CN112525925A - 一种键盘检测方法、系统、电子设备及介质 - Google Patents

一种键盘检测方法、系统、电子设备及介质 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种键盘检测方法、系统、电子设备及介质，方法包括：获取一键盘图像，并根据所述键盘图像确定各个键帽的键帽图像；根据所述键盘图像及各个的所述键帽图像分别确定键盘模版和键帽模版；获取一待测键盘图像，并根据所述待测键盘图像确定各个待测键帽的待测键帽图像；将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格。通过图像识别的方式，将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，将所述待测键盘图像与所述键盘模版，提高了键盘及键帽检测的效率和正确率。

Description

一种键盘检测方法、系统、电子设备及介质
技术领域
本发明涉及图像检测技术领域，特别是涉及一种键盘检测方法、系统、电子设备及介质。
背景技术
在电脑外设设备或者笔记本制造的过程中，需要对键盘中各个键帽进行检测，避免键帽标识错误、不清晰或者产品质量有瑕疵，目前，主要依靠人工检测，检测效率低下，且容易出现误差。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种键盘检测方法、系统、电子设备及介质，用于解决现有技术中键盘检测不便的问题。
为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种键盘检测方法，包括：
获取一键盘图像，并根据所述键盘图像确定各个键帽的键帽图像；
根据所述键盘图像及各个的所述键帽图像分别确定键盘模版和键帽模版；
获取一待测键盘图像，并根据所述待测键盘图像确定各个待测键帽的待测键帽图像；
将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格。
可选的，根据所述键盘图像及各个的所述键帽图像分别确定键盘模版和键帽模版的步骤包括：
通过对所述键盘图像及各个的所述键帽图像进行二值化处理，分别获取所述键盘模版和所述键帽模版。
可选的，所述键帽模版包括对应键帽的承载信息，所述承载信息至少包括以下之一：数字、字母、符号、标识、位置坐标。
可选的，获取一待测键盘图像，并根据所述待测键盘图像确定各个待测键帽的待测键帽图像的步骤包括：
采集待测键盘图像，获取各个待测键帽的待测键帽图像；
通过调整二值化阈值对所述待测键帽图像进行二值化处理，确定所述待测键帽图像的验证信息，所述验证信息至少包括以下之一：数字、字母、符号、标识、位置坐标。
可选的，将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格的步骤包括：
将所述验证信息与所述承载信息进行对比，获取相似度；
将所述相似度与预设的相识度阈值进行对比，进而确定所述待测键帽是否合格。
可选的，所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格的步骤之前，还包括：
在所述键盘图像及所述待测键盘图像上设定标记点，所述标记点包括以下至少之一：一键盘或一待测键盘中第一行的第一个键帽、所述键盘或者所述待测键盘中第一行的最后一个键帽、所述键盘或者所述待测键盘中最后一行的第一个键帽、所述键盘或者所述待测键盘中最后一行的最后一个键帽；
对所述待测键盘图像进行归一化处理，通过所述标记点将归一化处理后的待测键盘图像与所述键盘模版进行对应。
可选的，将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格的步骤之后还包括：
当各个所述待测键帽均合格之后，判定该待测键盘为合格；
当一待测键帽不合格时，输出对应的所述待测键帽图像及对应的所述待测键帽的位置坐标。
一种键盘检测系统，包括：
模板模版，用于获取一键盘图像，并根据所述键盘图像确定各个键帽的键帽图像，根据所述键盘图像及各个的所述键帽图像分别确定键盘模版和键帽模版；
采集模块，用于获取一待测键盘图像，并根据所述待测键盘图像确定各个待测键帽的待测键帽图像；
对比模块，用于将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格，或者，将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对比，确定待测键盘是否合格。
一种电子设备，包括：
一个或多个处理器；和其上存储有指令的一个或多个机器可读介质，当所述一个或多个处理器执行时，使得所述设备执行一个或多个所述的方法。
一个或多个机器可读介质，其上存储有指令，当由一个或多个处理器执行时，使得设备执行一个或多个所述的方法。
如上所述，本发明的键盘检测方法、系统、电子设备及介质，具有以下有益效果：通过图像识别的方式，将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，将所述待测键盘图像与所述键盘模版，提高了键盘及键帽检测的效率和正确率。
附图说明
图1显示为本发明实施例中键盘检测方法的示意图。
图2显示为本发明实施例中键盘检测系统的示意图。
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。
需要说明的是，本实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想，遂图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本发明可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更技术内容下，当亦视为本发明可实施的范畴。
请参阅图1，本发明提供一种键盘检测方法，包括：
获取一键盘图像，并根据所述键盘图像确定各个键帽的键帽图像，例如，在键盘的上方设置图像采集设备，采集所述键盘图像，通过图像分割方式对所述键盘图像进行分割，例如，可以采用二值化处理的方式，将键帽与键盘背景进行区分，从而分别确定各个不同的键帽的所述键帽图像；
根据所述键盘图像及各个的所述键帽图像分别确定键盘模版和键帽模版，由于各个键帽上均相应地设有按键记号，对所述键盘图像和各个所述键帽图像分别进行预处理，获取带有键帽区域的键盘图像作为所述键盘模版，获取各个带有案件记号的键帽图像作为键帽模版；
在进行键盘或者键帽检测的过程中，获取一待测键盘图像，并根据所述待测键盘图像确定各个待测键帽的待测键帽图像；
将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格。通过图像识别的方式，将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，将所述待测键盘图像与所述键盘模版，提高了键盘及键帽检测的效率和正确率。
在一些实施过程中，根据所述键盘图像及各个的所述键帽图像分别确定键盘模版和键帽模版的步骤包括：
通过对所述键盘图像及各个的所述键帽图像进行二值化处理，分别获取所述键盘模版和所述键帽模版，可以通过二值化处理，设定相应的阈值，将键盘上不带键帽的区域进行区分，获取带有键帽的区域的键盘图像，并将键帽上不带案件记号的区域进行区分，获取分别带有按键记号的各个所述键帽图像，并将分别设定为所述键盘模版和所述键帽模版。又例如，案件记号带有对应键帽的承载信息，相应地，所述键帽模版包括对应键帽的承载信息，所述承载信息至少包括以下之一：数字、字母、符号、标识、位置坐标，该坐标信息包括对应键帽相对于键盘模版的位置坐标，并于在检测过程中识别合格的键帽相对应的位置坐标或者不合格的键帽相对应的位置坐标。
在一些实施过程中，获取一待测键盘图像，并根据所述待测键盘图像确定各个待测键帽的待测键帽图像的步骤包括：
在检测过程中，通过对待测键盘进行图像采集，采集待测键盘图像，获取各个待测键帽的待测键帽图像；
为了避免采集图像时的亮度差异导致的检测差异，可以通过调整二值化阈值对所述待测键帽图像进行二值化处理，提高经过二值化处理的待测键帽图像与键帽模版的相似度，同理，确定所述待测键帽图像的验证信息，所述验证信息至少包括以下之一：数字、字母、符号、标识、位置坐标。
在一些实施过程中，将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格，或者，将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对比，确定待测键盘是否合格的步骤包括：
将所述验证信息与所述承载信息进行对比，获取相似度；
将所述相似度与预设的相识度阈值进行对比，进而确定所述待测键帽是否合格，由于所述验证信息和所述承载信息可以通过像素对比度进行对比，可以将两者的像素进行遍历和对比，来确定相应的相似度，进而判定验证信息和承载信息上的数字、字母、符号、标识、位置坐标是否匹配，代替人工检测，提高检测效率和正确率。
在一些实施过程中，所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格，或者，将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对比，确定待测键盘是否合格的步骤之前，还包括：
在所述键盘图像及所述待测键盘图像上设定标记点，所述标记点包括以下至少之一：一键盘或一待测键盘中第一行的第一个键帽、所述键盘或者所述待测键盘中第一行的最后一个键帽、所述键盘或者所述待测键盘中最后一行的第一个键帽、所述键盘或者所述待测键盘中最后一行的最后一个键帽，发明人发现，键盘上的第一行的第一个键帽一般为“ESC键”，可以从键盘或者待测键盘的第一行的第一个键帽作为标记点，即可以通过“ESC键”开始进行键帽的识别和检测；
对所述待测键盘图像进行归一化处理，便于将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对齐，通过所述标记点将归一化处理后的待测键盘图像与所述键盘模版进行对应，例如，可以将键盘图像与所述键盘模版进行像素的遍历和对比，进而进行对比，当差异超过预先设置的差异值时，可以认为键盘的形貌存在瑕疵或者缺陷，进而可以判定该待测键盘不合格。
在一些实施过程中，将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格，或者，将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对比，确定待测键盘是否合格的步骤之后还包括：
当各个所述待测键帽均合格之后，判定该待测键盘为合格；
当一待测键帽不合格时，输出对应的所述待测键帽图像及对应的所述待测键帽的位置坐标。例如，可以从“ESC键”键盘开始依次进行键帽的对比和检测，将对应的所述键帽图像与所述键帽模版进行像素的遍历和对比，获取判定结果。
请参阅图2，本发明还提供一种键盘检测系统，包括：
模板模版，用于获取一键盘图像，并根据所述键盘图像确定各个键帽的键帽图像，根据所述键盘图像及各个的所述键帽图像分别确定键盘模版和键帽模版；
采集模块，用于获取一待测键盘图像，并根据所述待测键盘图像确定各个待测键帽的待测键帽图像；
对比模块，用于将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格，或者，将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对比，确定待测键盘是否合格；所述模版模块、所述采集模块与所述对比模块信号连接。通过图像识别的方式，将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，将所述待测键盘图像与所述键盘模版，提高了键盘及键帽检测的效率和正确率。
本发明实施例提供一种设备，包括：一个或多个处理器；和其上存储有指令的一个或多个机器可读介质，当所述一个或多个处理器执行时，使得所述设备执行一个或多个所述的方法。本发明可用于众多通用或专用的计算系统环境或配置中。例如：个人计算机、服务器计算机、手持设备或便携式设备、平板型设备、多处理器系统、基于微处理器的系统、置顶盒、可编程的消费电子设备、网络PC、小型计算机、大型计算机、包括以上任何系统或设备的分布式计算环境等等。
本发明实施例还提供一个或多个机器可读介质，其上存储有指令，当由一个或多个处理器执行时，使得设备执行中一个或多个所述的方法。本发明可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述，例如程序模块。一般地，程序模块包括执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构等等。也可以在分布式计算环境中实践本发明，在这些分布式计算环境中，由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。在分布式计算环境中，程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。

Claims (10)

1.一种键盘检测方法，其特征在于，包括：
获取一键盘图像，并根据所述键盘图像确定各个键帽的键帽图像；
根据所述键盘图像及各个的所述键帽图像分别确定键盘模版和键帽模版；
获取一待测键盘图像，并根据所述待测键盘图像确定各个待测键帽的待测键帽图像；
将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格，或者，将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对比，确定待测键盘是否合格。
2.根据权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，根据所述键盘图像及各个的所述键帽图像分别确定键盘模版和键帽模版的步骤包括：
通过对所述键盘图像及各个的所述键帽图像进行二值化处理，分别获取所述键盘模版和所述键帽模版。
3.根据权利要求1或者2所述的键盘检测方法，其特征在于，所述键帽模版包括对应键帽的承载信息，所述承载信息至少包括以下之一：数字、字母、符号、标识、位置坐标。
4.根据权利要求3所述的键盘检测方法，其特征在于，获取一待测键盘图像，并根据所述待测键盘图像确定各个待测键帽的待测键帽图像的步骤包括：
采集待测键盘图像，获取各个待测键帽的待测键帽图像；
通过调整二值化阈值对所述待测键帽图像进行二值化处理，确定所述待测键帽图像的验证信息，所述验证信息至少包括以下之一：数字、字母、符号、标识、位置坐标。
5.根据权利要求4所述的键盘检测方法，其特征在于，将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格，或者，将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对比，确定待测键盘是否合格的步骤包括：
将所述验证信息与所述承载信息进行对比，获取相似度；
将所述相似度与预设的相识度阈值进行对比，进而确定所述待测键帽是否合格。
6.根据权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格，或者，将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对比，确定待测键盘是否合格的步骤之前，还包括：
在所述键盘图像及所述待测键盘图像上设定标记点，所述标记点包括以下至少之一：一键盘或一待测键盘中第一行的第一个键帽、所述键盘或者所述待测键盘中第一行的最后一个键帽、所述键盘或者所述待测键盘中最后一行的第一个键帽、所述键盘或者所述待测键盘中最后一行的最后一个键帽；
对所述待测键盘图像进行归一化处理，通过所述标记点将归一化处理后的待测键盘图像与所述键盘模版进行对应。
7.根据权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格，或者，将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对比，确定待测键盘是否合格的步骤之后还包括：
当各个所述待测键帽均合格之后，判定该待测键盘为合格；
当一待测键帽不合格时，输出对应的所述待测键帽图像及对应的所述待测键帽的位置坐标。
8.一种键盘检测系统，其特征在于，包括：
模板模版，用于获取一键盘图像，并根据所述键盘图像确定各个键帽的键帽图像，根据所述键盘图像及各个的所述键帽图像分别确定键盘模版和键帽模版；
采集模块，用于获取一待测键盘图像，并根据所述待测键盘图像确定各个待测键帽的待测键帽图像；
对比模块，用于将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格，或者，将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对比，确定待测键盘是否合格。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
一个或多个处理器；和
其上存储有指令的一个或多个机器可读介质，当所述一个或多个处理器执行时，使得所述设备执行如权利要求1-7中一个或多个所述的方法。
10.一个或多个机器可读介质，其特征在于，其上存储有指令，当由一个或多个处理器执行时，使得设备执行如权利要求1-7中一个或多个所述的方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113379673A (zh) * 2021-04-28 2021-09-10 合肥联宝信息技术有限公司 一种键盘小红帽检测方法、装置和设备
CN114297013A (zh) * 2021-12-31 2022-04-08 东莞市蓝科信息科技有限公司 一种笔记本电脑键盘检测方法、系统及其存储介质
CN117232384A (zh) * 2023-07-12 2023-12-15 深圳市精科实业有限公司 一种键帽位置检测方法、装置和系统

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101762231A (zh) * 2008-12-26 2010-06-30 比亚迪股份有限公司 一种手机按键外观检测装置及检测方法
JP2014203837A (ja) * 2013-04-01 2014-10-27 株式会社ディスコ キーパターン検出方法、及び、アライメント方法
CN109738450A (zh) * 2019-01-09 2019-05-10 合肥联宝信息技术有限公司 笔记本键盘的检测方法和装置
CN110596121A (zh) * 2019-09-12 2019-12-20 南京旷云科技有限公司 键盘外观检测方法、装置和电子系统
CN111028209A (zh) * 2019-11-22 2020-04-17 漳州万利达科技有限公司 一种电话机丝印质量检测方法及系统

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101762231A (zh) * 2008-12-26 2010-06-30 比亚迪股份有限公司 一种手机按键外观检测装置及检测方法
JP2014203837A (ja) * 2013-04-01 2014-10-27 株式会社ディスコ キーパターン検出方法、及び、アライメント方法
CN109738450A (zh) * 2019-01-09 2019-05-10 合肥联宝信息技术有限公司 笔记本键盘的检测方法和装置
CN110596121A (zh) * 2019-09-12 2019-12-20 南京旷云科技有限公司 键盘外观检测方法、装置和电子系统
CN111028209A (zh) * 2019-11-22 2020-04-17 漳州万利达科技有限公司 一种电话机丝印质量检测方法及系统

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113379673A (zh) * 2021-04-28 2021-09-10 合肥联宝信息技术有限公司 一种键盘小红帽检测方法、装置和设备
CN113379673B (zh) * 2021-04-28 2022-02-01 合肥联宝信息技术有限公司 一种键盘小红帽检测方法、装置和设备
CN114297013A (zh) * 2021-12-31 2022-04-08 东莞市蓝科信息科技有限公司 一种笔记本电脑键盘检测方法、系统及其存储介质
CN117232384A (zh) * 2023-07-12 2023-12-15 深圳市精科实业有限公司 一种键帽位置检测方法、装置和系统
CN117232384B (zh) * 2023-07-12 2024-05-03 深圳市精科实业有限公司 一种键帽位置检测方法、装置和系统

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