效果的反馈,能够直观地展示标定效果,可根据最终输出的标定效果确定是否需要重新标定或者检查接线以及机床电磁干扰情况,便于做后续的决定与操作。
为了解决以上提出的问题,本发明实施例提供了如下所述的技术方案:
一种电容标定效果的评估方法,包括如下步骤:
对标定点进行采样,获取标定点距离和频率的采样数据;
对采样数据进行处理,获取采样稳定度的评估值;
构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值;
根据所述采样稳定度的评估值和曲线平滑度的评估值输出标定效果。
进一步地,所述对标定点进行采样,获取标定点距离和频率的采样数据的步骤包括:
识别到标定请求后,开启捕获程序;
对标定点进行捕获,获取标定点的采样数据,并将采样数据存入临时数组中;
判断临时数组中所储存的采样数据的数量是否达到临时数组所设定的存储上限,所述存储上限为标定点的数量;
若未达到存储上限,则返回所述识别到标定请求后,开启捕获程序的步骤,进行下一标定点的捕获;
若达到存储上限,对临时数组中的采样数据进行标准差运算,得到标定点对应的标准差值,并将标准差值储存于标准差数组中。
进一步地,所述对采样数据进行处理,获取采样稳定度的评估值的步骤包括:
对标准差数组中的标准差值进行评估,获取评估等级,其中,每个评估等级设置有不同的权重;
根据标准差值的评估等级进行加权求和,获取采样稳定度的评估值。
进一步地,所述构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值的步骤包括:
获取相邻标定点所构成的斜率;
获取每段斜率之间的差值;
对斜率数组中的斜率进行单调性检测,获取斜率单调性的评估值,其中,每个斜率单调性的评估值设置有不同的权重;
对斜率差值数组中的斜率差值进行单调性检测,获取斜率差值单调性的评估值,其中,每个斜率差值单调性的评估值设置有不同的权重;
根据斜率单调性的评估值和斜率差值单调性的评估值进行加权求和,获取曲线平滑度评估值。
进一步地,所述对斜率数组中的斜率进行单调性检测,获取斜率单调性的评估值的步骤包括:
响应单调性检测的执行命令,将第一个斜率作为当前斜率最大值;
将当前斜率最大值与当前索引的斜率值做比对;
若当前斜率最大值大于当前索引的斜率值,则非单调值个数加一,否则将当前索引的斜率值覆盖当前斜率最大值;
索引加一,判断索引是否结束;
若索引结束,则输出非单调值个数,否则返回所述将当前斜率最大值与当前索引的斜率值做比对的步骤。
进一步地,所述对斜率差值数组中的斜率差值进行单调性检测,获取斜率差值单调性的评估值的步骤包括:
响应单调性检测的执行命令,将第一个斜率差值作为当前斜率差值最大值;
将当前斜率差值最大值与当前索引的斜率差值做比对;
若当前斜率差值最大值大于当前索引的斜率差值,则非单调值个数加一,否则将当前索引的斜率差值覆盖当前斜率差值最大值;
索引加一,判断索引是否结束;
若索引结束,则输出非单调值个数,否则返回所述将当前斜率差值最大值与当前索引的斜率差值做比对的步骤。
进一步地,所述获取相邻标定点所构成的斜率的步骤包括:
根据slope[x]=(dx-dx-1)/(fx-fx-1),计算相邻标标定点所构成斜率;
获取各段斜率并储存至斜率数组中。
进一步地,所述获取每段斜率之间的差值的步骤包括:
根据dslope[x]=slope[x]-slope[x-1],计算每段斜率之间的差值;获取每段斜率之间的差值并储存至斜率差值数组中。
进一步地,所述对标定点进行采样,获取标定点距离和频率的采样数据的步骤包括:
控制激光切割头朝着加工工件表面移动,并等待碰撞信号;
检测到碰撞信号后控制激光切割头远离加工工件表面移动,并等待碰撞信号消失;
在控制激光切割头远离加工工件表面移动的过程中设置若干标定点,记录每一标定点的激光切割头的喷嘴与加工工件表面的距离。
为了解决以上提出的技术问题,本发明实施例还提供了一种电容标定效果的评估系统,采用了如下所述的技术方案:
一种电容标定效果的评估系统,包括:
采样模块,用于对标定点进行采样,获取标定点距离和频率的采样数据;
处理模块,用于对采样数据进行处理,获取采样稳定度的评估值;
构建模块,用于构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值;
评估模块,用于根据所述采样稳定度的评估值和曲线平滑度的评估值输出标定效果。
与现有技术相比,本发明实施例主要有以下有益效果:
一种电容标定效果的评估方法及系统,在标定程序中获取标定点的采样数据,根据采样数据获取采样稳定度的评估值,再根据采样数据构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值,最终根据采样稳定度的评估值和曲线平滑度的评估值输出标定效果。为操作人员提供电容标定过程所输出的标定效果的反馈,能够直观地展示标定效果,避免了电容标定存在异常的情况下,开启Z轴的随动控制造成的异常运动,可根据最终输出的标定效果确定是否需要重新标定或者检查接线以及机床电磁干扰情况,便于做后续的决定与操作。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一个简单介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例中电容标定效果的评估方法的流程图;
图2为本发明实施例中获取采样数据的流程图;
图3为本发明实施例中获取采样稳定度的评估值的流程图;
图4为本发明实施例中获取曲线平滑度的评估值的流程图;
图5为本发明实施例中频率与距离曲线的示意图;
图6为本发明实施例中电容标定效果的评估系统的结构框图。
附图标记说明:
100、采样模块;200、处理模块;300、构建模块;400、评估模块。
具体实施方式
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本发明。本发明的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形,意图在于覆盖不排它的包含。本发明的说明书和权利要求书或上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象,而不是用于描述特定顺序。
在本文中提及“实施例”意味着,结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例,也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是,本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
本申请实施例提供一种电容标定效果的评估方法,包括如下步骤:
对标定点进行采样,获取标定点距离和频率的采样数据;
对采样数据进行处理,获取采样稳定度的评估值;
构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值;
根据所述采样稳定度的评估值和曲线平滑度的评估值输出标定效果。
基于上述的电容标定效果的评估方法,本申请实施例还提供一种电容标定效果的评估系统,包括:
采样模块,用于对标定点进行采样,获取标定点距离和频率的采样数据;
处理模块,用于对采样数据进行处理,获取采样稳定度的评估值;
构建模块,用于构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值;
评估模块,用于根据所述采样稳定度的评估值和曲线平滑度的评估值输出标定效果。
为了使本领域技术人员更好地理解本发明方案,下面将参照相关附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
实施例
一种电容标定效果的评估方法,如图1所示,包括如下步骤:
S100:对标定点进行采样,获取标定点距离和频率的采样数据;
S200:对采样数据进行处理,获取采样稳定度的评估值;
S300:构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值;
S400:根据所述采样稳定度的评估值和曲线平滑度的评估值输出标定效果。
本申请实施例提供的电容标定效果的评估方法,在标定程序中获取标定点的采样数据,根据采样数据获取采样稳定度的评估值,再根据采样数据构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值,最终根据采样稳定度的评估值和曲线平滑度的评估值输出标定效果。为操作人员提供电容标定过程所输出的标定效果的反馈,能够直观地展示标定效果,避免了电容标定存在异常的情况下,开启Z轴的随动控制造成的异常运动,可根据最终输出的标定效果确定是否需要重新标定或者检查接线以及机床电磁干扰情况,便于做后续的决定与操作。
如图2所示,所述S100,对标定点进行采样,获取标定点距离和频率的采样数据的步骤包括:
S110:识别到标定请求后,开启捕获程序;
S120:对标定点进行捕获,获取标定点的采样数据,并将采样数据存入临时数组中;
S130:判断临时数组中所储存的采样数据的数量是否达到临时数组所设定的存储上限,所述存储上限为标定点的数量;
S140:若未达到存储上限,则返回所述识别到标定请求后,开启捕获程序的步骤,进行下一标定点的捕获;
S150:若达到存储上限,则对临时数组中的采样数据进行标准差运算,得到标定点对应的标准差值,并将标准差值储存于标准差数组中。
具体的,当标定程序运行到收到标定请求时,首先开启捕获功能,对标定点进行捕获,获取标定点的采样数据,然后等待捕获完成,当捕获完成后,在捕获中断服务程序中会给出捕获完成的消息,获取到捕获完成的消息后,将捕获的采样数据存储到临时数组中。
一次捕获程序中捕获的采样数据存储到临时数组中后,判断临时数组中所储存的采样数据的数量是否达到临时数组所设定的存储上限,所述存储上限为标定点的数量,本发明实施例中,标定点设置为16个,即临时数组所设定的存储上限为16。
判断临时数组中所储存的采样数据的数量是否达到临时数组所设定的存储上限,若未达到存储上限,则返回S110步骤,进行下一标定点的捕获,即临时数组未满则重复捕获及将采样数据存入临时数组的过程,若达到存储上限,则临时数组满,对临时数组中的采样数据进行求标准差运算,得到的值存储于标准差数组中,本发明实施例中,标准差数组的长度为16,即分别存储16个标定点的标准差。
如图3所示,所述S200,对采样数据进行处理,获取采样稳定度的评估值的步骤包括:
S210:对标准差数组中的标准差值进行评估,获取评估等级,其中,每个评估等级设置有不同的权重;
S220:根据标准差值的评估等级进行加权求和,获取采样稳定度的评估值。
具体的,完成标定后,对标准差数组中的标准差值进行评估,根据离散程度获取评估等级,本发明实施例中,评估等级设置为四个等级,分别为“好”、“良”、“差”、“很差”,每个等级配置有不同的权重,如“好”级权重为“1”,“良”级为“5”,“差”级为“10”,“非常差”级为“20”。
根据评估等级对每个标准差值进行加权求和,即得到采样稳定度的评估值,也分成四个等级,分别为“好”、“良”、“差”、“很差”。
如图4和图5所示,所述S300,构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值的步骤包括:
S310:获取相邻标定点所构成的斜率;
S320:获取每段斜率之间的差值;
S330:对斜率数组中的斜率进行单调性检测,获取斜率单调性的评估值,其中,每个斜率单调性的评估值设置有不同的权重;
S340:对斜率差值数组中的斜率差值进行单调性检测,获取斜率差值单调性的评估值,其中,每个斜率差值单调性的评估值设置有不同的权重;
S350:根据斜率数组单调性的评估值和斜率差值数组单调性的评估值进行加权求和,获取曲线平滑度评估值。
所述S310,获取相邻标定点所构成的斜率的步骤包括:
根据slope[x]=(dx-dx-1)/(fx-fx-1),计算相邻标标定点所构成斜率;
获取各段斜率并储存至斜率数组中。
所述S320,获取每段斜率之间的差值的步骤包括:
根据dslope[x]=slope[x]-slope[x-1],计算每段斜率之间的差值;获取每段斜率之间的差值并储存至斜率差值数组中。
具体的,根据捕获的采样数据,构建标定点距离和频率曲线,根据slope[x]=(dx-dx-1)/(fx-fx-1)计算每段斜率,如slope[1]=(d1-d0)/(f1-f0),以此类推,并存储于斜率数组中,存储满15个标定点的斜率;然后根据dslope[x]=slope[x]-slope[x-1],对斜率数组中的斜率计算每段斜率之间的差值,如dslope[2]=slope[2]-slope[1],以此类推,并存储于斜率差值数组中,存储满14个斜率差值。
所述S300,构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值的步骤中,所述距离和频率曲线为激光切割头到加工工件的距离与电容传感器所测的频率的曲线。
所述频率为震荡频率,通过电容传感器检测激光切割头与加工工件表面构成的电容值,并将电容值转化为震荡频率,所述距离为激光切割头与加工工件的表面的距离,根据震荡频率获取。
所述S330,对斜率数组中的斜率进行单调性检测,获取斜率单调性的评估值的步骤包括:
响应单调性检测的执行命令,将第一个斜率作为当前斜率最大值;
将当前斜率最大值与当前索引的斜率值做比对;
若当前斜率最大值大于当前索引的斜率值,则非单调值个数加一,否则将当前索引的斜率值覆盖当前斜率最大值;
索引加一,判断索引是否结束;
若索引结束,则输出非单调值个数,否则返回所述将当前斜率最大值与当前索引的斜率值做比对的步骤。
根据电容公式,标定点的斜率是单调的则平滑度越好,获取斜率数组中斜率的非单调值个数,非单调值的个数越多,对应的曲线平滑度越差。
所述S340,对斜率差值数组中的斜率差值进行单调性检测,获取斜率差值单调性的评估值的步骤包括:
响应单调性检测的执行命令,将第一个斜率差值作为当前斜率差值最大值;
将当前斜率差值最大值与当前索引的斜率差值做比对;
若当前斜率差值最大值大于当前索引的斜率差值,则非单调值个数加一,否则将当前索引的斜率差值覆盖当前斜率差值最大值;
索引加一,判断索引是否结束;
若索引结束,则输出非单调值个数,否则返回所述将当前斜率差值最大值与当前索引的斜率差值做比对的步骤。
斜率差值数组的单调性检测过程与斜率数组的单调性检测过程相同,最后也获取斜率差值数组的非单调值的个数,非单调值的个数越多,对应的曲线平滑度越差。
所述S350,根据斜率数组单调性的评估值和斜率差值数组单调性的评估值进行加权求和,获取曲线平滑度评估值的步骤中,对两组数据得出的非单调值个数进行加权求和,最终得到曲线平滑度评估值,所述评估值越小,对应的平滑度越好,同样输出“好”、“良”、“差”、“很差”四个等级。
根据采样稳定度的评估值及曲线平滑度的评估值设置不同的权重,最终输出标定过程的标定效果。
所述S100,对标定点进行采样,获取标定点距离和频率的采样数据的步骤还包括:
控制激光切割头朝着加工工件表面移动,并等待碰撞信号;
检测到碰撞信号后控制激光切割头远离加工工件表面移动,并等待碰撞信号消失;
在控制激光切割头远离加工工件表面移动的过程中设置若干标定点,记录每一标定点的激光切割头的喷嘴与加工工件表面的距离。
具体的,首先数控单元控制高度调整轴缓慢向下移动等待碰撞信号,当接收到碰撞信号后缓慢向上移动等待碰撞信号消失,然后根据设置的16个标定点,数控单元将高度调整轴每移动到一个标定点处,即向信号调理器发送标定请求信号,信号调理器记录了该标定点的数值(激光切割头的喷嘴与加工工件表面的距离)后,向数控单元发送标定确认信号,数控单元即控制高度调整轴向下一个标定点移动,待标定结束后信号调理器对标定的数据进行校验。
本发明实施例提供的电容标定效果的评估方法,在标定程序中获取标定点的采样数据,对标准差数组中的标准差值进行评估,获取评估等级,根据标准差值的评估等级进行加权求和,获取采样稳定度的评估值,然后构建标定点距离和频率曲线,对斜率数组及斜率差值数组进行单调性检测,根据斜率数组单调性的评估值和斜率差值数组单调性的评估值进行加权求和,获取曲线平滑度评估值,最终根据采样稳定度的评估值和曲线平滑度的评估值输出标定效果。为操作人员提供电容标定过程所输出的标定效果的反馈,能够直观地展示标定效果,避免了电容标定存在异常的情况下,开启Z轴的随动控制造成的异常运动,可根据最终输出的标定效果确定是否需要重新标定或者检查接线以及机床电磁干扰情况,便于做后续的决定与操作。
为了解决以上提出的技术问题,本发明实施例还提供了一种电容标定效果的评估系统,采用了如下所述的技术方案:
一种电容标定效果的评估系统,如图6所示,包括:
采样模块100,用于对标定点进行采样,获取标定点距离和频率的采样数据;
处理模块200,用于对采样数据进行处理,获取采样稳定度的评估值;
构建模块300,用于构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值;
评估模块400,用于根据所述采样稳定度的评估值和曲线平滑度的评估值输出标定效果。
本申请实施例提供的电容标定效果的评估系统,在标定程序中获取标定点的采样数据,根据采样数据获取采样稳定度的评估值,再根据采样数据构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值,最终根据采样稳定度的评估值和曲线平滑度的评估值输出标定效果。为操作人员提供电容标定过程所输出的标定效果的反馈,能够直观地展示标定效果,避免了电容标定存在异常的情况下,开启Z轴的随动控制造成的异常运动,可根据最终输出的标定效果确定是否需要重新标定或者检查接线以及机床电磁干扰情况,便于做后续的决定与操作。
显然,以上所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例,附图中给了本发明的较佳实施例,但并不限制本发明的专利范围。本发明可以以许多不同的形式来实现,相反地,提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,对于本领域的技术人员而言,其依然可以对前述各具体实施方式所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等效替换。凡是利用本发明说明书及附图内容所做的等效结构,直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理在本发明专利保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电容标定效果的评估方法,其特征在于,包括如下步骤:
对标定点进行采样,获取标定点距离和频率的采样数据;
对采样数据进行处理,获取采样稳定度的评估值;
构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值;
根据所述采样稳定度的评估值和曲线平滑度的评估值输出标定效果。
2.根据权利要求1所述的电容标定效果的评估方法,其特征在于,所述对标定点进行采样,获取标定点距离和频率的采样数据的步骤包括:
识别到标定请求后,开启捕获程序;
对标定点进行捕获,获取标定点的采样数据,并将采样数据存入临时数组中;
判断临时数组中所储存的采样数据的数量是否达到临时数组所设定的存储上限,所述存储上限为标定点的数量;
若未达到存储上限,则返回所述识别到标定请求后,开启捕获程序的步骤,进行下一标定点的捕获;
若达到存储上限,对临时数组中的采样数据进行标准差运算,得到标定点对应的标准差值,并将标准差值储存于标准差数组中。
3.根据权利要求2所述的电容标定效果的评估方法,其特征在于,所述对采样数据进行处理,获取采样稳定度的评估值的步骤包括:
对标准差数组中的标准差值进行评估,获取评估等级,其中,每个评估等级设置有不同的权重;
根据标准差值的评估等级进行加权求和,获取采样稳定度的评估值。
4.根据权利要求1所述的电容标定效果的评估方法,其特征在于,所述构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值的步骤包括:
获取相邻标定点所构成的斜率;
获取每段斜率之间的差值;
对斜率数组中的斜率进行单调性检测,获取斜率单调性的评估值,其中,每个斜率单调性的评估值设置有不同的权重;
对斜率差值数组中的斜率差值进行单调性检测,获取斜率差值单调性的评估值,其中,每个斜率差值单调性的评估值设置有不同的权重;
根据斜率数组单调性的评估值和斜率差值数组单调性的评估值进行加权求和,获取曲线平滑度评估值。
5.根据权利要求4所述的电容标定效果的评估方法,其特征在于,所述对斜率数组中的斜率进行单调性检测,获取斜率单调性的评估值的步骤包括:
响应单调性检测的执行命令,将第一个斜率作为当前斜率最大值;
将当前斜率最大值与当前索引的斜率值做比对;
若当前斜率最大值大于当前索引的斜率值,则非单调值个数加一,否则将当前索引的斜率值覆盖当前斜率最大值;
索引加一,判断索引是否结束;
若索引结束,则输出非单调值个数,否则返回所述将当前斜率最大值与当前索引的斜率值做比对的步骤。
6.根据权利要求4所述的电容标定效果的评估方法,其特征在于,所述对斜率差值数组中的斜率差值进行单调性检测,获取斜率差值单调性的评估值的步骤包括:
响应单调性检测的执行命令,将第一个斜率差值作为当前斜率差值最大值;
将当前斜率差值最大值与当前索引的斜率差值做比对;
若当前斜率差值最大值大于当前索引的斜率差值,则非单调值个数加一,否则将当前索引的斜率差值覆盖当前斜率差值最大值;
索引加一,判断索引是否结束;
若索引结束,则输出非单调值个数,否则返回所述将当前斜率差值最大值与当前索引的斜率差值做比对的步骤。
7.根据权利要求4所述的电容标定效果的评估方法,其特征在于,所述获取相邻标定点所构成的斜率的步骤包括:
根据slope[x]=(dx-dx-1)/(fx-fx-1),计算相邻标标定点所构成斜率;
获取各段斜率并储存至斜率数组中。
8.根据权利要求4所述的电容标定效果的评估方法,其特征在于,所述获取每段斜率之间的差值的步骤包括:
根据dslope[x]=slope[x]-slope[x-1],计算每段斜率之间的差值;获取每段斜率之间的差值并储存至斜率差值数组中。
9.根据权利要求1所述的电容标定效果的评估方法,其特征在于,所述对标定点进行采样,获取标定点距离和频率的采样数据的步骤包括:
控制激光切割头朝着加工工件表面移动,并等待碰撞信号;
检测到碰撞信号后控制激光切割头远离加工工件表面移动,并等待碰撞信号消失;
在控制激光切割头远离加工工件表面移动的过程中设置若干标定点,记录每一标定点的激光切割头的喷嘴与加工工件表面的距离。
10.一种电容标定效果的评估系统,其特征在于,包括:
采样模块,用于对标定点进行采样,获取标定点距离和频率的采样数据;
处理模块,用于对采样数据进行处理,获取采样稳定度的评估值;
构建模块,用于构建标定点距离和频率曲线,获取曲线平滑度的评估值;
评估模块,用于根据所述采样稳定度的评估值和曲线平滑度的评估值输出标定效果。
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