CN112505716A - 一种高更新频率的电控双光学频率梳测距系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种高更新频率的电控双光学频率梳测距系统,包括重复频率锁定环路、高压信号发生器、本振光纤飞秒激光器、信号光纤飞秒激光器、光纤延迟线、环形器、第一准直器、参考半反射镜、目标反射镜、第一光纤滤波器、第二光纤滤波器、第一光纤衰减器、第二光纤衰减器、光纤干涉器、平衡探测器、低通滤波器、计算机;利用电光晶体的超高调制带宽,对信号光序列的重复频率进行快速调制,通过光纤延迟线的设计使得信号光脉冲的快速调制能够使得信号光与本振光一直处于异步光学降采样阶段。对比传统的双光梳测距技术大大提高了脉冲干涉时间的利用率,使得最终的测距结果能够数百倍提高而不损失距离精度。
Description
技术领域
本发明涉及非接触式距离检测、精密距离测量领域,特别是涉及一种高更新频率的电控双光学频率梳测距系统,能够实现在保持合适的双光梳重复频率差的同时极大地提升扫描更新速率。
背景技术
光学频率梳在时域上是一列脉冲间隔相同的光脉冲序列,在光谱上由一系列重复的等间距的谱线组成。和许多突破性的技术一样,频率梳在概念上很简单,其创建一个精确的从射频到光频的精密频率尺。由于其独特的时域频域特性,光学频率梳在光钟、双光梳光谱学、低相位噪声微波生成、激光雷达与测距、任意波形的产生等领域都有着很多应用。
传统的双光学频率梳异步采样技术利用两台高重复频率,具有一定重复频率差的激光光梳进行光学异步采样,实现脉冲的时域展宽,获得降采样之后的脉冲信号,将飞秒级别的脉冲进行放大,从而使用普通的光电探测器便能够进行测量。异步采样的获取方式一般有线性异步采样和非线性异步采样。线性异步采样通过相干的两台光学频率梳进行干涉获得干涉信号,采样需要两束光学频率梳锁定其重复频率及载波偏移频率。非线性异步采样通过测量两台光梳之间的强度互相关信号直接获得,对所探测目标光功率要求较高。目前的光纤双光梳异步采样技术所使用的光学频率梳重复频率一般在50MHz到100MHz,重复频率差约2kHz。由于重复频率差决定了降采样之后电信号的更新速率,所以传统的双光梳异步采样的更新速率一般被限制在几kHz。相比较于纳秒级别的脉冲间隔,飞秒级别的脉冲宽度在时域上是非常稀疏的,这也就意味着两台光学频率梳在大部分的时间里都没有发生干涉,属于无效的走离时间。利用激光腔内电光调制器等调制手段可以人为控制两台激光器之间的重复频率差,进而控制脉冲之间的时间走离,可以有效减少无效的走离时间,使得两束激光脉冲发生干涉的时间大大增加,从而成倍增加干涉信息的获取速率。利用电控的光学采样技术对目标进行采样可获得远高于传统双光梳异步采样技术的更新速率,以及更快的更新速率带来的更高精度,对于航空航天、物体定标、非接触式测量等需要精密测距及各种光梳光谱学的场合具有其他测距技术难以企及的独特优势,具有极高的使用价值。
发明内容
本发明的目的是为了克服现有技术中的不足,提供一种高更新频率的电控双光学频率梳测距系统,能够获得传统双光学频率梳数百倍的更新速率,测距结果稳定,测量精度高,受环境影响较小,提高了双光学频率梳在时域上的利用率,适用于各种对测距精度及速度有一定要求的应用场合,可作为实验研究、航空航天测距、工业精密物体测量的测距系统解决方案。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的:
一种高更新频率的电控双光学频率梳测距系统,包括重复频率锁定环路、高压信号发生器、本振光纤飞秒激光器、信号光纤飞秒激光器、光纤延迟线、环形器、第一准直器、参考半反射镜、目标反射镜、第一光纤滤波器、第二光纤滤波器、第一光纤衰减器、第二光纤衰减器、光纤干涉器、平衡探测器、低通滤波器、计算机;高压信号发生器与信号光纤飞秒激光器相连,所述本振光纤飞秒激光器和信号光纤飞秒激光器分别输出一束脉冲序列共同注入所述重复频率锁定环路,得到两路重复频率相同的锁模激光脉冲序列;信号飞秒激光器出射的另一束脉冲序列连接到环形器中,由第一准直器输出空间光并依次传输至参考半反射镜与目标反射镜上,得到回波参考光脉冲和目标光脉冲并依次通过所述第一光纤滤波器与第一光纤衰减器传输至光纤干涉器;同时,本振光纤飞秒激光器输出的另一束脉冲序列依次通过光纤延迟线、第二光纤滤波器与第二光纤衰减器传输至光纤干涉器,使得本振光纤飞秒激光器输出的脉冲序列与信号光纤飞秒激光器输出的脉冲序列能够同时到达光纤干涉器,利用平衡探测器对光纤干涉器输出的干涉信号进行探测,得到的电信号通过低通滤波器传输至计算机进行采样与处理。
进一步的,所述信号光纤飞秒激光器包括依次设置的压电陶瓷、电光调制器、偏振分束棱镜、第二准直器与第一光纤耦合器,所述第一光纤耦合器的输出端其中一路通过掺铒光纤与波分复用器连接,第一光纤耦合器的输出端另一路依次通过第二光纤耦合器、光纤相移器与波分复用器连接,波分复用器与半导体泵浦激光器连接。
与现有技术相比,本发明的技术方案所带来的有益效果是:
本发明利用电光晶体的超高调制带宽,对信号光序列的重复频率进行快速调制,通过光纤延迟线的设计使得信号光脉冲和本振光脉冲持续发生脉冲交叠,进而以极高的速率产生干涉信号。由于传统的双光梳采用的异步光学采样过程对于整个脉冲序列的周期进行无差别地放大,而脉冲在整个周期中的占空比极低,导致异步采样过程时间效率低,更新速率差。本发明所述利用电光晶体对两束脉冲之间进行走离扫描的过程能够实现对脉冲时域的局部放大,且放大区域与放大倍数均能够可根据实际测量需要,通过对电光晶体所施加的调制信号的电压和频率灵活调整。这种脉冲降采样方法对激光器的重复频率要求较低,激光器不要求有重复频率差,能够在相同的激光器设置下比传统采样方法速度提升数十倍。
附图说明
图1为本发明测距系统的结构示意图。
图2为信号光纤飞秒激光器结构示意图。
图3a和图3b分别为电光调制器调制电压、周期与脉冲走离示意图。
图4为扫描的光学降采样图。
附图标记:1-重复频率锁定环路;2-高压信号发生器;3-本振光纤飞秒激光器;4-信号光纤飞秒激光器;5-光纤延迟线;6-环形器;7-第一准直器;8-参考半反射镜;9-目标反射镜;10-第一光纤滤波器;11-第二光纤滤波器;12-第一光纤衰减器;13-第二光纤衰减器;14-光纤干涉器;15-平衡探测器;16-低通滤波器;17-计算机;18-压电陶瓷;19-电光调制器;20-偏振分束棱镜;21-第二准直器;22-第一光纤耦合器;23-掺铒光纤;24-第二光纤耦合器;25-光纤相移器;26-波分复用器;27-半导体泵浦激光器。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
如图1所示,本发明提供一种高更新频率的电控双光学频率梳测距系统,包括重复频率锁定环路1、高压信号发生器2、本振光纤飞秒激光器3、信号光纤飞秒激光器4、光纤延迟线5、环形器6、第一准直器7、参考半反射镜8、目标反射镜9、第一光纤滤波器10、第二光纤滤波器11、第一光纤衰减器12、第二光纤衰减器13、光纤干涉器14、平衡探测器15、低通滤波器16、计算机17;高压信号发生器2与信号光纤飞秒激光器4相连,本振光纤飞秒激光器3和信号光纤飞秒激光器4分别输出一束脉冲序列共同注入所述重复频率锁定环路1,得到两路重复频率相同的锁模激光脉冲序列;重复频率均为fr。
信号飞秒激光器4出射的另一束脉冲序列连接到环形器6中,由第一准直器7输出空间光并依次传输至参考半反射镜8与目标反射镜9上,得到回波参考光脉冲和目标光脉冲并依次通过所述第一光纤滤波器10与第一光纤衰减器11传输至光纤干涉器14;同时,本振光纤飞秒激光器3输出的另一束脉冲序列依次通过光纤延迟线5、第二光纤滤波器11与第二光纤衰减器13传输至光纤干涉器14,使得本振光纤飞秒激光器3输出的脉冲序列与信号光纤飞秒激光器3输出的脉冲序列能够同时到达光纤干涉器14,利用平衡探测器15对光纤干涉器14输出的干涉信号进行探测,得到的电信号通过低通滤波器16传输至计算机17进行采样与处理。
信号光纤飞秒激光器结构如图2所示,信号光纤飞秒激光器包括依次设置的压电陶瓷18、电光调制器19、偏振分束棱镜20、第二准直器21与第一光纤耦合器22,第一光纤耦合器22的输出端其中一路通过掺铒光纤23与波分复用器26连接,第一光纤耦合器22的输出端另一路依次通过第二光纤耦合器24、光纤相移器25与波分复用器26连接,波分复用器与半导体激光泵浦连接;半导体泵浦激光器27通过波分复用器26将980nm的泵浦光注入光纤环路中。980nm的激光在掺铒光纤23中激发得到1550nm中心波长的脉冲序列。
在重复频率锁定环路1对压电陶瓷18的控制下,能够使得信号光纤飞秒激光器4的重复频率与本振光纤飞秒激光器3的重复频率fr保持一致。同时,由高压信号发生器2对腔中的电光调制器19施加频率为f的方波调制电压。电光调制器19在高压的作用下,对于腔内激光的折射率发生改变,使得腔内光程变长。由于激光器的重复频率与腔长相关,所以高压信号发生器2相当于对信号光纤飞秒激光器的输出脉冲序列进行调制。由于高压信号发生器2的调制带宽远高于重复频率锁定环路1对压电陶瓷18的作用带宽,所以重复频率锁定环路1并不能实时补偿高压信号发生器对信号脉冲序列的重复频率调制。信号脉冲序列能够在本振脉冲序列的频率附近进行快速调整。
当高压信号发生器2未施加调制信号时,本振脉冲序列与信号脉冲序列重复频率相同,两者在时间上没有走离,时刻处于干涉强度最大值。当高压信号发生器施加高电压V时,对信号光纤飞秒脉冲激光器4的腔长发生影响,由于腔长的变化影响信号飞秒脉冲激光器的重复频率变化,重复频率变化量为Δf,使得信号脉冲序列与本振脉冲序列在时间上发生走离。此时,本振脉冲序列的重复频率仍然为fr,信号脉冲序列的重复频率为fr+Δf,单个脉冲之间的距离走离为:
积累的脉冲走离即最大可测距离。电光调制器被施加电压与积累脉冲走离关系如图3所示。
如图4所示,当两个脉冲之间存在脉冲走离时,在光纤干涉器14中,实现两束光不同走离距离的强度干涉,实现光学异步采样,在时域上将脉冲展宽,得到更新速率为2的测距信号。
在时域上得到基于异步光学降采样的展宽脉冲信号,脉冲相对于原始光脉冲展宽了倍,通过测量降采样参考脉冲及目标脉冲之间的距离Δt,即可得到参考脉冲与目标脉冲之间的真实飞行时间差从而得出参考镜与目标镜之间的距离其中c是真空中光速,n是空气折射率。
通过对电光调制器进行频率为f的调制,对重复频率为fr的信号光脉冲序列产生Δf的重复频率差,利用重复频率差使得本振脉冲对目标和参考脉冲持续进行扫描,避免了传统双光学频率梳之间的极低占空比,能够有效提高测距结果的更新速率,从而得到更快速、更精确的测距结果。
本发明并不限于上文描述的实施方式。以上对具体实施方式的描述旨在描述和说明本发明的技术方案,上述的具体实施方式仅仅是示意性的,并不是限制性的。在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下,本领域的普通技术人员在本发明的启示下还可做出很多形式的具体变换,这些均属于本发明的保护范围之内。
Claims (2)
1.一种高更新频率的电控双光学频率梳测距系统,其特征在于,包括重复频率锁定环路、高压信号发生器、本振光纤飞秒激光器、信号光纤飞秒激光器、光纤延迟线、环形器、第一准直器、参考半反射镜、目标反射镜、第一光纤滤波器、第二光纤滤波器、第一光纤衰减器、第二光纤衰减器、光纤干涉器、平衡探测器、低通滤波器、计算机;高压信号发生器与信号光纤飞秒激光器相连,所述本振光纤飞秒激光器和信号光纤飞秒激光器分别输出一束脉冲序列共同注入所述重复频率锁定环路,得到两路重复频率相同的锁模激光脉冲序列;信号飞秒激光器出射的另一束脉冲序列连接到环形器中,由第一准直器输出空间光并依次传输至参考半反射镜与目标反射镜上,得到回波参考光脉冲和目标光脉冲并依次通过所述第一光纤滤波器与第一光纤衰减器传输至光纤干涉器;同时,本振光纤飞秒激光器输出的另一束脉冲序列依次通过光纤延迟线、第二光纤滤波器与第二光纤衰减器传输至光纤干涉器,使得本振光纤飞秒激光器输出的脉冲序列与信号光纤飞秒激光器输出的脉冲序列能够同时到达光纤干涉器,利用平衡探测器对光纤干涉器输出的干涉信号进行探测,得到的电信号通过低通滤波器传输至计算机进行采样与处理。
2.根据权利要求1所述一种高更新频率的电控双光学频率梳测距系统,其特征在于,所述信号光纤飞秒激光器包括依次设置的压电陶瓷、电光调制器、偏振分束棱镜、第二准直器与第一光纤耦合器,所述第一光纤耦合器的输出端其中一路通过掺铒光纤与波分复用器连接,第一光纤耦合器的输出端另一路依次通过第二光纤耦合器、光纤相移器与波分复用器连接,波分复用器与半导体泵浦激光器连接。
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PB01 | Publication | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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