CN112558816A - 触控基板测试装置及触控基板测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种触控基板测试装置及触控基板测试方法，该触控基板测试装置包括测试极板、电容测试模块、辅助电容、控制模块和测试电路，第一、第二、第三和第四测试极板以2*2方式矩阵排布，第一开关元件连接于第一测试极板和辅助电容之间，第二开关元件连接于第二测试极板和电容测试模块之间，第三开关元件连接于第三测试极板和电容测试模块之间，第四开关元件连接于第四测试极板和辅助电容之间，控制模块用于控制各开关元件的开关，电容测试模块包括电源和电容测量器件，电容测试模块分别连接于辅助电容和控制模块。在本触控基板测试装置和触控基板测试方法中，通过测试极板和电路的设置，可以快速、方便地测试触控基板是否存在不良。

Description

触控基板测试装置及触控基板测试方法

技术领域

本发明涉及触控显示技术领域，特别是涉及一种触控基板测试装置及触控基板测试方法。

背景技术

液晶显示面板具有画质好、体积小、重量轻、低驱动电压、低功耗、无辐射和制造成本相对较低的优点，在平板显示领域占主导地位。随着显示技术的不断进步，触控装置已经逐渐遍及人们的生活中。目前，一般采用氧化铟锡(Indium Tin Oxides，ITO)透明导电膜作为触控装置的触控电极。由于近年来液晶显示面板技术的成熟发展，将触控技术结合于液晶显示面板逐渐成为一种趋势。

在触控显示面板的生产过程中，需要检测是否有不良。目前，一般通过Cell点灯检知触控基板是否存在Open(即接触不良)，但这种检测方式无法检测触控基板是否存在Short(即短路)。

发明内容

本发明的目的在于提供一种可快速检测触控基板不良的触控基板测试装置及触控基板测试方法。

本发明提供一种触控基板测试装置，包括至少四个测试极板、电容测试模块、辅助电容、控制模块和测试电路，至少四个所述测试极板包括第一测试极板、第二测试极板、第三测试极板和第四测试极板，所述第一测试极板、所述第二测试极板、所述第三测试极板和所述第四测试极板以2*2方式矩阵排布，所述测试电路包括第一开关元件、第二开关元件、第三开关元件和第四开关元件，所述第一开关元件连接于所述第一测试极板和所述辅助电容之间，所述第二开关元件连接于所述第二测试极板和所述电容测试模块之间，所述第三开关元件连接于所述第三测试极板和所述电容测试模块之间，所述第四开关元件连接于所述第四测试极板和所述辅助电容之间，所述控制模块用于控制所述第一开关元件、所述第二开关元件、所述第三开关元件和所述第四开关元件的开与关，所述电容测试模块包括电源和电容测量器件，所述电容测试模块分别连接于所述辅助电容和所述控制模块。

在其中一实施例中，所述第一开关元件、所述第二开关元件、所述第三开关元件和所述第四开关元件为三极管，所述第一开关元件、所述第二开关元件、所述第三开关元件和所述第四开关元件的栅极连接于所述控制模块，所述控制模块用于分别向所述第一开关元件、所述第二开关元件、所述第三开关元件和所述第四开关元件的栅极输入控制信号以控制所述第一开关元件、所述第二开关元件、所述第三开关元件和所述第四开关元件的开与关，所述第一开关元件的源极和漏极分别连接于所述第一测试极板和所述辅助电容，所述第二开关元件的栅极和漏极分别连接于所述第二测试极板和所述电容测试模块，所述第三开关元件的栅极和漏极分别连接于所述第三测试极板和所述电容测试模块，所述第四开关元件的栅极和漏极分别连接于所述第四测试极板和所述辅助电容。

本发明还提供另一种触控基板测试装置，包括至少两个测试极板、电容测试模块、辅助电容，所述至少两个测试极板包括第一测试极板和第二测试极板，所述第一测试极板、所述第二测试极板相邻同行设置，所述电容测试模块包括电源和电容测量器件，所述第一测试极板连接于所述辅助电容，所述第二测试极板连接于所述电容测试模块，所述电容测试模块连接于所述辅助电容。

本发明还提供又一种触控基板测试装置，包括至少两个测试极板、电容测试模块、辅助电容，所述至少两个测试极板包括第一测试极板和第三测试极板，所述第一测试极板、所述第三测试极板相邻同列设置，所述电容测试模块包括电源和电容测量器件，所述第一测试极板连接于所述辅助电容，所述第三测试极板连接于所述电容测试模块，所述电容测试模块连接于所述辅助电容。

在其中一实施例中，所述辅助电容的电容值远大于待测触控基板的位于同一列的相邻两个触控电极之间的电容值。

在其中一实施例中，所述触控基板测试装置还包括升降机构、多个高度调节机构、多个距离检测装置和测试头，所述测试极板均设置在所述测试头上，多个所述高度调节机构分别连接于所述测试头，每个所述高度调节机构可分别带动所述测试头与之连接处高度调整，所述升降机构连接于所述各高度调节机构，所述距离检测装置用于检测所述测试极板与待测触控基板之间的距离，多个所述高度调节机构和多个所述距离检测装置对应设置。

在其中一实施例中，所述高度调节机构包括驱动部和连接部，所述驱动部固定连接于所述升降机构，所述连接部可相对所述驱动部上下移动地连接到所述驱动部，所述连接部连接于所述测试头上，且所述连接部包括球头万向连杆，所述球头万向连杆连接于所述测试头。

在其中一实施例中，所述距离检测装置包括发射器和接收器，所述发射器和/或所述接收器可沿水平方向作左右移动。

在其中一实施例中，所述触控基板测试装置还包括控制器，所述控制器用于控制升降机构下降，所述控制器用于当其中一个所述距离检测装置感应到所述测试头和所述待测触控基板之间的距离达到目标值时，控制所述升降机构停止运动，并控制未感应到测试头和待测触控基板之间的距离达到目标值的其他所述距离检测装置对应的所述高度调节机构动作带动所述测试头的相应位置进行高度调整，直到所有所述距离检测装置均感应到所述测试头和所述待测触控基板之间的距离达到目标值。

本发明还提供一种采用上述触控基板测试装置的触控基板测试方法，包括：

安装所述触控基板测试装置，使所述测试头上的所述测试极板和待测触控基板上的触控电极一一对应；

驱动所述升降机构朝向所述待测触控基板移动，带动所述测试头和所述测试极板朝向所述待测触控基板移动；

当检测到所述测试头和所述待测触控基板有任何位置之间的垂直距离达到目标值时，控制所述升降机构停止移动；

驱动所述高度调节机构工作，带动所述测试头角度摆动，使所述测试头和所述待测触控基板各处之间的垂直距离均达到目标值；

给至少部分所述测试极板通电，所述电容测试模块获取所述测试极板和所述触控电极的总电容值，以据此判断所述待测触控基板是否存在短路或接触不良的情况。

在本触控基板测试装置和触控基板测试方法中，通过测试极板和电路的设置，可以快速、方便地测试触控基板是否不良。

附图说明

图1为待测触控基板的的局部结构示意图。

图2为本发明一实施例的触控基板测试装置的电路示意图。

图3为图2所示触控基板测试装置的结构示意图。

图4为图3所示触控基板测试装置的部分部件结构示意图。

图5a为图2所示触控基板测试装置测试同行触控电极时的不存在短路的电路简图。

图5b为图5a的另一形式电路简图。

图6a为图2所示触控基板测试装置测试同行触控电极时的存在短路的电路简图。

图6b为图6a的另一形式电路简图。

图7为图2所示触控基板测试装置测试同列触控电极时的电路简图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

本发明提供的触控基板测试装置可用于检测触控基板的触控电极之间是否存在短路或断路，尤其能够检测Array段的触控基板，及早发现触控显示面板生产制造中的不良，并能在检测后由激光设备修补，从而提升产品良率。请参图1，为一种待检测的触控基板的局部结构示意图，其包括阵列基板(图未示)和设于阵列基板上的触控电极层，阵列基板上设有薄膜晶体管、像素电极和公共电极，阵列基板也可仅包括像素电极和公共电极其中之一。触控电极层包括多个触控电极11，多个触控电极11可呈矩阵排布。每个触控电极11分别电性连接于一条驱动信号线13。具体地，每个触控电极11的尺寸可为4mm*4mm，当然，也可根据需要设置为其他尺寸。

请参图2，本发明一实施例的触控基板测试装置，包括至少四个测试极板31、电容测试模块33、辅助电容35、控制模块37和测试电路，测试电路包括第一开关元件39、第二开关元件40、第三开关元件41和第四开关元件42。在本实施例中，至少四个测试极板31包括第一测试极板31a、第二测试极板31b、第三测试极板31c和第四测试极板31d，第一测试极板31a、第二测试极板31b、第三测试极板31c和第四测试极板31d以2*2方式矩阵排布，第一测试极板31a、第二测试极板31b、第三测试极板31c和第四测试极板31d分别和触控基板的矩阵排布的四个触控电极11对应设置。电容测试模块33包括电源和电容测量器件，电容测量器件用于测量测试极板31和触控电极11的总电容。控制模块37分别连接于第一开关元件39、第二开关元件40、第三开关元件41和第四开关元件42，以分别控制第一开关元件39、第二开关元件40、第三开关元件41和第四开关元件42的开关。第一开关元件39连接于第一测试极板31a和辅助电容35之间，第二开关元件40连接于第二测试极板31b和电容测试模块33之间，第三开关元件41连接于第三测试极板31c和电容测试模块33之间，第四开关元件42连接于第四测试极板31d和辅助电容35之间。电容测试模块33分别连接于辅助电容35和控制模块37，电容测试模块33将测得的结果发送给控制模块37进行计算，并判断待测触控基板之间是否存在短路或断路。可以理解，测试极板31的数量也可为五个、六个或以上，但为了同时测量同行和同列的相邻触控电极11的情况，至少需要设置2*2共四个测试极板31。

具体地，第一开关元件39、第二开关元件40、第三开关元件41和第四开关元件42为三极管，第一开关元件39、第二开关元件40、第三开关元件41和第四开关元件42的栅极连接于控制模块37，控制模块37用于分别向第一开关元件39、第二开关元件40、第三开关元件41和第四开关元件42的栅极输入控制信号S1、S2、S3和S4。第一开关元件39的源极和漏极分别连接于第一测试极板31a和辅助电容35，第二开关元件40的栅极和漏极分别连接于第二测试极板31b和电容测试模块33，第三开关元件41的栅极和漏极分别连接于第三测试极板31c和电容测试模块33，第四开关元件42的栅极和漏极分别连接于第四测试极板31d和辅助电容35。通过改变输入各栅极的控制信号S1、S2、S3和S4，可控制各开关元件的通断，即控制各开关元件的源极与漏极连通或断开。

具体地，第一测试极板31a和第二测试极板31b位于同一行，第一测试极板31a和第三测试极板31c位于同一列，第三测试极板31c和第四测试极板31d位于同一行，第二测试极板31b和第四测试极板31d位于同一列。

本实施例中，辅助电容35的电容值远大于位于同一列的相邻两个触控电极11之间的电容值。具体地，辅助电容35的电容值优选为位于同一列的相邻两个触控电极11之间的电容值的5倍以上。

本实施例中，请一并参图3，触控基板测试装置还包括升降机构51、多个高度调节机构53、多个距离检测装置55和测试头57。测试极板31均设置在测试头57上，多个高度调节机构53分别连接于测试头57，每个高度调节机构53可分别带动测试头57与之连接处调整高度，升降机构51连接于各高度调节机构53，以带动测试头57整体上下移动。距离检测装置55用于检测测试极板31与待测触控基板90之间的距离，多个高度调节机构53和多个距离检测装置55对应设置。当测试极板31与待测触控基板90之间的距离没有达到目标值时，调整升降机构51和/或高度调节机构53，直至测试极板31与待测触控基板90之间的距离达到目标值，通过控制模块37给不同控制信号，开始测试。具体地，高度调节机构53的数量为四个，当然，高度调节机构53的数量也可为其他，但一般以三个或三个以上为佳。

本实施例中，距离检测装置55的数量为四个，四个距离检测装置55分布在测试头57的四个不同位置，优选均匀分布设置在测试头57的周缘处。可以理解，距离检测装置55的数量也可为其他数量，例如一个或两个以上，一般三个以上更为合适。一般来说，距离检测装置55和高度调节机构53对应设置，其数量和位置均对应。

本实施例中，高度调节机构53包括驱动部532和连接部534，驱动部532固定连接于升降机构51，连接部534可相对驱动部532上下移动地连接到驱动部532，连接部534连接于测试头57上，且连接部534包括球头万向连杆，球头万向连杆连接于测试头57，使连接部534可相对测试头57在360°范围内转动。通过设置球头万向连杆，当测试头57非水平设置时，可消除驱动部532和测试头57因角度而产生的应力。具体地，驱动部532包括动力件536、主动齿轮537、从动齿轮538和丝杆539，主动齿轮537连接于动力件536的输出轴，由动力件536带动转动，从动齿轮538与主动齿轮537啮合，由主动齿轮537带动转动，丝杆539设于从动齿轮538的输出轴上，由从动齿轮538带动转动，连接部534上开设有内螺纹，其与丝杆539配合形成丝杠螺母结构，丝杠539的转动可使连接部534相对丝杠539上下移动。可以理解，动力件536可为电机，动力件536和连接部534之间的传动可由其他传动机构实现，只要能实现连接部534的上下移动即可，例如可通过蜗轮蜗杆机构或齿轮齿条结构实现。

本实施例中，距离检测装置55的底部和测试极板31的底部平齐，这样，距离检测装置55检测到的其自身与待测触控基板90之间的距离即为测试极板31与待测触控基板90之间的距离，中间不需要另外进行换算。

本实施例中，距离检测装置55包括发射器552和接收器554，发射器552可沿水平方向作左右移动，以适应待测触控基板90和距离检测装置55之间距离改变时保证接收器554始终能接收到发射器552发射经待测触控基板90反射后的信号，当然，也可将接收器554设计为可沿水平方向作左右移动。具体地，发射器552可移动地设于滑轨556上，以使其可沿水平方向作左右移动。

本实施例中，触控基板测试装置还包括控制器(图未示)，控制器用于控制升降机构51升降，从而带动高度调节机构53升降，进而带动测试头57和设于测试头57上的测试极板31上下移动，当其中一个距离检测装置55感应到测试头57和待测触控基板90之间的距离达到目标值时，控制器控制升降机构51停止运动，并控制未感应到测试头57和待测触控基板90之间的距离达到目标值的其他距离检测装置55对应的高度调节机构53动作带动测试头57的相应位置进行高度调整，直到所有距离检测装置55均感应到测试头57和待测触控基板90之间的距离达到目标值。可以理解，控制器可以与控制模块37设置在一起，也可分开设置。

在实施例的触控基板测试装置中，可通过各开关元件的开关实现同行和同列两种相邻触控电极11之间是否存在不良，可以理解，本实施例的触控基板测试装置也可设计为仅测试同行的触控电极11之间是否不良，或者设计为仅测试同列的触控电极11之间是否不良，这时则可以省略各开关元件，对应地测试极板31可仅为两个，设置为同行的两个或同列的两个。

本发明还提供一种采用上述触控基板测试装置对触控基板进行测试的触控基板测试方法，包括以下步骤：

S11，安装触控基板测试装置，使测试头57上的测试极板31和待测触控基板90上的触控电极11一一对应。

S13，驱动升降机构51朝向待测触控基板90移动，带动测试头57和测试极板31朝向待测触控基板90移动。

S15，当检测到测试头57和待测触控基板90有任何位置之间的垂直距离达到目标值时，控制升降机构51停止移动。

S17，驱动高度调节机构53工作，带动测试头57角度摆动，使测试头57和待测触控基板90各处之间的垂直距离均达到目标值。

S19，分别给各测试极板31通电，控制模块37根据需要发出不同的控制信号，电容测试模块33获取不同测试极板31和对应触控电极11的不同总电容值，以据此判断待测触控基板90是否存在短路(short)或接触不良(open)的情况。

当控制模块37的控制信号控制第一开关元件39和第二开关元件40打开，第三开关元件41和第四开关元件42关闭，使第一测试极板31a和辅助电容35连通，第二测试极板31b和电容测试模块33连通，形成一个回路。在此状态下，可测试位于同一行的相邻的触控电极11是否存在短路(short)的问题。请一并参照图5a、图5b和图6a、图6b为图2的触控基板测试装置测试位于同一行的相邻的两个触控电极11是否存在短路(short)的问题时的简化图。当位于同一行的相邻的两个触控电极11没有短路(short)时，请参图5a和图5b，由于相邻的两个触控电极11之间没有连接，因此电路是断开的，测得的电容值为0，说明此时没有短路的问题存在；当位于同一行的相邻的两个触控电极11短路(short)时，请参图6a和图6b，短路使得相邻的两个触控电极11之间连接，第一测试极板31a和对应的触控电极11之间的电容值为C1，第二测试极板31b和对应的触控电极11之间的电容值为C2，辅助电容35的电容值为C4，电路连通，测得总电容值C＝C1C2C4/(C1C4+C2C4+C1C2)时，说明此时两个相邻触控电极11之间存在短路问题。对于电容而言，其电容值C＝ε*s/4πkd，ε为介电常数，s为两极板正对面积，π为圆周率，k为静电力常量，d为两基板之间的垂直距离，可见C1和C2是可以计算得到的。

当控制模块37的控制信号控制第一开关元件39和第三开关元件41打开，第二开关元件40和第四开关元件42关闭，使第一测试极板31a和辅助电容35连通，第三测试极板31c和电容测试模块33连通，形成一个回路。在此状态下，可测试位于同一列的相邻的两个触控电极11是否存在短路(short)或接触不良(open)的问题。请一并参照图7，图7为图2的触控基板测试装置测试位于同一列的相邻的两个触控电极11是否存在短路或接触不良的问题时的简化图。C1为第一测试极板31a与对应的触控电极11之间的电容，C2为两个相邻的触控电极11之间的电容，C3为第三测试极板31c与对应的触控电极11之间的电容，辅助电容35的电容值为C4。当测得总电容值C＝C1C2C3C4/(C2C3C4+C1C3C4+C1C2C4+C1C2C3)时，说明位于同一列的相邻两个触控电极11之间没有短路或接触不良；当测得总电容值C＝C1C2C3C4/(C2C3C4+2C1C3C4+C1C2C4+C1C2C3)时，说明其中一个触控电极11和其对应的驱动信号线13之间没有电性连接(具体产品结构图如图7所示)，即接触不良；当测得总电容值C＝0时，说明两个触控电极11和其分别对应的驱动信号线13之间均没有电性连接，即均出现了接触不良问题；当测得总电容值C＝C1C3C4/(C3C4+C1C4+C3C4)时，说明同一列的相邻两个触控电极11短路。根据以上可知，根据测得的电容值即可判断出待测触控基板上是否存在短路或接触不良的问题。

在上述各公式中，由于C4远大于C2，通过加入辅助电容35使得电容C2的变化对总电容值C影响接近正比例，更便于判断待测触控基板是否存在不良。可以理解，在忽略这个计算精确度问题的情况下，辅助电容35可省略。另外，在第一开关元件39和第二开关元件40打开时，存在不良时和不存在不良时测得的电容总值的差异较大，因此辅助电容35也可省略。

本发明提供的触控基板测试装置和触控基板测试方法中，通过测试极板和电路的设置，可以快速、方便地测试触控基板是否不良。

在附图中，为了清晰起见，会夸大层和区域的尺寸和相对尺寸。应当理解的是，当元件例如层、区域或基板被称作“形成在”、“设置在”或“位于”另一元件上时，该元件可以直接设置在所述另一元件上，或者也可以存在中间元件。相反，当元件被称作“直接形成在”或“直接设置在”另一元件上时，不存在中间元件。

在本文中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语的具体含义。

在本文中，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“竖直”、“水平”等指示的方位或重量关系为基于附图所示的方位或重量关系，仅是为了表达技术方案的清楚及描述方便，因此不能理解为对本发明的限制。

在本文中，用于描述元件的序列形容词“第一”、“第二”等仅仅是为了区别属性类似的元件，并不意味着这样描述的元件必须依照给定的顺序，或者时间、空间、等级或其它的限制。

在本文中，除非另有说明，“多个”、“若干”的含义是两个或两个以上。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，除了包含所列的那些要素，而且还可包含没有明确列出的其他要素。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种触控基板测试装置，其特征在于，包括至少四个测试极板(31)、电容测试模块(33)、辅助电容(35)、控制模块(37)和测试电路，至少四个所述测试极板(31)包括第一测试极板(31a)、第二测试极板(31b)、第三测试极板(31c)和第四测试极板(31d)，所述第一测试极板(31a)、所述第二测试极板(31b)、所述第三测试极板(31c)和所述第四测试极板(31d)以2*2方式矩阵排布，所述测试电路包括第一开关元件(39)、第二开关元件(40)、第三开关元件(41)和第四开关元件(42)，所述第一开关元件(39)连接于所述第一测试极板(31a)和所述辅助电容(35)之间，所述第二开关元件(40)连接于所述第二测试极板(31b)和所述电容测试模块(33)之间，所述第三开关元件(41)连接于所述第三测试极板(31c)和所述电容测试模块(33)之间，所述第四开关元件(42)连接于所述第四测试极板(31d)和所述辅助电容(35)之间，所述控制模块(37)用于控制所述第一开关元件(39)、所述第二开关元件(40)、所述第三开关元件(41)和所述第四开关元件(42)的开与关，所述电容测试模块(33)包括电源和电容测量器件，所述电容测试模块(33)分别连接于所述辅助电容(35)和所述控制模块(37)。

2.如权利要求1所述的触控基板测试装置，其特征在于，所述第一开关元件(39)、所述第二开关元件(40)、所述第三开关元件(41)和所述第四开关元件(42)为三极管，所述第一开关元件(39)、所述第二开关元件(40)、所述第三开关元件(41)和所述第四开关元件(42)的栅极连接于所述控制模块(37)，所述控制模块(37)分别向所述第一开关元件(39)、所述第二开关元件(40)、所述第三开关元件(41)和所述第四开关元件(42)的栅极输入控制信号以控制所述第一开关元件(39)、所述第二开关元件(40)、所述第三开关元件(41)和所述第四开关元件(42)的开与关，所述第一开关元件(39)的源极和漏极分别连接于所述第一测试极板(31a)和所述辅助电容(35)，所述第二开关元件(40)的栅极和漏极分别连接于所述第二测试极板(31b)和所述电容测试模块(33)，所述第三开关元件(41)的栅极和漏极分别连接于所述第三测试极板(31c)和所述电容测试模块(33)，所述第四开关元件(42)的栅极和漏极分别连接于所述第四测试极板(31d)和所述辅助电容(35)。

3.一种触控基板测试装置，其特征在于，包括至少两个测试极板(31)、电容测试模块(33)、辅助电容(35)，所述至少两个测试极板(31)包括第一测试极板(31a)和第二测试极板(31b)，所述第一测试极板(31a)、所述第二测试极板(31b)相邻同行设置，所述电容测试模块(33)包括电源和电容测量器件，所述第一测试极板(31a)连接于所述辅助电容(35)，所述第二测试极板(31b)连接于所述电容测试模块(33)，所述电容测试模块(33)连接于所述辅助电容(35)。

4.一种触控基板测试装置，其特征在于，包括至少两个测试极板(31)、电容测试模块(33)、辅助电容(35)，所述至少两个测试极板(31)包括第一测试极板(31a)和第三测试极板(31c)，所述第一测试极板(31a)、所述第三测试极板(31c)相邻同列设置，所述电容测试模块(33)包括电源和电容测量器件，所述第一测试极板(31a)连接于所述辅助电容(35)，所述第三测试极板(31c)连接于所述电容测试模块(33)，所述电容测试模块(33)连接于所述辅助电容(35)。

5.如权利要求1或4所述的触控基板测试装置，其特征在于，所述辅助电容(35)的电容值远大于待测触控基板的位于同一列的相邻两个触控电极(11)之间的电容值。

6.如权利要求1-4任意一项所述的触控基板测试装置，其特征在于，所述触控基板测试装置还包括升降机构(51)、多个高度调节机构(53)、多个距离检测装置(55)和测试头(57)，所述测试极板(31)均设置在所述测试头(57)上，多个所述高度调节机构(53)分别连接于所述测试头(57)，每个所述高度调节机构(53)可分别带动所述测试头(57)与之连接处高度调整，所述升降机构(51)连接于所述各高度调节机构(53)，所述距离检测装置(55)用于检测所述测试极板(31)与待测触控基板(90)之间的距离，多个所述高度调节机构(53)和多个所述距离检测装置(55)对应设置。

7.如权利要求6所述的触控基板测试装置，其特征在于，所述高度调节机构(53)包括驱动部(532)和连接部(534)，所述驱动部(532)固定连接于所述升降机构(51)，所述连接部(534)可相对所述驱动部(532)上下移动地连接到所述驱动部(532)，所述连接部(534)连接于所述测试头(57)上，且所述连接部(534)包括球头万向连杆，所述球头万向连杆连接于所述测试头(57)。

8.如权利要求6所述的触控基板测试装置，其特征在于，所述距离检测装置(55)包括发射器(552)和接收器(554)，所述发射器(552)和/或所述接收器(554)可沿水平方向作左右移动。

9.如权利要求6所述的触控基板测试装置，其特征在于，所述触控基板测试装置还包括控制器，所述控制器用于控制升降机构(51)下降，所述控制器用于当其中一个所述距离检测装置(55)感应到所述测试头(57)和所述待测触控基板(90)之间的距离达到目标值时，控制所述升降机构(51)停止运动，并控制未感应到测试头(57)和待测触控基板(90)之间的距离达到目标值的其他所述距离检测装置(55)对应的所述高度调节机构(53)动作带动所述测试头(57)的相应位置进行高度调整，直到所有所述距离检测装置(55)均感应到所述测试头(57)和所述待测触控基板(90)之间的距离达到目标值。

10.一种采用如权利要求6-9任意一项所述的触控基板测试装置的触控基板测试方法，其特征在于，包括：

安装所述触控基板测试装置，使所述测试头(57)上的所述测试极板(31)和待测触控基板(90)上的触控电极(11)一一对应；

驱动所述升降机构(51)朝向所述待测触控基板(90)移动，带动所述测试头(57)和所述测试极板(31)朝向所述待测触控基板(90)移动；

当检测到所述测试头(57)和所述待测触控基板(90)有任何位置之间的垂直距离达到目标值时，控制所述升降机构(51)停止移动；

驱动所述高度调节机构(53)工作，带动所述测试头(57)角度摆动，使所述测试头(57)和所述待测触控基板(90)各处之间的垂直距离均达到目标值；

给至少部分所述测试极板(31)通电，所述电容测试模块(33)获取所述测试极板(31)和所述触控电极(11)的总电容值，以据此判断所述待测触控基板是否存在短路或接触不良的情况。

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